JPS607335A - 投影試験装置 - Google Patents
投影試験装置Info
- Publication number
- JPS607335A JPS607335A JP58115468A JP11546883A JPS607335A JP S607335 A JPS607335 A JP S607335A JP 58115468 A JP58115468 A JP 58115468A JP 11546883 A JP11546883 A JP 11546883A JP S607335 A JPS607335 A JP S607335A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- output signal
- image sensor
- circuit
- dimensional image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
従来例の構成とその間順点
投写型テレビ用レンズにおいてはカメラレンズにおける
ような標準マウントがなく、投影試験時にレンズのセツ
ティングが不明瞭である。しかもピント合わせは解像力
チャートなとをスクリーンに結像させ、この像を肉眼で
確かめるという肉眼の機能差のある視覚による方法を採
っているので再現性を得難いという問題があった。
ような標準マウントがなく、投影試験時にレンズのセツ
ティングが不明瞭である。しかもピント合わせは解像力
チャートなとをスクリーンに結像させ、この像を肉眼で
確かめるという肉眼の機能差のある視覚による方法を採
っているので再現性を得難いという問題があった。
発明の目的
本発明はこのような従来の欠点を除去し、撮像素子によ
り再現性よくレンズのピント合わせのセツティングので
きる投影試験装置を得るにある。
り再現性よくレンズのピント合わせのセツティングので
きる投影試験装置を得るにある。
実施例の説明
本発明はスクリーンの軸上或いはレンズ設計」二適当と
判断される位置に一次元撮像素子を配置するか、又はこ
れに相当するテストチャート上の位置に縞パターンを形
成する。
判断される位置に一次元撮像素子を配置するか、又はこ
れに相当するテストチャート上の位置に縞パターンを形
成する。
縞パターンは第１図に示すように、縞パターンのスクリ
ーン上の像（１）、（２ンが一次元撮像素子（３）を横
切るよう配置する。このような構成で一次元撮像素子の
出力信号は以下説１！ＩＪする第２図に示すように縞パ
ターン像の濃淡に相当したものとなり、レンズのピント
位置により、その出力信号は変化する。ピント合わせの
判定は、出力信号のピークが最大となるレンズのピント
位置あるいは出力信号のコントラスト・簡易には出力信
号の微分が最大となるレンズのピント位置で行う。
ーン上の像（１）、（２ンが一次元撮像素子（３）を横
切るよう配置する。このような構成で一次元撮像素子の
出力信号は以下説１！ＩＪする第２図に示すように縞パ
ターン像の濃淡に相当したものとなり、レンズのピント
位置により、その出力信号は変化する。ピント合わせの
判定は、出力信号のピークが最大となるレンズのピント
位置あるいは出力信号のコントラスト・簡易には出力信
号の微分が最大となるレンズのピント位置で行う。
発明の構成
本発明は光源、テストチャート、被検投写型テレビ用レ
ンズセット（以下単にレンズセントという。）を載置し
レンズを駆動するレンズ駆動装置およびスクリーンから
構成される投影試験装置において、前記スクリーン上に
一次元撮像素子を配設し、前記レンズ駆動装置には前記
レンズセットを載置し、前記−次元撮像素子の出力信号
笈・微分儲？ｉ表 力の一部を遅延回路を介して一＝＠弓己比較回路に接続
、前記比較回路を前記レンズ駆動装置に接続し、φ訂記
−次元撮像素子の出力信号のピークが最大となるピント
位置あるいは出力信号の微分が最大となるピント位置に
セツティングできるよう１）η記しンズ駆動１）ｉＪ後
の信号変化を前記比較回路により検出、増幅して前記レ
ンズ駆動装置を駆動することを特徴とする。
ンズセット（以下単にレンズセントという。）を載置し
レンズを駆動するレンズ駆動装置およびスクリーンから
構成される投影試験装置において、前記スクリーン上に
一次元撮像素子を配設し、前記レンズ駆動装置には前記
レンズセットを載置し、前記−次元撮像素子の出力信号
笈・微分儲？ｉ表 力の一部を遅延回路を介して一＝＠弓己比較回路に接続
、前記比較回路を前記レンズ駆動装置に接続し、φ訂記
−次元撮像素子の出力信号のピークが最大となるピント
位置あるいは出力信号の微分が最大となるピント位置に
セツティングできるよう１）η記しンズ駆動１）ｉＪ後
の信号変化を前記比較回路により検出、増幅して前記レ
ンズ駆動装置を駆動することを特徴とする。
以下本発明の一実施例を第３図を参照して説明する。
実施例は撮像素子の出力信号を微分することに上り、「
１打易的にコントラストを検出し、コントラストの最大
値にレンズのピント位置を合わせるものである。本発明
の投影試験装置は、光源（７）、円（９）で示される位
置に第１図の暗部（１）及び明部（２）から成る縞パタ
ーンをもつテストチャート（８）、レンズα０）、スク
リーン０υ、及び−次元撮像素子（ｌａおよび撮像素子
（ＩＺの出力信号によりレンズのピント合わぜを自動で
行なうためのフィートノくツク回路（ＦＢ）から構成さ
れる。フィートノくツク回路（ＦＢ）は、撮像素子ａ２
