JPS6050949A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS6050949A JPS6050949A JP58159876A JP15987683A JPS6050949A JP S6050949 A JPS6050949 A JP S6050949A JP 58159876 A JP58159876 A JP 58159876A JP 15987683 A JP15987683 A JP 15987683A JP S6050949 A JPS6050949 A JP S6050949A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hole
- wiring
- pad
- layer
- wiring layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W20/00—Interconnections in chips, wafers or substrates
- H10W20/40—Interconnections external to wafers or substrates, e.g. back-end-of-line [BEOL] metallisations or vias connecting to gate electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/921—Structures or relative sizes of bond pads
- H10W72/923—Bond pads having multiple stacked layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/981—Auxiliary members, e.g. spacers
- H10W72/983—Reinforcing structures, e.g. collars
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明に、多層配線を行なう半導体装置に関する最近、
半導体装置の多層配線化が進み、バイポーラ素子で6.
2層配線が席識化し、6層4L<は4層配線の物も開発
されてきている。又MO8型素子も半導体素子の高集積
化、高速化Qて加え、ゲートアレー等に代表されるマス
タースライスエCをコンヒユーター自動配紛で作り易ぐ
するためVご、2層配線は実用化さ才している。さらに
、この分野に於いでも3虐以上の多層1ヒVj進むもの
と思われる。ところが、多層配線化する時に、入出力信
号必るいは厄源ラインの外部との接紅じ部であるパッド
と各配線層をとのように接続するかが問題になる。第一
一の従来しOとしてA26層配線を行なった場合を例に
示す。半導体基板上に形成した絶縁膜101上f(、第
一配線層102全形成し、第一層間絶縁膜105を介し
、第二配線層104が形S、てれ、さらに、第二鳩聞納
履105を介したのち、第三配線層106がル成さtし
ている。
半導体装置の多層配線化が進み、バイポーラ素子で6.
2層配線が席識化し、6層4L<は4層配線の物も開発
されてきている。又MO8型素子も半導体素子の高集積
化、高速化Qて加え、ゲートアレー等に代表されるマス
タースライスエCをコンヒユーター自動配紛で作り易ぐ
するためVご、2層配線は実用化さ才している。さらに
、この分野に於いでも3虐以上の多層1ヒVj進むもの
と思われる。ところが、多層配線化する時に、入出力信
号必るいは厄源ラインの外部との接紅じ部であるパッド
と各配線層をとのように接続するかが問題になる。第一
一の従来しOとしてA26層配線を行なった場合を例に
示す。半導体基板上に形成した絶縁膜101上f(、第
一配線層102全形成し、第一層間絶縁膜105を介し
、第二配線層104が形S、てれ、さらに、第二鳩聞納
履105を介したのち、第三配線層106がル成さtし
ている。
ここで、外部への1d号の増9出しを、第王配線鳩をも
って行っているので、電極パッド108をもッテ形成t
ル。1i107i−iパツンベーンヨン膜テある。こ
のように形成2れ1と電極パットで(・ユ、次のような
問題点がある。
って行っているので、電極パッド108をもッテ形成t
ル。1i107i−iパツンベーンヨン膜テある。こ
のように形成2れ1と電極パットで(・ユ、次のような
問題点がある。
(1)第三配線層の膜厚がボンディングするのに充分な
強反があるか。つまり、この配線層がAMの場合、膜厚
として約1μmの厚みが必要となる。
強反があるか。つまり、この配線層がAMの場合、膜厚
として約1μmの厚みが必要となる。
(11)ハツト部での段差が大きいので断線の不安があ
る。
る。
そこで、かかる欠点をとりのぞく方法として本発明を第
2図に示す。牛尋体基板上に、絶縁膜201を形成し、
第一配線層202を形成し、次に第一層間絶縁膜206
を形成後、電極パッド部に、第一配線層と導通がとれる
ようにスルーホールを形成する。次に第二配線層204
を形成し、さらに、第二層間絶豚膜205を形成後、1
a1じく電極パッド部上に、第二配線層204と導通が
とれるようスルホール2を形成し、第三配線ノ緬206
を形成する。この二回のスルーホールをig−jること
により第一、第二及び第三配線層が電極・くラド部で、
三層構造に疫りしかも、電気的に接続されているので、
ボンディング強度上必要となる膜厚に、上記三層配線の
膜厚の総和が淀−嘔ねていればよい。よって、各層の配
線j曹の膜厚に、ホ′ンディング強度を、考慮すること
なく最適イし出来る。
2図に示す。牛尋体基板上に、絶縁膜201を形成し、
第一配線層202を形成し、次に第一層間絶縁膜206
