JPS60500433A - 基板バイアス制御回路および方法 - Google Patents
基板バイアス制御回路および方法Info
- Publication number
- JPS60500433A JPS60500433A JP59500432A JP50043284A JPS60500433A JP S60500433 A JPS60500433 A JP S60500433A JP 59500432 A JP59500432 A JP 59500432A JP 50043284 A JP50043284 A JP 50043284A JP S60500433 A JPS60500433 A JP S60500433A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- bias voltage
- voltage
- supply voltage
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 75
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 21
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 7
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 7
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/205—Substrate bias-voltage generators
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
基板バイアス制御回路および方法
発明の背景
本発明は、一般的には基板バイアス制御回路および方法に関する。更に詳しく云
うと本発明は、別個の電圧レベルを用いてCMOSデバイスへの電源電圧および
基板電圧の印加を制御する上で特に有用な上記の回路および方法に関する。
スケール(基準化: 5cale )されたCMOSデバイス、即ちチャネルの
長さが1.25 ミクロン程度のCMOSデバイスは適当な動作を行うためには
電源(Vcc)を小さくする必要がある。即ち、チャネルの長さが短かくなるに
つれて、短チヤネルデバイスのしきい値電圧の過渡のドレイン電圧低下をさける
ためには、同時に電源電圧レベルを下げることが要求される。しかし、かような
低下した電源電圧レベル(3ボルトの範囲)は、従来のCMO3入力保護構造が
用いられた場合には従来の5.0ボルト入力論理スイング(Bwing)を受け
入れることを妨げる。即ち、0MO8技術において従来性われているように3.
0ボルトのVc c電源をN形基板に接続すると、入力保護回路にPNダイオー
ドを用いることができなくなる。従って、5.0ポル) (VBB )の基板バ
イアスをスケールされた0M08回路に印加する新規な技術が提案されており、
この技術は入力保護回路のPNダイオードを保持ししかも5.0ボルトの入力論
理スイングをそこに印加できるようにするものである。
この技術の更に詳しい説明は、1982年12月23日付でチャールスS、メイ
ヤーによって出願され本発明の譲受人に譲渡された米国特許出願筒452,53
2号に述べられている。しかし、これらの小さい形状のCMOSデバイスに5.
0ボルトの基板バイアス電圧および別個の3.0ボルトの電源電圧を用いる場合
には、電源電圧の前に基板電圧を印加することが必要である。もし電源電圧が印
加される前に基板がバイアスされないと、Pチャネルデバイスのゲート保護ダイ
オードおよびソース−基板接合部に順方向バイアスがか\ることによりチップが
損傷をうけるおそれがある。典型的な場合には、従来の0MO8構造は内部で基
板を直接にVCC電源に接続させ、デバイスがパワーアップされると必ず基板バ
イアスが確実にか\るようになっている。
従って、本発明の目的は、改良された基板ノ(イアス制御回路および方法を提供
することである。
本発明のもう1つの目的は、チップに結果的に損傷を生じさせずにいづれの順序
(5equence )においても別個の回路電源電圧および基板バイアス電圧
を印加又は除去できるようにする改良された基板バイアス制御回路および方法を
提供することである。
本発明の更にもう1つの目的は、基板電圧が印加されるまで基板を電源電圧に接
続することによって基板バイアス電圧がなくても回路電源電圧のみでチップ動作
ができるようにする改良された基板バイアス制御回路および方法を提供すること
である。
本発明の更にもう1つの目的は、回路電源電圧源と基板バイアス電圧電源との間
の絶縁(分離; l5olation)を可能にする改良された基板バイアス制
御回路および方法を提供することである。
本発明の更にもう1つの目的は、公称オンチップ面積のみを必要として簡単に実
行される改良された基板バイアス制御回路および方法を提供することである。
本発明の更にもう1つの目的は、ごく僅かな回路電力しか散逸させない改良され
た基板バイアス制御回路および方法を提供することである。
発明の要約
上記の目的およびその他の目的は、共通基板上に形成された基板バイアス電圧制
御回路を含ら集積回路が備えられており、その基板がそこに印加された電圧を有
し、一方、その基板上の半導体デバイスがそこへ印加された電源電圧を有するこ
とを保証し、基板にバイアスおよび電源電圧源を与える手段を含む本発明におい
