JPS6073359A - 自動化学分析装置 - Google Patents
自動化学分析装置Info
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- JPS6073359A JPS6073359A JP58180152A JP18015283A JPS6073359A JP S6073359 A JPS6073359 A JP S6073359A JP 58180152 A JP58180152 A JP 58180152A JP 18015283 A JP18015283 A JP 18015283A JP S6073359 A JPS6073359 A JP S6073359A
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- Japan
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- electrolyte
- electrode
- reaction
- colorimetry
- analysis
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/75—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
- G01N21/77—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
- G01N21/78—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator producing a change of colour
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、比色用の反応ラインを電極用にも利用して同
じ動作で試料等を分注し、分析項目に応じて選択的に電
解質分析をも行ない得ることのできる自動化学分析装置
に関する。
じ動作で試料等を分注し、分析項目に応じて選択的に電
解質分析をも行ない得ることのできる自動化学分析装置
に関する。
（発明の技術的背景どその問題点）
周知のように、自動化学分析装置は、無端ベルト上の反
応ラインに多数の反応管を配設しｃｌある設定した場所
から患者より採出した一定量の試料を分注し、また別の
箇所からその分析測定項目に応じた特定の試薬を分注し
て、この混合液を反応させ、反応途中（レート法）又は
反応終了後（エンド法）にこれを比色分析ないし電気化
学的分析を自動的に行なうものである。
応ラインに多数の反応管を配設しｃｌある設定した場所
から患者より採出した一定量の試料を分注し、また別の
箇所からその分析測定項目に応じた特定の試薬を分注し
て、この混合液を反応させ、反応途中（レート法）又は
反応終了後（エンド法）にこれを比色分析ないし電気化
学的分析を自動的に行なうものである。
ところで、従来の自動化学分析装置においては、比色分
析を行なう比色用の反応ラインと電気化学分析を行なう
電極用のラインとは別個のものが使用されており、それ
ぞれ別ライン上で所定の試料や試薬の分注動作が行なわ
れていた。このことは、装置の大型化及び高額化を招き
、それを設置する場所的な問題が生じると共に、装置の
構成と動作筒の複雑化をもたらすことにもなる。
析を行なう比色用の反応ラインと電気化学分析を行なう
電極用のラインとは別個のものが使用されており、それ
ぞれ別ライン上で所定の試料や試薬の分注動作が行なわ
れていた。このことは、装置の大型化及び高額化を招き
、それを設置する場所的な問題が生じると共に、装置の
構成と動作筒の複雑化をもたらすことにもなる。
一方、イオン選択性電極を用いた電解質分析装置におい
て１、イオン電極ぐ試料の湿度による影響が測定の大き
な誤差となる。そこで従来では、試料をプリヒートした
り、試料温ｉを測定し−Ｃ温度補正したりして測定の正
確性を期していた。
て１、イオン電極ぐ試料の湿度による影響が測定の大き
な誤差となる。そこで従来では、試料をプリヒートした
