JPS6071945A - イオン活量測定方法及び装置 - Google Patents
イオン活量測定方法及び装置Info
- Publication number
- JPS6071945A JPS6071945A JP58182296A JP18229683A JPS6071945A JP S6071945 A JPS6071945 A JP S6071945A JP 58182296 A JP58182296 A JP 58182296A JP 18229683 A JP18229683 A JP 18229683A JP S6071945 A JPS6071945 A JP S6071945A
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- JP
- Japan
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- ion
- measured
- soln
- electrode
- solution
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/4166—Systems measuring a particular property of an electrolyte
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は塩素イオン電極のようなイオン電極で溶液中の
塩素イオンのような特定イオンの活量を測定する方法及
び装置に関する。
塩素イオンのような特定イオンの活量を測定する方法及
び装置に関する。
産業廃棄物を焼却する際に生ずる廃ガス中には塩化ビニ
ルの燃焼から生じた塩化水素ガスを含有する場合が多く
、同時に生じた水分と共に塩酸を生じ、これが焼却装置
を腐食したり、あるいは大気中に放出され、酸性雨の原
因になったりする。
ルの燃焼から生じた塩化水素ガスを含有する場合が多く
、同時に生じた水分と共に塩酸を生じ、これが焼却装置
を腐食したり、あるいは大気中に放出され、酸性雨の原
因になったりする。
このため燃焼ガス中の塩化水素ガスの濃度を検出し廃ガ
ス中に多量の空気を混入したり、水で洗浄する等、廃ガ
スの管理を行なうことが要求される。
ス中に多量の空気を混入したり、水で洗浄する等、廃ガ
スの管理を行なうことが要求される。
排ガス中の塩化水素ガスの濃度を測定するには、これを
水溶液中に吸収させ、水溶液中の塩素イオン濃度をイオ
ン電極で測定することによって行なっているのが一般で
ある。この測定にあたって被測定溶液中に沃素イオンや
臭素イオンが共存すると、塩素イオン電極によって塩素
イオン濃度の測定ができない。
水溶液中に吸収させ、水溶液中の塩素イオン濃度をイオ
ン電極で測定することによって行なっているのが一般で
ある。この測定にあたって被測定溶液中に沃素イオンや
臭素イオンが共存すると、塩素イオン電極によって塩素
イオン濃度の測定ができない。
これは沃素イオンや臭素イオンが塩素イオン電極の感応
部組成物である塩化銀が、これらイオンと反応して沃化
銀や臭化銀を生成することによるためである。
部組成物である塩化銀が、これらイオンと反応して沃化
銀や臭化銀を生成することによるためである。
本発明はこの点に着目し、イオン電極で測定する測定対
象イオンの他にイオン電極と反応し、測定を妨害するイ
オンが共存する溶液中の測定対象イオンの測定を可能に
するため、溶液をイオン電極の感応組成物と同一組成物
と接触せしめた後、イオン電極と接せしめるようにした
ものである。
象イオンの他にイオン電極と反応し、測定を妨害するイ
オンが共存する溶液中の測定対象イオンの測定を可能に
するため、溶液をイオン電極の感応組成物と同一組成物
と接触せしめた後、イオン電極と接せしめるようにした
ものである。
本発明は上記方法により連続的に測定ができるように、
イオン電極への被測定溶液の供給管路の途中に、イオン
電極の電極感応部組放物と同一組成物からなる粉粒体を
被測定溶液と接触せしめる固液接触槽を有するイオン活
量測定装置を構成したものである。
イオン電極への被測定溶液の供給管路の途中に、イオン
電極の電極感応部組放物と同一組成物からなる粉粒体を
被測定溶液と接触せしめる固液接触槽を有するイオン活
量測定装置を構成したものである。
