JPS6038731A - 磁気記録体 - Google Patents
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- JPS6038731A JPS6038731A JP58145396A JP14539683A JPS6038731A JP S6038731 A JPS6038731 A JP S6038731A JP 58145396 A JP58145396 A JP 58145396A JP 14539683 A JP14539683 A JP 14539683A JP S6038731 A JPS6038731 A JP S6038731A
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- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 41
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 31
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 31
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract description 15
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 7
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 32
- 238000007747 plating Methods 0.000 abstract description 17
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 abstract description 8
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 229910018104 Ni-P Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910018536 Ni—P Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 abstract 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 10
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- -1 aluminum alloy Chemical class 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000361 cobalt sulfate Inorganic materials 0.000 description 2
- 229940044175 cobalt sulfate Drugs 0.000 description 2
- KTVIXTQDYHMGHF-UHFFFAOYSA-L cobalt(2+) sulfate Chemical compound [Co+2].[O-]S([O-])(=O)=O KTVIXTQDYHMGHF-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 2
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- KWSLGOVYXMQPPX-UHFFFAOYSA-N 5-[3-(trifluoromethyl)phenyl]-2h-tetrazole Chemical compound FC(F)(F)C1=CC=CC(C2=NNN=N2)=C1 KWSLGOVYXMQPPX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 1
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052689 Holmium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005041 Mylar™ Substances 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010047700 Vomiting Diseases 0.000 description 1
- 238000010306 acid treatment Methods 0.000 description 1