り、試料温ｉを測定し−Ｃ温度補正したりして測定の正
確性を期していた。
しかしながら、試料をプリヒートしたものについては、
プリヒート部と電極部での温度差が生じたり、あるいは
プリヒート部を出て電極部に至る間に試料の温度変化を
もたらしたりする。また、温度補正したものについては
、その補正演紳が複２１Ｆとなる。
プリヒート部と電極部での温度差が生じたり、あるいは
プリヒート部を出て電極部に至る間に試料の温度変化を
もたらしたりする。また、温度補正したものについては
、その補正演紳が複２１Ｆとなる。
本発明は前記事情に基づいてなされたもので、比色用の
反応ラインにイオン選択性電極を使用したＮ解質分析賛
同を組み入れて装置の大型化及び複雑化を防止すると共
に、正確に電解質測定をすることができる自動化学分析
装置を提供づることを目的とする。
反応ラインにイオン選択性電極を使用したＮ解質分析賛
同を組み入れて装置の大型化及び複雑化を防止すると共
に、正確に電解質測定をすることができる自動化学分析
装置を提供づることを目的とする。
上記目的を達成づるための本発明の概要は、比色分析可
能な自動化学分析装置において、上下動ｉＪ ｔｉｌ：
な吸引用ノズルを管路を介してポンプに接続し、このｎ
路に恒濡部と電極部を一体化した電極装置を配設ηるこ
とにＪ：す、比色項目及び電解質１、ｉ１１］の双方又
はいずれか一方を測定できるようにしたことを特徴とづ
る。
能な自動化学分析装置において、上下動ｉＪ ｔｉｌ：
な吸引用ノズルを管路を介してポンプに接続し、このｎ
路に恒濡部と電極部を一体化した電極装置を配設ηるこ
とにＪ：す、比色項目及び電解質１、ｉ１１］の双方又
はいずれか一方を測定できるようにしたことを特徴とづ
る。
以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
第１図は発明に係る自動化学分析装置の実施例を示す概
略説明図、第２図は本発明の要部である電解質分析装置
を取り出して示す説明図、第３図はその電解質分析装置
のうちの電極装置を示す断面図、第４図（ａ）、（ｂ）
、（Ｃ）、（ｄ）、（ｅ）、はｍｍでの測定がされるま
での動作を示す説明図である。
略説明図、第２図は本発明の要部である電解質分析装置
を取り出して示す説明図、第３図はその電解質分析装置
のうちの電極装置を示す断面図、第４図（ａ）、（ｂ）
、（Ｃ）、（ｄ）、（ｅ）、はｍｍでの測定がされるま
での動作を示す説明図である。
第１図において、１で示すのは、多数の反応管２をＸ方
向へ順次に移動させる照端状の反応ラインである。また
、３で示１のは１１（例えば血清等）を分注するための
ザンプリンクノズルを有する試料分注装置、４で示すの
は試薬を分注する１こめの試薬ノズルを有する試薬分注
装置、５で示づのは試料と試薬を混合して反応させた後
に測光して比色分析を行なうための測光部、６Ｕ−示り
−のは測光後の反応管２を洗浄する洗浄部Ｃあり、いず
れも反応ライン１に沿つＣ配置されている。
向へ順次に移動させる照端状の反応ラインである。また
、３で示１のは１１（例えば血清等）を分注するための
ザンプリンクノズルを有する試料分注装置、４で示すの
は試薬を分注する１こめの試薬ノズルを有する試薬分注
装置、５で示づのは試料と試薬を混合して反応させた後
に測光して比色分析を行なうための測光部、６Ｕ−示り
−のは測光後の反応管２を洗浄する洗浄部Ｃあり、いず
れも反応ライン１に沿つＣ配置されている。
１０は前記反応ライン１に冶つＣ配設されたサクション
ノズルを右づる電解質分析装置であり、この電解質５）
折装置１０は、第２図に示すように、反応管２内の液体
を吸引づるサクションノズル１１と、吸排用のサクショ
ンポンプ１２と、サクションノズル１１とサクションポ
ンプ１２を接続づる′７−ｖ−１１３と、このチューブ
１３の中間部に介ｒ［づる電極部＠１４とから構成され
ている。サクションノズル１１は反応ライン１上を移動
づる所定の反応管２内の反応液のみを選択的に吸引する
だめの上下動ｔ’１ｌｌ）ｔｌｌａを備えＣいる。また
、電極装置Ｉ４は、第３図に示り゛ように、チューブ１
３が巻回されたビー１〜ブロツクｉ４Ａと、ヂュ’、／