を形成後、電極パッド部に、第一配線層と導通がとれる
ようにスルーホールを形成する。次に第二配線層204
を形成し、さらに、第二層間絶豚膜205を形成後、1
a1じく電極パッド部上に、第二配線層204と導通が
とれるようスルホール2を形成し、第三配線ノ緬206
を形成する。この二回のスルーホールをig−jること
により第一、第二及び第三配線層が電極・くラド部で、
三層構造に疫りしかも、電気的に接続されているので、
ボンディング強度上必要となる膜厚に、上記三層配線の
膜厚の総和が淀−嘔ねていればよい。よって、各層の配
線j曹の膜厚に、ホ′ンディング強度を、考慮すること
なく最適イし出来る。
しかも、第2図の、例で、この電極ノくラドが電源用で
あり第一層配線及び第三層配線に、大電流が流れるよう
な場合に於いても、電流ノくスが、1列になるため、マ
イグレーション等による配線断線は、回避出来る。
あり第一層配線及び第三層配線に、大電流が流れるよう
な場合に於いても、電流ノくスが、1列になるため、マ
イグレーション等による配線断線は、回避出来る。
%1207f−j、ファイナルノ:ツンベーンヨン膜で
アル。又、スルーホール1、スルホールラド開ロサイス
全、順次小さくすることにより、電極バンド部での、配
線層の力・くレージを改善小米る。
アル。又、スルーホール1、スルホールラド開ロサイス
全、順次小さくすることにより、電極バンド部での、配
線層の力・くレージを改善小米る。
第1因が、従来法の三層配線素子の)ζラド部を示す図
。 第2Mが、本発明の三層配線素子のパッド部を示す図。 以上 出願人 株式会社 諏訪精工舎 代理人 弁理士 最上 務 笛1図 第2図
。 第2Mが、本発明の三層配線素子のパッド部を示す図。 以上 出願人 株式会社 諏訪精工舎 代理人 弁理士 最上 務 笛1図 第2図
Claims (3)
- (1)少なくとも2層以上の金属配線を行なう半導体装
置に於いて、電極パッドが、金属配線層の全ての金属配
線層からなり、かつ、該金属配線層から電極パッド間が
電気的に接続されていることを特徴とする半導体装置。 - (2)上記各金属配線のうち、少なくとも一層以上に金
属硅化物層を用いることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の半導体装置。 - (3)上記電極パッド部に於ける各金属層との接続開口
部コンタクトホールを、各工程ごと前工程のコンタクト
ホールの内側になるよう小さく形成することを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58159876A JPS6050949A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58159876A JPS6050949A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6050949A true JPS6050949A (ja) | 1985-03-22 |
| JPH0544185B2 JPH0544185B2 (ja) | 1993-07-05 |
Family
ID=15703130
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58159876A Granted JPS6050949A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6050949A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63252433A (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-19 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| JPH025473A (ja) * | 1988-06-23 | 1990-01-10 | Toshiba Corp | 固体撮像装置の製造方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5227389A (en) * | 1975-08-27 | 1977-03-01 | Hitachi Ltd | Semiconductor device containing multi-layer wiring |
-
1983
- 1983-08-30 JP JP58159876A patent/JPS6050949A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5227389A (en) * | 1975-08-27 | 1977-03-01 | Hitachi Ltd | Semiconductor device containing multi-layer wiring |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63252433A (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-19 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| JPH025473A (ja) * | 1988-06-23 | 1990-01-10 | Toshiba Corp | 固体撮像装置の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0544185B2 (ja) | 1993-07-05 |
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