- BFNBIHQBYMNNAN-UHFFFAOYSA-N ammonium sulfate Chemical compound N.N.OS(O)(=O)=O BFNBIHQBYMNNAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052921 ammonium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011130 ammonium sulphate Nutrition 0.000 description 1
- 238000007743 anodising Methods 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- WPUMTJGUQUYPIV-JIZZDEOASA-L disodium (S)-malate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C(=O)[C@@H](O)CC([O-])=O WPUMTJGUQUYPIV-JIZZDEOASA-L 0.000 description 1
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005188 flotation Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LGQLOGILCSXPEA-UHFFFAOYSA-L nickel sulfate Chemical compound [Ni+2].[O-]S([O-])(=O)=O LGQLOGILCSXPEA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910000363 nickel(II) sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002843 nonmetals Chemical class 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000019265 sodium DL-malate Nutrition 0.000 description 1
- 229910001379 sodium hypophosphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001394 sodium malate Substances 0.000 description 1
- PRWXGRGLHYDWPS-UHFFFAOYSA-L sodium malonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C(=O)CC([O-])=O PRWXGRGLHYDWPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- SDVHRXOTTYYKRY-UHFFFAOYSA-J tetrasodium;dioxido-oxo-phosphonato-$l^{5}-phosphane Chemical compound [Na+].[Na+].[Na+].[Na+].[O-]P([O-])(=O)P([O-])([O-])=O SDVHRXOTTYYKRY-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008673 vomiting Effects 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/72—Protective coatings, e.g. anti-static or antifriction
Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
久 磁気ドラム、磁気テープ等の磁気記録体にかかる。
近年、高密度磁気記録体として、記録媒体(磁性層)に
磁性金属薄膜を用いた(Vi&気ディスク等が用いられ
始めた。記録媒体にal性金属薄膜を用いる利点は、飽
和磁束密度が大きいので媒体の薄膜化が可能であり、ま
た高保磁力が得られるだめ高密度記録に適することであ
る。磁性金属薄膜の他の利点は、無電解メッキ、電気メ
ッキ、スパッタ蒸着等の方法で薄膜作製が容易なことで
ある。
磁性金属薄膜を用いた(Vi&気ディスク等が用いられ
始めた。記録媒体にal性金属薄膜を用いる利点は、飽
和磁束密度が大きいので媒体の薄膜化が可能であり、ま
た高保磁力が得られるだめ高密度記録に適することであ
る。磁性金属薄膜の他の利点は、無電解メッキ、電気メ
ッキ、スパッタ蒸着等の方法で薄膜作製が容易なことで
ある。
ところで、磁気記録装置における高記録密度化への要M
は、年々高まりつつあり、これを実現するために磁気記
録体の媒体特性の改善、媒体の薄膜化および磁気ヘッド
の特性改善とともに、へyドー媒体分離長の減少が不可
欠となっている。
は、年々高まりつつあり、これを実現するために磁気記
録体の媒体特性の改善、媒体の薄膜化および磁気ヘッド
の特性改善とともに、へyドー媒体分離長の減少が不可
欠となっている。
磁気テープ、フロッピディスク等の磁気記録体は記録密
