JPS6051196B2 - 半導体メモリ回路 - Google Patents

半導体メモリ回路

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JPS6051196B2
JPS6051196B2 JP56136067A JP13606781A JPS6051196B2 JP S6051196 B2 JPS6051196 B2 JP S6051196B2 JP 56136067 A JP56136067 A JP 56136067A JP 13606781 A JP13606781 A JP 13606781A JP S6051196 B2 JPS6051196 B2 JP S6051196B2
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    • G11C—STATIC STORES
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    • G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/419—Read-write [R-W] circuits

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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体メモリ回路、特にスタティック形半導体
メモリ回路に関する。
一般にスタティック形の半導体メモリ回路は、Y方向に
沿つて伸びる一対のビットライン(BL、BL)と、該
一対のビットラインに挟まれるように接続される多数個
のメモリセルと、該一対のビットライン(BL、BL)
にそれぞれ挿入される一対のロードトランジスタと、前
記多数個のメモリセルの各々を選択するための、x方向
に伸びるワードライン等を基本的な構成要素として構成
される。
このような構成の半導体メモリ回路において従来より2
つの問題がありこの種の半導体メモリ回路における欠点
となつていた。先ず第1の問題は消費電力が不必要に大
となることである。というのは上記半導体メモリ回路に
おいては、前記一対のロードトランジスタのいずれか一
方を通じて前記一対のビットラインの一方に常に定常的
な電流を流すという形式がとられているかフらである。
そして第2の問題はアクセスタイムをより高速にするこ
とが困難であるということである。この第2の欠点を生
じさせる原因は2つある。第1の原因は、アクセスされ
たメモリセルからビットラインに情報を読出す際、当該
メモリセ5ル内のトランジスタを通して前記定常的な電
流を引き込みながら且つ同時に該ビットライン上に情報
を移し代えるわけであるから、当然に読出し速度にブレ
ーキがかけられてしまうことである。第2の原因として
はgm(相互コンダクタンス)、主として前記ロードト
ランジスタG.nが挙げられる。一般に、アクセスタイ
ムの向上を図るにはG6は大きければ大きい程良いこと
が知られている。ところが、一方、G..を大にするた
めにはトランジスタそのもののサイズを大にしなければ
ならないことも良く知られている。この場合、集積度の
増大を図るべく、結局G..を小にする方向に設計され
てしまうのが普通であり、このためにアクセスタイムが
犠性となつてしまうこととなつた。そこで本出願人は上
記問題点を解決すべく、次のような半導体メモリ回路を
提案(本願と同日付出願の第1の提案特開昭58−41
484号)した。
これは、「一対のビツトラインと、該一対のビツトライ
ンに係合するメモリセルと、前記一対のビツトラインに
それぞれ挿入される一対のロードトランジスタと、該メ
モリセルをアクセスするためのワードラインとを含んで
なる半導体メモリ回路において、一対のレベルコンバー
タを設け、該一対のレベルコンバータはそれぞれ対応す
る前記一対のビツトラインの一方に現われる論理信号を
レベル変換してそれぞれ対応する前記一対のロードトラ
ンジスタの一方の制御電極に印加するようにした』こと
を特徴とするものである。
かくして、既述の.第1および第2の問題点はかなり効
果的に解決される。ところが前記アクセスタイムについ
て見ると、さらに工夫を施すことにより、これをもう少
し高速化できることが判明した。そこで、前記第1の提
