JPS605078B2 - 配線基板 - Google Patents
配線基板Info
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- JPS605078B2 JPS605078B2 JP18072080A JP18072080A JPS605078B2 JP S605078 B2 JPS605078 B2 JP S605078B2 JP 18072080 A JP18072080 A JP 18072080A JP 18072080 A JP18072080 A JP 18072080A JP S605078 B2 JPS605078 B2 JP S605078B2
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Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高温状態下で使用される配線基板に関する。
従来、配線基板の導体層はW,Mo等の高融点金属を主
成分としている。
成分としている。
該配線基板は導体パターンやスルーホールを形成したア
ルミナの禾暁結シートを必要な層数だけ積層した後、熱
プレスを施こして一体構造化し、加湿還元雰囲気下で焼
成して製造される。用途としてはICパッケージ、一般
配線基板、セラミックヒータ等である。特に熱源近傍で
使用されるかまたは熱源として使用される該配線基板の
場合、W,Mo等の高融点金属がアルミナからの酸素イ
オンの拡散により酸化物となり、配線の抵抗値が増大す
る欠点を有する。従って、本発明は係る欠点をなくすた
めになされたものであり、W,Moに比較し酸素イオン
の拡散係数が極めて小さい炭化タングステン、炭化ケイ
素、炭化チタン、窒化チタンを用い、高温下における寿
命特性劣化を防止することのできる配線基板を提供する
ものである。係る目的に従って本発明の配線基板は、導
体パターンをセラミック層の表面あるいは層間に形成し
てなる配線基板において、導体パターンが炭化タングス
テン炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チタンの1種または
2種以上を主成分とする導体層間にモリブデン、タング
ステンの1種または両者を主成分とする導体層が存在す
る3層より構成されることを第1の特徴とする。
ルミナの禾暁結シートを必要な層数だけ積層した後、熱
プレスを施こして一体構造化し、加湿還元雰囲気下で焼
成して製造される。用途としてはICパッケージ、一般
配線基板、セラミックヒータ等である。特に熱源近傍で
使用されるかまたは熱源として使用される該配線基板の
場合、W,Mo等の高融点金属がアルミナからの酸素イ
オンの拡散により酸化物となり、配線の抵抗値が増大す
る欠点を有する。従って、本発明は係る欠点をなくすた
めになされたものであり、W,Moに比較し酸素イオン
の拡散係数が極めて小さい炭化タングステン、炭化ケイ
素、炭化チタン、窒化チタンを用い、高温下における寿
命特性劣化を防止することのできる配線基板を提供する
ものである。係る目的に従って本発明の配線基板は、導
体パターンをセラミック層の表面あるいは層間に形成し
てなる配線基板において、導体パターンが炭化タングス
テン炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チタンの1種または
2種以上を主成分とする導体層間にモリブデン、タング
ステンの1種または両者を主成分とする導体層が存在す
る3層より構成されることを第1の特徴とする。
これを第1図に示す。また、炭化タングステン、炭化ケ
イ素、炭化チタン、窒化チタンの1種または2種以上を
主成分とする導体層と、モリブデン、タングステンの1
種または両者を主成分とする導体層の2層より構成され
、セラミック表面に導体パターンを形成する場合、前者
の導体層を大気と接する側へまた後者の導体層をセラミ
ック層と接する側へ構成し、セラミック層内部に導体パ
ターンを形成する場合は前者の導体層及び後者の導体層
の上下関係は任意に構成されることを第2の特徴とする
。これを第2図イ,口に示す。第1図及び第2図イ,口
において、それぞれ1はアルミナセラミック層、2は炭
化物,窒化物を主成分とする導体層、3はタングステン
,モリブデンを主成分とする導体層である。
イ素、炭化チタン、窒化チタンの1種または2種以上を
主成分とする導体層と、モリブデン、タングステンの1
種または両者を主成分とする導体層の2層より構成され
、セラミック表面に導体パターンを形成する場合、前者
の導体層を大気と接する側へまた後者の導体層をセラミ
ック層と接する側へ構成し、セラミック層内部に導体パ
ターンを形成する場合は前者の導体層及び後者の導体層
の上下関係は任意に構成されることを第2の特徴とする
。これを第2図イ,口に示す。第1図及び第2図イ,口