’！ １．（内の被測定溶液を通しでイオン選択性電
極ひ香解賀測定を行なうための電極部１４Ｂと、ヒート
ブロック−１・ＩＡと電極部１４Ｂを収納づる保温ケー
ス１ ／１． ＣとＪ：り成る。尚、Ｉ！２図において
、１５で示すのは吸引と排出とを切換えるための三１ｊ
コック、１６で示（のは排液用チューブである。
ノズルを右づる電解質分析装置であり、この電解質５）
折装置１０は、第２図に示すように、反応管２内の液体
を吸引づるサクションノズル１１と、吸排用のサクショ
ンポンプ１２と、サクションノズル１１とサクションポ
ンプ１２を接続づる′７−ｖ−１１３と、このチューブ
１３の中間部に介ｒ［づる電極部＠１４とから構成され
ている。サクションノズル１１は反応ライン１上を移動
づる所定の反応管２内の反応液のみを選択的に吸引する
だめの上下動ｔ’１ｌｌ）ｔｌｌａを備えＣいる。また
、電極装置Ｉ４は、第３図に示り゛ように、チューブ１
３が巻回されたビー１〜ブロツクｉ４Ａと、ヂュ’、／
’！ １．（内の被測定溶液を通しでイオン選択性電
極ひ香解賀測定を行なうための電極部１４Ｂと、ヒート
ブロック−１・ＩＡと電極部１４Ｂを収納づる保温ケー
ス１ ／１． ＣとＪ：り成る。尚、Ｉ！２図において
、１５で示すのは吸引と排出とを切換えるための三１ｊ
コック、１６で示（のは排液用チューブである。
次に以上構成される自動化学分析装置の作用について説
明する。
明する。
反応ライン１上を順次に移動する反応管２内に試料分注
装置３により試料を分注し、さらに試薬分注装＠４によ
り試薬を分注してその混合液を反応δせ、測光部５にお
いて反応管２内の反応液の測光を行なって比色分析をす
る。測光後の反応管２の汚れは洗浄部６で洗浄され、再
び反応液を収容するだめの反応管として反応ライン１上
を移動（ることになる。
装置３により試料を分注し、さらに試薬分注装＠４によ
り試薬を分注してその混合液を反応δせ、測光部５にお
いて反応管２内の反応液の測光を行なって比色分析をす
る。測光後の反応管２の汚れは洗浄部６で洗浄され、再
び反応液を収容するだめの反応管として反応ライン１上
を移動（ることになる。
上記した比色分析用の反応ライン１は以下に示づ動作に
基づいて電解質分析用にも利用される。
基づいて電解質分析用にも利用される。
すなわち、反応ライン１上を順次に移動する反応管２に
は、予め設定した入力にしたがってサンプルノズル並び
に試薬ノズルから選択的に、電解質分析用のサンプル、
校正液、試薬が分注される。
は、予め設定した入力にしたがってサンプルノズル並び
に試薬ノズルから選択的に、電解質分析用のサンプル、
校正液、試薬が分注される。
つまり、まず最初の反応管２ａに【よ試料分注装置３を
利用して校正液原液を分注しざらに試薬分注プルたる血
清を試料分注装置３をオリ用して分圧しざらに試薬分注
装置４により試薬を分注して血清を希釈する。これが分
析動子となる被測定溶液となる。最後の反応管２Ｃには
同様に試料分注装置３及び試薬分注装置４をそれぞれ利
用し、校正液原液を分注し試薬で希釈Ｊる。これが電極
洗浄用校正液となる。以上の分注動作により一検体分の
分注が終了する。尚、ここで用いられた試薬は、校正液
原液、血清を１０倍に希釈するだめの緩衝液である。
利用して校正液原液を分注しざらに試薬分注プルたる血
清を試料分注装置３をオリ用して分圧しざらに試薬分注
装置４により試薬を分注して血清を希釈する。これが分
析動子となる被測定溶液となる。最後の反応管２Ｃには
同様に試料分注装置３及び試薬分注装置４をそれぞれ利
用し、校正液原液を分注し試薬で希釈Ｊる。これが電極
洗浄用校正液となる。以上の分注動作により一検体分の
分注が終了する。尚、ここで用いられた試薬は、校正液
原液、血清を１０倍に希釈するだめの緩衝液である。
このように電解質分析用のサンプリング分注後に、リー
ソショノノズル１１の位置に電極用試料の入った反応管
２ａ、２ｂ、２ｃが停止したときの的、選択的にｌｊク
ション７／ズル１１が上下動償栴１ ｉ ａにより降下
して前記反応管内の反応液を順次に吸引する。す乙わら
、第１図（ａ＞に示りように、まず、反応管２ａ内に入
