JPS6073533A - 自動露光調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はマイクロフィルムの自動露光ＷＲ整方法に関
し、特にマイクロフィルムに光源から光を照射し、その
透過光でマイクロフィルムの画像のハードコピーをとっ
たり、マイクロフィルムの画像をＣＣＤ　、アモルファ
ス−５ｉ等で成るラインセンサで走査して遠隔地に電送
する装置における光源の自動露光調整方法に関する。

マイクロフィルムのリーグプリンタ等で光源の露光量を
調整する場合には、マイクロフィルムにはかなりの濃度
バラツキがあることから、マイクロフィルムの透過光量
をフォトダイオード等の光センサで測光してマイクロフ
ィルムの平均画像濃度を測定しなければならない。しか
しながら、光センサは照射光量りに対して出力Ｖがリニ
アに変化する応答部を有し、光センサの種類によってそ
の応答部の範囲が大きく異なる。すなわち、第１図はＳ
ｉ−フォトダイオード及びアモルファス−Ｓｉで成るラ
インセンサの応答部の範囲を比較して示すものであり、
Ｓｉ−フォトダイオードは特性工に示すように約１０’
の範囲の比較的広いダイナミックレンジを有しており、
アモルファス−Ｓｉのラインセンサは特性ＩＩのように
約１０２と比較的狭い応答範囲となっている。したがっ
て、Ｓｉ−フォトダイオードを光源の自動露光の調整の
ための光センサに使用し、アモルファス−３ｉで成るラ
インセンサを画像の走査のために使用するような場合に
は、応答部の狭いラインセンサを有効に利用できないこ
とになる。すなわち、マイクロフィルムの濃度にはかな
りのバラツキがあり、光源やレンズ系の照度ムラを考慮
すると、ラインセンサの感応領域を越えて飽和領域に達
してしまうことがある。

したがって、この発明はＳｉ−フォトダイオードのよう
に比較的応答部の広い光センサで画像濃度を平均測光し
、光源の露光量を概略的に調整した後、マイクロフィル
ムの画像をラインセンサで走査して高精度に電送するよ
うな場合において、電送画像を常にラインセンサのダイ
ナミックレンジ内で読取れるようにする自動露光調整方
法を提供することを目的としている。

以下にこの発明をする。

第２図はこの発明を適用することができるマイクロフィ
ルムのリーダプリンタの光学系を示すものであり、光源
ｌからの光はマイクロフィルム２に照射され、マイクロ
フィルム２の透過光はレンズ系３を経た後にプリント用
のペーパ４に複写されるようになっている。また、レン
ズ系３のｆ方には回動可能なミラー５が配設されており
、ミラー５を回動して図示の破線部のように光路中にミ
ラー５を置くことにより、マイクロフィルム２の画像情
報をたとえばアモルファス−Ｓｉで成るラインセンサ６
で光学的に走査して読取り、その画像情報を電気信号に
変換してファクシミリ等で電送するようになっている。

そして、この発明では、マイクロフィルム２からの透過
光路中に応答範囲の比較的広いたとえばＳトフオトダイ
オードで成る光センサ７を配設し、マイクロフィルム２
の画像濃度を平均測光できるようにしている。したがっ
て、この光センサ７は透過光路中の複写もしくは電送に
支障のない位置であれば任意の場所に設けることができ
、ペーパ４からの反射光量を測光するように位置７Ａに
設けることも可能である。

また、光センサ７はマイクロフィルム２の画像濃度を平
均測光するものであるので、レンズ系３の焦点位置に配
設される必要はなく、その前方にスクリーン等を置いて
、そのスクリーンの投影画像の光量を測光するようにす
ることも可能である。

さらに、ミラー５の回動によって反射される光路領域に
は、マイクロフィルム２の画像を走査するための長形状
のラインセンサ６がミラー軸と平行に配設されているが
、このラインセンサ６はＳｉ　−フォトダイオードより
も応答範囲の狭いＣＯＤ　、アモルファス−３ｉ等で成
っている。

このような構成において、ミラー５を第２図の実線の位
置に置くことにより、マイクロフィルム２からの透過光
が光センサ７に達し、光センサ７は先ずマイクロフィル
ム２の画像濃度を概略的に平均測光する。そして、図示
しない光量制御装置がこの光センサ７の測光信号に基づ
いて、その透過光量を常に一定とするように光源１の光
量を調整する。これによ、す、ペーパ４には常に同一の
濃度条件でマイクロフィルム２の画像をプリントするこ
とができる。