において、それぞれ1はアルミナセラミック層、2は炭
化物,窒化物を主成分とする導体層、3はタングステン
,モリブデンを主成分とする導体層である。
尚、上記の如く導体層が2層構造、3層構造に構成され
ている配線基板において、炭化タングステン、炭化ケイ
素、炭化チタン、窒化チタンの1種または2種以上を主
成分とする導体層の組成が、炭化タングステン、炭化ケ
イ素、炭化チタン、窒化チタンの1種または2種以上を
合計70〜9の重量%、ニッケル、コバルト、アルミニ
ウム金属の1種または2種以上を合計5〜2の重量%、
ガラスフリツトを5〜2の重量%とし、合計10の重量
%であることを第3の特徴とする。
ている配線基板において、炭化タングステン、炭化ケイ
素、炭化チタン、窒化チタンの1種または2種以上を主
成分とする導体層の組成が、炭化タングステン、炭化ケ
イ素、炭化チタン、窒化チタンの1種または2種以上を
合計70〜9の重量%、ニッケル、コバルト、アルミニ
ウム金属の1種または2種以上を合計5〜2の重量%、
ガラスフリツトを5〜2の重量%とし、合計10の重量
%であることを第3の特徴とする。
ガラスフリツトは、導体層とアルミナセラミツク層間の
結合に寄与する目的で添加されるものであるから、係る
目的を満足し、かつアルミナセラミック層と反応し、該
セラミック層の電気的絶縁抵抗を下げることがなければ
特に限定されない。
結合に寄与する目的で添加されるものであるから、係る
目的を満足し、かつアルミナセラミック層と反応し、該
セラミック層の電気的絶縁抵抗を下げることがなければ
特に限定されない。
ニッケル、コバルト、アルミニウムは、炭化タングステ
ン、炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チタンの結合剤とし
て作用し、導体層の機械的強度を増加させ、かつ該電極
上へのNiメッキの付着性を向上させる効果がある。尚
、本特許の構造を有しない導体層の場合、高温下におい
てモリブデン、タングステンヘセラミック層中の酸素イ
オンが拡散し、モリブデン、タングステンの酸化物が生
じ、導体層の抵抗値が増加するのは上述した通りである
。
ン、炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チタンの結合剤とし
て作用し、導体層の機械的強度を増加させ、かつ該電極
上へのNiメッキの付着性を向上させる効果がある。尚
、本特許の構造を有しない導体層の場合、高温下におい
てモリブデン、タングステンヘセラミック層中の酸素イ
オンが拡散し、モリブデン、タングステンの酸化物が生
じ、導体層の抵抗値が増加するのは上述した通りである
。
そして、炭化タングステン、炭化ケイ素、炭化チタン、
窒化チタンの1種または2種以上の合計が7の重量%未
満では、タングステン、モリブデンを主成分とする導体
層と接する酸化物面が増加し、負荷寿命特性が劣化する
。
窒化チタンの1種または2種以上の合計が7の重量%未
満では、タングステン、モリブデンを主成分とする導体
層と接する酸化物面が増加し、負荷寿命特性が劣化する
。
9の重量%より多い場合は、導体層の焼絹性が低下する
とともに、アルミナセラミツク層と導体層との結合強度
が低下する。
とともに、アルミナセラミツク層と導体層との結合強度
が低下する。
また、ニッケル、コバルト、アルミニウム金属の1種ま
たは2種以上の合計が5重量%未満の場合、導体層の焼
緒性が低下し、また導体層へのNiメッキの接着性が低
下する。2の重量%より多い場合は、導体層の機械的強
度、寿命特性が劣化する。
たは2種以上の合計が5重量%未満の場合、導体層の焼
緒性が低下し、また導体層へのNiメッキの接着性が低
下する。2の重量%より多い場合は、導体層の機械的強
度、寿命特性が劣化する。
さらに、ガラスフリットが5重量%未満の場合は、アル
ミナセラミック層と導体層の結合強度が低下する。2の
重量%より多い場合、導体層の面抵抗値が増加する。
ミナセラミック層と導体層の結合強度が低下する。2の
重量%より多い場合、導体層の面抵抗値が増加する。
以下、本発明を実施例を挙げ具体的に説明する。
まず、導体パターン用電極材料は市販の平均粒径1仏m
の炭化タングステン、炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チ
タン粉末を用いる。ガラスフリット、タングステンペー
ストは市販の1550oo暁付け用を用いる。ガラスフ
リツトの組成はAI203一Si02一Mg0一Ca○
系である。また生アルミナセラミックシートは、原料と
して工業用原料(純度98%以上)を用い、組成がN2
03;9亀重量% Si02:3重量%Ca0
;0.頚重量% Mg○ ;0.2重量%となる
よう調合し、公知の技術を用いて生アルミナセラミック
シートとする。
の炭化タングステン、炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チ