った電極校正用の佼−［液Ａ（η線Ｃ示づ゛）をサクシ
ョンポンプ１２でサクシ５ンノズル１１から吸引し、次
に所定時間（例えｊＪｌ ８秒）醤に、第４図（ｂ）に
示１のように、反応管２ｂ内に入った希釈された血清Ｂ
（斜線で示す）をサクションノズル１１から吸引し、そ
のとき電極校正用の校正液Δはヒートブロック１４Ａで
停止して一定温度に加熱される。次いで、１８秒後に、
第４図（Ｃ）に示すように、反応管２Ｃ内に入ったＮ極
洗浄用校正液Ｃ（斜線で示す）をサクションノズル１１
から吸引し、このとき希釈された血清Ｂがヒートブロッ
ク１４△に移動して一定温度に加熱−されると共に、Ｎ
極校正用の校正液へ１１霜梗部１４Ｂに移り、そこで測
定される。さらに次いで、１８秒後に、第４図（ｄ）に
示り−ように、サクションポンプ１２の吸引動作により
電極洗浄用校正液Ｃがビートブロック１４． Ａ １．
： 拶っで一定湿度に加熱されるとり（に、希釈された
血清Ｂが電極部１／４Ｂに移動し、そこで電解質の測定
が行なわれる。畝箆に、′１８秒後（＝、第４図（ｅ）
に示多ように、１ツクジヨンポンプ１２に眼用動作によ
り巴極洗汀用校正液Ｃが電極部１４Ｂに移ってその電極
部１４Ｂを洗浄し、次の検体の測定に備えられる。この
ようにして電極部１４Ｂを流入し、そし−Ｃ流出しＣた
電極校正用の校正液Δ並びに希釈された血清Ｂ及びＮＩ
Ｉ洗浄用校正液Ｃは三方コック１５を介してサクション
ポンプ１２により順次に排液用チューブ１６に押し出さ
れる。尚、サクションノズル１１から電極部１４Ｂまで
のヂコーブ１３の長さは、二試料を保持【ぎるように設
定され−Ｃおり、また、以上説明した動作のすべては図
示しない制御部からの制計信月に基づいて行なわれてい
る。
ソショノノズル１１の位置に電極用試料の入った反応管
２ａ、２ｂ、２ｃが停止したときの的、選択的にｌｊク
ション７／ズル１１が上下動償栴１ ｉ ａにより降下
して前記反応管内の反応液を順次に吸引する。す乙わら
、第１図（ａ＞に示りように、まず、反応管２ａ内に入
った電極校正用の佼−［液Ａ（η線Ｃ示づ゛）をサクシ
ョンポンプ１２でサクシ５ンノズル１１から吸引し、次
に所定時間（例えｊＪｌ ８秒）醤に、第４図（ｂ）に
示１のように、反応管２ｂ内に入った希釈された血清Ｂ
（斜線で示す）をサクションノズル１１から吸引し、そ
のとき電極校正用の校正液Δはヒートブロック１４Ａで
停止して一定温度に加熱される。次いで、１８秒後に、
第４図（Ｃ）に示すように、反応管２Ｃ内に入ったＮ極
洗浄用校正液Ｃ（斜線で示す）をサクションノズル１１
から吸引し、このとき希釈された血清Ｂがヒートブロッ
ク１４△に移動して一定温度に加熱−されると共に、Ｎ
極校正用の校正液へ１１霜梗部１４Ｂに移り、そこで測
定される。さらに次いで、１８秒後に、第４図（ｄ）に
示り−ように、サクションポンプ１２の吸引動作により
電極洗浄用校正液Ｃがビートブロック１４． Ａ １．
： 拶っで一定湿度に加熱されるとり（に、希釈された
血清Ｂが電極部１／４Ｂに移動し、そこで電解質の測定
が行なわれる。畝箆に、′１８秒後（＝、第４図（ｅ）
に示多ように、１ツクジヨンポンプ１２に眼用動作によ
り巴極洗汀用校正液Ｃが電極部１４Ｂに移ってその電極
部１４Ｂを洗浄し、次の検体の測定に備えられる。この
ようにして電極部１４Ｂを流入し、そし−Ｃ流出しＣた
電極校正用の校正液Δ並びに希釈された血清Ｂ及びＮＩ
Ｉ洗浄用校正液Ｃは三方コック１５を介してサクション
ポンプ１２により順次に排液用チューブ１６に押し出さ
れる。尚、サクションノズル１１から電極部１４Ｂまで
のヂコーブ１３の長さは、二試料を保持【ぎるように設
定され−Ｃおり、また、以上説明した動作のすべては図
示しない制御部からの制計信月に基づいて行なわれてい
る。
このコうにして電極＠置１４において一定温度に保たれ
た被測定用液がイオン選択性電極でＮａ→。
た被測定用液がイオン選択性電極でＮａ→。
Ｋ＋、 ＣＩ−の測定項目に応じた測定を行なうことが
できる。
できる。
次に、実際の測定においての演粋について、第５図から
第７図までを参照しながら説明する。
第７図までを参照しながら説明する。
