JPS6037161A - 光電変換素子 - Google Patents
光電変換素子Info
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- JPS6037161A JPS6037161A JP58144426A JP14442683A JPS6037161A JP S6037161 A JPS6037161 A JP S6037161A JP 58144426 A JP58144426 A JP 58144426A JP 14442683 A JP14442683 A JP 14442683A JP S6037161 A JPS6037161 A JP S6037161A
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- light
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- electrodes
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- conductive layer
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/30—Coatings
- H10F77/306—Coatings for devices having potential barriers
- H10F77/331—Coatings for devices having potential barriers for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors
- H10F77/334—Coatings for devices having potential barriers for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors for shielding light, e.g. light blocking layers or cold shields for infrared detectors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は光電変換素子に関する。
[発明の技術的背景とその問題点]
光電変換素子は光量を電荷邦、導電率の変化等の電気的
i) c変換する素子であり、ファクシミリ。
i) c変換する素子であり、ファクシミリ。
複写機等の画像読取装置Cニルいられる。
この光電変換素子の構造としては例えば第1図≦ユ示す
様なものがある。第1邸1(a)は光電変換素子を示す
部分平面図、第1図(b)は同図(a)中A −A’で
切断した時の断面図である。
様なものがある。第1邸1(a)は光電変換素子を示す
部分平面図、第1図(b)は同図(a)中A −A’で
切断した時の断面図である。
との光電変換素子は基板(1)上に分割された複数の電
極(2)が直線状C二配列され、とのτ[L極(2)を
恍うように光電変換層(8)が設けられ、さら≦二元電
変換If4(81上C二迭光性電極(4)が設けられた
構造をとる。
極(2)が直線状C二配列され、とのτ[L極(2)を
恍うように光電変換層(8)が設けられ、さら≦二元電
変換If4(81上C二迭光性電極(4)が設けられた
構造をとる。
また一般C二透光性電極(4)の電気伝導度は低いので
、この導゛電性を良好とするため補助電極(6)が設け
られている。
、この導゛電性を良好とするため補助電極(6)が設け
られている。
この様な構成をとる光電変換素子においては、光を検知
する部分は電極(2)、光電変換層(8)及び透光性電
極(4)の3Mが重なりあった部分であり、この3層が
重なりあった部分のみが光を検知する部分となるように
設計される。しかしながら透光性電極(4)を電極(2
)のみと瀘なりあう様5二位置決めするのは容易ではな
く、通常マスクスパッタ法を用いて行なわれるが、この
マスクスパッタ法では200μm程度の狛腿誤走が生じ
、極めて高’AM度の製造技術をシする。このため、本
来光を検知する部分として期待されていない電極(2)
の信号引出部分(2a)と透光性市、 @(4)との重
なりあう部分が生じ、この部分も光を検知すること(二
なり、ノイズが生じてしまうという問題点があった。
する部分は電極(2)、光電変換層(8)及び透光性電
極(4)の3Mが重なりあった部分であり、この3層が
重なりあった部分のみが光を検知する部分となるように
設計される。しかしながら透光性電極(4)を電極(2
)のみと瀘なりあう様5二位置決めするのは容易ではな
く、通常マスクスパッタ法を用いて行なわれるが、この
