JPS6076134A - 軸状部材の外観検査装置 - Google Patents
軸状部材の外観検査装置Info
- Publication number
- JPS6076134A JPS6076134A JP58183877A JP18387783A JPS6076134A JP S6076134 A JPS6076134 A JP S6076134A JP 58183877 A JP58183877 A JP 58183877A JP 18387783 A JP18387783 A JP 18387783A JP S6076134 A JPS6076134 A JP S6076134A
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- JP
- Japan
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- shaft
- line sensor
- diode
- output
- diodes
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P74/00—Testing or measuring during manufacture or treatment of wafers, substrates or devices
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は軸状部材の外ｆ１．↓検査装置に関し、軸状部
打音その軸と直交する方間に一定間隔で配列し移動させ
る移動装置上で、連続送り状態でその外観？検査し得る
ようにした装置に関する。
打音その軸と直交する方間に一定間隔で配列し移動させ
る移動装置上で、連続送り状態でその外観？検査し得る
ようにした装置に関する。
背景技術
軸状部材、例えば部品本体からその両方向にリード全４
出したダイオードや抵抗等の電子？ｆＩＳ品は、製造工
程中で電気旧特性が検査され良否判別、等級選別されて
、良品に礪独名、価性、ロット番号、等が捺印されテー
ピング処理や袋詰めされて出荷される。これらの処理全
連続的に行うため電子部品はチェーンコンベア等により
、リード両端部が支持され一定間隔で配列されて各工程
に送られる。
出したダイオードや抵抗等の電子？ｆＩＳ品は、製造工
程中で電気旧特性が検査され良否判別、等級選別されて
、良品に礪独名、価性、ロット番号、等が捺印されテー
ピング処理や袋詰めされて出荷される。これらの処理全
連続的に行うため電子部品はチェーンコンベア等により
、リード両端部が支持され一定間隔で配列されて各工程
に送られる。
と仁ろで、出荷前に捺印状態や外形等の外観検査がなさ
れる。この検査全自動化するために例えばテレビカメラ
にて外観保全電気信号に変換し、パターン化して解析す
る所謂パターンｄ ｍ１ｆｆ全利用すりことが考えられ
るが、電子部品が小ざいだめカメラの拡大倍率全【情く
する必要があり、また高速移動しているだめ捕捉時間が
短かく、信頼性のおける解析ができなかった。そのため
テレビカメラ全榎敢台用怠し、連続して移動してくる電
子部品全それぞれ各テレビカメラで捕捉し一定距離迫尾
して電子部品全静止画として捕えパターン解析し・各テ
レビカメラ金兄の位置に戻して続く複数の電子部品全捕
える動作全昧返すことにより連続浦速送り状態でも十分
な外観検査が可能であるが、設備が該雑となＶ費用が関
〈つ〈欠点があった。
れる。この検査全自動化するために例えばテレビカメラ
にて外観保全電気信号に変換し、パターン化して解析す
る所謂パターンｄ ｍ１ｆｆ全利用すりことが考えられ
るが、電子部品が小ざいだめカメラの拡大倍率全【情く
する必要があり、また高速移動しているだめ捕捉時間が
短かく、信頼性のおける解析ができなかった。そのため
テレビカメラ全榎敢台用怠し、連続して移動してくる電
子部品全それぞれ各テレビカメラで捕捉し一定距離迫尾
して電子部品全静止画として捕えパターン解析し・各テ
