JPS6035351A - 光磁気再生装置 - Google Patents
光磁気再生装置Info
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- JPS6035351A JPS6035351A JP14402983A JP14402983A JPS6035351A JP S6035351 A JPS6035351 A JP S6035351A JP 14402983 A JP14402983 A JP 14402983A JP 14402983 A JP14402983 A JP 14402983A JP S6035351 A JPS6035351 A JP S6035351A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
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-
- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
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- G11B11/10502—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing characterised by the transducing operation to be executed
- G11B11/10515—Reproducing
-
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- G11B11/10595—Control of operating function
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は光磁気材料に書き込まれた情報を読み出す光磁
気再生装置に関し、特に光源から出刃される光量の変動
に起因するノイズを防止しζS/N比を高める技術に関
するものである。
気再生装置に関し、特に光源から出刃される光量の変動
に起因するノイズを防止しζS/N比を高める技術に関
するものである。
従来技術
自発磁化を持ちしかも光の透過率の大きい光磁気材料を
局部的に垂直方向へ磁化することにより書き込まれた情
報を、光磁気効果を利用して読み出すようにした光磁気
再生装置が考えられている。
局部的に垂直方向へ磁化することにより書き込まれた情
報を、光磁気効果を利用して読み出すようにした光磁気
再生装置が考えられている。
一般に、斯る装置においては、直線偏光が光磁気材料の
磁化方向に平行に入射したときに磁化方向の違いに応じ
た反射光または透過光の振動面の回転成いは光量の変動
を検出することによって光磁気材料上に書き込まれた情
報が読み出されるように構成される。しかしながら、従
来の光磁気再生装置における光源は、レーザ光源または
単色光源が用いられるが、それ等光源からの出力光量の
変動に起因してノイズが発生することが避けられない一
方、光磁気材料からの反射光または透過光の振動面の回
転または反射光量の差は比較的微小な変動であるため、
光磁気材料」−に書き込まれた情報を読み出すのに際し
て、必ずしも十分なS/N比が得られなかった。
磁化方向に平行に入射したときに磁化方向の違いに応じ
た反射光または透過光の振動面の回転成いは光量の変動
を検出することによって光磁気材料上に書き込まれた情
報が読み出されるように構成される。しかしながら、従
来の光磁気再生装置における光源は、レーザ光源または
単色光源が用いられるが、それ等光源からの出力光量の
変動に起因してノイズが発生することが避けられない一
方、光磁気材料からの反射光または透過光の振動面の回
転または反射光量の差は比較的微小な変動であるため、
光磁気材料」−に書き込まれた情報を読み出すのに際し
て、必ずしも十分なS/N比が得られなかった。
発明の目的
本発明は以上の事情を背景として為されたものであり、
その目的とするところは、十分なS/N比が得られる光
磁気再生装置を提供することにある。
その目的とするところは、十分なS/N比が得られる光
磁気再生装置を提供することにある。
発明の構成
斯る目的を達成するため、本発明の要旨とするところは
、特別な偏光面を有さない光を発生し得る光源に対向し
゛ζ偏光ビームスプリッタを配置し、前記光源から発生
された光のうち前記偏光ビームスプリッタを透過した直
線偏光により光磁気材料に記録された情報を読み出すと
ともに、前記偏光ビームスブリックの接合面で反射され
た反射光の光磁を検出するための検出装置を設け、この
検出装置からの信号により、前記光源の出力または前記
情報を読み出すための受光信号をモニタするようにした
ことを特徴とする。
、特別な偏光面を有さない光を発生し得る光源に対向し
゛ζ偏光ビームスプリッタを配置し、前記光源から発生
された光のうち前記偏光ビームスプリッタを透過した直
