JPS606831A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPS606831A JPS606831A JP11464583A JP11464583A JPS606831A JP S606831 A JPS606831 A JP S606831A JP 11464583 A JP11464583 A JP 11464583A JP 11464583 A JP11464583 A JP 11464583A JP S606831 A JPS606831 A JP S606831A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- output
- differential
- recorder
- spectrophotometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は単波長分光光度計に関する。
（ロ）従来技術
単波長分光光度計は一個のモノクロメータを用い、その
出射光束を三光束に分けて、一方は試料セルを透過させ
、他方は対照セルを透過させ、三光束の測光出力の比を
める構成であり、光源の変動、光学系の分光特性、溶媒
及びセルの分光透過特性等に対する補償はできるが、試
料自体に内在する原因例えば試別に光散乱性の粒子が混
入しているとか定量しようとする成分に対する測定−１
−の媒害成分が混入している等によって生ずるベースラ
インの補正は、特別の場合を除き、できなかった。この
ような場合２波長分光計を用いれば」、いが、この種の
装置は分光手段を２台必要とするから高価となる。
出射光束を三光束に分けて、一方は試料セルを透過させ
、他方は対照セルを透過させ、三光束の測光出力の比を
める構成であり、光源の変動、光学系の分光特性、溶媒
及びセルの分光透過特性等に対する補償はできるが、試
料自体に内在する原因例えば試別に光散乱性の粒子が混
入しているとか定量しようとする成分に対する測定−１
−の媒害成分が混入している等によって生ずるベースラ
インの補正は、特別の場合を除き、できなかった。この
ような場合２波長分光計を用いれば」、いが、この種の
装置は分光手段を２台必要とするから高価となる。
（ハ） 目 的
本発明は単波長分光光度計で上述したような問題の解決
即ち自己ベースライン補正機能を有するものを得ること
を目的とする。
即ち自己ベースライン補正機能を有するものを得ること
を目的とする。
（ニ）構 成
本発明分光光度計は一段或は複数段の直列接続された微
分手段と、同段数直列接続ネれた積分手段を有し、測光
出力に一階乃至より高暗の微分演を施し、その出力に微
分の階数と同回数だけ積分演算を施して最終データ出力
とする点に性徴を有する。
分手段と、同段数直列接続ネれた積分手段を有し、測光
出力に一階乃至より高暗の微分演を施し、その出力に微
分の階数と同回数だけ積分演算を施して最終データ出力
とする点に性徴を有する。
と５で微分手段及び積分手段の直列接続と云うのは、演
算結果に同じ演算を施すと云う機能上の関係を表わすも
のである。アナログの微分回路等の場合、回路構成が結
線の上で直列になるが、ディジタル方式の場合、必ずし
も結線上直列接続と云う形は現れない。
算結果に同じ演算を施すと云う機能上の関係を表わすも
のである。アナログの微分回路等の場合、回路構成が結
線の上で直列になるが、ディジタル方式の場合、必ずし
も結線上直列接続と云う形は現れない。
本発明の趣旨は、例えば測定しようとする物質の吸光ス
ペクトルをｆ （ｘｉとし、直接測定されるスペクｌ−
）しＦ （Ｘ）はＢ （ｘｉ ＝ ａ ｘ 十すなるベ
ースライン」ユにｆ （Ｘ＋が乗った形になっている場
合−Ｆ （ｘ） ＝ ｆ （ｘ） ＋ ａ ｘ 十すこ
れを一回微分すると Ｆ’（ｘ） ＝ ｆ ’（ｘ） ＠−ａ更に微分すると Ｂ＋１ｌ（ｘ） ＝ ｆＩＩ（Ｘ） とのＦｌ”（勾を２回積分することにより、ベースライ
ンが消去されたｆ（ｘｉの信号を得ることができる。
ペクトルをｆ （ｘｉとし、直接測定されるスペクｌ−
）しＦ （Ｘ）はＢ （ｘｉ ＝ ａ ｘ 十すなるベ
ースライン」ユにｆ （Ｘ＋が乗った形になっている場
合−Ｆ （ｘ） ＝ ｆ （ｘ） ＋ ａ ｘ 十すこ