レビカメラ金兄の位置に戻して続く複数の電子部品全捕
える動作全昧返すことにより連続浦速送り状態でも十分
な外観検査が可能であるが、設備が該雑となＶ費用が関
〈つ〈欠点があった。
そのため目視検査ＶＣ頼ると、連続送りできず、また作
業者の疲労による誤判定もあり、改善が望まれていた。
業者の疲労による誤判定もあり、改善が望まれていた。
つ６明の開示
本発明は上記間、Ｕ点や欠点金除き、ｌｌ１ｉ単な構造
で１％速連続送りされる軸状部材の外観全検圧し得るよ
うにした装置は全提供する。
で１％速連続送りされる軸状部材の外観全検圧し得るよ
うにした装置は全提供する。
本発明は軸状部利全そり軸と直交する方向に一定間隔で
配列しｉｉ＋： ！！ＩＩさせる移動装置と、移動装置
の定位置で軸状ＶＡ５材の有無全検出する有無検出部と
、有無検出部によって検出された軸状１貝夕材の軸方向
にＲう外周向からのｙＣ乞検出するラインセンサと、有
無検出部及びラインセンサの出力に基いて軸状ｈＩＳ材
の外観の良ｇｋ判別する処理部と？含むこと全特徴とす
る。
配列しｉｉ＋： ！！ＩＩさせる移動装置と、移動装置
の定位置で軸状ＶＡ５材の有無全検出する有無検出部と
、有無検出部によって検出された軸状１貝夕材の軸方向
にＲう外周向からのｙＣ乞検出するラインセンサと、有
無検出部及びラインセンサの出力に基いて軸状ｈＩＳ材
の外観の良ｇｋ判別する処理部と？含むこと全特徴とす
る。
本発明によれば、軸状部材の外形、外周面の塗装状態等
の外観検査全連続送り状態でしかも関連で行い得る。ま
た外観全検出するラインセンサは固定でき、全体の構造
ｗ ｆｉ１ｉ単ＶＣできる。
の外観検査全連続送り状態でしかも関連で行い得る。ま
た外観全検出するラインセンサは固定でき、全体の構造
ｗ ｆｉ１ｉ単ＶＣできる。
発明全実施するだめの最良形態
以下に本発明の実施例全図面ｉ参照して説明する。図に
おいて、ｌは軸状部材、例えばガラス封ｆ Ｄ ＨＤダ
イオードで、第２図に示すように、ガラススリーブ２内
で部品本体であるダイオードペレット３全スラグリード
４．４の端面で挟持し、ガラススリーブ２内周面とスラ
グリード４の外周間と全気蕃に封止したもので、ガラス
スリーブ２の外周向にはカラーフード化されたリング状
の捺印５，５がなされ、機種名や極性等が表示されてい
る。このダイオード１は移動装置ｅｔ、例えばチェーン
：コンベア６，６ｅこリート−４，４旋１Ｍ部が支持さ
れ一定量１Ｍ＋４で配列さｔして移動される。７はチェ
ーンコンベア６．６に突設されＶ字状の四＋＋ｌ（’ｔ
４１′シダイオード１全、その軸が移動方間と直交する
ように−＞ｊ間１＃、４で配列させるだめの支持体、８
はチェーンコンベア６の定位置でダイオードｌの有無？
検出する有無検出部で、図示例では光ガイド８ａ。
おいて、ｌは軸状部材、例えばガラス封ｆ Ｄ ＨＤダ
イオードで、第２図に示すように、ガラススリーブ２内
で部品本体であるダイオードペレット３全スラグリード
４．４の端面で挟持し、ガラススリーブ２内周面とスラ
グリード４の外周間と全気蕃に封止したもので、ガラス
スリーブ２の外周向にはカラーフード化されたリング状
の捺印５，５がなされ、機種名や極性等が表示されてい
る。このダイオード１は移動装置ｅｔ、例えばチェーン
：コンベア６，６ｅこリート−４，４旋１Ｍ部が支持さ
れ一定量１Ｍ＋４で配列さｔして移動される。７はチェ
ーンコンベア６．６に突設されＶ字状の四＋＋ｌ（’ｔ
４１′シダイオード１全、その軸が移動方間と直交する
ように−＞ｊ間１＃、４で配列させるだめの支持体、８
はチェーンコンベア６の定位置でダイオードｌの有無？
検出する有無検出部で、図示例では光ガイド８ａ。
８ｂの対向する遊端全ダイオード１のリード４の移動軌
跡を横切るように配置し、各光ガイド８ａ。
跡を横切るように配置し、各光ガイド８ａ。
８ｂの一端部には図示しないが光源及び光センサが接続
されている。９け有無検出１１３８の前方でダイオード
ｌのスリーブ２外周面からの光音その軸方向に検出する
ラインセンサで、図示例ではンリンドリカルレンズｌｏ