度を最大限に高めるだめに磁気ヘッドと接帥状態もしく
はそれに近い状態で使用される。
度を最大限に高めるだめに磁気ヘッドと接帥状態もしく
はそれに近い状態で使用される。
また、磁気ヘッドを磁気記録体から微小間隔浮上させて
使用する磁気ディスクの場合には、磁気記録装置の高性
能化に伴ないこの浮上間隔を小さくするために磁気ヘッ
ドの荷重を小さくすると同時に接融始動・停止(コンタ
クト・スタート・ストップ,CSS)型のヘッド浮揚シ
ステムが採用されている。このため磁気ヘッドによる磁
気記録体の損傷がしばしば生じる。これを防ぐ有効な方
法として磁性金属薄膜の表面に保護層を設ける方法があ
り、耐久性の改善がはかられてきた。保護層としては耐
摩耗性を有するとともに、−磁性、平?jt性と強固な
密着力をもち、可能な限り薄膜化が図られねばならない
。これらの目的のために従来、抽々の険討が、なされた
が、いづれも不十分であった。
使用する磁気ディスクの場合には、磁気記録装置の高性
能化に伴ないこの浮上間隔を小さくするために磁気ヘッ
ドの荷重を小さくすると同時に接融始動・停止(コンタ
クト・スタート・ストップ,CSS)型のヘッド浮揚シ
ステムが採用されている。このため磁気ヘッドによる磁
気記録体の損傷がしばしば生じる。これを防ぐ有効な方
法として磁性金属薄膜の表面に保護層を設ける方法があ
り、耐久性の改善がはかられてきた。保護層としては耐
摩耗性を有するとともに、−磁性、平?jt性と強固な
密着力をもち、可能な限り薄膜化が図られねばならない
。これらの目的のために従来、抽々の険討が、なされた
が、いづれも不十分であった。
従来、提゛案された方法としてRh、Cr等の高硬度の
金1・4を電気メツキ法によって媒体表面に被覆する方
法があるが、電解液浸漬時に受ける媒体の侵食、寸たけ
それを避けるだめに設ける中間層による保護層の実質的
な膜厚増大という欠点がある。
金1・4を電気メツキ法によって媒体表面に被覆する方
法があるが、電解液浸漬時に受ける媒体の侵食、寸たけ
それを避けるだめに設ける中間層による保護層の実質的
な膜厚増大という欠点がある。
別の方法としてCr、W等の金属、S i 02. k
lt D*等の酸化物を蒸着、スパッタなどの手段で媒
体表面に被覆する方法があるが密着力が不十分であり真
空系内で作製するため化Pa性に問題があった。
lt D*等の酸化物を蒸着、スパッタなどの手段で媒
体表面に被覆する方法があるが密着力が不十分であり真
空系内で作製するため化Pa性に問題があった。
耐摩耗性と密着力に優れた保般層として、coまたはC
o−NiのB1性金飼バj膜の表面′!il−酸化して
Co。
o−NiのB1性金飼バj膜の表面′!il−酸化して
Co。
−〇4の酸化膜を形成する方法が提案された。
例えば、特公昭4220025号では、描度および湿度
を制御した酸化雰囲気中で金属薄膜の表面にに存在する
COを酸化し、保護酸化皮膜を形成する方法が提案され
た。より強固な酸化皮膜を得るだめに陽極酸化による方
法、酸処理による方法さらに空気中で焼成する方法等が
提案された。しかし、上記の方法では広い処理面積にわ
たって均一なCOO化皮膜を得ることは困卸であり、保
護酸化皮膜の厚さのバラツキと歿存磁性層の厚さのバラ
ツキによつ°C1再生出力のJQ−件が損われ、時には
ビットエラーの多発を生じるといつ間1.Qがあった。
を制御した酸化雰囲気中で金属薄膜の表面にに存在する
COを酸化し、保護酸化皮膜を形成する方法が提案され
た。より強固な酸化皮膜を得るだめに陽極酸化による方
法、酸処理による方法さらに空気中で焼成する方法等が
提案された。しかし、上記の方法では広い処理面積にわ
たって均一なCOO化皮膜を得ることは困卸であり、保
護酸化皮膜の厚さのバラツキと歿存磁性層の厚さのバラ
ツキによつ°C1再生出力のJQ−件が損われ、時には
ビットエラーの多発を生じるといつ間1.Qがあった。
このためとれを改善する方法として、US1?4.12
4,736に示される様に記憶媒体の毒性層と保護酸化
皮膜を得るだめの金属層の間に酸化処理の障壁となる中
間層を形成する方法が提案された。
4,736に示される様に記憶媒体の毒性層と保護酸化
皮膜を得るだめの金属層の間に酸化処理の障壁となる中
間層を形成する方法が提案された。
との様な中間層を設けることによって、崎化処浬による
反応が磁性層にまで達することが妨げらノ1かつ、均一
な膜厚の保護醸化皮膜がイ尋られやすいという利点があ
るが、同時に以下の様な間″、看点を含んでいた。
反応が磁性層にまで達することが妨げらノ1かつ、均一
な膜厚の保護醸化皮膜がイ尋られやすいという利点があ
るが、同時に以下の様な間″、看点を含んでいた。
先ず、第一に記憶媒体と保護酸化皮膜の間に酸化処理の
障壁となる中間層を形成することは、保獲膜厚の実質的
な増大となり、記録密度の低下を招く。第二に記録媒体
、中間層、保護層と薄膜の積層数が増加する程、工程が
俣雑化し生産性が損われる。また、中間層にNi住金を
用い酸化処理に高編銑成を伴なう場合、中間層が帯磁し
再生出力の著しい低下を招くおそれがある。