れを一回微分すると Ｆ’（ｘ） ＝ ｆ ’（ｘ） ＠−ａ更に微分すると Ｂ＋１ｌ（ｘ） ＝ ｆＩＩ（Ｘ） とのＦｌ”（勾を２回積分することにより、ベースライ
ンが消去されたｆ（ｘｉの信号を得ることができる。
図で示すと、第１図Ａが直接測定されるスペクトル、Ｂ
が一階微分関数で、点線の高さｈが係数ａ５に相当し、
ｆ（ｘ）のピーク頂点はこの点線と交わるが、この場合
、バックグラウンドが傾斜しているので、通常のゼロク
ロス検出法ではピーク頂点位置が丑らない。更に微分す
ると第１図Ｃとなる。
が一階微分関数で、点線の高さｈが係数ａ５に相当し、
ｆ（ｘ）のピーク頂点はこの点線と交わるが、この場合
、バックグラウンドが傾斜しているので、通常のゼロク
ロス検出法ではピーク頂点位置が丑らない。更に微分す
ると第１図Ｃとなる。
こ＼で係数ａが消える。ＦＩＩ（Ｘ）を２回積分すると
、第１図り、Ｅのような関数形となり、Ｄの関数で、ゼ
ロクロス法でピーク頂点位置がまりＥがめるスペクトル
となる。こ＼で毎回の積分は被積分関数の値が０になっ
ている点からスタートさせることにより、積分関数に積
分常数が人って来ないようにする。上側はベースライン
が傾斜直線の場合であり、ベースラインが２次曲線の場
合、３回の微積分を行う必要があり、逆にベースライン
が水平であれば一回の微積分で良い。
、第１図り、Ｅのような関数形となり、Ｄの関数で、ゼ
ロクロス法でピーク頂点位置がまりＥがめるスペクトル
となる。こ＼で毎回の積分は被積分関数の値が０になっ
ている点からスタートさせることにより、積分関数に積
分常数が人って来ないようにする。上側はベースライン
が傾斜直線の場合であり、ベースラインが２次曲線の場
合、３回の微積分を行う必要があり、逆にベースライン
が水平であれば一回の微積分で良い。
（ホ）実施例
第２図に本発明の一実施例を示す。１は分光器、２は測
定部で３は側光素子の光電子増倍管である。
定部で３は側光素子の光電子増倍管である。
Ｓ−”試料セル、Ｒは対照セルで、分光器の出射光束は
セクターミラーｍｌで２光束に分割され、各光束はＲ，
１３両セルを透過した後、セクターミラーｍ２で交互に
測光素子３に入射せしめられる。
セクターミラーｍｌで２光束に分割され、各光束はＲ，
１３両セルを透過した後、セクターミラーｍ２で交互に
測光素子３に入射せしめられる。
スイッチＳｗはセクターミラーｍｌ、ｍ２の回転と同期
して切換えられ、対照セルＲを透過した光に対する測光
出力がフィードバック系４を通して測光素子３にフィー
ドバックされ、対照セル透過光測光出力が一定になるよ
う素子３の感度が制御され、試別セルＳを透過した光に
対する測光出力がＡ ／ Ｄ変換器５に入力される。以
上は従来の分光光度削と同じ構成である。Ａ ／ Ｄ変
換器５の出力は記録計Ｒｃで記録されると共にメモＩＪ
Ｍ １に記憶せしめられる。このデータは第１図Ａに
示しタテータである。Ａ ／ Ｄ変換器５の出力データ
は第１の微分回路Ｄ１に入力される。微分演算は現在の
データと一定時間前のデータとの差の算出であるから、
微分回路Ｄ１にはメモリＭ １からの一定時間前のデー
タも入力されている。Ｄｌによる微分結果は記録計Ｒｃ
によって表示されると共にメモリＭ２に記１意せしめら
れる。１）１の出力データは第１図Ｂのデータに相当す
る。Ｄｌの出力データは第２の微分回路Ｄ２に入力され
る。Ｄ２にはメモリＭ２のデータも入力される。Ｄ２の
出力は記録計Ｒｃにより表示されると共にメモＩＪ Ｍ
３に記憶せしめられ、まだ第３の微分回路Ｄ３に入力
される。Ｄ３の出力はメモＩＪ Ｍ ４に記憶せしめら
れると共に記録計Ｒによって表示される。以下同様の構
成を任意段数重ねて行くことができる。
して切換えられ、対照セルＲを透過した光に対する測光
出力がフィードバック系４を通して測光素子３にフィー
ドバックされ、対照セル透過光測光出力が一定になるよ
う素子３の感度が制御され、試別セルＳを透過した光に
対する測光出力がＡ ／ Ｄ変換器５に入力される。以
上は従来の分光光度削と同じ構成である。Ａ ／ Ｄ変
換器５の出力は記録計Ｒｃで記録されると共にメモＩＪ
Ｍ １に記憶せしめられる。このデータは第１図Ａに
示しタテータである。Ａ ／ Ｄ変換器５の出力データ
は第１の微分回路Ｄ１に入力される。微分演算は現在の
データと一定時間前のデータとの差の算出であるから、
微分回路Ｄ１にはメモリＭ １からの一定時間前のデー
タも入力されている。Ｄｌによる微分結果は記録計Ｒｃ