Ｔ！″介し下方ｗＢ過するダイオードｌからの光が集束
きれる。このラインセンサ９としてはＣＯＤイメージセ
ンサが好適であるが、撮像管′に龍槻偏回で用いてもよ
い。また１１はライ〉・センサ９の下方でダイオード１
全下方から照明する光源で、スリ７）ｌ’２ａＴ！：有
する粕１２内に収納され、所望部分にのみ光音照射する
ようにしている。また図示しないが、光源１１とライン
センサ９の間にはラインセンサ９に対し有害な光成分全
除去するフィルタが仲人される。１３はラインセンサ９
の前方でチェーンコンベア６上に配置され選択的に上下
動して不良ダイオード？吸Ｘｉ Ｌ取り出す取出装置、
１４は、’ｒｆＪｉｌ（検出部８、ラインセンサ９の出
力に一！４いてダイオードｌの外観の良否全判別し、取
出装置１３全選択旧−に動１・ｌεさせる処理部全示す
。この処理部１４のプロツクダイアダラム側音第３図に
示す。１５はマイクロプロセッサ装置ａで、中央処理部
（ＯＰ Ｕ ） ｌ ６７Ｃプログラムが書き込まれた
読出し専用のメモリ （ＲＯＭ）１７と、人出力データ
及び中間処理データ全一時＋１Ｊに蓄えるｐ）き換え可
能なメモリ（ＲＡＭ）を０ＰＵ１６に接続する人出力制
御装置１ｊ（Ｉｌｏ）１９とが接続されている。ここで
ラインセンサ９とｘ ／ ０１９の間にはラインセンサ
９のアナログ出力全ディジタル化するアナログ−ディジ
タル変換部２０、ディジタル化されたデータ全２値化す
る２値化処理部２１等が挿入されている。
されている。９け有無検出１１３８の前方でダイオード
ｌのスリーブ２外周面からの光音その軸方向に検出する
ラインセンサで、図示例ではンリンドリカルレンズｌｏ
Ｔ！″介し下方ｗＢ過するダイオードｌからの光が集束
きれる。このラインセンサ９としてはＣＯＤイメージセ
ンサが好適であるが、撮像管′に龍槻偏回で用いてもよ
い。また１１はライ〉・センサ９の下方でダイオード１
全下方から照明する光源で、スリ７）ｌ’２ａＴ！：有
する粕１２内に収納され、所望部分にのみ光音照射する
ようにしている。また図示しないが、光源１１とライン
センサ９の間にはラインセンサ９に対し有害な光成分全
除去するフィルタが仲人される。１３はラインセンサ９
の前方でチェーンコンベア６上に配置され選択的に上下
動して不良ダイオード？吸Ｘｉ Ｌ取り出す取出装置、
１４は、’ｒｆＪｉｌ（検出部８、ラインセンサ９の出
力に一！４いてダイオードｌの外観の良否全判別し、取
出装置１３全選択旧−に動１・ｌεさせる処理部全示す
。この処理部１４のプロツクダイアダラム側音第３図に
示す。１５はマイクロプロセッサ装置ａで、中央処理部
（ＯＰ Ｕ ） ｌ ６７Ｃプログラムが書き込まれた
読出し専用のメモリ （ＲＯＭ）１７と、人出力データ
及び中間処理データ全一時＋１Ｊに蓄えるｐ）き換え可
能なメモリ（ＲＡＭ）を０ＰＵ１６に接続する人出力制
御装置１ｊ（Ｉｌｏ）１９とが接続されている。ここで
ラインセンサ９とｘ ／ ０１９の間にはラインセンサ
９のアナログ出力全ディジタル化するアナログ−ディジ
タル変換部２０、ディジタル化されたデータ全２値化す
る２値化処理部２１等が挿入されている。
この装置の動作全以下に説明する。チェーンコンベア６
上をダイオードｌが一定間隔で連続送りされてくるに、
定位１ｈで有ｊｏｌｔ検出ｔγＩ（８が出力全発生する
。この出力が工／ ０１ ｇ ｙ、介して０ＰＵ１６に
人力され、０ＰＵ１６はラインセンサ９からの人力待ち
状１塵となる。この待ち時間はチェーンコンベア６の送
りａｌｊＪ−と、有無検出部８及びラインセンサ９の間
隔とから決定され、この間ラインセンサ９からの入力全
受け（＝Ｊけないようにすることにより誤動性全防止し
ている。そして一定時間後ダイオード１がラインセンサ
９の下方に達するとラインセンサ９の出力がｘ ／ Ｏ
ｌ ９２介してＣＰＵ１６に人力されるが、ラインセ〉
・す９とダイオード１の軸が平行である場合には、第４
図に示すようにダイオード１がその軸と直交方間に移動
しているためラインセンサ９の走査方向はダイオード１
