JPS6042382Y2 - 平均周波数測定装置 - Google Patents

平均周波数測定装置

Info

Publication number
JPS6042382Y2
JPS6042382Y2 JP7628481U JP7628481U JPS6042382Y2 JP S6042382 Y2 JPS6042382 Y2 JP S6042382Y2 JP 7628481 U JP7628481 U JP 7628481U JP 7628481 U JP7628481 U JP 7628481U JP S6042382 Y2 JPS6042382 Y2 JP S6042382Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output
frequency
phase
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP7628481U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57186876U (ja
Inventor
尚治 仁木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP7628481U priority Critical patent/JPS6042382Y2/ja
Priority to DE19823219283 priority patent/DE3219283C2/de
Publication of JPS57186876U publication Critical patent/JPS57186876U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS6042382Y2 publication Critical patent/JPS6042382Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 この考案の入力信号の周波数を複数回測定してその平均
値により入力信号の周波数を測定する平均周波数測定装
置に関する。
このような平均周波数測定装置においては平均周波数測
定のためのゲート信号と入力信号の位相とが一致してい
ると平均化することにより測定精度は向上しない。
このような点より従来においては第1図に示すような構
成がとられていた。
即ち雑音発生器11を設け、その雑音発生器の出力によ
りクロック発生器12よりのクロック信号の位相を変調
器13において変調し、その位相変調されたクロックと
同期してゲート信号発生器14よリゲート信号を発生し
、そのゲート回路信号によりゲート回路15を開閉制御
し端子16からのパルス入力信号を一定期間開いてその
ゲート出力をカウンタ17にて累積計数し平均化回路1
8に累積計数値をゲート信号の数で割算することによっ
て平均周波数を求めていた。
このように従来の平均周波数測定装置においてはそのゲ
ート信号の位相を変化させることによって入力信号に対
する測定位相をゲート回路信号ごとにランダムに変化さ
せることによって測定精度を向上している。
このようにこの従来の装置においてはゲート信号の位相
と変化させるため例えばバースト状の入力信号、つまり
搬送波をパルスによって100%変調した断続信号を測
定する場合においては、そのパルスの幅内における搬送
波の周波数を測定することになるが、パルス変調信号に
対してゲート信号の位相が前後に変化してもそのゲート
回路信号が入力パルス変調信号のパルス幅内に入るよう
にする必要がある。
よってそれだけゲート信号の幅を狭くする必要があり、
同一測定精度とする場合には測定時間を長く腰つまり平
均するべき測定繰返し数を多くする必要がある。
更に従来においてはゲート信号の位相を変化するために
わざわざ変調器13を設けて行っていた。
この考案の目的は比較的簡単な構成で、しかも高い精度
の測定を短時間で行うことを可能とする平均周波数測定
装置を提供することにある。
この考案によれば入力信号を局部信号により周波数変換
してその周波数変換された信号をゲート回路を通じてカ
ウンタに供給して周波数を測定するが、その局部信号と
して位相同期ループ、いわゆるPLLによって安定化さ
れた発振器を用い、しかもそのPLLの位相検出回路の
出力に対してランダム信号を重畳する。
これにより局部信号周波数の位相をランダムに変化させ
る。
しかしゲート回路を開いて周波数変換された入力信号を
計数している間は局部発振器の発振位相を変化させない
ように保持させる。
このようにして比較的簡単な構成て精度の良い比較的短
かい時間で行うことが可能となる。
例えば第2図に示すように入力端子16よりの入力信号
は周波数変換器21において周波数変換される。
その周波数変換器21に対する局部信号は位相同期ルー
プ、いわゆるPLLによって安定化された局部発振器2
2の出力が用いられる。
即ち局部発振器22としては電圧制御発振器、いわゆる
VCOを用いその発振器22の出力は必要に応じて分周
器23で17Mに分周され、その分周出力は位相検出器
24において基準発信器25の基準信号と位相比較され
、その位相比較出力は後で説明する加算器26を通じ、
更に位相補償回路27を通じてVCO22に制御信号と
して与えられる。
このようにしてVCO22の発振精度は基準信号発生器
25の精度によって決まり、かつ分局器23の存在によ
って周波数がM倍とされた安定化した局部信号出力が得
られる。
このvco 22、分周器23、位相検出器24、加算
器26、位相補償器27により位相同期ループ、いわゆ
るPLL28が構成される。
周波数変換器21の出力は例えば入力信号が局部発振信
号によって中間周波数の信号に変換され、その信号は必
要に応じて増幅器29により増幅されてゲート回路15
に供給される。
又この例においては入力信号が第3図Aに示すようなパ
ルス変調波の場合であり、そのパルス変調波と同期して
その信号の存在する期間内にゲート信号を発生するよう
にした場合である。
このため中間周波数増幅器29の出力は検波器31にも
供給され、これにより第3図Bに示すような包路線検波
出力が得られる。
その検波出力の立上りと同期して一定幅のゲート信号が
ゲート信号発生回路14より第3図Cに示すように発生
される。
このゲート信号がゲート回路15に与えられてゲート回
路15が開閉制御される。
このゲート信号のゲート幅を正確にするためゲート信号
発生器14は基準信号発生器25の精度によって決定さ
れるようになっている。