障壁となる中間層を形成することは、保獲膜厚の実質的
な増大となり、記録密度の低下を招く。第二に記録媒体
、中間層、保護層と薄膜の積層数が増加する程、工程が
俣雑化し生産性が損われる。また、中間層にNi住金を
用い酸化処理に高編銑成を伴なう場合、中間層が帯磁し
再生出力の著しい低下を招くおそれがある。
本発明の目的は、上述した従来技術の欠点を改善して、
実用的な耐久性を備えた高密度記録用の磁気記H体を提
供することにある。
実用的な耐久性を備えた高密度記録用の磁気記H体を提
供することにある。
本発明の他の目的は、保護酸化皮膜を有する磁気記録体
のPj生比出力一様性を保持するとともに製作工程の簡
素化をはかることにより、高品質かつ安価な磁気記録体
を提供することにある。
のPj生比出力一様性を保持するとともに製作工程の簡
素化をはかることにより、高品質かつ安価な磁気記録体
を提供することにある。
本発明によれば、基体上に磁性層および保護層が、この
順に設けられた磁気記録体において、前特徴とする(i
気記録体が提供嘔する。
順に設けられた磁気記録体において、前特徴とする(i
気記録体が提供嘔する。
本発明の磁気記録体の基体には、ディスク状、ドラム状
、テープ状等従来公知の櫃々の形状が適用される。基体
の材質とQては、アルミニウム合金、黄銅等の金属、マ
イラー、ポリイミド等の樹脂あるいは、それらの上にN
1−Pメッキ膜、Cu。
、テープ状等従来公知の櫃々の形状が適用される。基体
の材質とQては、アルミニウム合金、黄銅等の金属、マ
イラー、ポリイミド等の樹脂あるいは、それらの上にN
1−Pメッキ膜、Cu。
Cr等の蒸着膜、スパッタj漠などが記t(J媒体のト
地として被覆さ〕tたものが用いら、1する。
地として被覆さ〕tたものが用いら、1する。
本発明の磁気記録体の磁性層としては、CO全全万有た
磁性金属薄膜が望ましい。他の二伏的IN、分としてN
i、 Fe等の金属、P、11等の非金属が含仔されて
いてもよいが、磁性層がaoo Oe以上の保磁力を有
するためには、−):りにt、久性金属簿j]ス中に5
0%以上のCoが含有さJt−Cいる夕要がある。磁性
1市の厚みは、均一性を確深するために0.01μn1
以上とする必要があり、面内記シ方式でto、000B
f’l (1インチ当りのビット環)以上の記録密度を
得る7・こめには、1.0μm程度以下L′こする必要
がある。
磁性金属薄膜が望ましい。他の二伏的IN、分としてN
i、 Fe等の金属、P、11等の非金属が含仔されて
いてもよいが、磁性層がaoo Oe以上の保磁力を有
するためには、−):りにt、久性金属簿j]ス中に5
0%以上のCoが含有さJt−Cいる夕要がある。磁性
1市の厚みは、均一性を確深するために0.01μn1
以上とする必要があり、面内記シ方式でto、000B
f’l (1インチ当りのビット環)以上の記録密度を
得る7・こめには、1.0μm程度以下L′こする必要
がある。
しかし、垂直記録方式公使用する場合にrよ、1.0μ
m以上の膜厚の磁性層な用いること・もてきる。
m以上の膜厚の磁性層な用いること・もてきる。
本発明による磁り層は無電解メッキ法によって形成され
ることが;生産性と膜厚の一様性の点で墜ましいが、電
気メツキ法、蒸着法、スパッタ法等を用いてもよい。
ることが;生産性と膜厚の一様性の点で墜ましいが、電
気メツキ法、蒸着法、スパッタ法等を用いてもよい。
本発明の保愚層の酸化物を形成するだめの金属薄膜とし
ては、記録媒体の磁性層よりも耐酸化性の弱い金属薄膜
でz5ることが要求され、Coを含イJ″し一様な組成
と膜厚を有する連続した金属薄膜であることが要求され
る。十分な耐久性の保詣層を得るためには、この金属薄
膜の膜厚は0.01μm1以上である必要があり、この
金属薄膜は50%以上のCOを含有していることが皇ま
しI/′2oこの金山薄膜は50%以上のCOヲ含有し
ていることが望ましい。この金属i;l膜の耐酸化性が
磁性層のそノLよりも大でJ’+れぼ、Co以外にどの
柱な二次的元素が含有さ!していて・もよいが、金属薄
j換と磁性層の9“1寸酸化性の差が大きい程艮好な品
質の磁気記録体が得られやすい。金属薄膜は一様な組成
と膜厚r有する連続しプこ薄膜が容易に得られる無−解
メツキ法によって形成することか%iしいが、電気メツ
キ法、恭着法、スパッタ法等を用いてもよい。
ては、記録媒体の磁性層よりも耐酸化性の弱い金属薄膜
でz5ることが要求され、Coを含イJ″し一様な組成
と膜厚を有する連続した金属薄膜であることが要求され
る。十分な耐久性の保詣層を得るためには、この金属薄
膜の膜厚は0.01μm1以上である必要があり、この
金属薄膜は50%以上のCOを含有していることが皇ま
しI/′2oこの金山薄膜は50%以上のCOヲ含有し
ていることが望ましい。この金属i;l膜の耐酸化性が
磁性層のそノLよりも大でJ’+れぼ、Co以外にどの
柱な二次的元素が含有さ!していて・もよいが、金属薄
j換と磁性層の9“1寸酸化性の差が大きい程艮好な品
質の磁気記録体が得られやすい。金属薄膜は一様な組成