線偏光により光磁気材料に記録された情報を読み出すと
ともに、前記偏光ビームスブリックの接合面で反射され
た反射光の光磁を検出するための検出装置を設け、この
検出装置からの信号により、前記光源の出力または前記
情報を読み出すための受光信号をモニタするようにした
ことを特徴とする。
発明のりJ果
このようにすれば、前記検出装置からの信号に基づいて
前記光源の出力または前記情報を読め出すための受光信
号がモニタされるので、光磁気材料に書き込まれた情報
を読み出すに際して、高いS/N比が得られるのである
。ここで、モニタとは、前記光源の出力光量の変動を一
定に調節したり或いは前記情報を読み出すための受光信
号から光源の出力光量の変動に起因するノイズを除去(
キャンセル)することを言う。
前記光源の出力または前記情報を読め出すための受光信
号がモニタされるので、光磁気材料に書き込まれた情報
を読み出すに際して、高いS/N比が得られるのである
。ここで、モニタとは、前記光源の出力光量の変動を一
定に調節したり或いは前記情報を読み出すための受光信
号から光源の出力光量の変動に起因するノイズを除去(
キャンセル)することを言う。
実施例
以下、本発明の一実施例を示す図面に、!I(づいて詳
細に説明する。
細に説明する。
第1図において、レーザ光源10は内部共振型レーザ光
源等の特別な偏光面を有さない光を発生し得る光源であ
る。レーザ光源10から出力されたレーザ光線は偏光ビ
ームスプリッタ14.1/4波長板16を経て円盤状の
光磁気ディスク18に垂直に入射させられる。そして、
光磁気ディスク18から反射させられたレーザ光線は再
び1/4波長板16を経て偏光ビームスプリッタ14に
入射させられた後、偏光ビームスプリッタ14によって
反射させられて、反射光量を検出するためのホトダイオ
ード20に受光される。
源等の特別な偏光面を有さない光を発生し得る光源であ
る。レーザ光源10から出力されたレーザ光線は偏光ビ
ームスプリッタ14.1/4波長板16を経て円盤状の
光磁気ディスク18に垂直に入射させられる。そして、
光磁気ディスク18から反射させられたレーザ光線は再
び1/4波長板16を経て偏光ビームスプリッタ14に
入射させられた後、偏光ビームスプリッタ14によって
反射させられて、反射光量を検出するためのホトダイオ
ード20に受光される。
偏光ビームスプリッタ14ば入射光に対して45°領斜
した接合面14aを有する偏光フィルターの一種であっ
て、その接合面14aに対するP偏光の通過を許容する
が、S偏光をレーザ光線の進行方向に対して直角方向に
反射するものである。
した接合面14aを有する偏光フィルターの一種であっ
て、その接合面14aに対するP偏光の通過を許容する
が、S偏光をレーザ光線の進行方向に対して直角方向に
反射するものである。
1/4波長板16は、光の進行方向と直角な面内におい
てその光学軸が偏光ビームスプリッタ14から入射され
るP偏光の振動方向に対して45゜傾いて配置されてお
り、P偏光のような直線偏光を円偏光に変換して透過さ
せる。逆に、円偏光が入射させられた場合にはそれを直
線偏光に変換する。ここで、円偏光は進行方向に対する
電気ベクトルが右廻りのものと左廻りのものと二種類存
在するものであり、l/4波長板16においては一定方
向から見て右廻りあるいは左廻りの円偏光がそれぞれ、
たとえばP偏光あるいはS偏光に変換され、一方P偏光
あるいはS偏光はそれぞれ左廻りあるいは右廻りの円偏
光に変換されるようになっている。光磁気ディスク18
は、たとえば第2図に示すように、膜厚が数百人の光磁
気材料22がガラス基板24とアルミ反射膜26とによ
って挟まれた多層構造によって構成されている。光磁気
材料22としては非晶質のG d T b F e +
T b F e + G d Co +多結晶のMn
cuB1+単結晶のTbFe031ガーネ・ノドの磁化
の存在下では付加的な光学異方性が生ずる物質が用いら
れ、その面に対して垂直力1iiJ &こ磁化されるこ
とにより情報が書き込まれる。ガラス基板24は光磁気
材料22を支持し且つ保護するためのものであってアク
リル樹脂等の透光性に優れた樹脂であっても良いのであ
る。アルミ反射膜26ば光磁気斗]料22による反射光
量を増大させるためのものであるから、多少の反射光量
の低下を我慢ずれば他の誘電体層であっても良いのであ
る。
てその光学軸が偏光ビームスプリッタ14から入射され
るP偏光の振動方向に対して45゜傾いて配置されてお
り、P偏光のような直線偏光を円偏光に変換して透過さ
せる。逆に、円偏光が入射させられた場合にはそれを直
線偏光に変換する。ここで、円偏光は進行方向に対する
電気ベクトルが右廻りのものと左廻りのものと二種類存
在するものであり、l/4波長板16においては一定方
向から見て右廻りあるいは左廻りの円偏光がそれぞれ、
たとえばP偏光あるいはS偏光に変換され、一方P偏光
あるいはS偏光はそれぞれ左廻りあるいは右廻りの円偏
光に変換されるようになっている。光磁気ディスク18
は、たとえば第2図に示すように、膜厚が数百人の光磁