案に対し、もう少し高速J化を図るべく、本願と同日付
出願の第2の提案特開昭58−41486号)を行なつ
た。
これは、『一対のロードトランジスタのGTr.をアク
セス時における情報によつて見かけ上可変とし、従来一
般における定常的な電流を当該情報に応じて制3御する
ようにした半導体メモリ回路(上記第1の提案)であつ
て、さらに一対のビツトラインに係合する一対のゲート
回路を設け、該ゲート回路は前記アクセスの開始直後に
発生せしめられるゲートパルスφ1によつて共に所定期
間オフとなり、4前記一対のロードトランジスタは該一
対のゲート回路のオフと共に実質的にオフ状態となるよ
うにした」ことを特徴とするものである。ところがこの
第2の提案によると、後述するように、アクセス直後に
電源■。
。と一対のビツトラインとを瞬断するため、Hレベルへ
充電されるべき側のビツトラインが迅速に当該Hレベル
へ移行しないという新たな欠点を生じさせてしまう。こ
れは実用上差し支えない範囲での、レベル変化の遅延で
あるが、要求性能に応じて、そのような遅延をも排除し
て最も迅速なレベル変化を実現できるようにしておくこ
とが必要である。なお、前述したHレベルへの移行の遅
延をもたらす原因について後に詳述する。従つて本発明
の目的は、低消費電力であつて且つ上記第1および第2
の提案におけるアクセスタイムに対してさらに改良を加
えた半導体メモリ回路を提案することである。
上記目的に従い本発明は、前述したゲートパルスφ1に
よつて駆動制御される一対のゲート回路を一対の第1ゲ
ート回路とするとき、該ゲートパルスφ1と略同一のタ
イミングで発生し且つこれよりパルス幅の短いゲートパ
ルスφ2によつて駆動制御される一対の第2ゲート回路
を設け、該一対の第2ゲート回路はそれぞれ前記一対の
ビツトラインおよび電源間に接続されるようにし、前記
ゲートパルスφ2が発生している間該一対のビツトライ
ンを前記電源のレベルに急速に充電するようにしたこと
を特徴とするものであり、さらに好ましくは、第3ゲー
ト回路を設け、該第3ゲート回路は前記ゲートパルスφ
2によつてオンとなり前記一対のビツトライン間を短絡
するようにしたことを特徴とするものである。
以下図面に従つて本発明を説明する。
第1図は一般的なスタティック形半導体メモリ回路を示
す回路図である。
本図において、BLおよび面は一対のビツトラインであ
り、該一対のビツトラインBL,囮に係合して多数個の
メモリセルMCが配設される。該一対のビツトラインB
L,lには又、一対のロードトランジスタQl,Q2が
それぞれ挿入される。一方、メモリセルMCにはワード
ラインWLが係合しており、前記ビツトラインおよびワ
ードラインによつて所望のメモリセルMCが捕捉される
。なお、実際には多数個のメモリセル、多数対のビツト
ラインおよび多数本のワードラインが存在するが図示し
ていない。又、各ビツトライン対には情報書込み用のラ
イトバッファおよび情報読出し用のセンスアンプが設け
られているが図示していない。今仮にメモリセルMC(
7)BL側に論理L(従つてl側に論理H)がストアさ
れているものとし、且つ今当該メモリセルMCがワード
ラインWLによりアクセスされたものとする。
この場合の各トランジスタの状態は先ず論理LおよびH
が図示するようにストアされていることからトランジス
タ9がオン、トランジスタQ6がオフである。そして、
ワードラインWLよりアクセスがあつたことからトラン
ジスタQ3およびトランジスタQ4が共にオンとなる。
そうすると、トランジスタQ3およびQ5が共にオンに
なることから、電源■。
。よりアースGNDに向つて図中点線のルートで、トラ
ンジスタQ1を通して、電流1が流れる。これは、当該
メモリセルMCがアクセスされ続けている限り定常的に
流れるものであり、これが前述した定常的な電流である
。これは、とりもなおさず消費電力の無駄となつて現わ
れる(既述の第1の問題点)。一方、読出しアクセス時
についてみると、この定常一的な電流1をトランジスタ
Q3および9で引きながら読出し動作を行なうことにな
ることから、メモリセルMCからみると、ビツトライン
BLの容量負荷のみならずこの定常的な電流負荷も重畳
した形で読出し動作を行なわなければならずアクセスタ
イムの高速化が図れない(既述の第2の問題点)。そこ
で本出願人は前述の如く、本願と同日付出願(特開昭5
8−41484号)の半導体メモリ回路(以下、第1の