て達成される。バイアス電圧が存在する場合には先づ第1にバイアス電圧を基板
に結合させる手段、およびバイアス電圧が存在しない場合には第2に電源電圧を
基板に結合させる手段もまた宮まれている。
集積回路がそこへ印加された電圧を有し、一方では基板上の半導体デバイスがそ
こへ印加された電源電圧イアスミ圧が存在しない場合には第2に電源電圧を基板
に結合させるステップを含む方法もまた提供されて(八る。
図面の簡単な説明
本発明の上記の、およびその他の特徴および目的、およびそれらの特徴および目
的を達成する方法は、添付した図面ならびに本発明の実施例についての下記の説
明を参照することによって最もよく理解される。
第1図は、本発明とともに用いるためのCMOSインバータに対する典型的な入
力保護回路の簡略化した概略図である。
第2図は、集積回路への電源電圧および基板電圧の印加を制御するのに用いるだ
めの本発明の好ましい実施例の概略図である。
好ましい実施例の説明
さて第1図を参照すると、本発明とともに用いるためのCMO3入力保護回路1
0が示されている。CMO8人力保人力保工回路10チャネルトランジスタ18
、!: Nチャネルトランジスタ22からなるCMOSインバータをVI線線
種4上現われる過度の電圧入力から保護するだめ集積回路を含む。vI線線種4
拡散抵抗16を介してPチャネルトランジスタ18およびNチャネルトランジス
タ22の共通接続ゲートに結合されている。拡散抵抗16と集積回路基板のイン
タフェースにダイオード12が形成されている。基板バイアス電圧源を基板接点
讃を介してダイオード12の陰極に印加してもよい。従来のCMO3入力保護回
路では、基板接点讃は電源電圧(Vcc )源に接続されている。しかし、19
82年12月23日付でチャールスS、メイヤーによって出願され本発明の譲受
人に譲渡されている米国特許第452 、532号に開示され、請求されている
ように、基板接点はまた基板バイアス電圧(VBB )源にも接続してもよい。
この後者の場合には基板接点父はN形基板内のN+拡散を具えてよい。
その陰極をPチャネルトランジスタ18とNチャネルトランジスタ22のゲート
に接続させている追加のダイオード14はこれらのゲートをVSS線翌に結ζさ
せている。一般的に云うとVSSSS線上2CCおよびVBBに関して大地電位
に保持されている。電源電圧(Vcc )源はPチャネルトランジスタ18のソ
ースに印加され、このトランジスタはそのドレインをNチャネルトランジスタの
ドレインに接続させている。このソースおよびNチャネルトランジスタ22がそ
こに形成されているP形つェルUV5s線32に接続されている。Pチャネルト
ランジスタ18とNチャネルトランジスタ22の共通接続ドレインに現われる出
力信号はV。線26に印加される。・CMO8入力保護回路10を用いる場合、
基板接点あを5.0ボルトのvBB源に接続すると、VI線線種4上入力信号ハ
ダイオード12をオンにせずに5.0ボルトのレベルを超えて1ダイオードドロ
ツプ(one diode drop )以上正になることができないことが判
る。従って、VI線線種4上現われる5ボルト人カスウィングは、スケールされ
たCMO8回路を用いた場合にみられるように3.0ボルトのVCCレベルでも
Pチャネルトランジスタ18とNチャネルトランジスタ22からなるインバータ
に印加できる。しかし、基板接点具に印加する電圧は電源電圧VCCより前に印
加することが必要である。従来の0MO8技術においては、このことは基板にバ
イアスをかけるためにVCCを基板接点調に供給することによって行われている
。バイアス電圧を基板接点腕に印加する前に電源電圧Vc cを印加すると、ゲ
ート保護ダイオード比ならびにPチャネルトランジスタ18のようなPチャネル
トランジスタのソース−基板接合部に順バイアスをかけることから生じる損傷が
集積回路に起きる。
さて次に第2図を参照すると、基板接合讃へのバイアス電圧の印加を制御する基
板バイアス電圧制御回路20が示されている。基板バイアス電圧制御回路20は
電源電圧(Vcc)源のみでなく基板バイアス電圧(VBB)源をも独立して基
板接点詞に結合する。図示されているように、Nチャネルトランジスタ36はそ
のソース接点をVss線32に接続させ、そのドレイン接点をvBBB2O33
続させている。NチャネルトランジスタIのゲート電極はVCC線28に接続さ
れている。Nチャネルトランジスタ36のドレイン接点は、ノード46を定義し
ている( define ) o ノード46はVB B 線30と電気的に共
通であるが、明確にするためにノード46として参照されることは注目される。
ノード46上に現われる信号は、Nチャネルトランジスタ易と並列のPチャネル
トランジスタ42ヲ含む従来のCMOSインバータの入力に印加される。このイ
ンバータはVssi132である接地(ground)に関してVCC線28に
よって供給される。Pチャネルトランジスタ42とNチャネルトランジスタ44
の共通接続ドレインに現われる出力はノード48に印加され、Pチャネルトラン
シタ40はそのソースをVBR線3線区0続させ、そのドレインを基板接点讃に
接続させている。Pチャネルトランジスタあのドレインも基板接点讃に接続され
てお勺、そのソース接点をVcC線邪に接続させている。Pチャネルトランジス
タ関のゲートはVBB線(資)に接続されている。
Vc cのみまたVssを印加した場合動作中、3.0ボルトがVCC線28.
