JPS6060758A - ホトセンサ - Google Patents

ホトセンサ

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Publication number
JPS6060758A
JPS6060758A JP58168312A JP16831283A JPS6060758A JP S6060758 A JPS6060758 A JP S6060758A JP 58168312 A JP58168312 A JP 58168312A JP 16831283 A JP16831283 A JP 16831283A JP S6060758 A JPS6060758 A JP S6060758A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
diode
photosensor
upper electrode
blocking
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58168312A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Furuta
古田 建二
Mamoru Morita
守 森田
Satoru Hashimoto
悟 橋本
Kazuhisa Fujita
和久 藤田
Hirosuke Kurihara
啓輔 栗原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58168312A priority Critical patent/JPS6060758A/ja
Publication of JPS6060758A publication Critical patent/JPS6060758A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/10Integrated devices
    • H10F39/12Image sensors
    • H10F39/191Photoconductor image sensors

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 】0〔発明の利用分野〕 本発明はファクシミリ等の光学読取部に使用されるライ
ンセンサに好適する、アモルファスシリコンをダイオー
ドとして用いてなるホトセンサに関するものである。
15 以下、本発明をラインセンサに適用した場合につ
いて説明する。
〔発明の背景〕
従来、ラインセンサは、ブロッキングダイオード側の上
部電極を、At(アルミニウム)または下−・(・層よ
りCr (クロム)および、Uの順で積層形成したもの
を用いて構成していた。
しかしながらこのような従来センサでは、いずれにして
も最上層はMで形成され、そこからの外部端子の取り田
しに半田付けを用いることができなかった。このため、
外部端子取出手段として機械的圧接等を用いてい7tが
、この方法では上部電極と外部端子の接続信頼性が低い
5、t−た、A3版用等の大型ファクシミリのラインセ
ンサの場合には、精度上、上記圧接方法では外部端子、
特にそれがFPC(フレキシブル・プリンティド・サー
キット)である場合、それらの接続が極めて困難である
等の欠点がめった。
〔発明の目的〕
本発明は上記のような欠点を除去するためになされたも
ので、アモルファスシリコンのダイオード特性を劣化さ
せることなく、ブロッキングダイオード側の上部電極と
外部端子の半田付けを可能とし、それらの接続の信頼性
を高めると共に、大型ファクシミリのラインセンサに適
用した場合における外部端子との接続の簡単化を計るこ
とができるホトセンサを提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明は、アモルファスシリコ7 ’f タイオードと
して用いてなるホトセンサにおいて、ブロッキングダイ
オード側の上部電極を、少なくとも最下層にCr、最上
層にAuを用いて構成し、前記上部電極と外部端子の半
田付けを可能としたものである。
〔発明の実施例〕
以下、第1図全参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明によるホトセンサが適用されたラインセ
ンサの一例を示す断面図で、図中1はCrからなる第1
層配線層、2はこの層1上のa−8i(アモルファスシ
リコン)ダイオード部、3は5iOzからなる層間絶縁
層、4はホトダイオード側のa−8iダイオ一ド部2上
に形成されたITO(インジウム、すず酸化物)からな
るホトダイオード部透明電極である。5,6および7は
、ブロッキングダイオード側のa −S iダイオード
部2上に順次積層形成されて上部電極を構成するCr層
、 NiCr にクロム)層およびAu層である。
上述構成のラインセンサの製造例を以下に説明する。ま
ず、第1層配線層1としてCrを0.1μm厚スパッタ
リングした後、パターニングする。次に、a −S i
のnip 3層を合計的0.6μm厚デボジショニング
(堆積)した後、ホトエツチングしてa−8tダイオ一
ド部2を形成する。その後、層間絶縁層6として5tO
2を2μm厚スパッタリングし、スルーホール全形成す
る。続いて、ITOを0.5μm厚スパッタリングした
後、ホトエツチングしてホトダイオード側のa −S 
iダイオード部2上にホトダイオード部透明電極4を形
成する。その後、ブロッキングダイオード側のa −S
 iダイオード部2上に上部電極を形成するもので、こ
れは、まずCr層5を0.1μm厚、 NiCr層6を
[Npm厚およびAu層7e0.2μm厚でスパッタリ
ングにょシ順次積層形成した後、これら3層を一体とし
てホトエツチングによりパターニングしてなるものであ
る。
なお、上述実施例ではブロッキングダイオード側のa−
81ダイオ一ド部2上の上部電極を、最下層よすCr層
5. NiCr層6およびAu層7の順で積層形成した
が、これのみに限定されることはない。
例えば最下層をCr層5とし、その上部にNi にッケ
ル)層およびAu層7を順次積層形成し、あるいは最下
層をCr層5とし、その上層にAu層7を積層形成した
ものであってもよく、要は、最下層をa−8iダイオ一
ド部2と容易に反応せず、かつピンホールの少ないCr
層5とし、最上層を外部端子(図示せず)と半田付は可
能のAu層7としたものであればよい。
また、ホトダイオード部透明電極4け、ITOの他、金
属シリサイドにより形成してもよい。
さらに、本発明は上述ラインセンサにのみ限定されるも
のではなく、その他のホトセンサについても適用できる
ことは勿論である。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明は、a−8iをダイオードとし
て用いてなるホトセンサにおいて、ブロッキング側の上
部電極の最上層をAu層としたので外部端子との接続に
半田付けを用いることができる。
従って、従来の機械的圧接による接続に比べて接続信頼
性を大幅に高めることができ、大型ファクシミリのライ
ンセンサに適用した場合における外部端子、特にそれが
FPCである場合であってもそれらを簡単かつ信頼性よ
く接続することができる。
しかも本発明は、前記上部電極の最下層全61層とした
ので、上部電極をM層のみで形成、すなわちa −S 
iダイオード特性に直接Au層を接触形成した場合の不
都合−Auはa−8tと直接接触すると容易に反応して
a −S iによるダイオード特性を劣化させる−を生
じさせることもない等の効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるホトセンサが適用されたラインセ
ンサの一例を示す断面図である。 1・・・第1層配線層、2・・・a −S iダイオー
ド部2.3・・・層間絶縁層、4・・・ホトダイオード
部透明電極、5・・・Cr層、6・・・NiCr層、7
・・・Au層。 代理人 弁理士 秋 本 正 実

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. アモルファスシリコンをダイオードとして用い5てなる
    ホトセンサにおいて、ブロッキングダイオード側の上部
    電極を、少なくとも最下層にCr、最上層にAuを用い
    て構成したことを特徴とするホトセンサ。
JP58168312A 1983-09-14 1983-09-14 ホトセンサ Pending JPS6060758A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58168312A JPS6060758A (ja) 1983-09-14 1983-09-14 ホトセンサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58168312A JPS6060758A (ja) 1983-09-14 1983-09-14 ホトセンサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6060758A true JPS6060758A (ja) 1985-04-08

Family

ID=15865690

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58168312A Pending JPS6060758A (ja) 1983-09-14 1983-09-14 ホトセンサ

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JP (1) JPS6060758A (ja)

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