JPS607313A - γ線透過法による積層材の厚み測定法 - Google Patents

γ線透過法による積層材の厚み測定法

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Publication number
JPS607313A
JPS607313A JP11670083A JP11670083A JPS607313A JP S607313 A JPS607313 A JP S607313A JP 11670083 A JP11670083 A JP 11670083A JP 11670083 A JP11670083 A JP 11670083A JP S607313 A JPS607313 A JP S607313A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gamma
ray
materials
thickness
transmission
Prior art date
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Pending
Application number
JP11670083A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuharu Hanazaki
一治 花崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP11670083A priority Critical patent/JPS607313A/ja
Publication of JPS607313A publication Critical patent/JPS607313A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、クラ、ド鋼板等の材質の異なる積層材の各材
料のノヴみをγ線透過法によって測定する方法に関する
〔発明の技術的背景〕
r線厚み計自体は公知であり、鋼板等の厚み測定に汎〈
用いらnている。しかし、クラツド鋼板等の積層材の厚
み測定には、従来の原理をそのまま適用することができ
ない。しかるに、クラツド鋼板の製造にあっては、その
界面が正確にクラッドさnているか否か等のt’lJ 
ll’f’rを行うことが要求さ汎、したがって各材料
の厚みを知ることができる方法の開発が急務となってい
る。
〔発明の目的〕
本発明は、前記要Jjに適確に答えたもので、従来のγ
線厚み語とほぼ同(3′(にf(j4単に、しかも高精
度で厚みcI!11定を行わんとするものである。
〔発明の1既要〕 この目的)ま、材質の異なる積層(オの各材料の厚みを
γ線透過法によって測定するものであって、複数オ重の
エネルギーのγ線を発生ずるγ線源からの積層月への各
照射エネルギー量と、γ線透過量検出器により得ら汎た
パルス信号をその波高の差により弁別し、弁別した該尚
パルス数をそnぞ扛計数することにより得た透過線量と
、前記γ線照射エネルギーと当該材質の標準品のγ線減
衰背毘に基いて?@た質量吸収係数と、当該材質の密度
とに基いて、各材料の厚みを測定することにより達成さ
れる。
このように、本発明は、基本的にγ線透過法に依拠しな
がらも、たとえば2種の材質のクラツド鋼板であnば、
少くとも2伸のエネルギーを発生するγ線源により照射
し、検出パルス波高の差によって弁別して各透過エネル
ギー量を知9、予め知っておいた質量吸収係数等に基い
て、二連立方程式を解くことにょ9厚みを知ろうとする
ことに着想がある。
〔発明の具体例〕
以下本発明を図面を参照しながらさらに詳説する。
1は積層材、たとえば材質a、bの2種の材料からなる
クラツド鋼板で、その一方に複数種のエネルギーのγ線
を発生するγ線源2が、他方に/ンチレータまたは電離
箱等のγ臓透過用検出器3が配設される。かぐして、γ
線源2からγ線を債層材1に透過させ、γ線透過は検出
器3により透過量を検出する。
この透過量は、時系列的なパルス波形信号として得ら扛
るが、その波形の中には異なる発生エネルギーに基〈も
のが混在状態となっている。
そこで、波形中にはパルス波高が異なるものとしてあら
れれるので、その波高の差によって、たとえば波高がH
J±△Hの範囲中のものについては第1弁別器4によ′
って、H2±△Hの範囲内のものについては第2弁別器
5によってそれぞれ弁別する。この弁別後、そ肚ぞ扛、
ある単位時間当りの、H+±△H1およびH2±△H2
のパルス数を第1計数器6および小2M数器7によって
それそt”tカウントし、対応する発生エネルギーに対
応した透過線hトとする。8は演算処理装置で、ちる。
ところで−1jりに、材料iにつbての減衰′[〒注は
(1)式によってあられされる。
l1=Iioe−μA1ρij+ 、、・・(1)ここ
で1!=照射エネルギー量 Iio :透過エネルギー量 μA1:質情吸収係数 ρl:密度 tl:材料iの厚み よって(0式を変形す汎ば(2)式となる。
い゛ま、標阜片lを持ち出し、その密度ρ1および厚み
tIを予め知っておいた状態で、多種のγ線透過を行い
、第2図に示すような減衰特性曲線を;辱ておく。第2
図i/(は、材質aおよびbの2曲線がr凶示されて(
八る。
2種の42質からなる。ら1(層拐に対して2種のエネ
ルギーをもったγ線が透過する場合における減衰式は(
3)および(4)式で与えらnる。AおよびBは厚みで
ある。
I+=IIOe ’μA1 ・ρA−A+μBビρB’
 B)−1,(3)I2 ” I2 o e −(μA
2・ρA −A−1−μB2・ρB−B)101.(4
)ま7ン、みかけの厚さTI 、 T2は、前記の透過
線7社に対応したものであり、現実的にJ(1定さ、1
する。そして、みかけの厚さTI 、 T2は、(5)
および(6)式により与えら九る。
(5)式をI1イくと、け)および(8)式となる。
A=T、−α1(TI T2)/(α1−α2)・・・
・(7)B = (TI T2) 、/ (α1−α2
)・・・・(8)しかるに、(2)式に従って、標準片
についての測定により、質量吸収係数1tAl+μA2
+μB1+μB2を知ることができる。したがってαl
、α2を得ることができる。したがってα1.α2を得
ることができるし、TI 、T2は現実の測定により与
えら扛るので、結局各11質の厚みA、Bを知ることが
できる。
勿論、同様に:J)種以上の材質につ因ても厚みの測定
かり能であり、この場合、γ線源からの発生エネルギー
のa顛および#il <べき連立方程式が増すだけであ
る。
〔発明の効果〕
以上の通り、本発明によれば、積層拐に対しても、γ線
透過法を適用できるから、測定が簡易であシ、かつ非破
壊の、;ゾみ測定が可能であシ、しかも高精度なJIQ
定を行うことができる0
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の詳細説明図、第2図は減衰特性を示す
相関図である。 1・・積層材 2・・γ線源 3・・γ線透過量検出器
 4,5・・弁別器 6.7・・計数器 8・・演算処
理装置 特許出願人 住友金、曳工業株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)材質の異なる積層材の各拐料の厚みをγ線透過法
    によって測定するものでちって、複数種のエネルギーの
    γ線を発生するγ線源からの積層材への各照射エネルギ
    ー量と、γ線透過縫検出器により得ら乳たパルス信号を
    その波高の差によシ弁別し、弁別した該当パルス数をそ
    扛ぞれ画数することによジ得た透過線量と、前記γ線照
    射エネルギーと当該拐質のCλ準品の7′線減衰特性に
    基いて得た質量吸収係数と、当該材質の密度とに基いて
    、各材料の厚みを測定することを特徴とするγ線透過法
    による積層材の厚み測定法。
JP11670083A 1983-06-28 1983-06-28 γ線透過法による積層材の厚み測定法 Pending JPS607313A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02143107A (ja) * 1988-11-25 1990-06-01 Hitachi Elevator Eng & Service Co Ltd 管内付着物の厚さ測定方法
JPH04106362U (ja) * 1991-02-19 1992-09-14 三菱重工業株式会社 酸洗装置
JP2009052944A (ja) * 2007-08-24 2009-03-12 Fujitsu Ltd 素子評価方法及び装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JPH04106362U (ja) * 1991-02-19 1992-09-14 三菱重工業株式会社 酸洗装置
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