この後、マイクロフィルム２の画像をファクシミリ等で
電送するために、ミラー５を第２図の破線位置に回動す
ることによりマイクロフィルム２の透過光がラインセン
サ６に達する。これにより、ラインセンサ６はマイクロ
フィルム２の移動に従ってその画像を走査することが可
能となる。

ここに、ラインセンサ６の走査出力とマイクロフィルム
２の画像との関係を第３図（Ａ）、（Ｂ）に示して説明
すると、走査線ｌに対して画像ｌＯ〜１２が第３図（Ａ
）に示すような位置関係となっていると、ラインセンサ
６から出力される走査信号はたとえば同図（Ｂ）に示す
ようなレベル信号となる。すなわち、マイクロフィルム
２の背景レベルがＢＭのように低くなっており、マイク
ロフィルム２の画像レベルがＰＭのように高くなってい
る。この例はマイクロフィルム２の画像がポジ画像とな
っている場合を示しているが、ネガ画像となっている場
合も同様であり、この場合には第３図（Ｂ）とは逆にマ
クロフィルム２の黒画像（背景）の時に出力レベルが低
くなって、フィルムの透明部分（画像）でレベルが高く
なる。

このようにラインセンサ６から出力される走査レベル信
号を、この発明では第４図のＡに示す如くレベル信号の
背景レベルＢＭがラインセンサ６の応答部の立上り部Ｐ
Ｉにほぼ一致するように光源ｌの露光量を調整する。こ
れは、背景レベルＢＭはマイクロフィルム２の走査全体
において最も多い領域を占めることに基づく。その後、
ラインセンサ６からのレベル信号を構成素子のビット単
位にチェックし、そのレベルが最も高い部分ＰＭ２（第
３図（Ｂ）の場合にはＰＭＩ　）を第４図のＢのように
ラインセンサ６の応答部の飽和部Ｐ２の直前とするよう
に光源ｌの露光量を調整する。このように、ラインセン
サ６からの走査レベル信号をその応答部Ｐ２とＰＩの間
に移動することにより、マイクロフィルム２の画像信号
がラインセンサ６の応答範囲を外れることはなくなる。

これにより、常に高質の画像をラインセンサ６から読み
取ることが可能となる。また、マイクロフィルム２の背
景がネガ画像で黒くなっている場合、その背景部分（高
濃度）にごみ等が付着した場合にはその透過光量の信号
レベルが第４図のＢのｍのように更に低下するが、レベ
ル信号のピークＰＭ２が飽和部Ｐ２の近傍に持上げられ
ていることにより、その底部■の領域が応答部ＰＩから
外れる危険も少なくなる。

以上のようにこの発明の露光調整方法によれば、高精度
に画像を電送するラインセンサの応答範囲が狭い場合に
おいても、確実に応答可能な領域内で画像を電送するこ
とができるので、常に高質画像を電送することが可能と
なる。

【図面の簡単な説明】

第１図は光センサ及びラインセンサの応答範囲を説明す
るための図、第２図はこの発明を適用することができる
マイクロフィルムのリーダプリンタの光学系図、第３図
（Ａ）、（Ｂ）はラインセンサ出力と画像との走査関係
を説明するための図、第４図はこの発明の露光調整方法
を説明するための図である。 １・・・光源、２・・・マイクロフィルム、３・・・レ
ンズ系、４・・・ペーパ、５・・・ミラー、６・・・ラ
インセンサ、７，７Ａ・・・光センサ、ｌＯ〜１２・・
・画像。 出願人代理人　安　形　雄　三

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. マイクロフィルムに光源から光を照射し、その透過光で
   前記マイクロフィルムの画像をラインセンサで走査して
   読み取る装置における前記光源の自動露光調整方法にお
   いて、前記ラインセンサよりも応答部の広い光センサで
   前記透過光の光量を測定して前記光源の露光量を決定し
   、この露光量で前記画像を走査した時、前記ラインセン
   サの出力レベルの最低レベルが前記ラインセンサの応答
   部の立上り部分と一致するように前記光源の露光量を調
   整し、その後に前記出力レベルの最高レベルが前記ライ
   ンセンサの応答部の飽和部直前となるように前記光源の
   露光量を調整するようにしたことを特徴とする自動露光
   調整方法。