JPS6076042A - 光デイスク用マスタ−の製造方法 - Google Patents

光デイスク用マスタ−の製造方法

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JPS6076042A
JPS6076042A JP18313983A JP18313983A JPS6076042A JP S6076042 A JPS6076042 A JP S6076042A JP 18313983 A JP18313983 A JP 18313983A JP 18313983 A JP18313983 A JP 18313983A JP S6076042 A JPS6076042 A JP S6076042A
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JP
Japan
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resin layer
photosensitive resin
layer
metal layer
master
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JP18313983A
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Kazuo Arai
和夫 荒井
Takuo Sato
佐藤 拓生
Shinichi Nishi
眞一 西
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Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/26Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
    • G11B7/261Preparing a master, e.g. exposing photoresist, electroforming

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は元ディスク用のマスターの製造方法に関するも
のである。
(従来技術) 近年V−ザー技術の長足の進歩により1元によ!7情報
を記録再生することが可能となり、最近では元ディスク
の研究開発が盛んに進められて89、今や実用化の段階
に至っている。この元ディスクは、小型にして高密度の
記録が可能であること、ランダム・アクセス機能が優れ
ていることなど、種々の利点を有し、将来的には情報記
録の媒体として中心的な存在となることが予想される。
この元ディスクは、大別すると、ビデオディスク或いは
コン/セクトディスクに代表される再生専用の元ディス
ク(以下単に[再生専用型光ディスク」という。)と、
通常元メモリディスクと呼ば九ているユーザーが自由に
情報を記録することができる元ディスク(以下単に[記
録可能型光ディスク」という。)とがめる。前者の再生
専用型光ディスクは、映像或いは音声等の情報が微細な
凹凸(以下単に「ピント」という。)の形で記録され′
fc元ディスク用マヌター(以1単に「マスター」とい
う。)を母型とし、この母型から金型を作製し、この金
型でアクリルなどの樹脂板をプノス丁ることにより通常
のリコード盤と同様の方法により製造さnる。−万後者
の記録可能型元ディスクは、トラッキングのためのブリ
・グループと呼ばれる同心円或いは渦巻状の案内溝が形
成されて成るマスターを母型とし、この母型から金型を
作製し、この金型でアクリルなどの樹脂板をゾVスする
ことにより案内溝を有する樹脂板を形成し、次いでこの
樹脂板上に記録層を設けて製造される。
このように利用目的の異なり′fc2つのタイプの元デ
ィスクがあるが、何れの元ディスクを得る場合にもマス
ターを必要とし、このマスターにビット或いは案内溝を
正確に設けることが要求される。
斯かるマスターの製造方法としては、基本的にはガラス
などよりなる基板上に記録層f:設け、この記録層に高
密度エネルギービームを照射して記録すべき情報に基い
た露光を行なう方法が採用されている。具体的には、例
えば第1図に示すように、ガラス製基板l上に感光性樹