の出力信号を微分する微分回路０η、微分回路Ｑ７］の
出力信号のピーク値を検出するピークホールド回路０６
）、レンズ駆動前後のピーク値を比較するための遅延回
路θツ、及び比較回路０４）、レンズ駆動装置０３）か
ら構成される。
１打易的にコントラストを検出し、コントラストの最大
値にレンズのピント位置を合わせるものである。本発明
の投影試験装置は、光源（７）、円（９）で示される位
置に第１図の暗部（１）及び明部（２）から成る縞パタ
ーンをもつテストチャート（８）、レンズα０）、スク
リーン０υ、及び−次元撮像素子（ｌａおよび撮像素子
（ＩＺの出力信号によりレンズのピント合わぜを自動で
行なうためのフィートノくツク回路（ＦＢ）から構成さ
れる。フィートノくツク回路（ＦＢ）は、撮像素子ａ２
の出力信号を微分する微分回路０η、微分回路Ｑ７］の
出力信号のピーク値を検出するピークホールド回路０６
）、レンズ駆動前後のピーク値を比較するための遅延回
路θツ、及び比較回路０４）、レンズ駆動装置０３）か
ら構成される。
以下、本発明の投影試験装置の動作を詳細に説明する。
テストチャート（８）の縞パターンは第２図（Ａ）図（
４）に示すようなほぼ理想的なコントラストをもつが、
そのスクリーン上での像は一般的に同（Ｂ）図の（５）
に示すようなコントラストになり、撮像素子ａｚの出力
信号も同様となる。この信号を微分すると同（０）図の
（６）が得られろ。これらの信号波形はレンズのピント
合わせで変化する。−例を挙げれば、レンズの駆動によ
り前記より更に良いコントラストが得られるとすると、
その時の撮像素子αりの出力信号波形は同（Ｄ）図の（
５りのような波形となり、その微分波形は同（Ｅ）図の
（６うに示す通り、前記波形＜ａ＞図の（６）より高い
ピーク値をもつ一次元撮像素子０２は第１図（３）に示
す通りの受光部をもち、図では省略しているか数百以上
の小さな受光部の集合体である。出力は時系列で行なわ
れ、ピークホールド回路（１Ｇ）により各小さい受光部
（３）の出力の最大値が検出される。撮像素子（１２１
の動作はレンズの駆動に無関係に行なわれ、常に信号を
出力する。ホールドされた微分回路出力信号のピーク値
の変化を検出するため、ピークホールド回路Ｑ６１の出
力の一部を遅延回路Ｏωに導き、レンズ駆動前後の信号
変化を比較回路ａ（イ）により検出、増幅してレンズ駆
動装置θ３）に伝える。レンズ駆動装置０３）は、レン
ズを搭３して光＋ｌｆｂ方向にスライドするテーブルと
、その駆動用モータから構成される。
４）に示すようなほぼ理想的なコントラストをもつが、
そのスクリーン上での像は一般的に同（Ｂ）図の（５）
に示すようなコントラストになり、撮像素子ａｚの出力
信号も同様となる。この信号を微分すると同（０）図の
（６）が得られろ。これらの信号波形はレンズのピント
合わせで変化する。−例を挙げれば、レンズの駆動によ
り前記より更に良いコントラストが得られるとすると、
その時の撮像素子αりの出力信号波形は同（Ｄ）図の（
５りのような波形となり、その微分波形は同（Ｅ）図の
（６うに示す通り、前記波形＜ａ＞図の（６）より高い
ピーク値をもつ一次元撮像素子０２は第１図（３）に示
す通りの受光部をもち、図では省略しているか数百以上
の小さな受光部の集合体である。出力は時系列で行なわ
れ、ピークホールド回路（１Ｇ）により各小さい受光部
（３）の出力の最大値が検出される。撮像素子（１２１
の動作はレンズの駆動に無関係に行なわれ、常に信号を
出力する。ホールドされた微分回路出力信号のピーク値
の変化を検出するため、ピークホールド回路Ｑ６１の出
力の一部を遅延回路Ｏωに導き、レンズ駆動前後の信号
変化を比較回路ａ（イ）により検出、増幅してレンズ駆
動装置θ３）に伝える。レンズ駆動装置０３）は、レン
ズを搭３して光＋ｌｆｂ方向にスライドするテーブルと
、その駆動用モータから構成される。
本発明はレンズを駆動用モータて駆動し、レンズセット
のレンズを、１）η記の説明のように一次元撮像素子の
出力信号のピークか最大となるピント位置あるいはコン
トラスト簡易には出力信号の微分が最大となるレンズの
ピント位置にセツティングするものである。
のレンズを、１）η記の説明のように一次元撮像素子の
出力信号のピークか最大となるピント位置あるいはコン
トラスト簡易には出力信号の微分が最大となるレンズの
ピント位置にセツティングするものである。
なお、第３図はテストチャート（８）の縞パターン及び
撮像素子０りか光軸上に配置された場合であるが、レン
ズ性能上、軸外の適当な位置でピント合わせするレンズ
も有り、この場合には第４図のような構成とする。
撮像素子０りか光軸上に配置された場合であるが、レン
ズ性能上、軸外の適当な位置でピント合わせするレンズ
も有り、この場合には第４図のような構成とする。
発明の効果
以上のように本発明は投写型テレビ用レンズを投影試験
する際に、撮像素子の出力信号を用いてレンズを駆動す
ることによりピント合わせするものであり、従って従来
の人の視覚のみに頼る方法に比べはるかに高い再現性で
レンズのピント合わせが可能であり、投影試験の客観性
の向上、作業性の向上に大いに役立つ効果を生ずる。
する際に、撮像素子の出力信号を用いてレンズを駆動す
ることによりピント合わせするものであり、従って従来
の人の視覚のみに頼る方法に比べはるかに高い再現性で
レンズのピント合わせが可能であり、投影試験の客観性
の向上、作業性の向上に大いに役立つ効果を生ずる。