と膜厚r有する連続しプこ薄膜が容易に得られる無−解
メツキ法によって形成することか%iしいが、電気メツ
キ法、恭着法、スパッタ法等を用いてもよい。
保、i!!!層は金属薄j漢を恒’1liA・恒湿場境
中放置、陽極酸化による方法、酸処理による方法、δら
に空気中で焼成する方法等によって形成さhる。
中放置、陽極酸化による方法、酸処理による方法、δら
に空気中で焼成する方法等によって形成さhる。
次に実施例によって本発明による妨気記φ9休の特徴を
説明する。下記の実jiIli例!’、f’、 /1”
光11:jの41j呆を示す一例で2.って、とこに示
す成分、膜厚、4・σ・理方法等を適宜変ヴし、でもそ
の目的を達成しうろことは当然である。
説明する。下記の実jiIli例!’、f’、 /1”
光11:jの41j呆を示す一例で2.って、とこに示
す成分、膜厚、4・σ・理方法等を適宜変ヴし、でもそ
の目的を達成しうろことは当然である。
一実施例
機械JJTI工により表面を平坦かつ平?1月C、fI
: 、にl・r/゛、ニアルミ合金円板(U径210F
iFL 17.さ1.9 TI、I+ ) 、−にに下
記のメッキ液】f用いて1−1さ34)μ[1]のN1
−Pメツ、キ膜を形成しプこ後、二/:、面宛閤千ノ1
ノ11工It(,1:す:ij’χ而(1,上げし、磁
気ディスク−X3板を?:! 〕こ。
: 、にl・r/゛、ニアルミ合金円板(U径210F
iFL 17.さ1.9 TI、I+ ) 、−にに下
記のメッキ液】f用いて1−1さ34)μ[1]のN1
−Pメツ、キ膜を形成しプこ後、二/:、面宛閤千ノ1
ノ11工It(,1:す:ij’χ而(1,上げし、磁
気ディスク−X3板を?:! 〕こ。
メソ八へ泊′1゜
無電解N1−L’メッキ液シ=−マーBO(日本カニゼ
ン社((H,g ) 次に、この;1一体Fに下^IIJのメッキM2を用(
ハて膜厚0.08μmのCoJJi −P J ツヤj
iGaかC−> h、 ルU3訃層を形成した後、下記
のメッキ液3を用い(ll’J l’+t O,005
0,01,0,02,Oυ4.0.1)6ないしは00
8μIllのco−1’メツ−■膜からなる金属薄膜を
J−成した。
ン社((H,g ) 次に、この;1一体Fに下^IIJのメッキM2を用(
ハて膜厚0.08μmのCoJJi −P J ツヤj
iGaかC−> h、 ルU3訃層を形成した後、下記
のメッキ液3を用い(ll’J l’+t O,005
0,01,0,02,Oυ4.0.1)6ないしは00
8μIllのco−1’メツ−■膜からなる金属薄膜を
J−成した。
メッキ液2゜
無′It解Co−N1−Pメッキ液
硫酸コバルト 0.06 mo 1/I!硫酸ニツケル
0.04 tt 次唾リン酸ナトリウム 0.2Q tt硫酸アンモニウ
ム 010〃 マロン酸ナトリウム 0.30 ” リンゴ酸ナトリウム 0,40 tt pH−1,2コ
ハク酷ナトリウム 0.50 ’ 浴温80℃メッキ液
3゜ 無電解Co−Pメッキ液 硫酸コバルト 0.05mo+/′!!次亜リン酸ナト
リウム 0,2〃 硫醸アンモニウム 05 tt p)I−9,0泊石酸
ナトリウム 0.5〃 浴烏80°Cさらに、これを3
0°C希硫m(濃度3%)溶液に浸潤した後、空気中2
50°Cで1時間)M熱した。浸?1時間はCo−Pメ
ッキ膜厚にliぷじて表1の様に変化させ渇表1゜ こうして得られた磁気ディスクの表面には、Co−Pメ
ッキ膜が酸化されて生じた一様な酸化物保護層が形成さ
れており、表2のC88試験結果に示す様にco−Pメ
ッキ膜厚0.01μm以上のサンプルについては実用上
十分な耐久性が得られた。
0.04 tt 次唾リン酸ナトリウム 0.2Q tt硫酸アンモニウ
ム 010〃 マロン酸ナトリウム 0.30 ” リンゴ酸ナトリウム 0,40 tt pH−1,2コ
ハク酷ナトリウム 0.50 ’ 浴温80℃メッキ液
3゜ 無電解Co−Pメッキ液 硫酸コバルト 0.05mo+/′!!次亜リン酸ナト
リウム 0,2〃 硫醸アンモニウム 05 tt p)I−9,0泊石酸
ナトリウム 0.5〃 浴烏80°Cさらに、これを3
0°C希硫m(濃度3%)溶液に浸潤した後、空気中2
50°Cで1時間)M熱した。浸?1時間はCo−Pメ
ッキ膜厚にliぷじて表1の様に変化させ渇表1゜ こうして得られた磁気ディスクの表面には、Co−Pメ
ッキ膜が酸化されて生じた一様な酸化物保護層が形成さ
れており、表2のC88試験結果に示す様にco−Pメ
ッキ膜厚0.01μm以上のサンプルについては実用上
十分な耐久性が得られた。
表2.0SS試験結果(Nin −Znフェライトヘッ
ド使用)本実施例で得られたfi1気ディスクを下記の
条件で記録再生試験を行なった結果、表3に示す様に均
一な再生出力を示し、磁性層の特性は実用上十分な一様
性が保たれていることが認められた。
ド使用)本実施例で得られたfi1気ディスクを下記の
条件で記録再生試験を行なった結果、表3に示す様に均
一な再生出力を示し、磁性層の特性は実用上十分な一様
性が保たれていることが認められた。
測定条件
ディスク回転数: 3000rpm