脂層2を設けてマスター用基材3を構成し、このマスタ
ー用基材3の感光性樹11&Jm2の露出面に直接高密
度エネルギービームを照射して記録すべき情報に基いた
露光を行ない、その後感光性樹脂層2を現像してビット
または案内溝を形成する方法がある(特開昭49−93
002号参照)。この方法にぢいては、感光性樹脂層2
が記録層に41白し、この感光性樹脂層2に高い精度で
しかも高密度の情報を記録するためには、高密度エネル
ギービームを感光性樹脂層2の露出面上に常に正確に集
光してスポット径が小さくしかもエネルギー密度の高(
・ビームスポットを形成することが必要であり、このた
め高密度エネルギービーム発生装置には通常高密度エネ
ルギービームの焦点位Iff k 、i7・’、l整す
るフォーカスサーボ機構が設けられている。このフォー
カスサーボ+j&椙は通常感光性樹脂層2の露出面から
の反射光を検出して焦点の位@調整を自動的に行なうよ
うにしているが、感光性樹脂層2は七の目的からして光
吸収性のよいものであるため、こむよりの反射光の強度
は小さく、従って7万一カスザーd?機構を高い精度で
駆動することが相当に内錐であり、形成されるビットま
たは案内溝は形状精度の劣ったものになり易いという欠
点を有している。
これに対して、例えば第2図に示すように、ガラス製基
板l上に純金属または金属の合金などより成る金属層4
を設けて77ター用基材5を構成し、このマスター用基
材5の金属層4の鈷出面に直接高密度エネルギービーム
を照射して記録子べ。
ぎ情報に基いた露光を行ない、当該金粍層4の露光部分
に熱的変形を与えることによりビットfたは案内溝を形
成する方法、があ、る (特開昭50−2415号、特
開昭52−108803号参照)。この方法に8いては
、金妨層4が記録層に相当し、この金属N4は金属より
成るためその露出面の反射率が高くて反射光の強度は充
分となり、従ってフォーカスサーボ機構VCLる焦点位
置の調整は冒い精度で行なうことができるが、反面、ビ
ントスたは案内溝は金属層4の熱的変形により形成され
るため、その制御は充分に行なうことが困難であり。
高密度エネルギービームの制御は充分であっても、結局
形成されるビン)1′fcは案内溝は形状精度の劣った
ものとなる。また金属層4に熱的変形を与えるためには
、/ぞワーの大きい高密度エネルギービームが必要とさ
れ、記録層が感光性樹脂である場合に比べて高密度エネ
ルギービーム発生装置が大型で高価にな9、しがも消費
屯カが大ぎくな9経済的なデメリットも太き(・。
また第3図に示すように、ガラス製基板l上に感光性樹
脂層6tl−設け、更にこの上に金属層7t−設けてマ
スター用基材8を構成し、このマスター用基材8の金國
層7の露出面に高庇゛度エネルギービームを照射して記
録子べぎ情報に基いた露光を行ない、百該金用層7の露
光部分をヒートモードにより除去して当該金槻層7に前
記情報に基いたマスク・ぞターンを形成し、久いでマス
ター用基材8の金属層7側の全体全水銀シンゾなどの元
源により一様露尤し、その後金焉層7を除去し、感光性
樹脂層6を現像し゛こ′5′eを受けた部分或いは元を
受けなかった部分の何れが一方を除去して当該感光性樹
脂層6にピントまたは案内溝を形成する方法がある(特
開昭57−208646号)。Cの方法によれば、金栢
層7まりの反射光め強度は充分となるからフォーカスチ
ーが機構による焦点位置の調整は高い精度で行なうこと
ができるが、金属層7にヒートモード方式によりマスク
Ieターンを形成する際には、感元性樹脂層6に損傷を
与えずに金賄層7の露光部分のみを除去することが必要
であり、従って高密度エネルギービームを照射する際に
は相半精密なエネルギー制御が要求され、この結果高密
度工iルギービーム発生装置として高性能で高価なもの
が必要とさnる欠点がある。
また上記何れの方法においても、金属層または感光性樹
脂層の露出面に焦点を合せて高密度エネルギービームを
照射するようにしているため、当該露出面にほこりなど
が付着している場合には、高密度エネルギービームが散
乱されていわゆるドロップアウト(記録欠如)の現象が
生じ、記録すべき情報に忠実なマスターが得られない問
題点を有している。
(発明の目的) 本発明の目的は、上述のような問題点を有せず、比較的
低/9ワーのエネルギー源による高密度エネルギービー