気材料22がガラス基板24とアルミ反射膜26とによ
って挟まれた多層構造によって構成されている。光磁気
材料22としては非晶質のG d T b F e +
T b F e + G d Co +多結晶のMn
cuB1+単結晶のTbFe031ガーネ・ノドの磁化
の存在下では付加的な光学異方性が生ずる物質が用いら
れ、その面に対して垂直力1iiJ &こ磁化されるこ
とにより情報が書き込まれる。ガラス基板24は光磁気
材料22を支持し且つ保護するためのものであってアク
リル樹脂等の透光性に優れた樹脂であっても良いのであ
る。アルミ反射膜26ば光磁気斗]料22による反射光
量を増大させるためのものであるから、多少の反射光量
の低下を我慢ずれば他の誘電体層であっても良いのであ
る。
前記ホトダイオード20は偏光ビームスプリ。
夕14から入射された光磁気ディスク18からの反射光
量(光の強度)を検出するものであって、入射された光
の光量に応した電気信号を差動増幅器28に出力するも
のである。一方、偏光ビームスプリッタ14に入射さ・
Uられるレーザ光線は円偏光等特別な偏光面を有さない
光であるから、そのレーザ光線に含まれるP偏光のみが
偏光ビームスブリック14を透過させられ、残りの光が
反射されてレーザ光源10の出力光量を検出する検出装
置きしてのホトダイオード3oに受光される。
量(光の強度)を検出するものであって、入射された光
の光量に応した電気信号を差動増幅器28に出力するも
のである。一方、偏光ビームスプリッタ14に入射さ・
Uられるレーザ光線は円偏光等特別な偏光面を有さない
光であるから、そのレーザ光線に含まれるP偏光のみが
偏光ビームスブリック14を透過させられ、残りの光が
反射されてレーザ光源10の出力光量を検出する検出装
置きしてのホトダイオード3oに受光される。
ポ1−ダイオ−F’ 3 (lの出力信号も前記作動増
幅器28に供給される。差動増幅器28はボトダイオ−
120および30からの出力信号差に基づいて信号を出
力する。
幅器28に供給される。差動増幅器28はボトダイオ−
120および30からの出力信号差に基づいて信号を出
力する。
次に、以」二のように構成された光磁気再生装置の作用
v)果を説明する。レーザ光源1oがら偏光ヒームスブ
リノタI4に入射された特別な偏光面をイ4さないレー
ザ光線のうら、P偏光のめが偏光ヒームスプリンタ14
を透過させられて1/4波長板16を経て光磁気ディス
ク18に入射さ・けられるが、残りの光は偏光ビームス
プリッタ14によって反射され、ホトダイオード3oに
よって受Ljられる。ボ]・ダイオード3oによって受
けられた光pはレーザ光源10の出力変動に対応するも
のである。
v)果を説明する。レーザ光源1oがら偏光ヒームスブ
リノタI4に入射された特別な偏光面をイ4さないレー
ザ光線のうら、P偏光のめが偏光ヒームスプリンタ14
を透過させられて1/4波長板16を経て光磁気ディス
ク18に入射さ・けられるが、残りの光は偏光ビームス
プリッタ14によって反射され、ホトダイオード3oに
よって受Ljられる。ボ]・ダイオード3oによって受
けられた光pはレーザ光源10の出力変動に対応するも
のである。
偏光ビームスプリッタ14を通過したP偏光は1/4波
長板16によって円偏光とされるが、その円偏光は1/
4波長板16の光学軸とP偏光の振動面との傾き角(4
5°)の方向によって決定され、たとえば進行方向に対
して右廻りの円偏光とされる。そして、右帰りの円偏光
が光磁気ディスク18に入射させられると、ガラス基板
24と光磁気材料22との境界面および光磁気材料22
とアルミ反射膜26との境界面によって反射させられ、
再び1/4波長板16に戻される。このとき、1/4波
長板16に入射させられる光磁気ディスク18からの反
射光は光磁気ディスクI8への入射光と逆に進行方向に
対して左廻りの円偏光ではあるが、1/4波長板16か
ら見れば右廻りの円偏光が入射させられることとなるの
で、1/4波長板16に入射された反射光ばS偏光に変
換されて偏光ビームスプリッタ14に入射させられる。
長板16によって円偏光とされるが、その円偏光は1/
4波長板16の光学軸とP偏光の振動面との傾き角(4
5°)の方向によって決定され、たとえば進行方向に対
して右廻りの円偏光とされる。そして、右帰りの円偏光
が光磁気ディスク18に入射させられると、ガラス基板
24と光磁気材料22との境界面および光磁気材料22
とアルミ反射膜26との境界面によって反射させられ、
再び1/4波長板16に戻される。このとき、1/4波
長板16に入射させられる光磁気ディスク18からの反
射光は光磁気ディスクI8への入射光と逆に進行方向に
対して左廻りの円偏光ではあるが、1/4波長板16か
ら見れば右廻りの円偏光が入射させられることとなるの
で、1/4波長板16に入射された反射光ばS偏光に変
換されて偏光ビームスプリッタ14に入射させられる。
偏光ビームスプリッタ14は前述のようにP偏光のみ通
過さセるものであるから、斯るS偏光は反射されて90