Pチャネルトランジスタ42とNチャネルトランジスタ劇からなるインバータ、
およびNチャネルトランジスタあのゲートに印加される。このためNチャネルト
ランジスタ36のチャネルを反転させ、これはノード46に接続されたデバイス
ゲートを接地させる。この結果、Pチャネルトランジスタ関は導通しVcc線2
線上8上われる3、0ボルトを基板接点讃に接続させ、Pチャネルトランジスタ
42は導通してノード48を3.0ボルトに上昇させ、これはPチャネルトラン
ジスタ40をオフに保つ。今やチップはVCC線邪上に現われる3、0ボルトに
等しいその基板バイアスによって機能することができ、VI線24上に現われる
論理スイングが、振幅3.0ボルトを超えない場合、満足に動作するであろう。
VCCおよびVBBおよびVSSを印加した場合法に5.0ボルトがVBBB2
O33加されると、ノード46は5.0ボルトに上昇され、これはPチャネルト
ランジスタ関および42をターンオフし、Nチャネルトランジスタ伺をターンオ
ンしてノード48t−ドライブして接地又はVSSにする。この結果Pチャネル
トランジスタ40は導通して5.0ボルトヲ基板接点あに接続する。Nチャネル
トランジスタ36は5.0ボルトに等しいVDSで導通し続けるが、Nチャネル
トランジスタ%ハ非常に長くて狭いチャネル(非常に低いZ/L比)に設計され
ており、所定の非常に低い電流を消費させる点に注目されたい。2つの電圧源V
CCおよびVBBはPチャネルトランジスタ関のゲートをよシ高い電圧に保つこ
とによって効果的に減結合され、デバイスを非導通状態に保つ0
VCCからVBBへの基板電圧制御間の過渡的切換えは、VCCが一定の3ボル
トに保たれVBBが0ボルトから5.0ボルトにランプ(傾斜:ramp)され
る場合の状態と考えてもよい。この状態はVBB電圧源がターンオンになシ、一
方でVCC電圧源がターンオンになった時に起きる。VB B< VTNである
限9においては、Vcc電圧源はオンになっている。VB B < VTNであ
る限りにおいては、Nチャネルトランジスタはオンになっている。VTN <V
BB ((V((+ VTP )である場合には、Pチャネルトランジスタ42
およびNチャネルトランジスタ旧はいづれもオンであって分圧器として動作する
。それらの2/L比の相対値の故にノード48はVc、2に近い電圧に保たれ、
このことはPチャネルトランジスタ40をオフに保つが、Pチャネルトランジス
タ羽をオンに保つ。VBB>(VCC+VTP)の場合には、Pチャネルトラン
ジスタ関および42はいづれもオフになυ、ノード拐は接地し、Pチャネルトラ
ンジスタ40はオンにナシ、基板電圧はVBBにヨッテ決定される。瞬時VBB
が(VCC+VTP) f超えると、Pチャネルトランジスタ42およびNチャ
ネルトランジスタ伺は効果的に分圧器からインバータに変シ、基板電圧の制御は
VCCからVBBに切換えられる。
上記の説明から、Pチャネルトランジスタ42およびNチャネルトランジスタ躬
のZ/L比は広い範囲にわたって異なる値を有しなければならないことが判る。
Pチャネルトランジスタあおよび40に対するZ/L比は、予期される最大基準
電流の条件の下で容認しつる程度に低いチャネル電圧低下を与えるべきである(
450/1.25が満足すべき比であることが見出されている)。
Nチャネルトランジスタあおよび伺に対するZ/L比は約6780において容認
しうる程度に低い電流消費を与える。Pチャネルトランジスタ関および物に対す
るZ/L比と同じZ/L比をPチャネルトランジスタ42に用いることによって
レイアウトは簡略化される。
VBBのみを、またVSSを印加した場合5.0ボルトをNチャネルトランジス
タ44に印加すると、そのチャネルは反転し、それによシノード牝は接地する。
このためPチャネルトランジスタ40は導通し、5.0ボルトを基板接点あに接
続する。5.0ボルトがそのゲートにすると、Pチャネルトランジスタ関はオフ
に保たれ、これは回路の残υの部分から5.0ボルトを減結合させる。
次に3.0ボルトをVCC線28に印加すると、ノード46およびノード48の
電圧は不変であシ、PチャネルトランジスタあおよびPチャネルトランジスタ4
0の状態は3.0ボルトの印加前の状態と同じにとVまっている。
しかし、Nチャネルトランジスタ36はオンにな勺、上述したように非常に低い
電流を導通する。この場合にもまたPチャネルトランジスタ関はそのゲートに5
.0ボルトを有してオフに保たれて、これら2つの印加された電圧を互に分離し
ている。
VCCおよびVBBを印加した場合(Vssは印加せず)
この場合には、VSSがないとノード48の電圧は不定となる。しかしノード4
8がどのような電圧をとろうともPチャネルトランジスタあはオフに保持され続
ける。
という訳は、そのゲートは2つの印加された電圧のうちの高い方の電圧、即ちV
BBに保たれるからである。
このため2つの電圧は互に確実に分離される。
次にVSSを印加すると、上述したように正常な動作が起きる。
Pチャネルトランジスタ関およびPチャネルトランジスタ40は、(直線領域で
動作する)それらのソースードレイン電圧低下が予期される最大基準電流にとっ
て無視しうる程小さいものであるようにするために、非常に大きいZ/L比を用
いて設計されている。上述し゛たように、Nチャネルトランジスタあについて設
計すれたZ/L比はこのデバイスのドレイン電流を容認しうる程度に低い値に保
つの十分な程度に小さくなっている。
3.0ボルトのVCCおよび5.0ボルトのVBBの値は1例として示しである
にすぎないという点に注目すべきである。′という訳は、トランジスタ自体の電
圧限界内でこの回路は任意の2つの電圧で機能するからである。
通常の使用では基板バイアス電圧は定常状態の条件下では決して電源電圧以下に
はならないという点に注目すべきである。
従って上記に説明したのは、チップに結果的に損傷を生じさせずにいづれの順序
(Bequence )においても別個の回路電源電圧および基板バイアス電圧
を印加又は除去できるようにする改良された基板バイアス制御回路および方法で