第１図は本発明方法の一実施例を示したものであって、
ビーカー／に被測定溶液スを入れこれに塩化銀粒子を加
え、攪拌子３で攪拌して被測定溶液λ中の沃素イオンや
臭素イオンと、塩化銀とを充分反応させた後、塩素イオ
ン電極グ及び比較電極Ｓの感応部を被測定溶液λ中に漬
けて測定を行なうようにしたものである。
ビーカー／に被測定溶液スを入れこれに塩化銀粒子を加
え、攪拌子３で攪拌して被測定溶液λ中の沃素イオンや
臭素イオンと、塩化銀とを充分反応させた後、塩素イオ
ン電極グ及び比較電極Ｓの感応部を被測定溶液λ中に漬
けて測定を行なうようにしたものである。
第一図は本発明方法及び装置の一実施例を示したもので
、被測定溶液コを先ず固液接触槽乙に入れ、こ＼で塩化
銀粒子と攪拌子３で攪拌して充分反応させた後、ビーカ
ー／に導いて塩素イオン電極ｑと比較電極Ｓとに接触さ
せ、被測定溶液コ中の塩素イオン濃度を測定するように
したものであるＯ 第３図は本発明方法及び装置の他の実施例を示したもの
で、塩化銀粉末７を充填した固液接触槽６を通して塩素
イオン電極ダに被測定溶液を接触せしめ、更にこれから
比較型極左、温度補償電極ｇへと順次に被測定溶液を流
すようにしたものである。
、被測定溶液コを先ず固液接触槽乙に入れ、こ＼で塩化
銀粒子と攪拌子３で攪拌して充分反応させた後、ビーカ
ー／に導いて塩素イオン電極ｑと比較電極Ｓとに接触さ
せ、被測定溶液コ中の塩素イオン濃度を測定するように
したものであるＯ 第３図は本発明方法及び装置の他の実施例を示したもの
で、塩化銀粉末７を充填した固液接触槽６を通して塩素
イオン電極ダに被測定溶液を接触せしめ、更にこれから
比較型極左、温度補償電極ｇへと順次に被測定溶液を流
すようにしたものである。
第３図の実施例において内径７２ｍｍの円筒状の固液接
触槽４内に塩化銀粉末を約／Ｓ（支）入れ、被測定溶液
を／ノ／分の流量で供給した。比較のため固液接触槽乙
なしに直接に塩素イオン電極に被測定溶液を流した試験
結果を次表に示す。
触槽４内に塩化銀粉末を約／Ｓ（支）入れ、被測定溶液
を／ノ／分の流量で供給した。比較のため固液接触槽乙
なしに直接に塩素イオン電極に被測定溶液を流した試験
結果を次表に示す。
被測定溶液 塩素イオン電極指示値 条件イオン濃度
固液接触槽の有無 なし あり ａｔ 乙３ ｐｐｍ ｂ：ｌ ｐｐｍ 乙／ Ｉ）Ｐ”
スタート乙／３ ？コ コ時間ＩＩＯ分後 ０２ ４３ｐｐｍ ｌ−／ Ａ／ スタートａｌ−Ａ３
ｐｐｍ＋ニー１００ｐＰの場合の指示値の経時変化を第
９図に、またＯ７−６３１１ＰＩ ＋ Ｂ ｒ−５ｐｐ
ｍの場合の指示値の経時変化を第Ｓ図に示す。第９図、
第Ｓ図において実線は本発明による場合、点線は固液接
触槽なしの場合の指示値の変化を示す。このように本発
明によれば妨害イオンを有する被測定溶液も安定に測定
することができる０ 本発明では、妨害イオンの除去を除去物質であるイオン
電極の電極感応組成物と同一組成物の表面の反応によっ
ているため、除去作用には寿命があるので、除去作用が
なくなった時は交換の必要がある。除去作用の原理上、
妨害イオンの濃度が高いとき、塩素イオン電極では、被
測定溶液中の塩素イオン濃度が増加し、測定値が増加し
て表われるので、固液接触槽に被測定溶液を通す前に、
例えば、妨害イオンが沃素イオンの場合、沃素イオン電
極で沃素イオン濃度を測定し測定値から差引くことによ
って正確な塩素イオン濃度をめることができる。妨害イ
オン量が微量の場合は補正を行なわなくてもよく、イオ
ン電極の使用範囲を広げることができる。
固液接触槽の有無 なし あり ａｔ 乙３ ｐｐｍ ｂ：ｌ ｐｐｍ 乙／ Ｉ）Ｐ”
スタート乙／３ ？コ コ時間ＩＩＯ分後 ０２ ４３ｐｐｍ ｌ−／ Ａ／ スタートａｌ−Ａ３
ｐｐｍ＋ニー１００ｐＰの場合の指示値の経時変化を第
９図に、またＯ７−６３１１ＰＩ ＋ Ｂ ｒ−５ｐｐ
ｍの場合の指示値の経時変化を第Ｓ図に示す。第９図、
第Ｓ図において実線は本発明による場合、点線は固液接
触槽なしの場合の指示値の変化を示す。このように本発
明によれば妨害イオンを有する被測定溶液も安定に測定
することができる０ 本発明では、妨害イオンの除去を除去物質であるイオン
電極の電極感応組成物と同一組成物の表面の反応によっ
ているため、除去作用には寿命があるので、除去作用が
なくなった時は交換の必要がある。除去作用の原理上、
妨害イオンの濃度が高いとき、塩素イオン電極では、被
