JPS6077473A - 半導体発光素子およびその製造方法 - Google Patents
半導体発光素子およびその製造方法Info
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- JPS6077473A JPS6077473A JP58186087A JP18608783A JPS6077473A JP S6077473 A JPS6077473 A JP S6077473A JP 58186087 A JP58186087 A JP 58186087A JP 18608783 A JP18608783 A JP 18608783A JP S6077473 A JPS6077473 A JP S6077473A
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- Japan
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- layer
- light emitting
- type
- referred
- emitting device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/81—Bodies
- H10H20/814—Bodies having reflecting means, e.g. semiconductor Bragg reflectors
Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、11(またはp ) −G a A s基板
上に、必要に応じてn(*たはp)−AlxGa+−z
As層(第1クラッド層という)と、AlyGa、−y
As層(活性層という)と、1〕(またはn) Alz
Ga、−zAs層(第2クラッド層という)とを形成し
てなる半導体発光素子およびその製造方法に関する。
上に、必要に応じてn(*たはp)−AlxGa+−z
As層(第1クラッド層という)と、AlyGa、−y
As層(活性層という)と、1〕(またはn) Alz
Ga、−zAs層(第2クラッド層という)とを形成し
てなる半導体発光素子およびその製造方法に関する。
第1図は、従来例の半導体発光素子の構造断面図である
。+51図において、符号1は11(またはp)−G
a A s基板、2は11(または1+) −A 1z
Gat−zAs層(第1クランド層という)、3はへ1
pGa1−pAs層(活性層という)、4は、1)(ま
たはn)−AlqGal−qAs層(第2クラッド層と
いう)、5は1)責またはn+)−GaAs層、6はT
i層、7はAu層、8はAuGeJflである。このよ
うな半導体発光素子は、高たはp)−GaAs基板を用
いているために大部分の発光光線は、この基板に吸収さ
れ、このため外部量子効率が低かった。
。+51図において、符号1は11(またはp)−G
a A s基板、2は11(または1+) −A 1z
Gat−zAs層(第1クランド層という)、3はへ1
pGa1−pAs層(活性層という)、4は、1)(ま
たはn)−AlqGal−qAs層(第2クラッド層と
いう)、5は1)責またはn+)−GaAs層、6はT
i層、7はAu層、8はAuGeJflである。このよ
うな半導体発光素子は、高たはp)−GaAs基板を用
いているために大部分の発光光線は、この基板に吸収さ
れ、このため外部量子効率が低かった。
本発明は、発光光線が前記基板に吸収されず、高輝度発
光素子として高い外部量子効率が得られるようlこする
ことをを目的とする。
光素子として高い外部量子効率が得られるようlこする
ことをを目的とする。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。第2図はこの実施例の構造断面図であり、第1図
と対応する部分には同一の符号を付す。第2図において
符号1は++(またはp)−GaAs基板、2は++(
またはp) −AlzGa、−zAs層(第1クラッド
層という)である。3はAlpGa+−pAs層(活性
層という、ただし、p<z、)、4は1)(またはn)
−AlqGal−qAs層(第2クラッド層という、た
だしp<q、 p+q< 1 )、5は1)÷(または
n+)−GaAs層、6はT i層、7はAu層、8は
AuGe層である。
する。第2図はこの実施例の構造断面図であり、第1図
と対応する部分には同一の符号を付す。第2図において
符号1は++(またはp)−GaAs基板、2は++(
またはp) −AlzGa、−zAs層(第1クラッド
層という)である。3はAlpGa+−pAs層(活性
層という、ただし、p<z、)、4は1)(またはn)
−AlqGal−qAs層(第2クラッド層という、た
だしp<q、 p+q< 1 )、5は1)÷(または
n+)−GaAs層、6はT i層、7はAu層、8は
AuGe層である。
9は、前記11(またはp) C;aAs基板1と活性
層3との間に、n(またはp) −A 1xGa1−x
As層91と、口(またはp)−AlxGa1−yAs
層92(ただし、x、y<1、X%y、×≧1〕、y≧