の軸に対し傾斜し、ダイオード１の移動速度に対応して
りｔｌめから数個の出力はダイオードｌの一部しか表示
しないため、これら出力は無視して完全に外周面上全走
査した出力のみｋＲＡＭ１８に蓄え、再度不完全出力全
無視する。これは第１番１」の出力が人力されても直ち
にＲＡＭ１８に入力せず、１１番目の出力から一定時間
人力を無視しその後ラインセンサ９の走査間りｆ）時点
からの出カケ数個ＲＡ Ｍ ｌ ８ Ｖｃ蓄え、さらＶ
ｃそれ以後の出力全無視すればよい。１１（ＡＭｌ’８
へのデータ人力終了抜、直ちにデータσＪ屏析全行う。
上をダイオードｌが一定間隔で連続送りされてくるに、
定位１ｈで有ｊｏｌｔ検出ｔγＩ（８が出力全発生する
。この出力が工／ ０１ ｇ ｙ、介して０ＰＵ１６に
人力され、０ＰＵ１６はラインセンサ９からの人力待ち
状１塵となる。この待ち時間はチェーンコンベア６の送
りａｌｊＪ−と、有無検出部８及びラインセンサ９の間
隔とから決定され、この間ラインセンサ９からの入力全
受け（＝Ｊけないようにすることにより誤動性全防止し
ている。そして一定時間後ダイオード１がラインセンサ
９の下方に達するとラインセンサ９の出力がｘ ／ Ｏ
ｌ ９２介してＣＰＵ１６に人力されるが、ラインセ〉
・す９とダイオード１の軸が平行である場合には、第４
図に示すようにダイオード１がその軸と直交方間に移動
しているためラインセンサ９の走査方向はダイオード１
の軸に対し傾斜し、ダイオード１の移動速度に対応して
りｔｌめから数個の出力はダイオードｌの一部しか表示
しないため、これら出力は無視して完全に外周面上全走
査した出力のみｋＲＡＭ１８に蓄え、再度不完全出力全
無視する。これは第１番１」の出力が人力されても直ち
にＲＡＭ１８に入力せず、１１番目の出力から一定時間
人力を無視しその後ラインセンサ９の走査間りｆ）時点
からの出カケ数個ＲＡ Ｍ ｌ ８ Ｖｃ蓄え、さらＶ
ｃそれ以後の出力全無視すればよい。１１（ＡＭｌ’８
へのデータ人力終了抜、直ちにデータσＪ屏析全行う。
即ち、第５図（Ａｌに示す走査位置でのラインセンサ９
の出力は第５図（Ｂｌに示すようになる。即ちガラスス
リーブ２Ｕ） １７ｉ４Ａ部２ａでは屈折により出力が
低下し、スリーブ２の外周面部分でもわずかに出力が低
下する。
の出力は第５図（Ｂｌに示すようになる。即ちガラスス
リーブ２Ｕ） １７ｉ４Ａ部２ａでは屈折により出力が
低下し、スリーブ２の外周面部分でもわずかに出力が低
下する。
そして捺印５（５ａ、５ｂ）部分で急激に出力低下し、
スリーブ２の他端部２ｂで再ＩＷ出力低下する。こび）
出力は２値化処理され第５図（Ｃ１に示すように整形さ
れ、これがＲＡＭ１８に畜見られている。この出力に対
し始めのパルス降下点ａ′から次のパルス降下点ｂ′ま
での間ｌ！１ｌｉｉ（データのビット長ンを計数し、さ
らに各パルスｂ／ 、 ｃ／の間隔′？！：泪数し、パ
ルスａ’、 ｂ’、 ｃ’、 ｄ’の数音計数する。こ
れらのパルス間隔及び故が予め設定された範囲内にある
か全判定し捺印の良否全知ることができる。
スリーブ２の他端部２ｂで再ＩＷ出力低下する。こび）
出力は２値化処理され第５図（Ｃ１に示すように整形さ
れ、これがＲＡＭ１８に畜見られている。この出力に対
し始めのパルス降下点ａ′から次のパルス降下点ｂ′ま
での間ｌ！１ｌｉｉ（データのビット長ンを計数し、さ
らに各パルスｂ／ 、 ｃ／の間隔′？！：泪数し、パ
ルスａ’、 ｂ’、 ｃ’、 ｄ’の数音計数する。こ
れらのパルス間隔及び故が予め設定された範囲内にある
か全判定し捺印の良否全知ることができる。
同様にして第６図（にに示すような走査１ａｌＬ跡に対
シテはラインセンサ９の出力は第６図（Ｂｌに示すよう
になり、２値化されると第６図（０）に示すようになる
。この場合にも同様にパルス間隔及びパルスｍｋ計数す
る。第５図及び第６図は良品全示すが、第７図（Ａｌに
示すように、捺印５ａに欠けや掠れがあると、図示ｉ上
の走査に対しラインセンサ９の出力は第７図（Ｂｌに示
すようになり、２圃化されて第７図（Ｃ１に示す出力が