マスクスパッタ法では200μm程度の狛腿誤走が生じ
、極めて高’AM度の製造技術をシする。このため、本
来光を検知する部分として期待されていない電極(2)
の信号引出部分(2a)と透光性市、 @(4)との重
なりあう部分が生じ、この部分も光を検知すること(二
なり、ノイズが生じてしまうという問題点があった。
また近年高精細な1iIII像読取が要求されており、
これに伴ない第1図中の電極(a)を細分割し、密度を
大きくすることが望まれている。
これに伴ない第1図中の電極(a)を細分割し、密度を
大きくすることが望まれている。
しかしながら第1図f二示す様なイ1b告では、′電極
(2)の信号引出部分(2a)が片・1Qll I−の
み集中し、信号引出部分(2a)の密度が高くなり実装
の面から電極(2)の!7度にFi限界があった。すな
わち光電変−ド線を導出するが、隣接する<t4号引出
部分(2a)とのショート等の問題があり、この1′;
i+j引出部分(2a)の密度は8本/rIR程度がl
il+界であり、このため電極(2)の密度も8個/
IIJ 8度が限界であるのでこれ以上の高鞘細化は非
電l′−は1雛なものであつfr−O 1fc高精卸1化が進むC二つれ、配紳が高密度となり
、配線相互間の静電容9が増加17、容量結合度が大き
くなる。従って、例えば光量を蓄積モードで読み出す場
合等では丙接するイ11号引出部分間の電荷のリークが
増大してしtf′)という問題点があるO [発明の目的] 本発明は以上の点を考旙凡てなされたもので、ノイズが
少なく、面精細化可能な光電変換素子を提供することを
目的とする。
(2)の信号引出部分(2a)が片・1Qll I−の
み集中し、信号引出部分(2a)の密度が高くなり実装
の面から電極(2)の!7度にFi限界があった。すな
わち光電変−ド線を導出するが、隣接する<t4号引出
部分(2a)とのショート等の問題があり、この1′;
i+j引出部分(2a)の密度は8本/rIR程度がl
il+界であり、このため電極(2)の密度も8個/
IIJ 8度が限界であるのでこれ以上の高鞘細化は非
電l′−は1雛なものであつfr−O 1fc高精卸1化が進むC二つれ、配紳が高密度となり
、配線相互間の静電容9が増加17、容量結合度が大き
くなる。従って、例えば光量を蓄積モードで読み出す場
合等では丙接するイ11号引出部分間の電荷のリークが
増大してしtf′)という問題点があるO [発明の目的] 本発明は以上の点を考旙凡てなされたもので、ノイズが
少なく、面精細化可能な光電変換素子を提供することを
目的とする。
[発明の概要コ
本発明し1、絶縁性基板と、前記絶縁性基板上に形成さ
れた光電変換部とを具備し、 前記光@変換部は、複数の電極と、前記電極から信号を
導出するため前記電極の配列方向に対し左右l二振り分
けて設けられた4M号引出部分と、少なくとも前記電極
上C二股けられた光電変換層と、少なくとも前記光電変
換層上【二設けられた透光性電極と、 少なくとも前記透光性電極及び前記光電変換層を覆うよ
うに形成された透光性絶縁層と、前記光電変換層と信号
引出1tjs分とが接触する部分を二照射される光を遜
蔽するようS二前記透光性絶線層上I:設けられた遮光
性導電層とを備え、前記透光性絶縁層は、前記μへ光性
導電層と透光性電極とを電気的C二接続する1cめの孔
を有することを%徴とじた光電変換素子である。
れた光電変換部とを具備し、 前記光@変換部は、複数の電極と、前記電極から信号を
導出するため前記電極の配列方向に対し左右l二振り分
けて設けられた4M号引出部分と、少なくとも前記電極
上C二股けられた光電変換層と、少なくとも前記光電変
換層上【二設けられた透光性電極と、 少なくとも前記透光性電極及び前記光電変換層を覆うよ
うに形成された透光性絶縁層と、前記光電変換層と信号
引出1tjs分とが接触する部分を二照射される光を遜
蔽するようS二前記透光性絶線層上I:設けられた遮光
性導電層とを備え、前記透光性絶縁層は、前記μへ光性
導電層と透光性電極とを電気的C二接続する1cめの孔
を有することを%徴とじた光電変換素子である。
絶縁性基板としては、セラミック、ガラス等が用いられ
る。またセラミックを用いた場合、多孔性であるので表
面f;グレーズ層を設は表面を平坦化したものを用いて
も良い。
る。またセラミックを用いた場合、多孔性であるので表
面f;グレーズ層を設は表面を平坦化したものを用いて
も良い。
次に、光電変換部について設、明する。
電極、信号1、引出(tt4分としては、一般に用いら
れているAJ、+ Cr+ T r + V+ I n
等各紳4ijj4を蒸着法、スパッタリング法等で設け
たものが用いられる。この電極は光電変換層で変換され
fr、 ′1′(:+、気的量を検出するため(二設け
られたものであり、仏号引出部分はこの電極からの信号
を例えば基イナ4端部まで導出するために設けられたも
のである。一般C二両者一体5二形成されている。
れているAJ、+ Cr+ T r + V+ I n
等各紳4ijj4を蒸着法、スパッタリング法等で設け
たものが用いられる。この電極は光電変換層で変換され
fr、 ′1′(:+、気的量を検出するため(二設け
られたものであり、仏号引出部分はこの電極からの信号
を例えば基イナ4端部まで導出するために設けられたも
のである。一般C二両者一体5二形成されている。
光電変換層としては、光量を電荷@ 、導電率の変化等
の電気的祉に変換するものとして一般(二知られている
アモルファス5i(a−8i)、アモルファス8iC,
ポリSi等無機感光材料およびメロシアニン、フタロシ
アニン、ビリリウム、スクアリウム等有機色素を用いた
ものや、ポルフィリン、ルテニウムトリスビピリジン錯
体、酸化チタンとメチルビオロゲン等を用いた有機光導
電材料等を使用することができる。透光性電極としては
一般に知られているネサ膜、 ITO膜、金薄膜等の導
電性を有し光が透過するものを使用することができる。
の電気的祉に変換するものとして一般(二知られている
アモルファス5i(a−8i)、アモルファス8iC,
ポリSi等無機感光材料およびメロシアニン、フタロシ
アニン、ビリリウム、スクアリウム等有機色素を用いた
ものや、ポルフィリン、ルテニウムトリスビピリジン錯
体、酸化チタンとメチルビオロゲン等を用いた有機光導
電材料等を使用することができる。透光性電極としては
一般に知られているネサ膜、 ITO膜、金薄膜等の導
電性を有し光が透過するものを使用することができる。
透光性絶縁層としては、8702.A1208 + S
’ C+ 8’ 8N4等の各種無機質薄膜又は紫外線
硬化樹脂等の有機物を用いることができる。有機物を用
いる場合、Na+等の可動イオン発生源となる不純物の
含有量が少ないものを用いることが好ましい。この透光
性絶縁層は、透光性電極と遮光性導電層との電気的接続
を行なうための孔を有する。例えば上記無機物を用いた
場合はCVD法、蒸着、スパッタリングキfの通常の方
法で+S形成を行ない、エツチング、リフトオフ等の方
法で所望の形状C:形成することができる。しかしなが
ら酸又はアルカリ液を用いたエツチングに比べ、有機溶
剤等を用いるリフトオフ法の方が光電変換層、透光性電
極を劣化さ1七る恐れが少ないため好ましい。
’ C+ 8’ 8N4等の各種無機質薄膜又は紫外線
硬化樹脂等の有機物を用いることができる。有機物を用
いる場合、Na+等の可動イオン発生源となる不純物の
含有量が少ないものを用いることが好ましい。この透光
性絶縁層は、透光性電極と遮光性導電層との電気的接続
を行なうための孔を有する。例えば上記無機物を用いた
場合はCVD法、蒸着、スパッタリングキfの通常の方
法で+S形成を行ない、エツチング、リフトオフ等の方
法で所望の形状C:形成することができる。しかしなが
ら酸又はアルカリ液を用いたエツチングに比べ、有機溶
剤等を用いるリフトオフ法の方が光電変換層、透光性電
極を劣化さ1七る恐れが少ないため好ましい。
壕だ有機物、例えば感光性樹脂の場合は、ロールコート
、スピンコード等で朽形成後%所卵の部分のみを硬化し
た後に、溶剤で除去することが可遮光性導電層は、透光
性電極の導1[11性を補ないつつ信号引出部分と光電
変換ルラとが接触している部分への光の照射を遮蔽する
ため5二設けられるものである。この遮光性導管、層は
、kJ、 A、u、 Mo、 Mn 。
、スピンコード等で朽形成後%所卵の部分のみを硬化し
た後に、溶剤で除去することが可遮光性導電層は、透光
性電極の導1[11性を補ないつつ信号引出部分と光電
変換ルラとが接触している部分への光の照射を遮蔽する
ため5二設けられるものである。この遮光性導管、層は
、kJ、 A、u、 Mo、 Mn 。
Ni、 Cr、 ’Cu、 Ti、 V、 W、 Ag
、 Pd、 Pt、 In、 Pb等各種金属を用いる
ことができる。蒸着法、スパッタリング法等の通常の方
法で膜形成を行なってエツチング、リフトオフ等の方法
ζ二より所望の形状C膜形成する。
、 Pd、 Pt、 In、 Pb等各種金属を用いる
ことができる。蒸着法、スパッタリング法等の通常の方
法で膜形成を行なってエツチング、リフトオフ等の方法
ζ二より所望の形状C膜形成する。
エツチング液はこの遮51L性導電層を選択的に除去す
るものを用いるが、前述と同様にリフトオフ法の方が好
ましい。
るものを用いるが、前述と同様にリフトオフ法の方が好
ましい。
本発明の構成をとる光電変換素子では、本来光を検知す
ることを目的としていない部分、すなわち信号引出部分
と光電変換層と透光性電極とが重なり合った部分C二照
射される光を遮蔽することができるので、この部分から
生ずるノイズを減少することかできる。またこの遮蔽の
ために用いる遮光性導電層により透光性電極の゛傅電率
を補なうことができるので、従来用いられていた補助電
極を新たに設ける必要がない。
ることを目的としていない部分、すなわち信号引出部分
と光電変換層と透光性電極とが重なり合った部分C二照
射される光を遮蔽することができるので、この部分から
生ずるノイズを減少することかできる。またこの遮蔽の
ために用いる遮光性導電層により透光性電極の゛傅電率
を補なうことができるので、従来用いられていた補助電
極を新たに設ける必要がない。
さらf二このようC;遮光性導電層を設けることによす
、信号引出部分は電極の配列方向に対し一方向のみでは
なく、左右f;振りわけて設けることができるので、信
号引出部分の密度をあけることができる。例えば、電極
を直線状C二配列し、各々の電極の信号引出部分を交互
C二左右C二ふりわけて設けることf二より、信号引出
部分の密度は従来と同数の電極ζニした場合で1/2と
なり、電極なさらに細分割できるととl二なる。従って
光電変換素子の高精細化が可能となる。
、信号引出部分は電極の配列方向に対し一方向のみでは
なく、左右f;振りわけて設けることができるので、信
号引出部分の密度をあけることができる。例えば、電極
を直線状C二配列し、各々の電極の信号引出部分を交互
C二左右C二ふりわけて設けることf二より、信号引出
部分の密度は従来と同数の電極ζニした場合で1/2と
なり、電極なさらに細分割できるととl二なる。従って
光電変換素子の高精細化が可能となる。
また透光性絶縁N を二より、遮光性導電層と、光電変
換層及び透光性電極は大部分が絶縁される。
換層及び透光性電極は大部分が絶縁される。
従って光検知部分以外の部分からの暗電流慕二よって生
ずるノイズは極めて小さくなる。信号引出部分の形状に
もよるが、透光性絶縁層がない場合Sニルべ、暗電流は
1/10以下C二小さくすることが可能となる。また信
号引出部分と遮光性導電層との重なりあった部分C二介
在する透光性絶縁膜により得られる静電容量は、隣接す
る信号引出部分間シ:生じる配線間静電容量に比較して
例えば30倍以上大きいため、容量カップリングによる
隣接する信号引出部分間のリークが極めて低減される。
ずるノイズは極めて小さくなる。信号引出部分の形状に
もよるが、透光性絶縁層がない場合Sニルべ、暗電流は
1/10以下C二小さくすることが可能となる。また信
号引出部分と遮光性導電層との重なりあった部分C二介
在する透光性絶縁膜により得られる静電容量は、隣接す
る信号引出部分間シ:生じる配線間静電容量に比較して
例えば30倍以上大きいため、容量カップリングによる
隣接する信号引出部分間のリークが極めて低減される。
さら(=、光電変換層及び透光性′r4L極は透光性絶
縁層f二より保護されているため、外部からの酸。
縁層f二より保護されているため、外部からの酸。
アルカリ、不純物イオン等の侵入を阻止することができ
、素子の劣化、暗電流の増加等を防ぐことができる。
、素子の劣化、暗電流の増加等を防ぐことができる。
また光電変換素子を蓄積モードで使用する場合、電極と
透光性電極間C二信号を電荷として蓄えるため、を極−
透光性電極間の容i+1が小さいと、蓄積時間が長い場
合や、入射光景が大きい場合等は電荷が飽和し易い。し
かしながら本発明−二おける透光性絶縁層を設けること
C二より、仁の透光性絶縁層が信号引出部分と遮光性導
電層とC二よりはさまれた部分が容量として加算される
ため、新たC二容世を付加することなく必要gニルじ所
望の容量な作り出すことができる。
透光性電極間C二信号を電荷として蓄えるため、を極−
透光性電極間の容i+1が小さいと、蓄積時間が長い場
合や、入射光景が大きい場合等は電荷が飽和し易い。し
かしながら本発明−二おける透光性絶縁層を設けること
C二より、仁の透光性絶縁層が信号引出部分と遮光性導
電層とC二よりはさまれた部分が容量として加算される
ため、新たC二容世を付加することなく必要gニルじ所
望の容量な作り出すことができる。
以上のような構成の光電変換部を基板上に形成する。仁
の時、例えば基板とは反対側から光を入射する場合は、
電極(信号引出部分を含めて)。
の時、例えば基板とは反対側から光を入射する場合は、
電極(信号引出部分を含めて)。
光電変換層、透光性電極、透光性絶帽1遮光性導電層を
順次基板上に形成すれば良い。また基板側から光を入射
する場合は、基板として所望の波長帯域の光を透過する
透明な基板を用い、遮光性導電層、透光性絶縁層、透光
性電極、光電変換1=。
順次基板上に形成すれば良い。また基板側から光を入射
する場合は、基板として所望の波長帯域の光を透過する
透明な基板を用い、遮光性導電層、透光性絶縁層、透光
性電極、光電変換1=。
電極の順5二基板上に形成すれば良い。
[発明の効果]
以上説明したように本発明C二よれば、ノイズが低減さ
れ、高梢細化可能な光電変換素子を得ることができ、密
着型イメージセンサとして好適である。また、銹光性絶
縁膜により、隣接する信号読出部分間の容量結合を小さ
くすることができるため、信号の小さい蓄積モードで使
用する密着型イメージセンサとして好適である。
れ、高梢細化可能な光電変換素子を得ることができ、密
着型イメージセンサとして好適である。また、銹光性絶
縁膜により、隣接する信号読出部分間の容量結合を小さ
くすることができるため、信号の小さい蓄積モードで使
用する密着型イメージセンサとして好適である。
[発明の実施例]
本発明の実施例を以下説明する。
第2図は本発明光電変換素子の実施例を示す図であり、
同図(a)は平面図、同図(b)は同図(a)中A −
A′にて切断したときの断面図である0セラミツク基栃
上(;グレーズ層を用いたもの又はガラスを基板(1)
と1て用いこの基板(1)上じCrを蒸着し、直線状C
二配列された製ノ数の電極(2)及びこの直線C二対し
交互に左右に振りわけられた信号引出部分(2a)を形
成する。この信号引出部分(2a)のうち透光性電極(
4)と対向しない部分(2a’)は他の部分Cニルべ幅
広C膜形成する。続いて、少なくともこの電極(2)を
恨うごとく(ニフ”ラズマCVD法C;工りa −S
+からなる光電変換層(8)を設け、さらC二この光電
変換層(81上にITO族をスノくツタ≠リング法又は
スプレー法にて設け、エツチング法、リフトオフ法等i
二より所望の形状の透光性電極(4)とする。又、 a
’INhsr i 5 JJ −8酌=l *xクスl
)−夕5@ t 肩□、L/ !L 、+ e次いでS
i02. Aj20B等をスパッタリング法、蒸着法
等により、光電変換層(S+、a光性電極(剣及び信号
引出部分(2a)(2a’)を覆うようじ形成し、透光
性N!X緑層(6)とする0この透光性絶縁層(6)形
成の際、リフトオフ法により電極(2)の配列方向の幅
より多少大きい間隔をおいて2本のスリットを形成し、
透光性電極(4)と遮光性導電層(5)との導通用の孔
(6a)とする。この孔(6a)は透光性電極(4)が
存在する範囲で電極(2)の配列方向(二延びた形で形
成光性等電層(5′)を形成する。この時遮光性導電層
(6′)をリフトオフ法ぎ二より、電極(2)が配列さ
れた方向にこの電極(2)幅のスリット部(5’a)を
有する形状とする。リフトオフ法は、レジストパターン
を形成して行なうが、位置合わせは数μmのオーダで可
能であり、高精度の位置合わせができる。
同図(a)は平面図、同図(b)は同図(a)中A −
A′にて切断したときの断面図である0セラミツク基栃
上(;グレーズ層を用いたもの又はガラスを基板(1)
と1て用いこの基板(1)上じCrを蒸着し、直線状C
二配列された製ノ数の電極(2)及びこの直線C二対し
交互に左右に振りわけられた信号引出部分(2a)を形
成する。この信号引出部分(2a)のうち透光性電極(
4)と対向しない部分(2a’)は他の部分Cニルべ幅
広C膜形成する。続いて、少なくともこの電極(2)を
恨うごとく(ニフ”ラズマCVD法C;工りa −S
+からなる光電変換層(8)を設け、さらC二この光電
変換層(81上にITO族をスノくツタ≠リング法又は
スプレー法にて設け、エツチング法、リフトオフ法等i
二より所望の形状の透光性電極(4)とする。又、 a
’INhsr i 5 JJ −8酌=l *xクスl
)−夕5@ t 肩□、L/ !L 、+ e次いでS
i02. Aj20B等をスパッタリング法、蒸着法
等により、光電変換層(S+、a光性電極(剣及び信号
引出部分(2a)(2a’)を覆うようじ形成し、透光
性N!X緑層(6)とする0この透光性絶縁層(6)形
成の際、リフトオフ法により電極(2)の配列方向の幅
より多少大きい間隔をおいて2本のスリットを形成し、
透光性電極(4)と遮光性導電層(5)との導通用の孔
(6a)とする。この孔(6a)は透光性電極(4)が
存在する範囲で電極(2)の配列方向(二延びた形で形
成光性等電層(5′)を形成する。この時遮光性導電層
(6′)をリフトオフ法ぎ二より、電極(2)が配列さ
れた方向にこの電極(2)幅のスリット部(5’a)を
有する形状とする。リフトオフ法は、レジストパターン
を形成して行なうが、位置合わせは数μmのオーダで可
能であり、高精度の位置合わせができる。
このような構成をとる光電変換素子では、信号引出部分
(2a)と光電変換層(8)と透光性電極(4)との爪
なりあった部分l二照射される光(hν)が、遮光性導
電E4(5) l二より遮蔽されるので、この部分から
のノイズの発生を防止できる。
(2a)と光電変換層(8)と透光性電極(4)との爪
なりあった部分l二照射される光(hν)が、遮光性導