p)とを交互に多層積層されてなる反射膜層である。こ
の反射膜層9を構成する各層91.92のそれぞれの膜
厚はλ/ 4 n(ただし、λは中心発光波長、++は
屈折率)に設定される。A1の組成が互いに異なり、か
つ膜厚がλ/411に設定された層がこのように多数積
層されると中心発光波長λを中心とした一定域の波長が
選択的に反射される。したがってこのような反射膜層9
を有する半導体発光素子では前記基板1でその発光光線
は吸収されなくなり、外部量子効率が向上し、非常に高
輝度で発光させることがでとる。第3図は、縦軸に反射
率を、横軸に波長をそれぞれとり、AlxGa、xAs
層における組成をX二0.35(屈折率++1=3.6
)、膜厚450オングストロームと、x=0.7(屈折
率n2=3.3)、膜厚490オングストロームの合計
49層を積層したと外の波長に刻する反射率を示す図で
ある。
層3との間に、n(またはp) −A 1xGa1−x
As層91と、口(またはp)−AlxGa1−yAs
層92(ただし、x、y<1、X%y、×≧1〕、y≧
p)とを交互に多層積層されてなる反射膜層である。こ
の反射膜層9を構成する各層91.92のそれぞれの膜
厚はλ/ 4 n(ただし、λは中心発光波長、++は
屈折率)に設定される。A1の組成が互いに異なり、か
つ膜厚がλ/411に設定された層がこのように多数積
層されると中心発光波長λを中心とした一定域の波長が
選択的に反射される。したがってこのような反射膜層9
を有する半導体発光素子では前記基板1でその発光光線
は吸収されなくなり、外部量子効率が向上し、非常に高
輝度で発光させることがでとる。第3図は、縦軸に反射
率を、横軸に波長をそれぞれとり、AlxGa、xAs
層における組成をX二0.35(屈折率++1=3.6
)、膜厚450オングストロームと、x=0.7(屈折
率n2=3.3)、膜厚490オングストロームの合計
49層を積層したと外の波長に刻する反射率を示す図で
ある。
第3図からあきらかなように波長λか663n+nのと
きに反射率が94%程度になる。このように、この実施
例によれば非常に高輝度の半導体発光素子が得られる。
きに反射率が94%程度になる。このように、この実施
例によれば非常に高輝度の半導体発光素子が得られる。
以上のように本発明によれば11(またはp)7Gaノ
\S基板上に、11(またはp)−AlzGa、−zA
s層(第1クラッド層という)と、AlpGa+−pA
s層(活性層という)と、1〕(またはn)−AlxG
a1−qAs層(第2クラッド層という)とが形成され
る半導体発光素子において、前記第1クラッド層内に、
++(またはp)−AlxGa1−xAs層と、11(
またはp)−AlyGa1−yAs層(ただしs l)
+Q’+X+V+z< 1 、 p<q、 x≠y。
\S基板上に、11(またはp)−AlzGa、−zA
s層(第1クラッド層という)と、AlpGa+−pA
s層(活性層という)と、1〕(またはn)−AlxG
a1−qAs層(第2クラッド層という)とが形成され
る半導体発光素子において、前記第1クラッド層内に、
++(またはp)−AlxGa1−xAs層と、11(
またはp)−AlyGa1−yAs層(ただしs l)
+Q’+X+V+z< 1 、 p<q、 x≠y。
p<z、x≧p、 y≧1))とを交互に多層積層して
なる反射膜層を形成したので、発光光線が前記基板に吸
収されず、高輝度発光素子として高い外部量子効率が得
られる
なる反射膜層を形成したので、発光光線が前記基板に吸
収されず、高輝度発光素子として高い外部量子効率が得
られる
第1図は従来例の構造断面図、第2図は本発明の実施例
の構造断面図、第3図は前記実施例による反射膜の波長
に対する反射率を示す図である。 1、、、n(またはp)−GaAs基板、2.、、n(
ます+t++)−八I+ρ+ −^−1a / IdV
i /−二le 限1 +’11./ンドープまたは
1)またはn−AlpGa+−pAs層(活性層)、4
. 、 、 p(またはn) −A 1qGa+−qA
S層(第2クラッド層)、50.、I]+(またはII
+)−G a A S層、6.、、Ti層、7.、、A
u層、8゜、、AuGe層、 出願人 ローム株式会社 代理人 弁理士 岡口]和秀
の構造断面図、第3図は前記実施例による反射膜の波長
に対する反射率を示す図である。 1、、、n(またはp)−GaAs基板、2.、、n(
ます+t++)−八I+ρ+ −^−1a / IdV
i /−二le 限1 +’11./ンドープまたは
1)またはn−AlpGa+−pAs層(活性層)、4
. 、 、 p(またはn) −A 1qGa+−qA
S層(第2クラッド層)、50.、I]+(またはII
+)−G a A S層、6.、、Ti層、7.、、A
u層、8゜、、AuGe層、 出願人 ローム株式会社 代理人 弁理士 岡口]和秀
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 AlzGal−zAs層(第1クラッド層という)と、
AlpGal−pAs層(活性層という)と、p(また
は11)−AIqGa+−qAs/i(第2クラッド層
という)とが形成される半導体発光素子において、曲記