提案の半導体メモリ回路と称す)により、上記問題を一
応解決した。
この第1の提案の半導体メモリ回路は、ロードトランジ
スタQl,Q2のGmに着目する。つまり、消費電力お
よびアクセスタイムに関し、これらを改良するように適
宜GOを可変とする。具体的には、既述の如く、アクセ
スタイムの向上に関してはG.を大にし、又、消費電力
については前記電流1の立上り以降G.nを小にする。
ところが一般にこのG..は固定的で且つ相対的に小で
ある。小であるのは実装密度を上げるためである。この
ため第1の提案の発明ではこのGmを適宜可変にするよ
う゛ルベルコンバータ′1を導入する。このレベルコン
バータは一対存在し、それぞれ対応する前記一対のビツ
トラインBL,匪の一方に現われる論理信号をレベル変
換して、それぞれ対応する前記一対のロードトランジス
タの一方の制御電極に印加する働きをなす。第2図は第
1の提案の半導体メモリ回路の第1例を示す回路図であ
る。
本図において、第1図と同一の構成要素には同一の参照
記号を付して示す。従つて、本図中のLClおよびLC
2が前記第1の提案の発明によつて導入された一対のレ
ベルコンバータである。レベルコンバータLClおよび
LC2はそれぞれ、ビツトラインBLおよびlの論理信
号を受信してレベル変換し、これらをそれぞれロードト
ランジスタQ1およびQ2の各制御電極(図ではFET
のゲート)に印加する。動作は次のとおりである。
第1図の説明を再び用いると、トランジスタ9側がL1
トランジスタα側がHの状態でワードラインWLにより
当該メモリセルMCがアクセスされると、先ずは前記の
電流1が立上る。この電流1が立上る以前はビツトライ
ンBLの論理レベルは十分にLに引き込まれておらずむ
しろHのレベルにある。このビツトラインBLのレベル
Hを、レベルコンバータLClにより十分にレベル変換
して、ロードトランジスタQ1のゲートに、十分高いH
レベルとして印加している。すると、該ロードトランジ
スタQ1は十分にオン状態を維持していることになる。
(Gm大)。このオン状態で、先のように、メモリセル
MCがアクセスされれば電流1は急速に立上ることにな
る。そしてこの電流1はトランジスタQ3,Q.を経て
アースGNDに引き込まれビツトラインBLの論理はL
に向つて落ち込む。すると今度は、レベルコンバータL
ClはこのLに落ち込む論理レベルを十分にレベル変換
することになるから、ロードトランジスタQ1のゲート
には十分低いLレベルが印加される。このため、ロード
トランジスタQ1は急速にオフになつてしまい、その後
このオフ状態を維持する(G.n小)。かくの如く、ロ
ードトランジスタQ1がメモリセルMCのアクセス後急
速にオフになることは極めて有益である。というのは、
メモリセルMCがフアクセスされると共に電流1が急速
に減少するから、メモリセルMCからみたとき、情報の
読出し動作中、本来のビツトラインの容量負荷のみが存
在し最早、電流負荷(電流1の引込みによる負荷)は存
在しなくなる。これはアクセスタイムの向上につながり
、既述の第2の問題点を排除したことになる。同時に、
電流1が急速に減少し且つそのままほぼ零を維持すると
いうことは、消費電力の改善につながり、既述の第1の
問題点を排除したことになる。第3図は第1の提案の半
導体メモリ回路の第2の例を示す回路図である。
本図において、第1図と同一の構成要素には同一の参照
記号を付して示す。従つて托および顧が該第1の提案の
発明によつて導入された一対のレベルコンバータである
。これらレベルコンバータLC,[Cと前述のレベルコ
ンバータLCl,LC2との相違はG.nを変化させる
ための論理信号を自らの側より得るか(自己帰還形)又
は相手側より得るか(相互帰還形)にある。これは、メ
モリセルMCにおけるビツトライン対BL,lの論理の
相補性に着目したものである。従つて第3図のレベルコ
ンバータLC,ヱはレベルの反転(H−+L,L−H)
機能を併せ持つ。然し、動作原理と効果は第2図に示し
た半導体メモリ回路とほぼ同様である。前述したレベル
コンバータLC,房は最も単純には共にインバータで良
い。又、レベルコンバータLCl,LC2はレベル反転
を伴わないから、該インバータを2段縦属接続したもの
を用いれば良い。インバータは極めて一般的であり、F
ETが2個直列接続された,ものである。その形態はC
MOS回路でもE(Erlllancement)/D
