JPS6061987A - 半導体メモリ装置 - Google Patents

半導体メモリ装置

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Publication number
JPS6061987A
JPS6061987A JP58170682A JP17068283A JPS6061987A JP S6061987 A JPS6061987 A JP S6061987A JP 58170682 A JP58170682 A JP 58170682A JP 17068283 A JP17068283 A JP 17068283A JP S6061987 A JPS6061987 A JP S6061987A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
circuit
data
channel transistor
address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58170682A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Shimizu
博史 清水
Tadashi Sumi
正 角
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS6061987A publication Critical patent/JPS6061987A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は内部同期回路方式スタティックRAMにおけ
る出力バッファ回路に関するものである。
従来この種の回路として第1図〜第8図に示すものがあ
った。第1図はセンス回路出力をインバータ回路2段通
しNANDゲニト及びNORゲートに入力する。NAN
Dゲート出力を最終段P−チャネルトランジスタのゲー
トにNORゲートの出力を最終段N−チャネルゲートに
接続する構成である。
C8はチップの選択を決めるチップセレクト信号をOE
は出力をフローティングにさせるための出力イネーブル
信号である。第2図はフリップフロップ構成となるN−
チャネルトランジスタに並列にN−チャネルトランジス
タを設けそのゲートにデータn、i5を入力する。フリ
ップフロップ出力とVcc・GNDとの間にPC(プリ
チャージ)信号によるコントロールケートを設は一方の
出力は最終段のP−チャネルトランジスタのゲートに直
接、他方ノ出力はインバータ回路を通して最終段のN−
チャネルトランジスタのゲートに接続する回路構成であ
る。
第8図はフリップフロップデータ出力をNOR又はNA
NDゲートに入力し、インバータ回路を通して一方を最
終段のP−チャネルトランジスタに他方をN−チャネル
トらンジスタに入力する回路構成である。
従来技術の動作説明の前に内部同期回路方式に9いて簡
単に述べる。
CMOSスタティックRAMは回路構成上第4図に示す
ようにメモリセルとセンス回路部でどうしても直流電流
が存在しこのため従来の回路方式では低消費電力化が難
しかった。ところがアドレスの変化を検知し同期信号(
クロック)を内部的に発生させダイナミック的に動作す
ることにより低消費電力化が可能となる。
すなわち第5図に示すようにビット線のプルアップトラ
ンジスタTPullは常時プルアップしておくのでなく
サイクルタイムの一期間のみ充電する。
またセンス回路も動作する必要がある時間のみ働かす方
法がある。ここでPCはプリチャージの意味であり前述
したクロックに相当する。第6図「ζタイミング図を示
す。
さてこのようなエツジセンス回路方式では、アドレス信
号にノイズ等に対しても反応することを考慮する必要が
ある。すなわち、アドレス信号にノイズが載っても出力
波形にその影響が出ない方が望ましい。なぜなら出力波
形がノイズにより変動することは不安定になることであ
り、そのタイミングでデータの伝送が行なわれるとシス
テムの誤動作にもつながるためである。
さて従来回路の動作について説明する。ニジセンス回路
方式ではクロックが発生するとプリチャージ状態となり
データD、bは共にSHルベルとなる。この時の出力の
状態を考える。まず第1図の回路では、 C8−’H’
でありセンス回路出力は′L#となる。そして最終段P
−チャネルトランジスタ入力は’H’ N−チャネルト
ランジスタ入力は1H′となる。すなわち出力に1L#
レベルが現われる。第2図の回路の場合PC−Lである
ためフリップフロップ出力は′IH#レベルとなる。最
終段P−チャネルトランジスタのゲートはIH′であり
N−チャネルトランジスタのゲートは1L′である。従
って両方のトランジスタが5オフ′状態であり出力はフ
ローティング状態となる。第8図の回路の場合フリップ
フロップの出力はゞL#レベルであり最終段P−チャネ
ルトランジスタの入力は’L’ Nチャネルトランジス
タ入力も%L#である。従って出力にはHレベルが現わ
れる。
以上のように従来の回路ではアドレス信号にノイズが載
ってクロックが発生すると通常のアドレス変化と同様に
出力には1H′又は1L#もしくはフローティング状態
となる。このことは今までの出力データに対して一度反
転データ又はフローティング状態の後正規のデータが出
力されることになり出力不安定の状態が存在する欠点が
あった。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので出力バッファ回路にラッチ回路を設
けることによりドライブ用のクロックも必要としない極
めて安定に動作する装置を提供することを目的としてい
る。
以下この発明の一実施例を図について説明する。
第7図においてT1〜T4で構成されている。フリップ
フロップ回路に並列にTs= Tsを接続する。TIに
はデータD入力をTIには5人力を接続T6には5の反
転データs TsにはDの反転データを入力するラッチ
構成とする。モしてTI、T4側の出力をインバータ回
路を通して最終段P−チャネルトランジスタT12のゲ
ートに入力しTI T2側の出力を最終段N−チャネル
トランジスタTI3のゲートに入力する回路構成である
。またこの回路Vce側に直列に設置されたP−チャネ
ルトランジスタT9とGND 側に並列に設置された2
つのN−チャネルトランジスタTl0TIIはOE用の
コントロールトランジスタである。まずT1〜T4で構
成されるフリップフロップのデータがN、 1111 
T″H# N2= % L #であったとする。最終段
トランジスタT12は1オフ#T13は5オン′となり
″L#レベルが出力される。
次にD=1H′b=1L′データが伝達されるとT’1
s はtオフ′T6は1オン′T、がゞオン’ Tsが
1オフ′する。すなわちN、ts″IL#N2−′H#
となりラッチのデータが反転する。この反転により出力
には1Hルベルが現われる。次にプリチャージ状態すな
わちD = D −’H’の条件ではTs−Tsは全て
1オフ′となり、フリップフロップの状態を左右しない
。従ってこの回路はデータが変化しない限り前の情報を
保持し続ける構成である。なおOEは通常りであり出力
をフローティング状態にさせたい場合ゞHルベルを印加
する事により実現される。
タイミング図を第8図に示す。従来の回路ではプリチャ
ージ動作により出力はまず1H#又は1L′あるいはフ
ローテング状態の後正規のデータが現われていた。その
ためアドレスにノイズが載ってエツジセンス回路が反応
してプリチャージ用のクロックが発生すると出力はアド
レスが変化した時と同じ動作となり′″H′又は1L′
あるいはフローティング状態となった後相当するアドレ
スデータが出力される。この発明ではアドレスにノイズ
が載った場合、エツジセンス回路が働きプリチャージ動
作を行なうが、前述したようにプリチャージ時にはフリ
ップフロップの状態は変化せず、またプリチャージ後に
は同じアドレスのビットが選ばれるため同一のデータが
再度n、I5に現われる。そのため出力は変化しない。
このようにこの発明では出力バッファへの入力データが
変化しない限り出力データも変化しないため、アドレス
のノイズに対しても出力が変化することなり、シかもド
ライバ用のクロックも不要であり安定な出力波形を得る
ことができる。
なお上記実施例ではCMO8−RAMとしてのものを示
したが内部同期回路方式であれば他のスタティックRA
Mでもあってもよ(上記実施例と同様の効果を奏する。
以1のようにこの発明によればアドレスに対応するデー
タのみが直接出力される回路構成としたので安定な動作
を行なうことができる装置を得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(よ正規のデータが出力される前に一時%L#レ
ベルが出力される従来の出力パツファ回路図、第2図は
一時フローティング状態となる従来の出力バツファ回路
図、第8図は一時1H#レベルが出力される従来の出力
パツファ回路図、第4図は従来のメモリコラムラインを
示す図、第5図は内部同期回路方式のタイミング図、第
6図は内部同期回路方式のタイミング図、第7図はこの
発明の一実施例による出力バツファ回路図、第8図は従
来と比較したタイミング図である。 なお、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大台増雄 図面の浄書(内容に変更なし) 第1図 第2図 C 第3図 −( (( 第7図 第8図 手続補正書(方式) 1、事件の表示 特願昭 58−170682号3、補
正をする者 代表者片由仁西部 4、代理人 −1、− 5、補正命令の日付 昭和59年1月81日(発送日) 6、 補正の対象 (1)願 書 (2)明細書 (3) 図 面 7、補正の内容 願書と明細書及び図面の浄書(内容に変更なし) 以上 手続補正書(自発) 2、発明の名称 半導体メモリ装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号名 称 
(601)三菱電機株式会社 代表者片由仁八部 4、代理人 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄及び図面の簡単な説明の
欄。 6、補正の内容 (1)明細書中筒8頁第14行に「プリチャージ」とあ
るのを「プリチャージ」と訂正する。 (2)同第8頁第18行に「ノ、イズ等に対しても」と
あるのを「ノイズ等が載りメモリ装置が」と訂正する。 (3)同第4頁第2行に「不安定」とあるのを「メモリ
装置が不安定」と訂正する。 (4)同第4頁第5行から第6行に「ニジセンス」とあ
るのを「エツジセンス」と訂正する。 (5)同第6頁第4行に「この回路」とあるのを「この
回路の」と訂正する。 (6)同第6頁第18行にr TIFIは」とあるのを
「TILは」と訂正する。 (7)同第8頁第17行に「タイミング図」とあるのを
「メモリコラムラインを示す図」と訂正する。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)内部同期回路方式のスタティックRAMにおいて
    アドレスが変化することにより出力が一時フローティン
    グ状態またはゞH′または1Lルベルの状態になること
    なくアドレスに対応するデータが直接出力されることを
    特徴とする半導体メモリ装置。
  2. (2)出力バッファ回路にドライブ用のクロックを必要
    としないラッチ回路を設はデータの変化が必要になるま
    で同一データをラッチしておく回路構成としたことを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体メモリ装置
JP58170682A 1983-09-14 1983-09-14 半導体メモリ装置 Pending JPS6061987A (ja)

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JP58170682A JPS6061987A (ja) 1983-09-14 1983-09-14 半導体メモリ装置

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JP58170682A JPS6061987A (ja) 1983-09-14 1983-09-14 半導体メモリ装置

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JPS6061987A true JPS6061987A (ja) 1985-04-09

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ID=15909435

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JP58170682A Pending JPS6061987A (ja) 1983-09-14 1983-09-14 半導体メモリ装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62167698A (ja) * 1986-01-20 1987-07-24 Fujitsu Ltd 半導体記億装置
JPS62184689A (ja) * 1986-02-07 1987-08-13 Nec Corp 半導体記憶装置
JPS62277692A (ja) * 1986-05-27 1987-12-02 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置用出力バツフア回路
JPH01248393A (ja) * 1988-03-30 1989-10-03 Toshiba Corp スタティック型ランダムアクセスメモリ

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JPS62167698A (ja) * 1986-01-20 1987-07-24 Fujitsu Ltd 半導体記億装置
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JPS62277692A (ja) * 1986-05-27 1987-12-02 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置用出力バツフア回路
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