−１−ヤリブし′−ジョン時に使用する標準液は、正帛
俯戚濃度の校正液原液ＣＮに対して、異常低値域ｎ！吏
ＣＬと屓営高値１或濃＋ｉｙ ｃ Ｈの二押類を用いる
。そのときの応答起電力は、第５図に示すように、そｔ
ｌぞれ校正液の起電力に対する差で測定されるΔＥＬと
Δ［日から、第６図に示すように、検量線の電位勾配を
める。つまり、電位勾配Ｓは次式（１）Ｃ示される。
俯戚濃度の校正液原液ＣＮに対して、異常低値域ｎ！吏
ＣＬと屓営高値１或濃＋ｉｙ ｃ Ｈの二押類を用いる
。そのときの応答起電力は、第５図に示すように、そｔ
ｌぞれ校正液の起電力に対する差で測定されるΔＥＬと
Δ［日から、第６図に示すように、検量線の電位勾配を
める。つまり、電位勾配Ｓは次式（１）Ｃ示される。
Ｓ＝（ΔＥＬ−ΔＥＨ）／、＆がＯＬ／Ｃｌ−１＞・・
・・・・く１） キトルージョン の起電力応答は、第７図に示すように、校正液とサンプ
ルの起電力差ΔＦを測定′！ｊる。そして、未知１１１
度Ｑｉは、キャリブレーションのときにめたＳとΔＥ
ｆ用いて、次式に≧）にＪ：りめることができろつ （：ｔ ＝ＣＬ・′１０”ヒー，ａＥＬ／Ｓ）・・・・
・・（２）以上の測定においでＳ電極用試料の入った三
本の反応管２ａ，２ｂ，２ｃの前後には、比色用試料が
入った反応管２が反応ライン１上を順次に移送されてお
り、比色−項目０つき１８秒サイクルで測定が行なわれ
、一方、実極用の王項目（ ＮＥＴ書に十ｃ ｌ−）
ＬＥＴついては５４秒サイクル、つまり一項目につと４
１８秒サイクルで測定づ゛るので、比色測定と等しい。
・・・・く１） キトルージョン の起電力応答は、第７図に示すように、校正液とサンプ
ルの起電力差ΔＦを測定′！ｊる。そして、未知１１１
度Ｑｉは、キャリブレーションのときにめたＳとΔＥ
ｆ用いて、次式に≧）にＪ：りめることができろつ （：ｔ ＝ＣＬ・′１０”ヒー，ａＥＬ／Ｓ）・・・・
・・（２）以上の測定においでＳ電極用試料の入った三
本の反応管２ａ，２ｂ，２ｃの前後には、比色用試料が
入った反応管２が反応ライン１上を順次に移送されてお
り、比色−項目０つき１８秒サイクルで測定が行なわれ
、一方、実極用の王項目（ ＮＥＴ書に十ｃ ｌ−）
ＬＥＴついては５４秒サイクル、つまり一項目につと４
１８秒サイクルで測定づ゛るので、比色測定と等しい。
本発明は前記した寅施例に限定されるもので（よなく、
本発明の要旨の範囲内で変更して実施できることは言ま
でもない。例えば、電極装置においては、Ｎａ”Ｋ＋：
ＣＩだ【プでなく、その他Ｃａ十十等のイメン選択性電
極の項目につい−Ｃ同時に多項目測定が可能である。ま
た、サクションノズルから電極部までの流路内には、電
４Ｑ部分を含めて二試判を保持できるように設定し、ザ
クジョンノズルから吸引された試料は、まずヒートブロ
ックで一定温度に加熱され、次の吸引動作ＣＮ極部で測
定が行なわれるようにすることも可能である。さらに、
サクションノズルから？１Ｗｔ１部までの流路内で四試
石以上を保持できるように設定し、電極部に試ｖ１が流
入する前にヒートブロックで一定温度に１１１１熱し、
試わ１の温度安定化を図ることもできる。
本発明の要旨の範囲内で変更して実施できることは言ま
でもない。例えば、電極装置においては、Ｎａ”Ｋ＋：
ＣＩだ【プでなく、その他Ｃａ十十等のイメン選択性電
極の項目につい−Ｃ同時に多項目測定が可能である。ま
た、サクションノズルから電極部までの流路内には、電
４Ｑ部分を含めて二試判を保持できるように設定し、ザ
クジョンノズルから吸引された試料は、まずヒートブロ
ックで一定温度に加熱され、次の吸引動作ＣＮ極部で測
定が行なわれるようにすることも可能である。さらに、
サクションノズルから？１Ｗｔ１部までの流路内で四試
石以上を保持できるように設定し、電極部に試ｖ１が流
入する前にヒートブロックで一定温度に１１１１熱し、
試わ１の温度安定化を図ることもできる。
本発明は以上説明したように、比色用反応ラインに電解
質分析装置を併設し、然も恒温部（ヒートブロック）と
電極部を一体化するのように構成づることにより、装置
の大型化及び複雑な動作を要求することなく一つの装置