ムにより、記録子べぎ情報が高密度でしかも忠実に記録
さnたマスターを得ることができる元ディスク用マスタ
ーの製造方法を提供することにある。
(発明の構成) 上記の目的は、透元性基板土に感光性樹脂層を設けて更
にこの感光性樹脂層上に金属層を設け、高密度エネルギ
ービームを前起基板側から前記感光性樹脂層に照射して
記録子べき情報に基いた露光を行ない、露光後前記金属
層を除去した後前記感光性樹脂層を現像して肖該感九性
樹脂層に前記情報に基<・ソターンを形成することを特
徴とする元ディスク用マスターの製造方法によって達成
される。
以下図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
本発明においては、例えば第4図に示すように、透明な
ガラスなどより成る送元性基板9上に、例えばポジ型フ
ォトレジストなどより成る感光性樹脂層10t−設け、
更にこの感光性樹脂層10上に金属層11を設けて、マ
スター用基相100を構成する。
次に第5図に示すように、レーザー元などの高密度エネ
ルギービームを前記マスター用基材100の送元性基板
9側からWA元性樹脂層lOに照射して記録子べさ情報
に基いた露光を行なう。
露光終了後、前記金属層11を除去して男6図に示すよ
うに感元性樹脂層lOの裏面12を露出させ、次いでこ
の感光性樹脂層lOを現1#!液により現像して、当該
感光性樹脂層lOに、第7図に示すように、ビット13
 (または案内溝)より成る/ぞターンを形成し、もっ
て元ディスク用マスターを得る。
前記送元性基板9としては、透明なガラス板が好ましい
が、ポリメチルメタアクリレートなどより成るアクリル
系の透明樹脂板を用いることもできる。この送元性基板
9の厚さは通常1−== 10■程度であり、高密度エ
ネルギービームの透過性の良好なものがよい。
前記感光性樹脂層lOとしては、ポジ型!7(#′i。
ネガ型のフォトレジストを用いることができ、こみうち
解像度の優れている点でポジ型の7万トVシストが好ま
しい。このポジ型のフォトレジストは1通常未感元の部
分はアルカリ溶液に不溶であるが、紫外領域の波長を含
むエネルギービームにより感光した部分はアルカリ溶液
に可溶になるという特性を有し℃いる。従ってポジ型の
フォトレジストソ用い′fc場合には、感元部分が除去
されそこにビットまたは案内溝が形成される。このよう
なポジ型のフォトレジストとしては5例えばナフトキノ
ンジアジド、環状スルホニワム過塩素rI1.塩、キノ
リンキノンアジド化合物などを用いたものが知られて8
り、具体的には、米国シラグレイ社製のAZタイプ、米
国イーストマン・コダソク社製のKORタイプ、または
東京応化社製のOFt’ltJイゾなどが市販されてい
る。−万ネガ型のフォトレジストを用いた場合には、感
光した部分が現像液に不溶となり、未感光部分が現像液
により除去されてそこにビットまfcは案内溝が形成さ
れる。
このようなネガ型のフォトレジストとしては1例えばプ
リビニルアルコール−クイ反酸エステル、ホリビニルア
ルコールーシンナミリ7’ 7 酸エフ、 fル、環化
ゴム−ビスアジド、元硬化性ナイロンなどを用いたもの
が仰られてjoす、具体的には、米国イーストマン・コ
ダック社裂のKP)L、KMER。
KFI)tタイプ、または東京応化社製のOMRタイプ
などが市販されている。
この感光性樹脂層lOを透光性基板9上に設(する方法
としては、スピナー塗布法などにより塗布し′tc後、
乾燥する方法、その他通常用いられている方法全適用す
ることができる。この感光性樹脂層lOの厚さは形成丁
べぎピットまたは案内溝に必要とされる深さに応じて決
められるが、通常は0.05〜0.1511m 程度で
ある。
前記金属層11に用いる材料としては、例えばMg、 
Sc、 Y、 Ti %Zr、Hf 、 V、Nb、T
a。
Cr、 Mo、 SJ Mn、 Re、Fe、 Co、
Ni、Ru。
Rh%Pd、Ir%PL、 Cu、 Ag、 Au、 
Zu、 Cd。
AI、Qa、In、 Si、 Ge、Te、 Pb、 
Po、 Sn。
As%Sb、 Bi 、 Seなどの単体、またはCれ
らの合金などを挙げることができる。この金属層11の
材料としては、毒性が少なく、酸化されに(<。
膜形成性能が優れ、しかも感光性樹脂層10の種類との