ある。本発明の回路および方法は、基板電圧が印加されるまで基板を電源電圧に
接続することによって基板バイアス電圧がなくても回路電源電圧のみで集積回路
チップ動作ができるようにする。本発明の回路および方法は回路電源電圧源と基
板バイアス電圧電源との間の絶縁を更に可能にする。更に、本発明の改良された
基板バイアス制御回路および方法は公称オンチップ面積のみを必要として簡単に
実施されると同時にごく僅かな回路電力しか消費させない。
特殊な装置とともに本発明の原理を上記に説明したが、この説明は1例として述
べたにすぎず、本発明の範囲を制限するものとして述べたものではないことを明
確に理解すべきである。
国際調査報告
Claims (1)
- 1. 共通の基板上に1緒に形成され、基板はそこに電圧を印加し、他方、前記 基板上の半導体デバイスは、電源電圧を印加されることを保証するバイアス電圧 制御回路を具える集積回路にして、 )バイアス電圧源および電源電圧源を基板に与える手段と、 前記バイアス電圧が存在す不場合には前記バイアス電圧を前記基板に結合させる 第1手段と、前記バイアス電圧が存在しない場合には前記電源電圧を前記基板に 結合させる第2手段と、を具える基板バイアス制御回路。 2 前記バイアス電圧が存在しない場合には、前記のバイアス電圧を与える手段 を前記基板から減結合させる手段を更に含む前記請求の範囲第1項の集積回路。 & 前記第2結合手段は、更に、 前記バイアス電圧が存在し前記電源電圧以下で1つのPチャネルしきい値より高 い値を有する場合に、前記の電源電圧を与える手段を前記基板から減結合させる 手段を具える前記請求の範囲第1項記載の集積回路。 4、 前記バイアス電圧は、前記電源電圧以下で1つのPチャネルしきい値よシ 高い前記請求の範囲第1項記載の集積回路。 5、 集積回路基板は、電圧をそこに印加し、他方、前記基板上の半導体デバイ スは、電源電圧をそこに印加することを保証する方法にして、 バイアス電圧源および電源電圧源を基板に与えるステップと、 前記バイアス電圧が存在する場合には第1に前記バイアス電圧を前記基板に結合 させるステップと、第2に、前記バイアス電圧が存在しない場合には前記電源電 圧を前記基板に結合させるステップと、を具える基板バイアス制御方法。 6、 前記バイアス電圧が存在しない場合には前記基板から前記バイアス電圧を 減結合させるステップを更に含む前記請求の範囲第5項の方法。 7、 前記バイアス電圧が存在する場合には前記基板から前記電源電圧を減結合 させるステップを更に含む前記請求の範囲第5項の方法。 & 基板バイアスバスを回路接地(circuit ground)に接続させ 、その第1人力を電源電圧バスに接続させている第1スイッチング手段と、 前記電源電圧バスと前記回路接地との間に接続され、その人力ノードを前記基板 バイアス電圧バスおよびその出力ノードに接続させているインバータ手段と、前 記電源電圧バスおよび基板バイアス電圧バスをそれぞれ基板接点に結合させる第 2および第3スイッチング手段とを含み、 前記第2スイッチング手段はその第2人力を前記基板バイアス電圧バスに接続さ せ、前記第3スイッチング手段はその第3人力を前記出力ノードに接続させてい る、 基板バイγス電圧制御回路。 9、 前記第1.第2および第3スイッチング手段はMOS )ランジスタを含 む前記請求の範囲第8項の基板バイアス電圧制御回路。 10、前記第1スイッチング手段はNチャネルデノくイスヲ含み、前記第2およ び第3スイッチング手段はPチャネルデバイスを含み、前記インバータ手段はC MOSインバータを含む前記請求の範囲第9項の基板ノくイアスミ圧制御回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/464,163 US4473758A (en) | 1983-02-07 | 1983-02-07 | Substrate bias control circuit and method |
| US464163 | 1983-02-07 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60500433A true JPS60500433A (ja) | 1985-03-28 |
| JPH0439784B2 JPH0439784B2 (ja) | 1992-06-30 |
Family
ID=23842803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59500432A Granted JPS60500433A (ja) | 1983-02-07 | 1983-12-15 | 基板バイアス制御回路および方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4473758A (ja) |
| EP (1) | EP0135504B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60500433A (ja) |
| KR (1) | KR840008097A (ja) |
| CA (1) | CA1197574A (ja) |
| DE (1) | DE3381162D1 (ja) |
| WO (1) | WO1984003185A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6248061A (ja) * | 1985-08-26 | 1987-03-02 | シ−メンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 相補性回路技術による集積回路 |
Families Citing this family (32)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4571505A (en) * | 1983-11-16 | 1986-02-18 | Inmos Corporation | Method and apparatus of reducing latch-up susceptibility in CMOS integrated circuits |