°方向に変換され、ポトダイオード20に入射させられ
るのである。そのボ]・ダイオード20に入射させられ
る光量は、光磁気材料22の垂直磁化方向の違いに応じ
て変化するので、光磁気材料2−2をその面に対して垂
直方向に局部的に磁化することによって書き込まれた情
報が、光磁気ディスク18の移動に伴いホトダイオード
20から出力される電気信号によって読み出されるので
ある。
過さセるものであるから、斯るS偏光は反射されて90
°方向に変換され、ポトダイオード20に入射させられ
るのである。そのボ]・ダイオード20に入射させられ
る光量は、光磁気材料22の垂直磁化方向の違いに応じ
て変化するので、光磁気材料2−2をその面に対して垂
直方向に局部的に磁化することによって書き込まれた情
報が、光磁気ディスク18の移動に伴いホトダイオード
20から出力される電気信号によって読み出されるので
ある。
すなわち、一般に、電磁波の進行方向が光磁気H料22
の磁化の方向と平行であるときには所謂ファラデー配置
に相当するがら、光の固イjモードは正、立垂つの円偏
光E+、E−(電気ベクトルが右廻りの円偏光および左
廻りの円偏光)であり、光磁気材料22のそれ等円偏光
に対する(複素)屈折率n卆は次式(IIで表される。
の磁化の方向と平行であるときには所謂ファラデー配置
に相当するがら、光の固イjモードは正、立垂つの円偏
光E+、E−(電気ベクトルが右廻りの円偏光および左
廻りの円偏光)であり、光磁気材料22のそれ等円偏光
に対する(複素)屈折率n卆は次式(IIで表される。
n< 2−(n2 +i k±) 2−8よ±iε゛4
5、b、n:は屈折率、k士は減衰係数である。ε工は
光磁気材料の誘電率デンソルの対角成分(xx、yy成
分)であり、ε゛は非対角成分(xy酸成分である。i
は複素数である。
5、b、n:は屈折率、k士は減衰係数である。ε工は
光磁気材料の誘電率デンソルの対角成分(xx、yy成
分)であり、ε゛は非対角成分(xy酸成分である。i
は複素数である。
上記(1)式における士符号は、光磁気材料の磁化方向
に対応するものであり、円偏光の入射条件が同じでも光
磁気材料22内の磁化方向が逆であれば士の符号を逆と
すれば良い。したがって、層状の光磁気材料22からの
振幅反射率r′″は次式(2)%式% ) 上記δ1は多重反射による位相項で、光磁気材料22の
厚さをd、光源の波長λとずれば、δ1−4πn±’d
/λ で表されるものである。また、’ffi+r^はフレネ
ルの反射係数と呼ばれるもので、 rルー(nt n; )/ (n1+n; )r乙 −
(n; 、n3)/ D: +n3)により表されるも
のである。
に対応するものであり、円偏光の入射条件が同じでも光
磁気材料22内の磁化方向が逆であれば士の符号を逆と
すれば良い。したがって、層状の光磁気材料22からの
振幅反射率r′″は次式(2)%式% ) 上記δ1は多重反射による位相項で、光磁気材料22の
厚さをd、光源の波長λとずれば、δ1−4πn±’d
/λ で表されるものである。また、’ffi+r^はフレネ
ルの反射係数と呼ばれるもので、 rルー(nt n; )/ (n1+n; )r乙 −
(n; 、n3)/ D: +n3)により表されるも
のである。
した力5って、(2)式からn′+による振幅反射率r
″とn;による振幅反射率r−とは互いに異なるもので
あることが明らかであり、右廻りの円偏光を垂直に磁化
した光磁気材料に入射させたときの反射光量は左廻りの
円偏光を同様に入射させたときの反則光量とが異なる。
″とn;による振幅反射率r−とは互いに異なるもので
あることが明らかであり、右廻りの円偏光を垂直に磁化
した光磁気材料に入射させたときの反射光量は左廻りの
円偏光を同様に入射させたときの反則光量とが異なる。
換言すれば、右廻りまたむ、1ノ5.廻りの一定回転方
向の円偏光を入射し続りたとき、光磁気材料の磁化の方
向の違いに応じて反’A=I光r、1が、ユ挿類に変化
することとなり、その反射光量の変化に基づいて、光磁
気H料22を局部的に磁化することにより書き込まれた
信号く情報)が検出されるのである。なお、第3図は、
光磁気+41’+ 22の磁化方向の相違が」−記反射
光量を変化さ一已るごとを示すために、上記方法によっ
て実験的に確認された光磁気材料22の磁化曲線である
。
向の円偏光を入射し続りたとき、光磁気材料の磁化の方
向の違いに応じて反’A=I光r、1が、ユ挿類に変化
することとなり、その反射光量の変化に基づいて、光磁
気H料22を局部的に磁化することにより書き込まれた
信号く情報)が検出されるのである。なお、第3図は、
光磁気+41’+ 22の磁化方向の相違が」−記反射
光量を変化さ一已るごとを示すために、上記方法によっ
て実験的に確認された光磁気材料22の磁化曲線である
。
上記反射光量の差は一般に数%程度以下のものであって
、レーザ光源IOから出力される出力光mに変動が存在
すると、それがノイズとなってS/N比が低下し、光磁
気ディスク18からの読み出しの誤り率が比較的大きく