第１図は本発明の一次元撮像素子の受光部と、テストチ
ャートの縞パターンの像との位置関係を示す図、第２図
はテストチャートの縞パターンのコントラスト波形（Ａ
）、（Ｂ）、−次元撮像素子の出力信号波形（Ｄ）、及
びその微分波形（Ｏ）、（Ｅ）を示す図、第３図は本発
明の一実施例の構成図、第４図は本発明の実施例の一変
形例の（１１７成図、を示ず。 １：テストチャートの縞パターンの暗部 ２：テストチ
ャートの縞パターンの明部 ３ニ一次）Ｃ撮像素子の受
光部 ４：テストチャートの縞パターンのコントラスト
波形 ５．５’ニ一次元撮像素子の出力信号波形 ６．
６’：微分回路出力ｆｉｔ号波形７：光源 ８：デスト
ヂャ−１・ ９：縞パターンの位置を示す円 １０：被
検投写型テレビ用レンズ１１ニスクリーン １２ニ一次
元撮像素子 】３：レンズ駆動装置 １４：比較回路
１５二遅延回路 １６：ピークボールド回路 １７：微
分回路 特許出願人 松下電器産業株式会社 代理人弁理士 阿 部 功 第１Ｉな 第２図
ャートの縞パターンの像との位置関係を示す図、第２図
はテストチャートの縞パターンのコントラスト波形（Ａ
）、（Ｂ）、−次元撮像素子の出力信号波形（Ｄ）、及
びその微分波形（Ｏ）、（Ｅ）を示す図、第３図は本発
明の一実施例の構成図、第４図は本発明の実施例の一変
形例の（１１７成図、を示ず。 １：テストチャートの縞パターンの暗部 ２：テストチ
ャートの縞パターンの明部 ３ニ一次）Ｃ撮像素子の受
光部 ４：テストチャートの縞パターンのコントラスト
波形 ５．５’ニ一次元撮像素子の出力信号波形 ６．
６’：微分回路出力ｆｉｔ号波形７：光源 ８：デスト
ヂャ−１・ ９：縞パターンの位置を示す円 １０：被
検投写型テレビ用レンズ１１ニスクリーン １２ニ一次
元撮像素子 】３：レンズ駆動装置 １４：比較回路
１５二遅延回路 １６：ピークボールド回路 １７：微
分回路 特許出願人 松下電器産業株式会社 代理人弁理士 阿 部 功 第１Ｉな 第２図
Claims (1)
- 光源、テストチャート、被検投写型テレビ用レンズセッ
ト（以下単にレンズセットという。）を載置しレンズを
駆動するレンズ駆動装置およびスクリーンから構成され
る投影試験装置において、前記スクリーン上に一次元撮
像素子を配設し、前記レンズ駆動装置には前記レンズセ
ットを載置し、前記−次元撮像素子の出力信号ｔＩ微分
回路、前記軸回路を前記レンズ駆動装置に接続し、前記
−次元撮像素子の出力信号のピークが最大となるピント
位置あるいは出力信号の微分が最大となるピント位置に
セツティングできるよう前記レンズ駆動ｎｔＪ後の信号
変化を前記比較回路により検出、増幅して前記レンズ駆
動装置を駆動する投影試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58115468A JPS607335A (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | 投影試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58115468A JPS607335A (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | 投影試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS607335A true JPS607335A (ja) | 1985-01-16 |
Family
ID=14663281
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58115468A Pending JPS607335A (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | 投影試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS607335A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62261907A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-14 | Disco Abrasive Syst Ltd | オ−トフオ−カスによる厚さ等の計測方法 |
| JP2002340022A (ja) * | 2001-05-11 | 2002-11-27 | Koyo Seiko Co Ltd | 自動調心クラッチレリーズ軸受装置 |
-
1983
- 1983-06-27 JP JP58115468A patent/JPS607335A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62261907A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-14 | Disco Abrasive Syst Ltd | オ−トフオ−カスによる厚さ等の計測方法 |
| JP2002340022A (ja) * | 2001-05-11 | 2002-11-27 | Koyo Seiko Co Ltd | 自動調心クラッチレリーズ軸受装置 |
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