電E4(5) l二より遮蔽されるので、この部分から
のノイズの発生を防止できる。
捷た信号引出部分(2a)を交互(二左右C二振りわけ
て設けたことC:、より、信号引出部分(2a)の密度
を従来の1/2Iニすることができるので%電極(2)
の密度を従来のものCニル較して2倍程度1で高めるこ
とができる。従来法によれは実装の面から信号引出部分
(2a)の密度は8本/屑宥程度が限界でありこれに伴
ない電極(2)も8個/l1lIが限界であった。しか
しながら本発明のようζ二信号引出部分(2a)を左右
、4二振りわけたことにより、信号引出部分(2a)の
密度を従来と同様8本/關ししても電極(2a)は、1
6個/ IIJI程度までiノ11分割可能であるので
、例えば12個/酵程度以」二の電極(2)を設けるこ
とができ、従来の8個/1lJ8度【二比べ高精細な光
電変換素子を得ることができる。
て設けたことC:、より、信号引出部分(2a)の密度
を従来の1/2Iニすることができるので%電極(2)
の密度を従来のものCニル較して2倍程度1で高めるこ
とができる。従来法によれは実装の面から信号引出部分
(2a)の密度は8本/屑宥程度が限界でありこれに伴
ない電極(2)も8個/l1lIが限界であった。しか
しながら本発明のようζ二信号引出部分(2a)を左右
、4二振りわけたことにより、信号引出部分(2a)の
密度を従来と同様8本/關ししても電極(2a)は、1
6個/ IIJI程度までiノ11分割可能であるので
、例えば12個/酵程度以」二の電極(2)を設けるこ
とができ、従来の8個/1lJ8度【二比べ高精細な光
電変換素子を得ることができる。
−1:た遮光性導電膜(鴎は透光性絶縁層)の導電率を
袖なうことができるので、従来用いられていた補助電極
を新たに設ける必要がない。また密着型イメージセ/す
では、ロッドアレイレンズ等C二より光を絞って光電変
換索子C:照射するが、このよう1ニスリット部(5’
a)を有する遮光性導電層間を設けた本発明の光電変換
素子を用いれば、この遮光性導電層(i) r二より不
必要な部分に照射される光を遮断することができ、非常
区:有効である。
袖なうことができるので、従来用いられていた補助電極
を新たに設ける必要がない。また密着型イメージセ/す
では、ロッドアレイレンズ等C二より光を絞って光電変
換索子C:照射するが、このよう1ニスリット部(5’
a)を有する遮光性導電層間を設けた本発明の光電変換
素子を用いれば、この遮光性導電層(i) r二より不
必要な部分に照射される光を遮断することができ、非常
区:有効である。
さらに透光性絶縁層(6)を設けたこと6二より、電極
(2j、光電変換# (81、透光性電極(4)が重な
り合つlこ光検知部分以外の光電変換層(8)は、遮光
性導電層(5′)と電気的C−絶縁されているため、光
検知部分以外から生ずる暗電流C二起因するノイズを極
めて低減することができる。また、信号引出部分(2a
)と遮光性導電層(5′)とが透光性絶縁層(0)を介
して対向する部分に生ずる容量(A)は、隣接する信号
引出部分(2a)間5二生ずる容i (B)に比べて大
きいため、この信号引出部分(2a)間の容量カップリ
ングが低減され、クロストークが小さくなる。また光電
変換素子を蓄積タイプで動作させる場合、容量(A)は
電極(2)、光電変換層(8)、透光性電極(4)によ
って形成される容i (C)に並列に接続されることに
なるため、実質的に容量(C)が大きくなったのと同様
の効果を得ることができる。従って入射光猾が大きい場
合でも電荷が飽和しI:<<、検知可能な光量領域を広
げることができる。前記容量(A)は、透光性絶縁層(
0)を介して対向する信号引出部分(2a) 、遮光性
導電層(5′)の対向面積をかえることにより変化させ
ることができるため、所望の容量(A)を容易に得るこ
とができる。このように種々の効果を生み出す透光性絶
縁層(6)は、例えば、8 A02やAJ208等の無
’jP * # ii9の場合0.2μm〜3μm程度
の厚さが好ましい。この範囲以下だとピンボールが生じ
やすく、又この範囲を越えると亀裂が生じやすい。また
あまり厚すぎると容量が形成されなくなる。
(2j、光電変換# (81、透光性電極(4)が重な
り合つlこ光検知部分以外の光電変換層(8)は、遮光
性導電層(5′)と電気的C−絶縁されているため、光
検知部分以外から生ずる暗電流C二起因するノイズを極
めて低減することができる。また、信号引出部分(2a
)と遮光性導電層(5′)とが透光性絶縁層(0)を介
して対向する部分に生ずる容量(A)は、隣接する信号
引出部分(2a)間5二生ずる容i (B)に比べて大
きいため、この信号引出部分(2a)間の容量カップリ
ングが低減され、クロストークが小さくなる。また光電
変換素子を蓄積タイプで動作させる場合、容量(A)は
電極(2)、光電変換層(8)、透光性電極(4)によ
って形成される容i (C)に並列に接続されることに
なるため、実質的に容量(C)が大きくなったのと同様
の効果を得ることができる。従って入射光猾が大きい場
合でも電荷が飽和しI:<<、検知可能な光量領域を広
げることができる。前記容量(A)は、透光性絶縁層(
0)を介して対向する信号引出部分(2a) 、遮光性
導電層(5′)の対向面積をかえることにより変化させ
ることができるため、所望の容量(A)を容易に得るこ
とができる。このように種々の効果を生み出す透光性絶
縁層(6)は、例えば、8 A02やAJ208等の無
’jP * # ii9の場合0.2μm〜3μm程度
の厚さが好ましい。この範囲以下だとピンボールが生じ
やすく、又この範囲を越えると亀裂が生じやすい。また
あまり厚すぎると容量が形成されなくなる。
例えば信号引出部分(2a)のうち幅広の部分(2a’
)の幅を50μm、透光性乾糸イ:層(6)としてのA
4408層0.8μm厚を介して遮光性′市極(g)と
対向する部分の厚さ5+uとすると、その間に形成され
る容量は30PF程度で4)る。一方電極(2)を50
μm角(16本7.、(二相当)とすると1μm厚のa
−8iを光電変換層(8)とした場合、 0.5PF’
程度である。1個当りの容量はこの和となるため、大幅
に容量を増加することができる。またイシ号引出部分(
2a)のピッチを12577m (8本/IIJIに相
当)とすると隣接する信号引出部分(2a)間の容量は
工PF未満であり、クロストークはほとんど無視できる
。
)の幅を50μm、透光性乾糸イ:層(6)としてのA
4408層0.8μm厚を介して遮光性′市極(g)と
対向する部分の厚さ5+uとすると、その間に形成され
る容量は30PF程度で4)る。一方電極(2)を50
μm角(16本7.、(二相当)とすると1μm厚のa
−8iを光電変換層(8)とした場合、 0.5PF’
程度である。1個当りの容量はこの和となるため、大幅
に容量を増加することができる。またイシ号引出部分(
2a)のピッチを12577m (8本/IIJIに相
当)とすると隣接する信号引出部分(2a)間の容量は
工PF未満であり、クロストークはほとんど無視できる
。
本実施例では、漏れ電流を少なくしかつ容量を介して遮
光性導t tai t5′+と対向する部分(図中2a
′)は幅広とした。(2a’)部分の幅は30μm以上
程度特C二50μm以上が好ましい0またその間隔も歩
留等を考慮して(2a’)と同等程度の幅が好ましい0
本発明の構成の光電変換素子では、遮光性導X層(5′
)−二より例えば−個の電極(2)に照゛射される光を
遮蔽し、この遮蔽された電極(2)から導出される出力
を暗時出力として用いれば、いつでも容易に暗時出力を
得ることができる。
光性導t tai t5′+と対向する部分(図中2a
′)は幅広とした。(2a’)部分の幅は30μm以上
程度特C二50μm以上が好ましい0またその間隔も歩
留等を考慮して(2a’)と同等程度の幅が好ましい0
本発明の構成の光電変換素子では、遮光性導X層(5′
)−二より例えば−個の電極(2)に照゛射される光を
遮蔽し、この遮蔽された電極(2)から導出される出力
を暗時出力として用いれば、いつでも容易に暗時出力を
得ることができる。
捷だ2個以上でも同様の効果を得ることは明らかである
。
。
このような構成をとれば、遮光性導電層(g)で核われ
た電極<i)は常に暗時出力を出し、環境の変化ζ:よ
り暗時出力が変化した場合でも、非常に上動である。
た電極<i)は常に暗時出力を出し、環境の変化ζ:よ
り暗時出力が変化した場合でも、非常に上動である。
また特に遮光性導電層(5)で電極(2)を覆わなくて
も、比較的低温で硬化するイウ1脂で不透明シリコーン
樹脂、不透明エポキシ樹脂等を滴下、印刷、塗布等の手
段により遮光膜として設けてもよい0この場合硬化温度
は、アモルファス8i等の光電変換層の特性を変えない
ように比較的低温、例えば100℃以下程度が好ましい
。捷だ紫外線硬化型樹脂を用いれば、加熱を少しないの
で特に有効である。′1次不透明粘着テープを貼着する
ととC二よっても可能でおる。
も、比較的低温で硬化するイウ1脂で不透明シリコーン
樹脂、不透明エポキシ樹脂等を滴下、印刷、塗布等の手
段により遮光膜として設けてもよい0この場合硬化温度
は、アモルファス8i等の光電変換層の特性を変えない
ように比較的低温、例えば100℃以下程度が好ましい
。捷だ紫外線硬化型樹脂を用いれば、加熱を少しないの
で特に有効である。′1次不透明粘着テープを貼着する
ととC二よっても可能でおる。
第1図は従来の′yt、を変換素子を示す平面図及び断
面図、82図は本発明の光電変換素子を示す平面図及び