なることが避けられない。しかしながら、本実施例によ
れば、レーザ光源10の出力光量の変動が存在してもホ
トダイオード30から出力される信号に基づいてホトダ
イオード20から出力される信号がキャンセルされるの
で高いS/N比が得られ、磁気ディスク18からの読み
出し率が大幅に低下させられるのである。すなわち、た
とえばレーザ光源10に供給される電源のドリフト、レ
ーザ光源10の出力特性の経時変化等に基づいてその出
力光量が減少または増加すると、それに伴ってボトダイ
オード20および30に受けられる光量も減少または増
加する。しかし、ホトダイオード20および30の出力
信号は差動増幅器28にそれぞれ供給されており、その
差動増幅器28においてホトダイオード20の出力信号
からホトダイオード30の出力信号を差し引いた信号に
基づいて増幅されるので、差動増幅器28から出力され
る信号はレーザ光源10の出力光量の変動によるノイズ
が除去された信号となる。したがって、レーザ光源10
の出力変動に拘わらず高いS/N比が得られるのであり
、差動増幅器28およびホトダイオード30はレーザ光
源10の出力光量の変動に基づくホトダイオード20の
出力信号の変動をモニタするモニタ手段を形成している
のである。
、レーザ光源IOから出力される出力光mに変動が存在
すると、それがノイズとなってS/N比が低下し、光磁
気ディスク18からの読み出しの誤り率が比較的大きく
なることが避けられない。しかしながら、本実施例によ
れば、レーザ光源10の出力光量の変動が存在してもホ
トダイオード30から出力される信号に基づいてホトダ
イオード20から出力される信号がキャンセルされるの
で高いS/N比が得られ、磁気ディスク18からの読み
出し率が大幅に低下させられるのである。すなわち、た
とえばレーザ光源10に供給される電源のドリフト、レ
ーザ光源10の出力特性の経時変化等に基づいてその出
力光量が減少または増加すると、それに伴ってボトダイ
オード20および30に受けられる光量も減少または増
加する。しかし、ホトダイオード20および30の出力
信号は差動増幅器28にそれぞれ供給されており、その
差動増幅器28においてホトダイオード20の出力信号
からホトダイオード30の出力信号を差し引いた信号に
基づいて増幅されるので、差動増幅器28から出力され
る信号はレーザ光源10の出力光量の変動によるノイズ
が除去された信号となる。したがって、レーザ光源10
の出力変動に拘わらず高いS/N比が得られるのであり
、差動増幅器28およびホトダイオード30はレーザ光
源10の出力光量の変動に基づくホトダイオード20の
出力信号の変動をモニタするモニタ手段を形成している
のである。
次に、本発明の他の実施例を説明する。前述の実施例が
ホトダイオード30の出力信号に基づいてホトダイオー
ド20の出力信号をモニタするのに対し、本実hib例
では、ホトダイオード30の出力信号に基づいてレーザ
光源10の出力をモニタする点において異なる。なお、
以下の実施例において前述の実施例と共通ずる部分には
同一の符号を伺して説明を省略する。
ホトダイオード30の出力信号に基づいてホトダイオー
ド20の出力信号をモニタするのに対し、本実hib例
では、ホトダイオード30の出力信号に基づいてレーザ
光源10の出力をモニタする点において異なる。なお、
以下の実施例において前述の実施例と共通ずる部分には
同一の符号を伺して説明を省略する。
第4図において、ポトダイオード30の出力信号はレー
ザ出力モニタ回路32に供給され、レーザ出力モニタ回
路32からはレーザ光源10の出力光量が一定となるよ
うな駆動電力がレーザ光源10に供給される。すなわち
、レーザ出力モニタ回路32は、第5図に示されるよう
に構成されており、検出回路34はホトダイオード30
の受光量に応じたフィードバンク電圧e2を減算器35
に供給する。減算器35は予め設定された一定の基準電
圧e、と、フィードバンク電圧e2との差を加算器36
に供給する。加算器36はレーザ光源10の低出力に対
応した出力基準電圧e、と、減算器35の出力電圧とを
加算して駆動回路38に供給する。駆動回路38は加算
器36の出力電圧に対応した電力をレーザ光源10に供
給して、その出力電圧に対応した出力光量でレーザ光を
出力させる。
ザ出力モニタ回路32に供給され、レーザ出力モニタ回
路32からはレーザ光源10の出力光量が一定となるよ
うな駆動電力がレーザ光源10に供給される。すなわち
、レーザ出力モニタ回路32は、第5図に示されるよう
に構成されており、検出回路34はホトダイオード30
の受光量に応じたフィードバンク電圧e2を減算器35
に供給する。減算器35は予め設定された一定の基準電
圧e、と、フィードバンク電圧e2との差を加算器36
に供給する。加算器36はレーザ光源10の低出力に対
応した出力基準電圧e、と、減算器35の出力電圧とを
加算して駆動回路38に供給する。駆動回路38は加算
器36の出力電圧に対応した電力をレーザ光源10に供
給して、その出力電圧に対応した出力光量でレーザ光を