ＲＡＭ１８に人力される。
シテはラインセンサ９の出力は第６図（Ｂｌに示すよう
になり、２値化されると第６図（０）に示すようになる
。この場合にも同様にパルス間隔及びパルスｍｋ計数す
る。第５図及び第６図は良品全示すが、第７図（Ａｌに
示すように、捺印５ａに欠けや掠れがあると、図示ｉ上
の走査に対しラインセンサ９の出力は第７図（Ｂｌに示
すようになり、２圃化されて第７図（Ｃ１に示す出力が
ＲＡＭ１８に人力される。
この場合パルス間隔見が長くなりパルスｂ′σＪ Ｉｉ
ｉ Ｗも狭くなり不良と判定される。また第７図（Ａｌ
に示すダイオードで図中ａに示すように走査すると、同
図（Ｄ）に示すようなパルス列が得られる。即ち、パル
スθの長き見′が長くなり、リード４，４の片寄り不良
であることが分る。またペレット３が無い場合には第７
図ＣＤ＋のパルスθ、ｆが連結シ、ペレット３の欠品全
知ることができる。
ｉ Ｗも狭くなり不良と判定される。また第７図（Ａｌ
に示すダイオードで図中ａに示すように走査すると、同
図（Ｄ）に示すようなパルス列が得られる。即ち、パル
スθの長き見′が長くなり、リード４，４の片寄り不良
であることが分る。またペレット３が無い場合には第７
図ＣＤ＋のパルスθ、ｆが連結シ、ペレット３の欠品全
知ることができる。
この他にも捺印位置の反転、即ちチェーンコンベア６上
にダイオード１が反対間きに支持されている状態も知る
ことができる。
にダイオード１が反対間きに支持されている状態も知る
ことができる。
このようにして良否判定がなされると、ＲＡＭ１８にソ
Ｕ）結果？保持しておき、ダイオードｌが取出装置ａ１
３のＦ方に達した時に、ＲＡＭ１８に蓄えられた出力に
応じて取出装置１３全選択的に１′ｌＥ ！１７１Ｊ
サせ、不良ダイオードのみチェーンフ〉・ベア６上から
除去する。
Ｕ）結果？保持しておき、ダイオードｌが取出装置ａ１
３のＦ方に達した時に、ＲＡＭ１８に蓄えられた出力に
応じて取出装置１３全選択的に１′ｌＥ ！１７１Ｊ
サせ、不良ダイオードのみチェーンフ〉・ベア６上から
除去する。
これら一連の処理は軸状部イオであるダイオードの外表
面全−回乃至数回走査した結果に基いて判１＋ｊｉする
ため、軸状部材を一旦停止させることなく連続送り状Ｊ
庫で外観データ全捕捉でき、良否判別できる。また軸状
部材とラインセンサと全同期して移動させる必要がなく
装置が１“バｊ単にできる。
面全−回乃至数回走査した結果に基いて判１＋ｊｉする
ため、軸状部材を一旦停止させることなく連続送り状Ｊ
庫で外観データ全捕捉でき、良否判別できる。また軸状
部材とラインセンサと全同期して移動させる必要がなく
装置が１“バｊ単にできる。
第１１４は本発明の実施例全示す斜視図、第２図は軸状
部材の一側音示す一部断面側面図、第３図は第１図装置
の処理部全示すブロックダイアグラム）第４図は軸状部
材ｔｃ ｉ＜４するラインセンサの走査状態全示す平面
図、第５図（ＡＩ乃至ＣＢ＋は捺印状態全検出するだめ
の走査状＝Ｔ４ ＋示すもので（Ａ）は軸状■Ｓ材の平
囲図、（Ｂ）はラインセンサの出力波形図、（Ｃ１は２
値化された出力波形図全示す。また第６図（Ａｌ乃至（
０）は外観状態全検出するだめの走査状態牙示すもので
（Ａｌは軸状部材の平面図、（Ｂ）はラインセンサの出
力波形図、ＩＯ＋は２１１な化された出力波形図？示す
。さらに第７図［Ａｌ乃至（Ｄｌは捺印不良及び外観不
良の軸状部材に対する走査状態？示すもので、（ＡＪけ
軸状部材の平面図、（Ｂ）は捺印不良に対するラインセ
ンサの出力波形図、（０１はｚ値化された出力波形図、
（Ｄｌは外観不良に対する２値化された出力波形開音そ
れぞれ示す。 １・・・・ 軸状ｇｌＳ利、 ６・ 移動装置、 ８・・・ 有無検田部、 ９・・・・ ライン・センサ、 １４ ・・・処理部。 弗］図 第４図 ２ ］
部材の一側音示す一部断面側面図、第３図は第１図装置
の処理部全示すブロックダイアグラム）第４図は軸状部
材ｔｃ ｉ＜４するラインセンサの走査状態全示す平面
図、第５図（ＡＩ乃至ＣＢ＋は捺印状態全検出するだめ