| US4556804A (en) * | 1983-11-17 | 1985-12-03 | Motorola, Inc. | Power multiplexer switch and method |
| US4631421A (en) * | 1984-08-14 | 1986-12-23 | Texas Instruments | CMOS substrate bias generator |
| US4686388A (en) * | 1985-03-12 | 1987-08-11 | Pitney Bowes Inc. | Integrated circuit substrate bias selection circuit |
| GB2174540B (en) * | 1985-05-02 | 1989-02-15 | Texas Instruments Ltd | Intergrated circuits |
| US4670668A (en) * | 1985-05-09 | 1987-06-02 | Advanced Micro Devices, Inc. | Substrate bias generator with power supply control means to sequence application of bias and power to prevent CMOS SCR latch-up |
| US4661979A (en) * | 1985-09-24 | 1987-04-28 | Northern Telecom Limited | Fault protection for integrated subscriber line interface circuits |
| US4791317A (en) * | 1986-09-26 | 1988-12-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Latch-up protection circuit for integrated circuits using complementary mos circuit technology |
| US4791316A (en) * | 1986-09-26 | 1988-12-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Latch-up protection circuit for integrated circuits using complementary MOS circuit technology |
| US5272393A (en) * | 1987-11-24 | 1993-12-21 | Hitachi, Ltd. | Voltage converter of semiconductor device |
| JPH0783254B2 (ja) * | 1989-03-22 | 1995-09-06 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
| US5162675A (en) * | 1989-04-14 | 1992-11-10 | Digital Communications Associates, Inc. | Dual personal computer architecture peripheral adapter board and circuit |
| DE69127359T2 (de) * | 1991-06-27 | 1998-03-19 | Cons Ric Microelettronica | Schaltkreis zum Verbinden eines ersten Knotens mit einem zweiten oder dritten Knoten in Abhängigkeit vom Potential des letzteren, zum Steuern des Potentials eines Isolationsbereiches in einer integrierten Schaltung in Abhängigkeit der Substratspannung |
| US5313111A (en) * | 1992-02-28 | 1994-05-17 | Texas Instruments Incorporated | Substrate slew circuit providing reduced electron injection |
| DE59206670D1 (de) * | 1992-09-16 | 1996-08-01 | Siemens Ag | CMOS-Pufferschaltung |
| JP2978346B2 (ja) * | 1992-11-30 | 1999-11-15 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路装置の入力回路 |
| DE69417622T2 (de) * | 1993-04-30 | 1999-09-09 | Stmicroelectronics | Spannungskomparator mit einer Summierung von auf dem Bandgap-Prinzip beruhenden Gleichströmen und diesen enthaltender Versorgungsspannungsschalter |
| US5406140A (en) * | 1993-06-07 | 1995-04-11 | National Semiconductor Corporation | Voltage translation and overvoltage protection |