(DepletiOn)形回路でも構わない。CMOS
回路であれば、ロードトランジスタのゲートに対する定
常電流がほぼ零となり、消費電力の点で好ましい。然し
E/D形の回路を使!用しても、ロードトランジスタの
ゲート容量はビツトライン容量に比べれば極少であるか
ら、消費電力が問題となることは殆んどない。本出願人
はさらに前述した第2の提案をしている。
これは第1の提案におけるアクセスタイムに3関し、さ
らに改良を加えたものである。第4図は第2の提案の半
導体メモリ回路が有すべき動作特性を説明するための波
形図である。
ただし、本図中のd)欄は第1の提案の半導体メモリ回
路(第2、第3図)についての波形図であ4り、アクセ
スタイムにまだ改良の余地があることを示している。ア
クセスタイムとは、ビツトラインBLおよび匝間のレベ
ル差が所定の値を越えるまでの時間を意味するから、d
)欄の波形BLBIxをさらにシャープに立上げ又は立
下げれば、アクセスタイムは向上する筈である。なお、
第4図中のa)欄はロウアドレス入力、すなわちワード
デコーダに対し外部から印加されるアドレス信号油の波
形を示し、さらにd)欄はワードラインWLのレベル変
化を示す。メモリセルMCがアクセスされるときは、当
該ワードラインWLがLからHレベルに切換わる。この
第2の提案の発明を特徴づける波形は第4)図のc)お
よびe)欄に示される。
同e)欄によれば、一対のビツトラインBLおよび匝間
のレベル差はシャープであり、アクセスタイムがd)欄
の場合よりも短縮されている。このようなアクセスタイ
ムの短縮が図れたのはゲートパルスφ1,(e)欄)が
導入されたからに他ならない。該ゲートパルスφ1はア
クセスの開始(ロウアドレス入力の切換時)直後に発生
せしめられ、所定期間tの間ゲート回路をオフとする。
このゲート回路は第2の提案の発明に固有のものであり
、これについて図示する。第5図は第2図の回路中に第
2の提案の発明に係るゲート回路を組み込んだ一例を示
す回路図である。本図において参照記号φ1,G11,
G1。を除く他の構成要素は既に説明したとおりである
。ここにGllおよびGl.は一対の第1ゲート回路を
示し、図ではトランジスタとして示される。前述した設
例によれば、メモリセルMCをアクセスしたとき、ビツ
トラインBLの情報Lが読み出される。ビツトラインB
LのレベルはLに向うため、やがてロードトランジスタ
Q1は、レベルコンバータLClを介してオフとなりこ
のオフ状態を維持する。然し、かくの如くロードトラン
ジスタQ1がやがてオフするのでは遅過ぎであり、前述
したように、この間メモリセルMCは前述した定常的な
電流を余計に引き込むことになる。そこで、一対の第1
ゲート回路GllおよびGl2をさらに導入し、ロード
トランジスタQ1のオン,オフ如何に拘らず、電源■。
。との接続を、前記所定期間t中しや断するものとする
。そうすると、メモリセスMCは余分な電流(前記定常
的な電流)を放電させることなしに即座にビツトライン
BLをLレベルへ導くことができる。このとき、ゲート
回路Gl2もオフとなるからビツトライ引正側の充電は
メモリセルMC側から行なわれることになる。ただし、
ビツトラインBLが時刻t1(第4図)で十分にLレベ
ルになつた以降は、時刻T2(第4図)でゲート回路G
llおよびGl2をオンとし、ビツトライン■をVcO
側より急速に充電する(このときロードトランジスタQ
2もオンになつている)。なお、ゲート回路Gllが時
刻T2以降にオンになつても、ロードトランジスタQ1
の方は既にオフしておりビツトラインBL(7)Lレベ
ルを変化させることはない。ところで本発明は、上記第
1の提案に対しては1勿論、上記第2の提案に係る半導
体メモリ回路よりもさらにアクセスタイムの短縮が図れ
るようにするものである。
前述の説明では、ひたすら、Lレベル側のビツトライン
BLにおける定常的な電流の抑圧のみを考えて来た。然
し、Hレベル側の−ビツトライAWにおける充電という
ことにも目を向けるべきである。というのは、今Hレベ
ルに設定されているビツトライン酊「において、第5図
の第1ゲート回路Gl2が、ゲートパルスφ1の発生中
オフになると、電源VccレベルHへの充一電のルート
が断たれてしまう。そうすると、当該ビットライン肛の
Hレベルへの充電はメモリセルCMから行なわれねばな
らないことになる。然しながらメモリセルMC内には、