第1クラッド層内に、11(またはp) −A 1xG
al−zAs層と、口(またはp)−A 1yGa1−
yAs層(ただし、I)+Q+x+y17.<層積層し
てなる反射膜層を形成してなる半導体発光素子。 pcal−pAs層(活性層という)と、I)(または
n)−AIqGa+−qAs層(第2クラッド層という
)とを形成して半導体発光素子を製造する方法において
、前As層と、n(またはp)−AlyGa+−yAs
層(ただし、DIQIXIFI2< 1 % +1<Q
% IT<Z+X?’y、 X≧p、y≧p)とを交互
に多層積層して反射膜層を形成することにより半導体発
光素子を製造する方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18608783A JPH0669106B2 (ja) | 1983-10-04 | 1983-10-04 | Led素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18608783A JPH0669106B2 (ja) | 1983-10-04 | 1983-10-04 | Led素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6077473A true JPS6077473A (ja) | 1985-05-02 |
| JPH0669106B2 JPH0669106B2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=16182138
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18608783A Expired - Fee Related JPH0669106B2 (ja) | 1983-10-04 | 1983-10-04 | Led素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0669106B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0220076A (ja) * | 1988-07-08 | 1990-01-23 | Mitsubishi Kasei Corp | 化合物半導体発光装置 |
| JPH03163882A (ja) * | 1989-11-22 | 1991-07-15 | Daido Steel Co Ltd | 光反射層を備えた発光ダイオード |
| US5132750A (en) * | 1989-11-22 | 1992-07-21 | Daido Tokushuko Kabushiki Kaisha | Light-emitting diode having light reflecting layer |
| US5537433A (en) * | 1993-07-22 | 1996-07-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor light emitter |
| EP0724300A3 (en) * | 1990-11-02 | 1996-12-27 | Norikatsu Yamauchi | Semiconductor device having a reflective layer |
-
1983
- 1983-10-04 JP JP18608783A patent/JPH0669106B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0220076A (ja) * | 1988-07-08 | 1990-01-23 | Mitsubishi Kasei Corp | 化合物半導体発光装置 |
| JPH03163882A (ja) * | 1989-11-22 | 1991-07-15 | Daido Steel Co Ltd | 光反射層を備えた発光ダイオード |
| US5132750A (en) * | 1989-11-22 | 1992-07-21 | Daido Tokushuko Kabushiki Kaisha | Light-emitting diode having light reflecting layer |
| EP0724300A3 (en) * | 1990-11-02 | 1996-12-27 | Norikatsu Yamauchi | Semiconductor device having a reflective layer |
| US5537433A (en) * | 1993-07-22 | 1996-07-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor light emitter |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0669106B2 (ja) | 1994-08-31 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |