JPS6037760Y2 - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPS6037760Y2
JPS6037760Y2 JP11118076U JP11118076U JPS6037760Y2 JP S6037760 Y2 JPS6037760 Y2 JP S6037760Y2 JP 11118076 U JP11118076 U JP 11118076U JP 11118076 U JP11118076 U JP 11118076U JP S6037760 Y2 JPS6037760 Y2 JP S6037760Y2
Authority
JP
Japan
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memory
memory cell
column
lines
pass line
Prior art date
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Expired
Application number
JP11118076U
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English (en)
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JPS5329238U (ja
Inventor
淳一 茂木
清 宮坂
文雄 馬場
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、複数個のメモリセルを同一半導体基板上に集
積化してなる半導体記憶装置の構造に関するものである
。
半導体記憶装置の発展は目覚しく、とくにMOS形の半
導体記憶装置は磁気メモリを駆逐して、はとんどのコン
ピュータの主記憶装置に使用されるようになった。
また、半導体記憶装置〔主としてRAM (Random Access Memory))の集
積度も小ビットが商用として標準的なものとなっており
、この集積度は今後も引続き増加して挾ビットの商用化
もほとんど遠戚されている。
ところで、MO3型RAMを中心とした半導体記憶装置
は、メモリセルアレイを中心としてその周囲にデコーダ
などの付属回路を配置して構成されており、従来のビッ
ト数を増加させる思考は、メモリセルアレイを大型にし
、その周囲に配置する付属回路もこれにともなった大き
さにするというものであった。
しかしボビット以上にもなると、メモリセルアレイ中を
走るビット線、ワード線、それにメモリセルを駆動する
電源ソース線などの配線が複雑になり、これにともなっ
て周辺に配置した付属回路との接続も複雑となるため従
来の思考により集積度を向上させることは困難である。
本考案は、上述の如き技術的な行詰りを打開しようとす
る新規な考案であり、その目的は配線構造を複雑にする
ことなく集積度を向上させることができる半導体集積回
路を提供することにある。
上記の目的は複数個のメモリセルを同一半導体基板上に
集積化してなる半導体記憶装置において、複数個のメモ
リセルからなり左右の側部に各メモリセルの信号線また
は電源線等が導出された端子部を設けたメモリセルブロ
ックを縦方向配列した第1のメモリ列と該端子部が該第
1のメモリ列と左右逆に配置された第2のメモリ列を構
戊し、該第11第2のメモリ列を交互に横方向に複数列
同一半導体基板上に集積化して配列し、該第1、第2の
メモリ列間に並設された共通のパスラインに該パスライ
ンの両側に位置する端子部を接続してなることを特徴と
する半導体記憶装置を提供することによって達成される
。
以下実施例について詳細に説明する。
第1図は本考案の基本となった半導体記憶装置のブロッ
ク図である。
同図において、1はメモリセルブロックである。
各メモリセルブロックは、第2図に示すように、たとえ
ば3つのMO3形トランジスタTR□。
TR2,TR3からなる3トランジスタ・メモリセル2
を第3図に示すようにマトリクス状に配置し、その左右
に端子部3および4を設け、端子部3には各メモリセル
2の読出しデジット線5および書込みデジット線が導出
され、端子部4には読出しワード線7、書込みワード線
8および電源線9が導出されている。
このように構成されたメモリセルブロック1を複数個縦
方向に重ねて、第1図に示すように、メモリ列Aおよび
Bを構成する。
メモリ列AおよびBに並行して、パスライン群、10,
11,12.13が設けられる。
パスライン群10および11は、リフレッシュならびに
読み書き列選択回路(以下RRC回路と略記する)14
から導出され、パスライン群12および13は行方向の
バッファアンプ15から導出される。
そして各パスライン群を構成している1本1本のパスラ
インは、各メモリセルブロックの端子部3および4の所
定位置の端子と導体16で接続される。
また前記パスライン群と並設されている電源用パスライ
ン17も、端子部4の所定の端子と接続される。
なお、第1図において、18は行デコーダ、19は列デ
コーダ、20は入出力回路である。
このように、メモリセルアレイを数ブロックに分け、各
メモリセルブロックの左右に端子部を設け、これらのメ
モリセルブロックの端子部を設けていない部分どうしを
並べてメモリブロック列を構成すれば、メモリセルブロ
ック列間に設けた各パスライン群どうしがほとんど交差
することがなく簡素化される。
本考案は第1図に示す半導体記憶装置の配線構造を更に
簡素化するものである。
以下第4図乃至第6図を参照し本考案の一実施例を説明
する。
すなわち、第4図の如く、メモリセル2を第3図と同様
にマトリックス状に配置し、その左端に端子部21を設
けるとともに、その右端に端子部22を設ける。
そして端子部21には読出しおよび書込みワード線を導
出し、端子部22には書込み読出しデジット線および電
源線を導出してメモリセルブロック23を構成する。
サラにもう一つのメモリセルブロック23′は、第5図
のように、メモリセル2をマトリックス状に配置し、そ
の右端に端子部21′を設けるとともに、その左端にも
端子部22′を設ける。
そして端子部21′には読出しおよび書込みワード線を
導出し、端子部22′には書込み読出しデジット線およ
び電源線を導出し、端子部の配置をメモリセルブロック
23とちょうど左右反対にする。
そして、メモリセルブロック23を第6図に示すように
縦方向に複数個配置して第1のメモリ列CおよびEを構
成し、さらにメモリブロック23′を縦方向に複数個配
置して第2のメモリ列りを構成し、このメモリ列りを第
1のメモリ列CおよびEの間に配置し、第1のメモリ列
と端子部が左右逆に配置された第2のメモリ列が交互に
横方向に配列される様にする。
このようにメモリセルブロックを配置すれば、各メモリ
列間のパスライン群は、第1図の様に行方向のものと列
方向のものとが混在することがなく、配線構造がさらに
簡素化される。
以上詳細に説明したように、本考案は、側方に端子部を
設けたメモリセルブロックを縦方向に配列してメモリ列
を構成し、かっとなりあうメモリ列の端子部の配置が左
右逆になる様に構成したので、1本のパスラインをそれ
をはさむ左右のメモリ列が共用できるので配線構造が非
常に簡単になり、このため、メモリセルの集積度を上げ
ても配線の複雑さからくる設計上の行き詰まりは解消さ
れた。
なお、本考案は、3M0Sトランジスタセルを用いたラ
ンダムアクセスメモリについて説明を行ったが、メモリ
セルとしては、4トランジスタ、1トランジスタ形のM
OSメモリセルでもよく、またバイポーラ形トランジス
タのメモリセルでもよく、さらにフリップ・フロップ形
の基本形によるスタティック形のメモリセルでもよい。
このはか、リードオンリー形のメモリセルでもよいこと
はもちろんである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の基本となった半導体記憶装置のブロッ
ク図、第2図はメモリセルの回路図、第3図乃至第5図
は、それぞれ種類の異なったメモリセルブロックの配置
図、第6図は半導体記憶装置の一実施例のブロック図で
ある。 図において、1はメモリセルブロック、2はメモリセル
ブロック、3および4は端子部、10乃至13はパスラ
イン群、16は導体である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 複数個のメモリセルを同一半導体基板上に集積化してな
    る半導体記憶装置において、複数個のメモリセルからな
    り左右の側部に各メモリセルの信号線または電源線等が
    導出された端子部を設けたメモリセルブロックを縦方向
    に配列した第1のメモリ列と該端子部が該第1のメモリ
    列と左右逆に配置された第2のメモリ列を構成し、該第
    1、第2のメモリ列を交互に横方向に複数列同一半導体
    基板上に集積化して配列し、該第11第2のメモリ列間
    に並設された共通のパスラインに該パスラインの両側に
    位置する端子部を接続してなることを特徴とする半導体
    記憶装置。
JP11118076U 1976-08-19 1976-08-19 半導体記憶装置 Expired JPS6037760Y2 (ja)

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JP11118076U JPS6037760Y2 (ja) 1976-08-19 1976-08-19 半導体記憶装置

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JP11118076U JPS6037760Y2 (ja) 1976-08-19 1976-08-19 半導体記憶装置

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Publication Number Publication Date
JPS5329238U JPS5329238U (ja) 1978-03-13
JPS6037760Y2 true JPS6037760Y2 (ja) 1985-11-11

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JP11118076U Expired JPS6037760Y2 (ja) 1976-08-19 1976-08-19 半導体記憶装置

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