測定溶液中の塩素イオン濃度が増加し、測定値が増加し
て表われるので、固液接触槽に被測定溶液を通す前に、
例えば、妨害イオンが沃素イオンの場合、沃素イオン電
極で沃素イオン濃度を測定し測定値から差引くことによ
って正確な塩素イオン濃度をめることができる。妨害イ
オン量が微量の場合は補正を行なわなくてもよく、イオ
ン電極の使用範囲を広げることができる。
第１図は本発明方法の一実施例の説明図、第１図、第３
図は本発明方法及び装置の二実施例のそれぞれの説明図
、第９図はａｚ ｘ３ｐｐｍ十工１００ｐ戸の場合の試
験例の指示値の経時変化を示した図、第Ｓ図は０１６．
３ ｐｐｍ 十Ｂｒ ３ ｐｐｍの場合の試験例の指示
値の経時変化を示した図である。 ／・・ビーカー、コ・・被測定溶液、３・・攪拌子、グ
・・塩素イオン電極、３・・比較電極、乙・・固液接触
槽、７・・塩化銀粉末、ｇ・・温度補償電極。 第１図
図は本発明方法及び装置の二実施例のそれぞれの説明図
、第９図はａｚ ｘ３ｐｐｍ十工１００ｐ戸の場合の試
験例の指示値の経時変化を示した図、第Ｓ図は０１６．
３ ｐｐｍ 十Ｂｒ ３ ｐｐｍの場合の試験例の指示
値の経時変化を示した図である。 ／・・ビーカー、コ・・被測定溶液、３・・攪拌子、グ
・・塩素イオン電極、３・・比較電極、乙・・固液接触
槽、７・・塩化銀粉末、ｇ・・温度補償電極。 第１図
Claims (2)
- （１） イオン電極で溶液中の特定イオンの活量を測定
する際、該溶液をイオン電極の感応部組成物と同一組成
物と接触せしめた後、イオン電極と接せしめることを特
徴とするイオン活量測定方法０ - （２） イオン電極への被測定溶液の供給管路の途中に
、イオン電極の電極感応部組酸物と同一組成物からなる
粉粒体を被測定溶液と接触せしめる固液接触槽を有する
ことを特徴とするイオン活量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58182296A JPS6071945A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | イオン活量測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58182296A JPS6071945A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | イオン活量測定方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6071945A true JPS6071945A (ja) | 1985-04-23 |
Family
ID=16115799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58182296A Pending JPS6071945A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | イオン活量測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6071945A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61172053A (ja) * | 1985-01-14 | 1986-08-02 | Toshiba Corp | 塩素イオン濃度の測定方法 |
| JPH08211016A (ja) * | 1995-10-30 | 1996-08-20 | Toshiba Corp | 塩素イオン濃度の測定方法 |
-
1983
- 1983-09-29 JP JP58182296A patent/JPS6071945A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61172053A (ja) * | 1985-01-14 | 1986-08-02 | Toshiba Corp | 塩素イオン濃度の測定方法 |
| JPH08211016A (ja) * | 1995-10-30 | 1996-08-20 | Toshiba Corp | 塩素イオン濃度の測定方法 |
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