タン粉末を用いる。ガラスフリット、タングステンペー
ストは市販の1550oo暁付け用を用いる。ガラスフ
リツトの組成はAI203一Si02一Mg0一Ca○
系である。また生アルミナセラミックシートは、原料と
して工業用原料(純度98%以上)を用い、組成がN2
03;9亀重量% Si02:3重量%Ca0
;0.頚重量% Mg○ ;0.2重量%となる
よう調合し、公知の技術を用いて生アルミナセラミック
シートとする。
次いで、炭化物、窒化物系導体層の組成比を下記の第1
表に示す。<第1表>メタラィズ用ペースト作製手順と
しては、上記導体層成分、エタノールをポールミルに投
入し、1被時間程度粉砕混合する。
表に示す。<第1表>メタラィズ用ペースト作製手順と
しては、上記導体層成分、エタノールをポールミルに投
入し、1被時間程度粉砕混合する。
該スラリーをボールミルより取り出し、乾燥した後、該
乾粉10の重量部に対しエチルセルローズ6重量部、ブ
チルカルビトールアセテート2の重量部、ターピネオー
ル3重量部を添加し、十分混練し、メタラィズ用ペース
トとする。上記のメタラィズ用ペーストを生アルミナセ
ラミックシート上にスクリーン法にて印刷し、該シート
を積み重ね、140℃,40k9′の,10分間ホット
プレスし、積層体とする。
乾粉10の重量部に対しエチルセルローズ6重量部、ブ
チルカルビトールアセテート2の重量部、ターピネオー
ル3重量部を添加し、十分混練し、メタラィズ用ペース
トとする。上記のメタラィズ用ペーストを生アルミナセ
ラミックシート上にスクリーン法にて印刷し、該シート
を積み重ね、140℃,40k9′の,10分間ホット
プレスし、積層体とする。
焼成は加湿還元雰囲気中で1550午○,3時間にて行
う。
う。
得られた配線基板を用い、下記の第2表,第3表のよう
な特性を調べた。<第2表> <第 3 表> 第2表のNo.A〜No.Kは本発明の3層構造導体層
(中間層はタングステンを主成分とする導体層)を有す
る配線基板であり、従来例はタングステンを主成分とす
る1層のみからなる導体層を有する配線基板である。
な特性を調べた。<第2表> <第 3 表> 第2表のNo.A〜No.Kは本発明の3層構造導体層
(中間層はタングステンを主成分とする導体層)を有す
る配線基板であり、従来例はタングステンを主成分とす
る1層のみからなる導体層を有する配線基板である。
第3表のNo.L〜No.Vは本発明の2層構造導体層
(1層は炭化物、窒化物を主成分とする導体層、池層は
タングステンを主成分とする導体層)を有する配線基板
であり、Niメッキをする側の導体層は炭化物,窒化物
を主成分とする導体層である。
(1層は炭化物、窒化物を主成分とする導体層、池層は
タングステンを主成分とする導体層)を有する配線基板
であり、Niメッキをする側の導体層は炭化物,窒化物
を主成分とする導体層である。
第1表,第2表,第3表より鱗らかなように、No.1
〜No.6,No.A〜No.F,No.L〜No.Q
までが本発明範囲内であり、他は本発明範囲外及び従来
例である。
〜No.6,No.A〜No.F,No.L〜No.Q
までが本発明範囲内であり、他は本発明範囲外及び従来
例である。
本発明範囲の試料は面抵抗値、面接着強度、暁結度、高
温負荷寿命特性、Niメッキ性において優秀な特性を示
している。
温負荷寿命特性、Niメッキ性において優秀な特性を示
している。
また、本発明範囲外は本発明品に比較し、特性が悪い。
本実施例において焼結度は、導電層をナイフにて削る時
の削り度合及び電子顕微鏡写真により判定した。
本実施例において焼結度は、導電層をナイフにて削る時
の削り度合及び電子顕微鏡写真により判定した。
高温負荷寿命特性は、配線基板を湿度80%下に置き、
1時間通電(発熱部500qo)し、30分間通電カッ
トする方法を1サイクルとして5000サイクルテスト
した結果で評価した。但し、配線基板において導体層は
大気と接する部分はないものを使用した。Niメッキに
関しては、試料を脱脂,脱酸処理した上、市販されてい
るNi無電解〆ッキ液を用い、導電層上にNjを析出さ
せた後、純水洗浄、乾燥して該試料に析出したNiの膜
厚を測定したものである。以上のように本発明の配線基
板は、高温下において非常に優れた性能を持ち、工業的
量産化においても著しく安定であり、産業的価値の大な
るものである。
1時間通電(発熱部500qo)し、30分間通電カッ
トする方法を1サイクルとして5000サイクルテスト
した結果で評価した。但し、配線基板において導体層は
大気と接する部分はないものを使用した。Niメッキに
関しては、試料を脱脂,脱酸処理した上、市販されてい
るNi無電解〆ッキ液を用い、導電層上にNjを析出さ
せた後、純水洗浄、乾燥して該試料に析出したNiの膜
厚を測定したものである。以上のように本発明の配線基