断面図0 1・・・基板 2・・・臂1.極 2a・・・イざ号引出部分 3・・・光電変換層4・・
・透光性電極 5′・・・遮光性導電層5′a・・・ス
リット部 6・・・透光性絶縁層6a・・・孔 第1図 (cL) (!:)) 第 2 図
面図、82図は本発明の光電変換素子を示す平面図及び
断面図0 1・・・基板 2・・・臂1.極 2a・・・イざ号引出部分 3・・・光電変換層4・・
・透光性電極 5′・・・遮光性導電層5′a・・・ス
リット部 6・・・透光性絶縁層6a・・・孔 第1図 (cL) (!:)) 第 2 図
Claims (3)
- (1)絶縁性基板と、前記絶縁性基板上lユ形成された
光電変換部とを具備し、 前記光電変換部は、複数の電極と、前記電極から信号を
導出するため前記電極の配列方向5二対し左右に振り分
けて設けられた信号引出部分と、少なくとも前記電極上
(二設けられた光電変換層と、前記光電変換層上C′″
−設けられた透光性電極と、少なくとも前記透光性電極
及び前記光電変換層をαうようC二形成された透光性絶
縁層と、前記光電変換〜と信号引出部分とが接触する部
分に照射される光を毀薮するように前記透光性絶縁層上
に設けられた遮光性導電層とを備え、前記透光性絶縁層
は、前記連光性導電層と透光性電極とを電気的冨二接続
するための孔を有することを特徴とした光電変換素子。 - (2)前記@倹が直線状に複数個配列され、前記電極の
信号引出部分が電極の配列方向に対し左右C二交互に導
出され、前記遮光性導電層が1fi&に光が照射される
スリット部を有することを%童とした特許請求の範囲第
1項記載の光電変換素子。 - (3)前記孔が前記スリット部の両側C二平行してスリ
ット状5:形成されたことを!rテ徴とする特許請求の
範囲第2功記載の光電変換素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58144426A JPS6037161A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 光電変換素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58144426A JPS6037161A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 光電変換素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6037161A true JPS6037161A (ja) | 1985-02-26 |
Family
ID=15361910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58144426A Pending JPS6037161A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 光電変換素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6037161A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6421957A (en) * | 1987-07-16 | 1989-01-25 | Fuji Xerox Co Ltd | Image sensor |
| JPS6418754U (ja) * | 1987-07-22 | 1989-01-30 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5887862A (ja) * | 1981-11-20 | 1983-05-25 | Fuji Xerox Co Ltd | 長尺一次元薄膜センサ |
-
1983
- 1983-08-09 JP JP58144426A patent/JPS6037161A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5887862A (ja) * | 1981-11-20 | 1983-05-25 | Fuji Xerox Co Ltd | 長尺一次元薄膜センサ |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6421957A (en) * | 1987-07-16 | 1989-01-25 | Fuji Xerox Co Ltd | Image sensor |
| JPS6418754U (ja) * | 1987-07-22 | 1989-01-30 |
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