| US5694075A (en) * | 1994-12-30 | 1997-12-02 | Maxim Integrated Products | Substrate clamp for non-isolated integrated circuits |
| JP3533306B2 (ja) * | 1996-04-02 | 2004-05-31 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
| US6198339B1 (en) * | 1996-09-17 | 2001-03-06 | International Business Machines Corporation | CVF current reference with standby mode |
| US5767733A (en) * | 1996-09-20 | 1998-06-16 | Integrated Device Technology, Inc. | Biasing circuit for reducing body effect in a bi-directional field effect transistor |
| US5883544A (en) * | 1996-12-03 | 1999-03-16 | Stmicroelectronics, Inc. | Integrated circuit actively biasing the threshold voltage of transistors and related methods |
| US6163044A (en) * | 1998-02-18 | 2000-12-19 | Micron Technology, Inc. | Method and circuit for lowering standby current in an integrated circuit |
| US6859074B2 (en) * | 2001-01-09 | 2005-02-22 | Broadcom Corporation | I/O circuit using low voltage transistors which can tolerate high voltages even when power supplies are powered off |
| US6847248B2 (en) * | 2001-01-09 | 2005-01-25 | Broadcom Corporation | Sub-micron high input voltage tolerant input output (I/O) circuit which accommodates large power supply variations |
| SE520306C2 (sv) * | 2001-01-31 | 2003-06-24 | Ericsson Telefon Ab L M | Regulator för en halvledarkrets |
| US7138836B2 (en) * | 2001-12-03 | 2006-11-21 | Broadcom Corporation | Hot carrier injection suppression circuit |
| KR100428792B1 (ko) * | 2002-04-30 | 2004-04-28 | 삼성전자주식회사 | 패드의 언더슈트 또는 오버슈트되는 입력 전압에 안정적인전압 측정장치 |
| US8130030B2 (en) * | 2009-10-31 | 2012-03-06 | Lsi Corporation | Interfacing between differing voltage level requirements in an integrated circuit system |
| US20110102046A1 (en) * | 2009-10-31 | 2011-05-05 | Pankaj Kumar | Interfacing between differing voltage level requirements in an integrated circuit system |
| KR101521145B1 (ko) * | 2010-10-01 | 2015-05-18 | 쥬오세이키 가부시키가이샤 | 차량용 휠 및 차량용 휠의 제조 방법 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4044373A (en) * | 1967-11-13 | 1977-08-23 | Hitachi, Ltd. | IGFET with gate protection diode and antiparasitic isolation means |
| US3947727A (en) * | 1974-12-10 | 1976-03-30 | Rca Corporation | Protection circuit for insulated-gate field-effect transistors |
| US4049980A (en) * | 1976-04-26 | 1977-09-20 | Hewlett-Packard Company | IGFET threshold voltage compensator |
| US4066918A (en) * | 1976-09-30 | 1978-01-03 | Rca Corporation | Protection circuitry for insulated-gate field-effect transistor (IGFET) circuits |
| US4260909A (en) * | 1978-08-30 | 1981-04-07 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Back gate bias voltage generator circuit |