出力させる。
以上のように構成されたレーザ出力モニタ回路32によ
れば、駆動回路38のドリフト、レーザ光源10の直線
の変動等に基づいてレーザ光源10の出力光量が例えば
増加すると、フィードバック電圧e2が増加する。この
ため、加算器36において出力基準電圧e3に加えられ
る減算器35の出力信号が減少するので、駆動回路38
からレーザ光源10に供給される電力が少なくされ、レ
ーザ光源10の出力光量が減少させられる。逆に、レー
ザ光源lOの出力光量がフィードバック電圧e2が減少
して減算器35の出力信号が増加させられると、駆動量
W838からレーザ光源IOに供給させられる電力が増
加させられ、レーザ光源140の出力光量が引き」二げ
られる。このようにして、レーザ光源10の出力光量が
一定に制御されるのであり、レーザ出力モニタ回路32
とホトダイオ−)−’ 3 (lとがレーザ光源1 (
lの出力光量を一定にモニタするモニタ手段を形成して
いるのである。
れば、駆動回路38のドリフト、レーザ光源10の直線
の変動等に基づいてレーザ光源10の出力光量が例えば
増加すると、フィードバック電圧e2が増加する。この
ため、加算器36において出力基準電圧e3に加えられ
る減算器35の出力信号が減少するので、駆動回路38
からレーザ光源10に供給される電力が少なくされ、レ
ーザ光源10の出力光量が減少させられる。逆に、レー
ザ光源lOの出力光量がフィードバック電圧e2が減少
して減算器35の出力信号が増加させられると、駆動量
W838からレーザ光源IOに供給させられる電力が増
加させられ、レーザ光源140の出力光量が引き」二げ
られる。このようにして、レーザ光源10の出力光量が
一定に制御されるのであり、レーザ出力モニタ回路32
とホトダイオ−)−’ 3 (lとがレーザ光源1 (
lの出力光量を一定にモニタするモニタ手段を形成して
いるのである。
このように、本実施例によれば、レーデ光源10の出力
光量が一定にモニタされるのでホトダイオード20から
出力される出力信号中のレーザ光源1. (lの出力光
量の変動に起因するノイズが解消されて高いS/N比が
得られ、光磁気ディスク18に書き込まれた情報が読み
出される際の誤り率が大幅に低下させられるのである。
光量が一定にモニタされるのでホトダイオード20から
出力される出力信号中のレーザ光源1. (lの出力光
量の変動に起因するノイズが解消されて高いS/N比が
得られ、光磁気ディスク18に書き込まれた情報が読み
出される際の誤り率が大幅に低下させられるのである。
前述の実施例は、光磁気材料22からの反射光りの差に
基づいて光磁気ディスク18に書き込まれた情報を読め
出す光磁気再生装置に関するものであるが、本発明は光
磁気材料22からの反射光の直線偏光の偏光(振動)面
回転角を検出することにより、光磁気ディスク18に書
き込まれた情報を読み出す光磁気再生装置にも適用され
る。
基づいて光磁気ディスク18に書き込まれた情報を読め
出す光磁気再生装置に関するものであるが、本発明は光
磁気材料22からの反射光の直線偏光の偏光(振動)面
回転角を検出することにより、光磁気ディスク18に書
き込まれた情報を読み出す光磁気再生装置にも適用され
る。
第6図において、レーザ光源10から出力された特別な
偏光面を有さないレーザ光線のうち、偏光ビームスプリ
ンク14を通過させられたP偏光は直接光磁気ディスク
18に入射さ・けられる。光磁気ディスク18に入射さ
せられたP偏光の反射光は、所謂カー’IJ果に従って
光磁気材料22の磁化方向に対応して直線偏光の振動面
が所定の角度(カー回転角)回転させられるので、その
反射光が偏光ビームスブリック14に再び入射さ−けら
れると、カー効果によって振動面が回転させられた成分
が偏光ビームスプリッタ14から反射さ・けられて検光
子を通してホトダイオード20に受光される。検光子4
0ば光磁気材料22からの反射光のうち光磁気材料22
の磁化方向に対応して直線偏光の偏光面が回転させられ
た直線偏光を通過させるように配設されている。したが
って、本実施例によれば、ボ1−ダイオード2()の出
力信号が光磁気材料22の磁化方向に対応して変動させ
られるので、光磁気相’R22の出力信号に基づいて光
磁気材料22上に書き込まれた情報が読み出され(!I
るのであるが、ホトダイオード20に受光される光量も
レーザ光源IOの出力光量の変動に対応した)・イズを
含む。しかしながら、本実施例においてはレーデ光源1
0の出力光量の変動を検知するホトダイオード30の出
力信号およびホトダイオード20の出力信号が共に差動
増幅器28に供給され、差動増幅器28においてホトダ
イオード20の出力信号成分からホトダイオード30の
出力信号成分が差し引かれるので、レーザ光源10の出
力光量の変動に拘わらず高いS/N比が得られ、光磁気
ディスク18に書き込まれた情報が正確に読み出される
のである。
偏光面を有さないレーザ光線のうち、偏光ビームスプリ
ンク14を通過させられたP偏光は直接光磁気ディスク