板は、高温下において非常に優れた性能を持ち、工業的
量産化においても著しく安定であり、産業的価値の大な
るものである。
第1図及び第2図イ,口は本発明のそれぞれ実施例を説
明するための配線基板の断面図である。 1……(アルミナ)セラミック層、2……炭化物,窒化
物を主成分とする導体層、3・・・・・・タングステン
,モリブデンを主成分とする導体層。 第1図第2図
明するための配線基板の断面図である。 1……(アルミナ)セラミック層、2……炭化物,窒化
物を主成分とする導体層、3・・・・・・タングステン
,モリブデンを主成分とする導体層。 第1図第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 導体パターンをセラミツク層の表面あるいは層間に
形成してなる配線基板において、導体パターンが炭化タ
ングステン、炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チタンの1
種または2種以上を主成分とする導体層間にモリブデン
、タングステンの1種または両者を主成分とする導体層
が存在する3層より構成されていることを特徴とする配
線基板。 2 特許請求の範囲第1項記載の配線基板において、炭
化タングステン、炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チタン
の1種または2種以上を主成分とする導体層の組成が、
炭化タングステン、炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チタ
ンの1種または2種以上を合計70〜90重量%、ニツ
ケル、コバルト、アルミニウム金属の1種または2種以
上を合計5〜20重量%、ガラスフリツトを5〜20重
量%とし、全合計100重量%であることを特徴とする
配線基板。 3 導体パターンをセラミツク層の表面あるいは層間に
形成してなる配線基板において、導体パターンが炭化タ
ングステン、炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チタンの1
種または2種以上を主成分とする導体層と、モリブデン
、タングステンの1種または両者を主成分とする導体層
の2層よりなり、かつセラミツク表面に導体パターンを
形成する際に前者の導体層を大気と接する側へ、また後
者の導体層をセラミツク層と接する側へ構成し、セラミ
ツク内部に導体パターンを形成する際は前者の導体層及
び後者の導体層の上下関係は任意に構成されていること
を特徴とする配線基板。 4 特許請求の範囲第3項記載の配線基板において、炭
化タングステン、炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チタン
の1種または2種以上を主成分とする導体層の組成が、
炭化タングステン、炭化ケイ素、炭化チタン、窒化チタ
ンの1種または2種以上を合計70〜90重量%、ニツ
ケル、コバルト、アルミニウム金属の1種または2種以
上を合計5〜20重量%、ガラスフリツトを5〜20重
量%とし、全合計100重量%であることを特徴とする
配線基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18072080A JPS605078B2 (ja) | 1980-12-19 | 1980-12-19 | 配線基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18072080A JPS605078B2 (ja) | 1980-12-19 | 1980-12-19 | 配線基板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57104291A JPS57104291A (en) | 1982-06-29 |
| JPS605078B2 true JPS605078B2 (ja) | 1985-02-08 |
Family
ID=16088131
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18072080A Expired JPS605078B2 (ja) | 1980-12-19 | 1980-12-19 | 配線基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS605078B2 (ja) |
-
1980
- 1980-12-19 JP JP18072080A patent/JPS605078B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57104291A (en) | 1982-06-29 |
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