| US4264941A (en) * | 1979-02-14 | 1981-04-28 | National Semiconductor Corporation | Protective circuit for insulated gate field effect transistor integrated circuits |
| JPS59121971A (ja) * | 1982-12-23 | 1984-07-14 | モトロ−ラ・インコ−ポレ−テツド | 基準化cmosデバイス用入力保護回路およびバイアス方法 |
-
1983
- 1983-02-07 US US06/464,163 patent/US4473758A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-12-15 WO PCT/US1983/001997 patent/WO1984003185A1/en not_active Ceased
- 1983-12-15 EP EP84900369A patent/EP0135504B1/en not_active Expired
- 1983-12-15 JP JP59500432A patent/JPS60500433A/ja active Granted
- 1983-12-15 DE DE8484900369T patent/DE3381162D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1983-12-16 CA CA000443505A patent/CA1197574A/en not_active Expired
-
1984
- 1984-02-07 KR KR1019840000564A patent/KR840008097A/ko not_active Ceased
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6248061A (ja) * | 1985-08-26 | 1987-03-02 | シ−メンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 相補性回路技術による集積回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1984003185A1 (en) | 1984-08-16 |
| KR840008097A (ko) | 1984-12-12 |
| EP0135504A4 (en) | 1986-09-24 |
| CA1197574A (en) | 1985-12-03 |
| EP0135504A1 (en) | 1985-04-03 |
| EP0135504B1 (en) | 1990-01-24 |
| US4473758A (en) | 1984-09-25 |
| JPH0439784B2 (ja) | 1992-06-30 |
| DE3381162D1 (de) | 1990-03-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4473758A (en) | Substrate bias control circuit and method | |
| KR960003374B1 (ko) | 반도체 집적 회로 장치 | |
| US5057715A (en) | CMOS output circuit using a low threshold device | |
| US5574389A (en) | CMOS 3.3 volt output buffer with 5 volt protection | |
| KR19990067849A (ko) | 허용 전압 출력 버퍼 | |
| US6741098B2 (en) | High speed semiconductor circuit having low power consumption | |
| JPH02268512A (ja) | 誘導負荷を有する電力用mosトランジスタを制御する回路 | |
| US5966035A (en) | High voltage tolerable input buffer | |
| JP2000138578A (ja) | 耐高電圧および伸展性ドライバ回路 | |
| US5886543A (en) | Power semiconductor switch having a load open-circuit detection circuit | |
| KR100357279B1 (ko) | 풀업회로및반도체장치 | |
| KR100334365B1 (ko) | 시모스 입력 버퍼 보호 회로 | |
| US6476641B2 (en) | Low power consuming circuit | |
| JPH1032481A (ja) | 論理回路 | |
| JPH06325569A (ja) | 半導体集積回路の中間電圧発生回路 | |
| KR100391991B1 (ko) | 전압 인터페이스 회로를 구비한 반도체 집적 회로 장치 | |
| JP2565076B2 (ja) | 半導体装置 | |
| KR970013312A (ko) | 반도체 집적회로 | |
| JP2798602B2 (ja) | 出力インタフェース回路 | |
| JP3190169B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| US6775118B2 (en) | Supply voltage reference circuit | |
| JP2002231886A (ja) | Esd保護回路および半導体集積回路装置 | |
| JPH058584B2 (ja) | ||
| JP2002314391A (ja) | バススイッチ | |
| JP2699877B2 (ja) | コード設定回路 |