によって表示されると共にメモリＭ２に記１意せしめら
れる。１）１の出力データは第１図Ｂのデータに相当す
る。Ｄｌの出力データは第２の微分回路Ｄ２に入力され
る。Ｄ２にはメモリＭ２のデータも入力される。Ｄ２の
出力は記録計Ｒｃにより表示されると共にメモＩＪ Ｍ
３に記憶せしめられ、まだ第３の微分回路Ｄ３に入力
される。Ｄ３の出力はメモＩＪ Ｍ ４に記憶せしめら
れると共に記録計Ｒによって表示される。以下同様の構
成を任意段数重ねて行くことができる。
オペレータは記録計Ｒｅの記録を見て、第コー図に例示
したよ゛うな場合であれば、２階微分のデータが記録の
始点及び終点でＯになっているから、２階までの微分で
ベースラインを規定している各係数が消去系れているこ
とを知り、スイッチＳ２を閉じ、積分動作を開始させる
。スイッチｇ２が閉じられているので、メモリＭ３のデ
ータが積分回路■２に入力されて積分され、その出力が
更に積分回路工１で積分される。積分回路■］と■２（
最終段とその前段）の出力が記録計Ｒｃに送られて記録
される。このデータは第１図のＦとＤとに相当し、Ｄの
データの記録がＯラインを切る点としてスペクトルピー
クの位置がめられる。もしベースラインが水平であれば
、記録計Ｒｅの記録は第１図Ｂに相当するＤ１出力の記
録が始点及び終点で０になっているので、オペレータは
スイッ添５ＩＩＦＩＵｒ＊アＩゎイゎイよい。、え６−
スラインが曲っているときはスイッチｓ３等更に高１昔
の微分データを積分回路に入力させるスイッチを閉じる
。以上の動作はコンピュータによって制御され、コンピ
ュータは分光器ｌの波長走査、セクターミラーｍｌ、ｍ
２の回転、スイッチＳｗの切換え、記録計Ｒｅの制御、
メモリＭ１〜Ｍ４等の書込み、読出し、微分、積分の演
算の実行等を行っている。スイッチＳｌ、６２等は実際
には何階の微分データから積分を行うべきかコンピュー
タに指令する操作キーであって、図はその機能を象徴的
に表わしたものである。
したよ゛うな場合であれば、２階微分のデータが記録の
始点及び終点でＯになっているから、２階までの微分で
ベースラインを規定している各係数が消去系れているこ
とを知り、スイッチＳ２を閉じ、積分動作を開始させる
。スイッチｇ２が閉じられているので、メモリＭ３のデ
ータが積分回路■２に入力されて積分され、その出力が
更に積分回路工１で積分される。積分回路■］と■２（
最終段とその前段）の出力が記録計Ｒｃに送られて記録
される。このデータは第１図のＦとＤとに相当し、Ｄの
データの記録がＯラインを切る点としてスペクトルピー
クの位置がめられる。もしベースラインが水平であれば
、記録計Ｒｅの記録は第１図Ｂに相当するＤ１出力の記
録が始点及び終点で０になっているので、オペレータは
スイッ添５ＩＩＦＩＵｒ＊アＩゎイゎイよい。、え６−
スラインが曲っているときはスイッチｓ３等更に高１昔
の微分データを積分回路に入力させるスイッチを閉じる
。以上の動作はコンピュータによって制御され、コンピ
ュータは分光器ｌの波長走査、セクターミラーｍｌ、ｍ
２の回転、スイッチＳｗの切換え、記録計Ｒｅの制御、
メモリＭ１〜Ｍ４等の書込み、読出し、微分、積分の演
算の実行等を行っている。スイッチＳｌ、６２等は実際
には何階の微分データから積分を行うべきかコンピュー
タに指令する操作キーであって、図はその機能を象徴的
に表わしたものである。
上述実施例はオペレータが生データ及び各階の微分デー
タの表示を見て何階の微分データから積分を開始するの
が適当かを判断する構成であるが、この判断も自動化で
きる。その場合、ＣＰ Ｕが各階の微分データに基き、
分光器の波長走査の１ｆ１点終点のデータが０になって
いる階数を検出し、その階数の微分データから積分を開
始するようプログラムを構成すればよい。
タの表示を見て何階の微分データから積分を開始するの
が適当かを判断する構成であるが、この判断も自動化で
きる。その場合、ＣＰ Ｕが各階の微分データに基き、
分光器の波長走査の１ｆ１点終点のデータが０になって
いる階数を検出し、その階数の微分データから積分を開
始するようプログラムを構成すればよい。
−また」二連実施例は波長走査を前提としているが、ク
ロマトグラフ検出器として分光光度旧を用いるような場
合、或はゲルスキャナー、ＴＬＣスキャナー等で変数が
時間或は距離となる場合でも庫発明は適用できるのであ