関係に8いて好ましい金属層除去液を選択することがで
きるなどの条件を兼ね具えたものが好ましい。例えば感
光性樹脂層lOとしてポジ型フォトVシストを用いる場
合には、後述するように現像液としては通常アルカリ溶
液を用いるため。
金属層除去液としてはアルカリ溶液以外の例えば中性溶
液を用いることが望ましく、この点から後述する特定の
中性溶液に可溶な銀を金属層11の材料に用いることが
好ましい。また感光性樹脂層lOのa類との関係に3い
て金属層除去液として希硝酸などの酸化力のめる酸を支
障なく用いることがでさる場合には金属層11の材料と
じ又、銅、〕Rラジウム、クロム、Vニクムなどを好”
fL<用いることができる。こ几に対して、例えば感光
性樹脂層lOとしては好ましいポジ型のフオ)Vシスト
を用いる場合に?いて、金属層11をアルミニワムとス
ズとの合金により形成した場合には、金属層11iアル
カリ溶液で除去することはできるが、後述するように現
像工程にどいて好1しくない現象が生ずる。以上の金属
層11は、例えば蒸着、ス・七ツタリング、イオンブレ
ーティングなどの通常用いられている薄膜形成技術によ
り形成することができる。
+ 前記高密度エネルギービームとしては、Ar レーザー
、Kr レーザー、He−Cdv−ザー などのンーザ
ー元を好1しく用いることができる。高密度エネルギー
ビームは感光性樹脂層の感光特性に基いて選択される。
高密度エネルギービームの発生装置としては例えば第8
図に示すような構成のものを用いることができる。第8
図に?いて、14はV−ザー発振器、15.16はプリ
ズム、17は変調器を内蔵した光学回路、18は偏元器
、19はピックアップ、100はマスター用基材% 2
0は回転用モータである。尚図示はしていないが、高密
度エネルギービームの焦点位置を自動調整するフォーカ
スチーゲ機構が設けられて89.マスター用基材100
の透光性基板9側から金U*11−へ検出用元を照射し
、この金属層11よりの反射光を検出することにより高
密度エネルギービームの焦点が常にマスター用基材10
0の感光性樹脂層lOの透光性基板9との界面に位置す
るよう制御される。この発生装置に、妄いては、V−ザ
ー発振器14よりのV−ザー元が光学回路17vcおい
又。
音声信号、映像信号、トラッキング信号などの記録子べ
ぎ信号により変調さn、この変調さn’fC高密度エネ
ルギービームがピックアップ19より発生される。この
高密度エネルギービームによる露光に?いては、マスタ
ー用基材100を回転用モータ20により定速度で回転
せしめながら、高密度エネルギービームを、マスター用
基材100の透光性基板9側から感光性樹脂層10に照
射して行なわれる。
高密度エネルギービームによる蕗y0処理彼にゴロ(シ
イI自lφべ1I4111II(キリノ^メLtr14
.l+1+、++、、’lII+%’は透光性基板9及
び感光性樹脂層10に悪影響を与えずに金属層11’1
m除去することが好ましい。
金属層除去液としては金属層11を溶解する溶液が用い
られ、例えばアルミニウムとスズとの合金にエフ金属層
11を形成した場合には、アルカリ溶液により当該金属
層11を除去することができる。またこのとぎアルカリ
溶液に可溶でらろポジ型のフォトンシストにより感光性
樹脂層10を形成しである場合には、金掲層11の除去
に用いるアルカリ溶液により金属層11の除去と感光性
樹脂層lOのl!J像とを併せて行なうことができるの
で処理工程の簡略化を図ることができる利点が得られる
が、反面同一のアルカリ溶液にx、!7金属層11の除
去処理とW&元注性樹脂層10現像処理の2つの処理を
同時VC−f4足しなければなうな(・が、そのような
処理は相半に困難であり、このため感光性樹脂1−10
に膜減り、剥離などの損傷が生じ易く、しかも当該アル
カリ土類金属層11の金属が溶出さnるため%労咳アル
カリ溶液の疲労が激しくて繰り返し使用が困難であると
いう問題点を生じ易い。
これに対して、銀を用いて金属層11を形成した場合に
は、1把第1表に示す組成のブリーテ・フィクス液(以
下単に「BF液」という。)VCより当該金属層11を
容易に除去することができ、しかもこのBF液は中性溶
液であるため、感光性樹脂層lO及び送元性基板9に損
傷を与えることなく金属層11の除去処理を達成できる
。またこのBF液による金属層除去処理は後の感光性樹