で比色測定並びに電極測定も自由に行い得ると共に、電
極部で精密な測定をすることができ得る自動化学分析装
置を提供することができる。また、電極用サクションノ
ズルより電極までの管路（チアーブ）の長さが自由に設
定できるので、電極装置の置き場所が自由に定められる
。
質分析装置を併設し、然も恒温部（ヒートブロック）と
電極部を一体化するのように構成づることにより、装置
の大型化及び複雑な動作を要求することなく一つの装置
で比色測定並びに電極測定も自由に行い得ると共に、電
極部で精密な測定をすることができ得る自動化学分析装
置を提供することができる。また、電極用サクションノ
ズルより電極までの管路（チアーブ）の長さが自由に設
定できるので、電極装置の置き場所が自由に定められる
。
第１図は本発明【二係る自動化学分析装置の一実施例を
承り概略説明図、第２図は本発明の要部である電解質分
析装置を取り出し・て示で゛説明図、第３図はその電解
質分析装置のうちの電極装置を示す断面図、第４図（ａ
）、（ｂ）、＜Ｃ）、（ｄ）、（ｅ）は電極での測定が
されるまでの動作を示１説明図、第５図はキャリジ１ノ
ージヨン時の起電力応答を承り説明図、第６図はイオン
電極の記電力と濃度の関係図、第７図はザンブル測定時
の起電ツノ応答を示づ説明図である。 １１・・・サクションノズル（吸引用ノズル）、１１
ａ ・・・上下動ｍｉ、 １２・・・サクションポンプ（ポンプ）、１３・・・チ
ューブ（管路）、１４・・・電極装置、１４Δ・・・ピ
ー１−ブロック（恒温部）、１４Ｂ・・・・・・電極部
。 代理人 弁理士 則 近 愚 佑（（よか１名）第２図 Ｙ− よ ４８ で １４８ Ａ 第５図 Ｔｉｍｅ− 第６図 １０（ｌｃｉ −一
承り概略説明図、第２図は本発明の要部である電解質分
析装置を取り出し・て示で゛説明図、第３図はその電解
質分析装置のうちの電極装置を示す断面図、第４図（ａ
）、（ｂ）、＜Ｃ）、（ｄ）、（ｅ）は電極での測定が
されるまでの動作を示１説明図、第５図はキャリジ１ノ
ージヨン時の起電力応答を承り説明図、第６図はイオン
電極の記電力と濃度の関係図、第７図はザンブル測定時
の起電ツノ応答を示づ説明図である。 １１・・・サクションノズル（吸引用ノズル）、１１
ａ ・・・上下動ｍｉ、 １２・・・サクションポンプ（ポンプ）、１３・・・チ
ューブ（管路）、１４・・・電極装置、１４Δ・・・ピ
ー１−ブロック（恒温部）、１４Ｂ・・・・・・電極部
。 代理人 弁理士 則 近 愚 佑（（よか１名）第２図 Ｙ− よ ４８ で １４８ Ａ 第５図 Ｔｉｍｅ− 第６図 １０（ｌｃｉ −一
Claims (1)
- 比色分析可能な自動化学分析装置において、上下動可能
な吸引用ノズルを管路を介してポンプに接続し、この管
路に恒温部と電極部を一体化した電（炉装置を配設づ−
ることにより、比色項目及び電解質項目の双方又はいず
れか一方を測定できるようにＬ）たことを特徴とする自
動化学分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58180152A JPS6073359A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 自動化学分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58180152A JPS6073359A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 自動化学分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6073359A true JPS6073359A (ja) | 1985-04-25 |
| JPH0526144B2 JPH0526144B2 (ja) | 1993-04-15 |
Family