り、その場合上述説明で変数Ｘが波長でなく、時間１位
置等のデータになるだけである。
ロマトグラフ検出器として分光光度旧を用いるような場
合、或はゲルスキャナー、ＴＬＣスキャナー等で変数が
時間或は距離となる場合でも庫発明は適用できるのであ
り、その場合上述説明で変数Ｘが波長でなく、時間１位
置等のデータになるだけである。
つて実現されているので、２波長法を行う装置に比し安
価にできる。
価にできる。
第１図は本発明の詳細な説明するグラフ、第２図は本発
明の一実施例のブロック図である。 １・・・分光器、２・・・測定部、３・・・測光素子、
Ｒ・・・記録計、ＤＩ、Ｄ２．Ｄ３・・・微分回路、Ｍ
ｌ、 Ｍ２、Ｍ３．Ｍ４．、、メモリ、工ｌ、工２．工
３９．．積分回路。 代理人 弁理士 昧 浩 介
明の一実施例のブロック図である。 １・・・分光器、２・・・測定部、３・・・測光素子、
Ｒ・・・記録計、ＤＩ、Ｄ２．Ｄ３・・・微分回路、Ｍ
ｌ、 Ｍ２、Ｍ３．Ｍ４．、、メモリ、工ｌ、工２．工
３９．．積分回路。 代理人 弁理士 昧 浩 介
Claims (1)
- 一乃至複数段直列の微分手段と−乃至複数段直列の積分
手段を有し、生の測光出力を上記微分手段を通して微分
し、そのデータを上記積分手段でそのデータの微分階数
に応する回数だけ重複積分して表示するようにしたこと
を特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11464583A JPS606831A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11464583A JPS606831A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS606831A true JPS606831A (ja) | 1985-01-14 |
Family
ID=14642982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11464583A Pending JPS606831A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS606831A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6338086A (ja) * | 1986-07-28 | 1988-02-18 | ディ−ル、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツング、ウント、コンパニ− | 自動車用のキャタピラ |
| JPS63109335A (ja) * | 1986-10-28 | 1988-05-14 | Shimadzu Corp | 分光分析方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51126194A (en) * | 1974-11-25 | 1976-11-04 | Hitachi Ltd | Signal processing unit for analyzers |
-
1983
- 1983-06-24 JP JP11464583A patent/JPS606831A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51126194A (en) * | 1974-11-25 | 1976-11-04 | Hitachi Ltd | Signal processing unit for analyzers |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6338086A (ja) * | 1986-07-28 | 1988-02-18 | ディ−ル、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツング、ウント、コンパニ− | 自動車用のキャタピラ |
| JPS63109335A (ja) * | 1986-10-28 | 1988-05-14 | Shimadzu Corp | 分光分析方法 |
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