脂層10の現像処理とは分離し1行なうこととなるため
、上述のようにアルカリ溶液を用いた場合に生じ易い問
題点は生ずることがない。
第 1 表 感光性樹脂層10の現像処理1cjcfいては、感光性
m脂層10の物性に応じて現像液が選択されるが、感光
性樹脂層lOがポジ型のフオ)L/ジスト工9成る場合
には現像液として通常用いられているアルカリ溶液を用
い、感光性樹脂層ioの感光部分を溶解除去して現像が
達成さn、これに、r、g当該感光性樹脂層ioにビッ
トf瓦は案内溝より成る・ぐクーンが形成される。既述
のようにアルカリ再啓性の金属層11とポジ型のフス′
ドアシストより成る感光性樹脂層lOを組み合せた場合
には、アルカリ溶液により金属層11の除去処理と感光
性樹脂層ioの現像処理が連続して行なわnることとな
9、既述のような問題点が発生するので、半載現像処理
は金M層11の除去処理とは分離してできることが望ま
しい。従って金属層11として銀を用いた場合には、既
述のように金属層11の除去処理を感光性樹脂層10に
損傷を与えることなく行なうことができるので、現像処
理工程に3いては、金属層11の物性とは無関係に感光
性樹脂層10の感光特性に基いて最適な現像液を選択す
ることができ、現像液の調整または現像時間の調整など
の現像処理条件の設定も容易となり。
この結果良好な現像処理′fI:達成することができる
しかもこのように現像処理を金属層11の除去処理と分
離して行なう場合には、分離しない場合に発生する合間
の溶出による現像液の疲労という問題点が生ぜず、従っ
て現像液の複数回に亘る繰り返し使用が可能となり経隘
的なメリットが大きい。
(発明の効果) 本発明方法にJ−flは次のような効果が得られる。
送元性基板上に順に感光性樹脂層及び金属層金膜けてマ
スター用基材を構成し、このマスター用基材の送元性基
板側から高密度エイ・ルギービームを感光性樹脂層に照
射して露光を行なうため、高密度エネルギービームの焦
点位置の調整VC26いて、前記金属層により良好に反
射さt′Lf?:、強度の大きい反射光を検出元として
使用できるため、フ万一カスチーが機構などVC,J:
る焦点位置の自動調整を精密に行なうことが可能となり
、この結果露光時には高密度エネルギービームの焦点が
感′MS注樹脂層面上に常VC確実に位置さnるように
なり、結局ピントずたは案内溝の形状精度が格段に優れ
たものとなり、記録子べぎ情報が忠実に記録されたマス
ターを得ることができる。−!た露光時に送元性基板の
露出面に仮りにほこりなどの汚れが付着している場合が
あっても、高密度エネルギービームの焦点はW&元注性
樹脂層面上位置されていることから、汚れに対してはい
わゆるアウトフォーカスとなるので汚れによる影響はほ
とんど受けることなく所期の雄性を達成することがでさ
、結局汚れに起因する欠陥が住することを抑止すること
ができる。また上述のように高密度エネルギービームは
その焦点が感光性樹脂層面上に常に確実に位置さnるた
め、ビームスポット径を充分小さくすることができ、従
つ″′C従米従来してエネルギー源の・ぐワーが小さく
ても従来と同等のエネルギーの高密度エネルギービーム
とすることができ、この結果高密度エネルギービーム発
生装置の小型化及び消費電力の節約を図ることができ、
マスターを有利に製造すること、ができる。
fだ金属層を銀により形成した場合には次のような効果
を併せて得ることができる。
銀は酸化されにくいため、金属層の形成工程にSいて高
真空度を必要とせず、しかも膜形成性能が優れているの
で比較的簡単に金属層を形成することができる。また金
属層の除去処理は既述のようにBF液で容易に行なうこ
とができると共に当該BF液は中性溶液であるので感光
性樹脂層または送元性基板に損傷を与えることがない。
また感光性樹脂層の現像処理は金属層の除去処理とは分
離して行なうこととなるので現像処理条件全通正に定め
ることが容易となり、感光性樹脂層を損傷せしめること
なく良好な現像を達成することができる。丁たこのよう
に現像処理を金稠層の除去処理とは分離しfC状態で行
なうので、金属の溶出による現像液の疲労という問題点
が生ぜず、現像液の複数回に亘る繰り返し使用が可能と
なり現像処理を有利に行なうことができる。
(実施例) 実施例1 直径30 cm 1厚さ1.211111のポリメチル