ゲート回路15の出力はカウンタ17で累積計数され、
その累積加算値は平均演算回路18で測定回数、即ちゲ
ート信号の数で割算され、その割算結果は表示器32に
周波数として表示される。
この考案においてはランダム信号発生器33が設けられ
、そのランダム信号発生器の出力がPLL28の位相検
波器24の出力に対して重畳される。
ゲート回路15が開かれている間においては位相検波器
24の出力に重畳されるランダム信号の値は一定に保持
される。
この実施例においては検波器31の出力の立下りでラン
ダム信号発生器33の出力がサンプルホールド回路34
においてサンプルホールドされる。
そのサンプルホールドされた出力が加算器26に供給さ
れて位相検出器24の出力と重畳される。
例えばランダム信号発生器33より第3図りに示すよう
に振幅がランダムに変化する信号が発生し、この信号は
検波器31の出力の立下りによりサンプルホールドされ
、サンプルホールド回路34より第3図Eに示すような
出力が得られる。
このサンプルホールド回路34の出力は検波器31の出
力立下りから次の立下りまでは一定で変化しないが、そ
のレベルは検波器31の出力の立下りごとにランダムに
変化する。
このサンプルホールド回路34の出力は加算器26に供
給される。
従って発振器22の発振位相はサンプルホールド回路3
4よりの出力レベルが変化するごとにランダムに位相が
変化して発振を続けることになる。
このため入力端子16の入力信号と発振器22の出力と
の位相関係がランダムに変化される。
よってゲート信号発生器14のゲート信号と増幅器29
の出力信号、つまり入力信号と対応する信号との位相関
係がそのゲート信号の発生ごとに異なった状態となり、
つまりランダムに変化することになる。
従ってこのようにしてゲート信号ごとに周波数を測定し
てその平均値を求めるときはその平均周波数の測定精度
が向上することになる。
以上述べた第2図に示した実施例によればそのパルス入
力信号がパルス変調波の場合においてもその入力変調信
号を充分広い範囲で利用することができ、つまりゲート
信号の位相をランダムに変化させるものでないため、こ
のようなパルス変調信号を測定する場合においてゲート
信号を充分広くすることができる。
しかし第1図に示した場合においてはゲート信号をラン
ダムにその位相を変化させるため常にゲート信号がパル
ス変調波の中にあるようにゲート信号の幅を狭くする必
要があり、それだけ同一測定精度を得るには多数回の回
数測定を行う必要があり、測定時間が長くなる。
又この第2図に示した実施例においてはそのゲート信号
に対して入力信号の位相を変化させる場合のためのPL
Lの位相検出器の出力に対してランダム信号を重畳して
いるため、第1図に示したような変調器13に対応する
ものは設けることなく簡単に構成することができる。
更に測定中、つまりゲート回路15が開かれている状態
においては発振器22の位相は変化せず固定位相となっ
ているため測定誤差がそれだけ生じない。
第2図においては入力信号周波数が高い場合を測定し、
一方基準信号発生器25の周波数は一般に例えばIMH
z又は10MHz程度であり、入力信号がマイクロファ
ンのような場合において局部信号も高い周波数とするた
めPLL28に分周器23を挿入して高い周波数の安定
な局部信号出力を得て入力周波数を正確に測定できるよ
うにした。
しかし入力信号周波数が低い場合においては分周器23
は省略できる。
又高い周波数の発振器22を得る場合においても例えば
第4図に示すように発振器22の出力を基準発振器25
の出力でサンブリソゲし、位相検出器24として高調波
位相検波器を用いてその出力を加算器24に供給しても
よい。
又周波数変換器21としては、いわゆる高周波ミキサー
を用いてもよい。
ランダム信号発振器33としては例えばツェナダイオー
ドを用いた雑音源の他に、いわゆるクロックパルスを帰
還回路性の計数器によって計数して疑似ランダムパルス
を発生し、その出力をアナログ信号に変換したものを用
いることもできる。
そのようにクロックによって雑音を発生する場合におい
ては、先のゲート信号発生器14のゲート信号のパルス
間の期間だけクロックの供給を停止させてカウンタ17
の計数期間中は加算器26に加算されるランダム信号を
一定値に保持するようニジてもよい。
又上述においてはこの考案をパルス変調波の搬送波周波
数を測定する場合に適用したが、そのような場合に限る
ことなく連続波の周波数測定にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の平均周波数測定装置を示すブロック図、
第2図はこの考案による平均周波数測定装置の一例を示
すブロック図、第3図はその動作の説明に供するための
波形図、第4図はこの考案による周波数測定装置の一部
変形例を示すブロック図である。 14:ゲート信号発生器、16:入力端子、17:カウ
ンタ、18:平均化演算回路、21:周波数変換器、2
2:局部発振器、24:位相検出器、25:基準信号発
生器、26:加算器、28:P比、31:検波器、33
:ランダム信号発生器、34:サンプルホールド回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 位相同期ループにより周波数が安定化された局部発振器
    と、その局部発振器の出力を局部信号として入力信号を
    周波数変換する周波数変換器と、その周波数変換器の出
    力が供給されてゲート信号により開閉されるゲート回路
    と、そのゲート回路の出力を計数してその計数値を複数
    のゲート信号について平均化する平均化計数手段と、ラ
    ンダム信号を発生するランダム信号発生器と、そのラン
    ダム信号の出力を上記位相同期ループ内の位相検出器の
    出力に重畳する加算器と、少なくとも上記ゲート回路が
    開いている間は上記加算器に入力されるランタム信号を
    変化しないように保持する手段とを具備する平均周波数
    測定装置。
JP7628481U 1981-05-22 1981-05-25 平均周波数測定装置 Expired JPS6042382Y2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7628481U JPS6042382Y2 (ja) 1981-05-25 1981-05-25 平均周波数測定装置
DE19823219283 DE3219283C2 (de) 1981-05-22 1982-05-22 Mittelwert-Frequenzmesser