第1図〜第3図に具体的に示す如く高抵抗Rhがあり、
このRh(本例の場合、右側のRh)を通して電源VO
。からの充電がなされなければならないから急速なHレ
ベルへの移行が望めない。これが、アクセスタイムの向
上が阻害される原因である。又、この高抵抗Rhの存在
はいわゆる誤書込みの原因をももたらすことも留意すべ
きである。
すなわち、同一ビツトライン中にある複数のメモリセル
のうち、あるワードラインによつて選択されたメモリセ
ルMCの情報とその次に他のワードラインによつて選択
されたメモリセルMCの情報との論理が逆である場合、
後に選択されたメモリセルMCにおけるHレベル側の情
報が先に選択されたメモリセルMCにおけるLレベル側
の情報によつて書き消され且つ書き換えられてしまうの
である。これは例えば第3図を参照すると、トランジス
タQ6のHレベルは高抵抗Rhを通して徐々に形成され
るのに対し、トランジスタα側のLレベルは即座にアー
スGNDによつて形成されることを考えれば明らかであ
る。いずれにせよ、Hレベル側へ移行すべきビツトライ
ンのレベル変化が緩慢であることが、上記アクセスタイ
ムならびに誤書込みに関し悪影響を与えている。
そして、前述した第1の提案におけるロードトランジス
タのオフ、および第2の提案における第1ゲ△ト回路の
オフがそのような悪影響にさらに拍車をかけることにな
つた。そこで本発明は、次のような半導体メモリ回路を
提案する。第6図は第5図に示した第2の提案の回路に
本発明を適用した一例を示す回路図である。木図におい
て、中央のG2l,G22,G3,φ2を除けば、全て
既に説明した構成要素である。すなわち一対の第2ゲー
ト回路G2l,G2。,第3ゲート回路G3ならびにゲ
ートパルスφ2が本発明を特徴づける構成要素である。
この本発明による半導体メモリ回路の動作は次のとおり
であり、第7図を参照すると明らかとなる。第7図は第
6図に示した半導体メモリ回路の動作説明に用いる波形
図である。ただし、第7図のa),b)およびd)欄は
第4図のa),b)およびc)欄と全く同じである。こ
こで注目すべきはe)欄のゲートパルスφ2であり、ゲ
ートパルスφ1と同一タイミングで発生するが、そのパ
ルス幅はゲートパルスφ1のそれよりは短い。このゲー
トパルスφ2が第6図に示す.一対の第2ゲート回路G
2l,G22に印加されると、これらは共にオンとなり
、電源■Ccに直接つながる。このため、ビツトライン
が第1ゲート回路Gll,Gl2のオフによつて、電源
からしや断されていても、第2ゲート回路G2l,G2
。のオンによつて急速に電源Vccレベルに充電される
。かくして、今、Hレベルに充電されようとしているビ
ツトライン面は急速に充電され(逆にビツトラインBL
がHレベルに充電される場合も同じ)、アクセスタイム
は向上し、又、前述の誤書込みは排除され5る。この場
合、ビツトラインBLはLレベルに引き込まれる状態に
あるため、第2ゲート回路G2lをオンにして該ビツト
ラインBLまでもHレベルに引き上げようとするのは無
駄であるように思われる。つまり、一対のビツトライン
中、Hレベル!θに引き上げる側のビツトラインにつな
がる第2ゲート回路(G2l又はG2.)のみをオンに
すれば良いのではないかという疑問を生ずるかもしれな
い。ところが、ゲートパルスφ2はアクセス直後に瞬時
的に発生するものであり、その都度、いずれか一方の第
2ゲート回路を選択し択一的に、相当する側の第2ゲー
ト回路にのみこれを印加するのは煩しい。又、もしそう
したとしてもそれ程利点はないのである。というのは、
Lレベルにすべきビツトラインに対し瞬時的(φ2の間
)にHレベルを与えても、Lレベルにすべき側のl・ラ
ンジスタ9又はqは直接アースGNDされており、Hレ
ベルから当該Lレベルに向うことはかなり高速度で完了
できるからである。とにかく、高抵抗Rhの存在によつ
てHレベルへの移行が緩慢になされるビットラインに、
外部から強制的にHレベルが与えられることの意義は大
である。本発明は、さらに好ましくは第3ゲート回路G
3を設ける。
この第3ゲート回路G3も又ゲートパルスφ2によつて
オンとなるが、その役割はビツトラインBLおよび匝間
を短絡することである。とにかく、前述したように、H
レベル側への移行を迅速に行なうというのが本発明の趣
旨であり、特にLレベルからHレベルへの移行は最も時
間がかかるから、一対のビツトラインBLおよび?の相
補性に着目し、アクセスの直後に、両ラインBL,?を
短絡すれば、Lレベル側の電位は相手方のHレベルの電
位によつて幾分でも速く充電され、Hレベルへの移行は
より迅速に完了するのである。又、このように両ビツト
ラインBL,lを短絡することは、読出し毎に両ビツト
ラインにリセットをかけることになり、第7図のf)欄
における一定レベルPから両ビツトラインのレベルが上
下に分れることになる。
このように必ず一定のレベこルPからレベル変化が移行
するようにしておくことにより、当該アクセスの直前に
おけるビツトラインのレベルに拘らずこれを一律にレベ
ルPにリセットできるからアクセスタイムの向上に有利
になる。すなわち、同一ビツトラインに関し、先に3H
レベルであつたものを次にLレベルに切り換える際、(
H→L)に要した切り換わり時間を、一定のPレベルか
らLレベル(P−+L)への切り換わり時間に短縮可能
となる。なぜなら、レベル基(1P上l)はレベル差(
1H上l)より小だからである。第7図のf)欄は第4
図のe)欄に、第7図のc)欄は第4図のd)欄に対応
するものであるが、第7図のc),f)は、第4図のd
),e)に比して波形変化の表現を異ならせて)いる。
ただし本質的な相違はない、なお、第7図のc)欄が従
来一般のレベル変化を示すのに対し、第7図のf)欄は
本発明によりアクセスタイムが向上した場合のレベル変
化を示す。以上説明したように本発明によれば、低消費
電力で、アクセスタイムが高速であり、且つ誤書込みの
ない半導体メモリ回路が実現される。
【図面の簡単な説明】
第1図は一般的なスタティック形半導体メモリ回路を示
す回路図、第2図は第1の提案の半導体メモリ回路の第
1例を示す回路図、第3図は第1の提案の半導体メモリ
回路の第2の例を示す回路図、第4図は第2の提案の半
導体メモリ回路が有すべき動作特性を説明するための波
形図、第5図は第2図の回路中に第2の提案の発明に係
るゲート回路を組み込んだ一例を示す回路図、第6図は
第5図に示した第2の提案の回路に本発明を適用した一
例を示す回路図、第7図は第6図に示した半導体メモリ
回路の動作説明に用いる波形図である。 MC・・・・・・メモリセル、BL,肛・・・・・・ビ
ットライン対、Ql,Q2・・・・・ロードトランジス
タ対、LCl9LC29LC,[d◆●●◆●●レベル
コンバi夕、WL・・・・ワードライン、Gll,Gl
2・・・・・・第1ゲート回路、G2l,G22・・・
・・・第2ゲート回路、G3・・・・・・第3ゲート回
路、φ1,φ2 ・・・・ゲートパルス。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 一対のビットラインと、該一対のビットラインに係
    合するメモリセルと、前記一対のビットラインにそれぞ
    れ挿入され且つ電源に接続する一対のロードトランジス
    タと、該メモリセルをアクセスするためのワードライン
    と、一対のレベルコンバータとを有し、該一対のレベル
    コンバータはそれぞれ対応する前記一対のビットライン
    の一方に現われる論理信号をレベル変換してそれぞれ対
    応する前記一対のロードトランジスタの一方の制御電極
    に印加するようになし、さらに前記一対のビットライン
    にそれぞれ係合する一対の第1ゲート回路を設け、該一
    対の第1ゲート回路は前記アクセスの開始直後から所定
    期間発生せしめられるゲートパルスφ_1によつてオフ
    となり且つ該一対の第1ゲート回路のオフによつて前記
    一対のロードトランジスタを実質的にオフ状態とするよ
    うに構成した半導体メモリ回路において、一対の第2ゲ
    ート回路を設け、該一対の第2ゲート回路は、前記電源
    および前記一対のビットライン間にそれぞれ挿入され且
    つ前記ゲートパルスφ_1と略同一タイミングで発生し
    てこれよりパルス幅の短いゲートパルスφ_2によつて
    共にオンとなることを特徴とする半導体メモリ回路。 2 前記一対のビットライン間に接続され且つ前記ゲー
    トパルスφ_2によつてオンとなる第3ゲート回路をさ
    らに備える特許請求の範囲第1項記載の半導体メモリ回
    路。
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