メタアクリレートより成る送元性基板上に、ポジ型のフ
ォトレジストjAZ−1350J (米国シップVイ社
胸)をスピナー塗布法にょp塗布し、乾燥して厚さ70
0λの感tt性樹脂層を形成した。この感yt、性樹脂
層上に銀を膜厚1ooXとなるよう蒸着して金属層を形
成し、もってマスター用基材を炸裂した。
このマスター用基材をその中心を軸として回転数900
rpm で回転させた状態で、Ar”V−デー・ビーム
(波長4881mm、ビームスポット径L2#77!。
エネルギー50 mW )を記録信号によV&調させな
がら、透性性基板側から感光性樹脂層に照射して窯元処
理を行なった。
露九後、マスター用基材′にゐ度20’CのBF液に6
0秒間&潰させたところ、全極層は完全に溶解除去され
た。
次にマスター用基材を温度25℃のVシスト用現gRa
に60秒間浸漬したところ、感性性情脂層の感光部分の
みが溶解除去されてビット及び案内溝が形成されたマス
ターを得Tc0 このマスターを走査型電子顕微鏡で観察したところ、感
光性樹脂層にはエツジの明瞭なビット及びレリーフ状の
案内溝が形成さnてぃた。
また以上と同様にして、レリーフ状の案内溝及び検査用
のビットが形成されたマスターの異面側にス・七ツタリ
ング法により厚さ100Aのニッケル膜を設けたうえ、
このマスターを回転数180Orpmで回転させた状態
で、He−Nev−デー(波長6328A、ビームスポ
ット径12μm、エネルギー2 mW ) Kより記録
された信号を読み出し、この読み出し元を読み出しヘッ
ドの内部のVンズにまり集注し、この元を前記マスター
のニッケル膜弐面に照射し、検査用ピッ)(2NH4)
からの反射光を検出し、2MHz近傍でのSN比を測定
した。得られたSN比は40dBであった。このように
マスター忙反射性を付与してSN比を測定することによ
ってもエツジ形状の良否を判定することができる。
比較例1 実施例IK:F+5いて、金属層を設けないマスター用
基材を用いた以外は同様にしてマスターを製造したとこ
ろ、SN比は20dB以1と惚めて低かった。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図はそれぞ:n従来の製造方法を示す説明
図、第4図〜第7図は本発明の表遣方法の一例を工程順
に示す脱BA囚、第8囚は高密度エネルギービーム発生
装置の一例を示す説明図である。 l・・・ガラス裂基板 2,6・・・感性性樹脂層3.
5.8・・・マスター用基材 4.7・・・金属層 9・・・送元性基板lO・・・感
光性m脂層 11・・・合間層100・・・マスター用
基材 13・・・ピット14・・・V−デー発振器 1
7・・・元学回路勿1図 第2図 第4因 孝5N 第7図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 l)送元性基板上に感光性樹脂層を設けて更にこの感光
    性樹脂層上に金属層を設け、高密度エネルギービームを
    前記基板側から前記感光性樹脂層に照射して記録子べぎ
    情報に基いた露光を行ない、露光後前記金属層を除去し
    た後前記感光性樹脂層を現像して当該感光性樹脂層に前
    記情報に基く・ξターンを形成することt−特徴とする
    元ディスク用マスターの製造方法。 2)金属層が実質的に銀より成ることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の元ディスク用マスターの製造方
    法。
JP18313983A 1983-10-03 1983-10-03 光デイスク用マスタ−の製造方法 Pending JPS6076042A (ja)

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JP18313983A Pending JPS6076042A (ja) 1983-10-03 1983-10-03 光デイスク用マスタ−の製造方法

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JP (1) JPS6076042A (ja)

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