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7628481U JPS6042382Y2 (ja) 1981-05-25 1981-05-25 平均周波数測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57186876U JPS57186876U (ja) 1982-11-27
JPS6042382Y2 true JPS6042382Y2 (ja) 1985-12-26

Family

ID=29871977

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7628481U Expired JPS6042382Y2 (ja) 1981-05-22 1981-05-25 平均周波数測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6042382Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS57186876U (ja) 1982-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4310891A (en) Frequency measuring apparatus
US3968427A (en) Group delay measurement apparatus and method
US3956710A (en) Phase locked loop lock detector and method
JPS60203007A (ja) 周波数変調回路
JPH0815350A (ja) ジッタ検出装置
JP2002529747A (ja) 高周波電圧制御発振器の非線形性の検出および補正方法
JPH11118848A (ja) スペクトラムアナライザ
US4414639A (en) Sampling network analyzer with sampling synchronization by means of phase-locked loop
US4468614A (en) Average frequency measuring apparatus
JPS6356503B2 (ja)
US3938042A (en) Measurement averaging counting apparatus employing a randomly phase modulated time base to improve counting resolution
US4795970A (en) Electrical apparatus
CA1181810A (en) Apparatus for testing the linearity of a frequency modulated oscillator
US4035736A (en) FM discriminator having low noise characteristics
JPS5817710A (ja) 掃引発振器
SU546825A1 (ru) Цифровой измеритель сверхвысоких частот
JP3365389B2 (ja) Pll回路の評価回路及びその評価方法
SU1190293A1 (ru) Фазометр
RU2138828C1 (ru) Устройство для измерения девиации частоты
SU1095090A1 (ru) Устройство дл измерени скорости изменени и девиации частоты сигнала с линейной частотной модул цией
JP3142780B2 (ja) 電力量計lsi内部テスト回路
JPH0225181Y2 (ja)
JPS6295487A (ja) 時間幅計測装置
JPS647344B2 (ja)
SU353200A1 (ru) Устройство для измерения параметров вращения вала