18に入射さ・けられる。光磁気ディスク18に入射さ
せられたP偏光の反射光は、所謂カー’IJ果に従って
光磁気材料22の磁化方向に対応して直線偏光の振動面
が所定の角度(カー回転角)回転させられるので、その
反射光が偏光ビームスブリック14に再び入射さ−けら
れると、カー効果によって振動面が回転させられた成分
が偏光ビームスプリッタ14から反射さ・けられて検光
子を通してホトダイオード20に受光される。検光子4
0ば光磁気材料22からの反射光のうち光磁気材料22
の磁化方向に対応して直線偏光の偏光面が回転させられ
た直線偏光を通過させるように配設されている。したが
って、本実施例によれば、ボ1−ダイオード2()の出
力信号が光磁気材料22の磁化方向に対応して変動させ
られるので、光磁気相’R22の出力信号に基づいて光
磁気材料22上に書き込まれた情報が読み出され(!I
るのであるが、ホトダイオード20に受光される光量も
レーザ光源IOの出力光量の変動に対応した)・イズを
含む。しかしながら、本実施例においてはレーデ光源1
0の出力光量の変動を検知するホトダイオード30の出
力信号およびホトダイオード20の出力信号が共に差動
増幅器28に供給され、差動増幅器28においてホトダ
イオード20の出力信号成分からホトダイオード30の
出力信号成分が差し引かれるので、レーザ光源10の出
力光量の変動に拘わらず高いS/N比が得られ、光磁気
ディスク18に書き込まれた情報が正確に読み出される
のである。
以上、本発明の一実施例を示す図面に基づいてn’I′
l1lIに説明したが、本発明はその他の態様において
も適用される。
l1lIに説明したが、本発明はその他の態様において
も適用される。
たとえば、光源10はレーザ光源のみならず他の単色光
源であっても良く、またレンズ、ミラー等の光学素子が
レーザ光源10と偏光ビーノ・スプリッタ14との間、
光磁気ディスク18と偏光ビームスプリッタI4または
1/4波長板16との間、ホトダイオード20または3
0と偏光ヒ゛−ムスプリソク14との間等において必要
に応じて適宜用いられるものである。前述の実施例にお
し)では円盤状の光磁気ディスク18が用いられている
が、その形状はドラム状またはテープ状であっても同等
差支えないのである。
源であっても良く、またレンズ、ミラー等の光学素子が
レーザ光源10と偏光ビーノ・スプリッタ14との間、
光磁気ディスク18と偏光ビームスプリッタI4または
1/4波長板16との間、ホトダイオード20または3
0と偏光ヒ゛−ムスプリソク14との間等において必要
に応じて適宜用いられるものである。前述の実施例にお
し)では円盤状の光磁気ディスク18が用いられている
が、その形状はドラム状またはテープ状であっても同等
差支えないのである。
また、反射光量を検出するためのホトダイオード’20
.30の代わりに光電子倍増管等の光子検出素子が用い
られても良い。
.30の代わりに光電子倍増管等の光子検出素子が用い
られても良い。
また、モニタ手段としてホトダイオード−20の出力信
号からレーザ光源10の出力光早変■世j分をキャンセ
ルする差動増幅器28や、レーザ光源10の出力光量を
一定にモニタするレーザ出力−モニタ回路32が用いら
れているが、その他の回路であっても良いのである。要
するに、ホトダイメ−ト20の出力信号からレーザ光源
10の出力光量の変動分がキャンセルされ、またはレー
ザ光源l()の出力光量が一定に制御されるようにする
モニタ手段であれば良いのである。
号からレーザ光源10の出力光早変■世j分をキャンセ
ルする差動増幅器28や、レーザ光源10の出力光量を
一定にモニタするレーザ出力−モニタ回路32が用いら
れているが、その他の回路であっても良いのである。要
するに、ホトダイメ−ト20の出力信号からレーザ光源
10の出力光量の変動分がキャンセルされ、またはレー
ザ光源l()の出力光量が一定に制御されるようにする
モニタ手段であれば良いのである。
さらに、第6図の実施例において、ホトダイオード20
に受光される光は光磁気材料22の透過光であっても良
いのである。
に受光される光は光磁気材料22の透過光であっても良
いのである。
なお、上述したのはあくまでも本発明の一実施例であり
、本発明はその精神を逸脱しない範囲において種々変更
が加えられ得るものである。
、本発明はその精神を逸脱しない範囲において種々変更
が加えられ得るものである。
例を示す構成図である。第2図は第1図の光磁気ディス
クの要部断面図である。第3図は第1図の装置を用いて
実験的に検出した光磁気材料の磁化曲線を示す。第4図
は本発明が適用された光磁気再生装置の他の例を示す構
成図である。第5図は第4図のレーザ出力モニタ回路を
示すブロック線図である。第6図は本発明が適用された
光磁気再生装置の他の例を示す構成図である。
クの要部断面図である。第3図は第1図の装置を用いて
実験的に検出した光磁気材料の磁化曲線を示す。第4図
は本発明が適用された光磁気再生装置の他の例を示す構
成図である。第5図は第4図のレーザ出力モニタ回路を