の走査状＝Ｔ４ ＋示すもので（Ａ）は軸状■Ｓ材の平
囲図、（Ｂ）はラインセンサの出力波形図、（Ｃ１は２
値化された出力波形図全示す。また第６図（Ａｌ乃至（
０）は外観状態全検出するだめの走査状態牙示すもので
（Ａｌは軸状部材の平面図、（Ｂ）はラインセンサの出
力波形図、ＩＯ＋は２１１な化された出力波形図？示す
。さらに第７図［Ａｌ乃至（Ｄｌは捺印不良及び外観不
良の軸状部材に対する走査状態？示すもので、（ＡＪけ
軸状部材の平面図、（Ｂ）は捺印不良に対するラインセ
ンサの出力波形図、（０１はｚ値化された出力波形図、
（Ｄｌは外観不良に対する２値化された出力波形開音そ
れぞれ示す。 １・・・・ 軸状ｇｌＳ利、 ６・ 移動装置、 ８・・・ 有無検田部、 ９・・・・ ライン・センサ、 １４ ・・・処理部。 弗］図 第４図 ２ ］
Claims (1)
- 軸状部打音その軸と直交する方間に一゛定間隔で配列し
移動させる移動装置と、移動装置の定位置で軸状部材の
有無全検出する有無検出部と、有無検出部によって検出
された軸状部材の軸方間に沿う外周面からの元金検出す
るラインセンサと、有無検出部及びラインセンサの出力
に基いて軸状部材の外観σ〕艮百デ判別する処理部と全
含むこ−と全特徴とする軸状部材の外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58183877A JPS6076134A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 軸状部材の外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58183877A JPS6076134A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 軸状部材の外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6076134A true JPS6076134A (ja) | 1985-04-30 |
Family
ID=16143390
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58183877A Pending JPS6076134A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 軸状部材の外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6076134A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS62194406A (ja) * | 1986-02-21 | 1987-08-26 | Rohm Co Ltd | 抵抗器における塗膜の検査装置 |
| JPH0255962A (ja) * | 1988-08-20 | 1990-02-26 | Fujitsu Ltd | 接触抵抗測定装置 |
| CN104226615A (zh) * | 2013-06-06 | 2014-12-24 | 广东易德半导体有限公司 | 自动排除二极管一贯机工件交叉故障的装置 |
| WO2022128611A1 (en) * | 2020-12-15 | 2022-06-23 | Tyco Electronics (Shanghai) Co., Ltd. | Terminal detection platform |
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-
1983
- 1983-09-30 JP JP58183877A patent/JPS6076134A/ja active Pending
Patent Citations (4)
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