JPS6046459B2 - メモリ状態判定方式 - Google Patents

メモリ状態判定方式

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JPS6046459B2
JPS6046459B2 JP55105254A JP10525480A JPS6046459B2 JP S6046459 B2 JPS6046459 B2 JP S6046459B2 JP 55105254 A JP55105254 A JP 55105254A JP 10525480 A JP10525480 A JP 10525480A JP S6046459 B2 JPS6046459 B2 JP S6046459B2
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JP
Japan
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memory
channel
channel device
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data
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Expired
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JP55105254A
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English (en)
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JPS5730013A (en
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忠昭 今井
完三 野田
正明 小林
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はチャネル装置内に設けたメモリを読出すとき、
内容が規則性を有すると判断すればメモリデータを消去
せずに残存させておくメモリ状態判定方式に関する。
従来中央処理装置とコモンバスを介して接続されるチャ
ネル装置は第1図に示す構成となつている。
中央処理装置ρPUと主メモリMSがコモンバスCBU
Sを介して接続され、チャネル装置DDCはディスクD
SKを制御するため設けられている。チャネル装置DD
C内にはマイクロプロセッサとランダムアクセスメモリ
(RAM)を内蔵し、ディスクDSKの制御御はファー
ムウェアとハードウェアを使用している。メモリRAM
はディスクを制御する情報入出力情報と、ディスクその
他のハードウェアが故障したときの詳細情報とそれまで
の処理過程の詳細情報(ロギング情報)を記憶している
。ディスク制御のチャネル装置DDCのメモリRAMの
内容は主メモリMSの所定アドレスに転送すると、中央
処理装置CPUが読出したとき前記故障の原因を解析す
ることができ有効である。この手段をRAMダンプと呼
んでいる。通常故障等の場合はシステムがハングアップ
していて正常動作が不能のため、RAMダンプをする前
にイニシャルリセットが必要であるが、チャネル装置D
DCに対しイニシャルリセット線IRSにJよりイニシ
ャルリセットを行なうとメモリRAMの内容がクリアさ
れてしまう。そのためRAMダンプの機能があつても実
際には殆んど使用されず、故障の有効な解析手段とはな
らなかつた。本発明の目的は前述の欠点を改善し、チャ
ネル;装置内のメモリを読出すとき内容が規則性を有す
ると判断すればメモリ内容を消去せずに残存させておく
チャネル装置のメモリ状態判定方式に関する。以下本発
明の実施例としてディスクを制御するチャネル装置につ
いて説明する。
第2図に示すブロック図において、MEMはチャネル装
置内のメモリ(チャンネル内メモリ)であり、第1図に
示したメモリRAMと対応するもの、DTRはメモリ検
査用のデータで、中央処理装置QPUl主メモリMS等
に格納されている。CHAはメモリ中のチェック領域を
示し、CTDは各種データ類の格納領域を示している。
CMPは比較判断回路であつて、電源投入時及びリセッ
トキー押下時に処理動作を始めから行なう場合に判断動
作する。即ちプログラムによる処理動作が開始されたと
きその原因を知つて対応手段を定める判断を行なうよう
にする。まずメモリ内のチェック領域Gハの内容を読出
し、メモリ検査用データDTRと1ビットずつ比較する
。メモリ検査用データDTRは規則性のあるデータ例え
ば全゜゜0゛であり、チェック領域CHAのデータは電
源投入時には全く不規則性になつているから、照合のと
れるビット数は極めて少ない筈である。したがつて比較
の結果照合のとれないときは、電源を投入したことによ
る処理開始と判断し、次に前記メモリ検査用データDT
Rをチェック領域CHAに書込んでおく。(第2図CM
Pの左方に伸びる線と接続しているプロツークDTR−
+ClIAの動作をいう。)またデータ類の格納領域C
TDは以後の新規データ格納に備え全゜“0゛を書込ん
でおく。前述のように比較したとき、チェック領域Cl
IAのビットが検査用データDTRと殆んど一致.する
ときは、前述の電源投入時のチェックを経た後のメモリ
となつていることが判り、処理開始はイニシャルリセッ
トキーを操作したためと判断する。
このときデータ格納領域C′11)のデータは消去して
はならないデータの格納されていることが!多いから、
クリア動作を起さないよう例えばメモリの電源回路に対
しても処理を行なう。その後に前述のRAMダンプ動作
を行なうと障害発生時の情報と過程の詳細を直ちに知る
ことができる。以上はメモリ検査用データとして、他の
場所に格納されているデータを使用する場合について述
べたが、データ類格納領域CTDに格納するデータパリ
テイチェックビットを付ける形式の場合には、メモリ格
納済のデータについてパリテイチェックを行ない、正式
データのとき得られる筈のパリテイビットを得て、パリ
テイチェックビットの位置に入つているビットをメモリ
検査用データと考え、それらの比較を行なうことにより
パリテイチェックされたデータであるかどうか判断する
こともできる。電源投入時であればパリテイビットはチ
ェックされた値を格納していないからである。この場合
はチェック内容を格納する領域C田リ、データ類格納領
域CTDとを格別区分けせず、メモリ全領域をチェック
内容を格納する領域兼データ格納領域としている。この
ようにして本発明によるチャネル装置内のメモリについ
て、消去しても良いデータが入つているか否かを判定す
ることにより、RAMダンプを行なう場合のように内容
を保持しておくことと、電源投入時のように新規動作を
行なう場合とを区別して動作させることができる。
したがつてメモリの使用上有効てあり、また障害発生時
にも早期回復ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はチャネル装置についての説明図、第2図は本発
明の実施例を示すブロック図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 主メモリを有する中央処理置と、チャネル装置とが
    接続されるとともに、上記チャネル装置は、入出力制御
    情報及び障害発生に関するロギング情報を記憶するチャ
    ネル内メモリを備え、障害発生のリセット信号入力によ
    つて、上記チャネル内にメモリに記憶されているロギン
    グ情報を上記主メモリ上にダンプし、中央処理装置によ
    る障害原因の解析が行われるシステムにおいて、前記チ
    ャネル内メモリに、このメモリの記憶情報の有効性を示
    すデータの格納領域を設けるとともに、リセット信号の
    入力に応答してこの格納領域からデータを読出しメモリ
    記憶情報の有効性を検査する検査手段を前記チャネル装
    置に設け、この検査手段によりメモリの記憶情報の有効
    性が認められた場合には、前記チャネル装置はチャネル
    内メモリの内容を消去しないで、前記メモリダンプ処理
    のためのロギング情報を保持することを特徴とするメモ
    リ状態判定方式。
JP55105254A 1980-07-31 1980-07-31 メモリ状態判定方式 Expired JPS6046459B2 (ja)

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Publication Number Publication Date
JPS5730013A JPS5730013A (en) 1982-02-18
JPS6046459B2 true JPS6046459B2 (ja) 1985-10-16

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