JPS6076630A - 温度測定装置 - Google Patents
温度測定装置Info
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- JPS6076630A JPS6076630A JP58184915A JP18491583A JPS6076630A JP S6076630 A JPS6076630 A JP S6076630A JP 58184915 A JP58184915 A JP 58184915A JP 18491583 A JP18491583 A JP 18491583A JP S6076630 A JPS6076630 A JP S6076630A
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- Japan
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- semi
- transparent body
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0808—Convex mirrors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0813—Planar mirrors; Parallel phase plates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/80—Calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
- G01J2005/066—Differential arrangement, i.e. sensitive/not sensitive
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の分野
この発明は、ガラス、高分子フィルム等の半透明体の温
度を測定する装置に関するものである。
度を測定する装置に関するものである。
（２ン従米技術
半透明体の温度を測定するには、その物質の吸収帯に測
定波長を限定した放射温度計を用いて行う方法がある。
定波長を限定した放射温度計を用いて行う方法がある。
しかしながら、この方法では、波長を限定しているため
、感度が悪く、測定下限温度を低くとれない問題点があ
る。また、顕著な吸収帯がない場合は、特に測定が困難
となる。
、感度が悪く、測定下限温度を低くとれない問題点があ
る。また、顕著な吸収帯がない場合は、特に測定が困難
となる。
（３）発明の目的
この発明の目的は２以上の点に鑑み、鏡を利用して半透
明体の温度を高精度に測定することができる温度測定装
置を提供することである。
明体の温度を高精度に測定することができる温度測定装
置を提供することである。
（４）発明の実施例
第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
。
図においで、１は被測定対象であるガラス、高分子フィ
ルム等の半透明体２をおおう壁、３は半透明体２の背面
に設けられた鏡（ミラー）、４は壁１の壁面１ａの温度
を測定する抵抗体、熱電対その他の温度測定手段、５は
半透明体２からの放射エネルギーを受光する放射温度計
、６は放射温度計５の出力、温度測定手段４の出力等か
ら半透明体２の真温度を演算する演算手段である。
ルム等の半透明体２をおおう壁、３は半透明体２の背面
に設けられた鏡（ミラー）、４は壁１の壁面１ａの温度
を測定する抵抗体、熱電対その他の温度測定手段、５は
半透明体２からの放射エネルギーを受光する放射温度計
、６は放射温度計５の出力、温度測定手段４の出力等か
ら半透明体２の真温度を演算する演算手段である。
ここで測定原理は次のようである。
半透明体２の温度を１２表面の反射率をρｌ、裏面の反
射率をρ２．透過率を１とし、鏡３の温度を＋１Ｉｏ９
反射率をｐｏ、壁面１ａの温度をＴｗ、放射率をｔｗと
し、半透明体２．鏡３．壁面１ａからの放射エネルギー
をＥ（Ｔ）、 Ｅ（Ｔｏ）、 Ｅ（Ｔｗ）、放射温度計
５の受光する放射エネルギーをＢ（Ｓ）とすれば、半透
明体２と鏡３との間の多重反射を考慮して次式が成り立
つ。
射率をρ２．透過率を１とし、鏡３の温度を＋１Ｉｏ９
反射率をｐｏ、壁面１ａの温度をＴｗ、放射率をｔｗと
し、半透明体２．鏡３．壁面１ａからの放射エネルギー
をＥ（Ｔ）、 Ｅ（Ｔｏ）、 Ｅ（Ｔｗ）、放射温度計
５の受光する放射エネルギーをＢ（Ｓ）とすれば、半透
明体２と鏡３との間の多重反射を考慮して次式が成り立
つ。
＝（１−α−β）Ｅ（Ｔ）＋ｔｗαＥ（Ｔｗ）＋βＥ
（Ｔｏ ） −・（１）ここで。
（Ｔｏ ） −・（１）ここで。
である。
つまり、（１）式において、右辺第１項、第２項。
第３項は、それぞれ、熱放射の半透明体２から。
壁面１ａから、背面の鏡３からの寄与分で、その係数１
−α−β、α、βは寄与率を示す。
−α−β、α、βは寄与率を示す。
（１）式よりＥ（Ｔ）をめれば次式となる。
また、ｐｌ＝ｐ２＝０．２． ｒ＝０．４とし、１−α
−β、α、βのρＯに対する寄与率は第２図のようにな
る。つまり、鏡３の反射率ρ０が十分大きく、その温度
＋１１ｏが半透明体２の温度Ｔよりも十分小さければ（
ρＯ≧ｏ、 ９ ＋ １ｏ （Ｔ ） 、第３式右辺第
３項は無視でき２次式となる。
−β、α、βのρＯに対する寄与率は第２図のようにな
る。つまり、鏡３の反射率ρ０が十分大きく、その温度
＋１１ｏが半透明体２の温度Ｔよりも十分小さければ（
ρＯ≧ｏ、 ９ ＋ １ｏ （Ｔ ） 、第３式右辺第
３項は無視でき２次式となる。
式においてｔｗ’：ｙｌとおいてよい。
このように、放射温置針５の出力Ｅ（Ｓ）を、（３）。
（４）式に従って補正を行えば透明体２の真温度Ｔがま
る。
る。
第１図の装置の動作は次の通りである。
対車ｔｗ等を演算手段６に設定値として入力する。
次に、温度測定手段４の出力Ｔｗを演算手段６に入力し
てＥ （’ｌ’ｗ ）に換算するとともに、演算手段６
は。
てＥ （’ｌ’ｗ ）に換算するとともに、演算手段６
は。
放射温度計５の透明体３からの放射エネルギーＥ（Ｓ）
に相当する出力に、 Ｅ（Ｔｗ）、α、β等の定数に基
いて（４）式のような補正演算を行ってＥ（Ｔ）をめ。
に相当する出力に、 Ｅ（Ｔｗ）、α、β等の定数に基
いて（４）式のような補正演算を行ってＥ（Ｔ）をめ。
これより透明体２の真温度Ｔを演算してめることができ
る。
る。
なお、鏡３の温度ＴＯが無視できない場合は、その温度
ＴＯを他の温度測定手段で測定して演算手段６によりＥ
（Ｔｏ）に換算し、（３）式のような演算を行えばよい
。また、ｔｗ→１とおければ、 （３）、 （４）式は
。
ＴＯを他の温度測定手段で測定して演算手段６によりＥ
（Ｔｏ）に換算し、（３）式のような演算を行えばよい
。また、ｔｗ→１とおければ、 （３）、 （４）式は
。
簡略化できる。また、演算手段６等は、マイクロコンピ
ュータ等で構成してもよい。
ュータ等で構成してもよい。
（５）発明の要約
以上述べたように、この発明は、す憫令セ→今−ｆｔｒ
ｆ−半透明体の背面に鏡を設け、放射温度針の半透明体
からの放射エネルギー出力を、壁面温度測定手段の出力
、半透明体の反射率、透過率、鏡の反射率等で演算手段
により補正し、透明体の真温度を測定するようにした温
度測定装置である。
ｆ−半透明体の背面に鏡を設け、放射温度針の半透明体
からの放射エネルギー出力を、壁面温度測定手段の出力
、半透明体の反射率、透過率、鏡の反射率等で演算手段
により補正し、透明体の真温度を測定するようにした温
度測定装置である。
（６）発明の効果
半透明体の背面に鏡を設けることにより、半透明体のみ
かけの放射率を高め、背面からの熱放射の影響を除去し
、また、壁面からの熱放射の影響も補正して除去するよ
うにしているので、簡単な構成で半透明体の真温度を高
精度に測定することができる。特に、特定の吸収帯がな
く、低温測定の場合に有効で、半透明体全般の温度測定
に好適で、実用的効果が大きい。
かけの放射率を高め、背面からの熱放射の影響を除去し
、また、壁面からの熱放射の影響も補正して除去するよ
うにしているので、簡単な構成で半透明体の真温度を高
精度に測定することができる。特に、特定の吸収帯がな
く、低温測定の場合に有効で、半透明体全般の温度測定
に好適で、実用的効果が大きい。
第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明図、第２
図は特性説明図である。 ｌ・・・壁、２・・・半透明体、３・・・鏡、４・・・
温度測定手段、５・・・放射温度計、６・・・演算手段
特許出願人 株式会社 千野製作所
図は特性説明図である。 ｌ・・・壁、２・・・半透明体、３・・・鏡、４・・・
温度測定手段、５・・・放射温度計、６・・・演算手段
特許出願人 株式会社 千野製作所
Claims (1)
- １、半透明体の背面に設けられた鋭と、壁面温度を測定
する温度測定手段と、前記半透明体からの放射エネルギ
ーを受光する放射温度計と、この、放射温度計の出力を
、前記温度測定手段の出力および前記半透明体の反射率
、透過率、前記鏡の反射率に基いて補正を行い、前記半
透明体の温度を演算する演算手段とを備えたことを特徴
とする温度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58184915A JPS6076630A (ja) | 1983-10-03 | 1983-10-03 | 温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58184915A JPS6076630A (ja) | 1983-10-03 | 1983-10-03 | 温度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6076630A true JPS6076630A (ja) | 1985-05-01 |
| JPH0465329B2 JPH0465329B2 (ja) | 1992-10-19 |
Family
ID=16161554
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58184915A Granted JPS6076630A (ja) | 1983-10-03 | 1983-10-03 | 温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6076630A (ja) |
-
1983
- 1983-10-03 JP JP58184915A patent/JPS6076630A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0465329B2 (ja) | 1992-10-19 |
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