ID=16078302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58180152A Granted JPS6073359A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 自動化学分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6073359A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01221670A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-05 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
| US5288374A (en) * | 1989-09-13 | 1994-02-22 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for electrochemical analysis and an aqueous solution for use therein |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5580055A (en) * | 1978-12-14 | 1980-06-16 | Hitachi Ltd | Liquid sample analyzer |
| JPS5639455A (en) * | 1979-09-10 | 1981-04-15 | Olympus Optical Co Ltd | Method and device for measuring ion concentration |
| JPS574547A (en) * | 1980-05-05 | 1982-01-11 | Instrumentation Labor Inc | Analyzer |
| JPS5899759A (ja) * | 1981-12-09 | 1983-06-14 | Hitachi Ltd | 自動分析装置 |
-
1983
- 1983-09-30 JP JP58180152A patent/JPS6073359A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5580055A (en) * | 1978-12-14 | 1980-06-16 | Hitachi Ltd | Liquid sample analyzer |
| JPS5639455A (en) * | 1979-09-10 | 1981-04-15 | Olympus Optical Co Ltd | Method and device for measuring ion concentration |
| JPS574547A (en) * | 1980-05-05 | 1982-01-11 | Instrumentation Labor Inc | Analyzer |
| JPS5899759A (ja) * | 1981-12-09 | 1983-06-14 | Hitachi Ltd | 自動分析装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01221670A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-05 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
| US5288374A (en) * | 1989-09-13 | 1994-02-22 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for electrochemical analysis and an aqueous solution for use therein |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0526144B2 (ja) | 1993-04-15 |
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