使用ヘッド:トラックril18.5μm、キャップ長
0゜8μmコイル巻数16+16゜ ヘッド浮上量−〇、2μm 記録周波数(2F) : 6.08MHzエラー・スラ
イスレベル=60% 表3.記録碍生試験結果 基体および磁性層は本実施例と同様に作製し、磁性層の
上にメッキ液1を用いてN1−Pメッキ膜よりなる中間
層を形成した後、メッキ液2を用いて膜厚0.02μm
のCo−N1−Pメッキ膜よりなる金属薄膜を形成し、
この金属薄膜を酸化して保護層とした磁気ディスクを作
製した。この場合、金属薄膜、磁性層ともにCo−N1
−Pメッキ膜であり、両者の耐酸化性が同等であるため
、金属薄膜の酸化により保護層を形成する工程における
j5.?浸漬処理にはサンプル1〜6で用いた処理液よ
りも高濃度の酸溶液を必要とした。このためサンプル1
〜6の記録再生試験と同じ測定条件において一面当りの
エラー数が100個以下となる磁気ディスクを得るため
には、厚さ0.04μm以上の中間層を必要とし、保護
層の厚さがほぼ同等のサンプル3の場合にくらべて再生
出力が25多程度減少した。
0゜8μmコイル巻数16+16゜ ヘッド浮上量−〇、2μm 記録周波数(2F) : 6.08MHzエラー・スラ
イスレベル=60% 表3.記録碍生試験結果 基体および磁性層は本実施例と同様に作製し、磁性層の
上にメッキ液1を用いてN1−Pメッキ膜よりなる中間
層を形成した後、メッキ液2を用いて膜厚0.02μm
のCo−N1−Pメッキ膜よりなる金属薄膜を形成し、
この金属薄膜を酸化して保護層とした磁気ディスクを作
製した。この場合、金属薄膜、磁性層ともにCo−N1
−Pメッキ膜であり、両者の耐酸化性が同等であるため
、金属薄膜の酸化により保護層を形成する工程における
j5.?浸漬処理にはサンプル1〜6で用いた処理液よ
りも高濃度の酸溶液を必要とした。このためサンプル1
〜6の記録再生試験と同じ測定条件において一面当りの
エラー数が100個以下となる磁気ディスクを得るため
には、厚さ0.04μm以上の中間層を必要とし、保護
層の厚さがほぼ同等のサンプル3の場合にくらべて再生
出力が25多程度減少した。
以上の実施例により明らかなように基体、磁性層および
保護層の順に設けられた磁気記録体において、前記保護
層となる酸化物形成に用いる金属薄膜に前記磁性層より
も耐酸化性の弱い金属膜を用いることにより、実用的な
耐久性を有1−一様な再生出力の得られる磁気記録体が
得られる。特に磁性層と保護層の間に中間層を形成した
従来の磁気記録体に比べ、ヘッド−媒体分離長低減によ
る再生出力の増大が図れるとともに、製作工程の簡素化
がiiJ能となり、本発明の実用的、工業的価値は極め
て高い。
保護層の順に設けられた磁気記録体において、前記保護
層となる酸化物形成に用いる金属薄膜に前記磁性層より
も耐酸化性の弱い金属膜を用いることにより、実用的な
耐久性を有1−一様な再生出力の得られる磁気記録体が
得られる。特に磁性層と保護層の間に中間層を形成した
従来の磁気記録体に比べ、ヘッド−媒体分離長低減によ
る再生出力の増大が図れるとともに、製作工程の簡素化
がiiJ能となり、本発明の実用的、工業的価値は極め
て高い。
Claims (1)
- 基体上に磁性層および保護層が、この順に設けられた磁
気記0体において、前記保護層が前記磁性層よりも耐酸
化性の弱い金属薄膜を酸化することにより形成された層
であることを特徴とする磁気記録体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58145396A JPS6038731A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 磁気記録体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58145396A JPS6038731A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 磁気記録体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6038731A true JPS6038731A (ja) | 1985-02-28 |
Family
ID=15384290
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58145396A Pending JPS6038731A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 磁気記録体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6038731A (ja) |
-
1983
- 1983-08-09 JP JP58145396A patent/JPS6038731A/ja active Pending
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