示すブロック線図である。第6図は本発明が適用された
光磁気再生装置の他の例を示す構成図である。
10:レーザ光源(光源)
14a:接合面
22:光磁気材料
30:ホトダイオード(検出装置)
出願人 ブラザー工業株式会社
第、□ 第3図
第4図
2
第5図
Claims (1)
- 特別な偏光面を有さない光を発生し得る光源に対向して
偏光ビームスプリッタを配置し、前記光源から発生され
た光のうち前記偏光ビームスプリ・ツタを透過した直線
偏光により光磁気材料に記録された情報を読み出すとと
もに、前記偏光ビームスプリッタの接合面で反射された
反射光の光量を検出するための検出装置を設け、この検
出装置からの光に基づいて1111記光源の出方または
前記情報を読み出すための受光信号をモニタするように
したごとを特徴とする光磁気再生装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14402983A JPS6035351A (ja) | 1983-08-06 | 1983-08-06 | 光磁気再生装置 |
| EP84305355A EP0156058A3 (en) | 1983-08-06 | 1984-08-06 | Magneto-optical reading apparatus |
| US06/816,999 US5007021A (en) | 1983-08-06 | 1986-01-09 | Magneto-optical data reading apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14402983A JPS6035351A (ja) | 1983-08-06 | 1983-08-06 | 光磁気再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6035351A true JPS6035351A (ja) | 1985-02-23 |
Family
ID=15352665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14402983A Pending JPS6035351A (ja) | 1983-08-06 | 1983-08-06 | 光磁気再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6035351A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63266655A (ja) * | 1987-04-24 | 1988-11-02 | Hitachi Ltd | 磁気光学ヘツド |
| JPS6421737A (en) * | 1987-06-24 | 1989-01-25 | Digital Equipment Corp | Overlight system for magneto-optic recording |
| JPH01166351A (ja) * | 1987-09-30 | 1989-06-30 | Deutsche Thomson Brandt Gmbh | 光学ピツクアツプ |
| US5202860A (en) * | 1990-03-05 | 1993-04-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Magneto-optic reproducing device using right and left circularly polarized light |
-
1983
- 1983-08-06 JP JP14402983A patent/JPS6035351A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63266655A (ja) * | 1987-04-24 | 1988-11-02 | Hitachi Ltd | 磁気光学ヘツド |
| JPS6421737A (en) * | 1987-06-24 | 1989-01-25 | Digital Equipment Corp | Overlight system for magneto-optic recording |
| JPH01166351A (ja) * | 1987-09-30 | 1989-06-30 | Deutsche Thomson Brandt Gmbh | 光学ピツクアツプ |
| US5202860A (en) * | 1990-03-05 | 1993-04-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Magneto-optic reproducing device using right and left circularly polarized light |
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