JPS6080319A - タツチスイツチ装置 - Google Patents
タツチスイツチ装置Info
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- JPS6080319A JPS6080319A JP18831883A JP18831883A JPS6080319A JP S6080319 A JPS6080319 A JP S6080319A JP 18831883 A JP18831883 A JP 18831883A JP 18831883 A JP18831883 A JP 18831883A JP S6080319 A JPS6080319 A JP S6080319A
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- signal
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-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04G—ELECTRONIC TIME-PIECES
- G04G21/00—Input or output devices integrated in time-pieces
- G04G21/08—Touch switches specially adapted for time-pieces
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/96—Touch switches
- H03K17/962—Capacitive touch switches
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Switches That Are Operated By Magnetic Or Electric Fields (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、電子式腕時計、小型電子式計算機の外部入
力手段として用いられるタッチスイッチ装置に関する。
力手段として用いられるタッチスイッチ装置に関する。
近年、計算機能付き電子式腕時計には、その外部入力手
段としてタッチ電極に人体が触れた際の容量成分の変化
量を検出してスイッチングを行うタッチスイッチが用い
られている。しかしながら、この種のものは、タッチ検
出回路が正常に動作するか、或いはタッチ電極が断線し
てい々いか等を検査するため、実際に試験員が人為的に
操作してテストを行なっていたために、極めて信頼性が
低かった。
段としてタッチ電極に人体が触れた際の容量成分の変化
量を検出してスイッチングを行うタッチスイッチが用い
られている。しかしながら、この種のものは、タッチ検
出回路が正常に動作するか、或いはタッチ電極が断線し
てい々いか等を検査するため、実際に試験員が人為的に
操作してテストを行なっていたために、極めて信頼性が
低かった。
この発明は、上述した事情を背景になされたもので、そ
の目的とするところは、タッチ検出回路の動作チェック
やタッチ電極の断線チェック等を簡単かつ確実に行うこ
とができるタッチスイッチ装置を提供することにある。
の目的とするところは、タッチ検出回路の動作チェック
やタッチ電極の断線チェック等を簡単かつ確実に行うこ
とができるタッチスイッチ装置を提供することにある。
この発明は、上述した目的を達成するために、容量検出
型のタッチスイッチ装置において、タッチ電極の容量成
分を表示する手段を設けたことを要旨とするものである
。
型のタッチスイッチ装置において、タッチ電極の容量成
分を表示する手段を設けたことを要旨とするものである
。
以下、この発明を図面に示す一実施例に基づいて具体的
に説明する。なお、本実施例は、計算機能付き電子式腕
時計に後述する容量検出型のタッチスイッチ装置および
文字認識装置を組み込んだものに適用した例を示してい
る。タッチスイッチ装置は、第1図に示す如き、時計ケ
ース1の前面に圧入固定された透明な表面ガラス・2;
の上面に、更に透明なタッチ電極3(T、〜T、)がX
Y座標系に沿って3×3のマトリックス状に配設され、
この9枚のタッチ電極は、例えば、11×11=121
の座標位置を眠気的々処理によって形成される。而して
、所望の数字等の文字パターンを手書き入力するために
、指などの人体をタッチ電極に触れると、そのときの容
量成分の変化量が検出されて座標位置が入力され、それ
によって文字パターンC本実施例にあっては数字および
四則演算記号)の入力が行なわれる。この種の技術は、
本出願人が既に提案した特許出願(特願昭55−356
60、発明の名称:タッチスイッチ装置)を利用すれば
よい。なお、タッチ電極T、〜T0は、説明の便宜上、
第2図に示す如く、1o進表現による番号「1」〜「9
」を示しておく。
に説明する。なお、本実施例は、計算機能付き電子式腕
時計に後述する容量検出型のタッチスイッチ装置および
文字認識装置を組み込んだものに適用した例を示してい
る。タッチスイッチ装置は、第1図に示す如き、時計ケ
ース1の前面に圧入固定された透明な表面ガラス・2;
の上面に、更に透明なタッチ電極3(T、〜T、)がX
Y座標系に沿って3×3のマトリックス状に配設され、
この9枚のタッチ電極は、例えば、11×11=121
の座標位置を眠気的々処理によって形成される。而して
、所望の数字等の文字パターンを手書き入力するために
、指などの人体をタッチ電極に触れると、そのときの容
量成分の変化量が検出されて座標位置が入力され、それ
によって文字パターンC本実施例にあっては数字および
四則演算記号)の入力が行なわれる。この種の技術は、
本出願人が既に提案した特許出願(特願昭55−356
60、発明の名称:タッチスイッチ装置)を利用すれば
よい。なお、タッチ電極T、〜T0は、説明の便宜上、
第2図に示す如く、1o進表現による番号「1」〜「9
」を示しておく。
また、本実施例においては、表面ガラス2の裏面下にお
いて、その上方には液晶表示装置等からなるデジタル表
示部4が配設され、また下方には機械式の指針表示部5
が配設されている。すなわち、本実施例は、タッチスイ
ッチ装置を構成するタッチ電極の下方にデジタル表示部
4および指針表示部5を配設した構成であり、このよう
な積層構造により、腕時計の小型化を可能としたもので
ある。また、時計ケース1の一側部には、各種のモード
を切換えるモードスイッチSI、S1、また、他側部に
は、指針表示部5の指針位置を修正するリューズSRが
設けられている。
いて、その上方には液晶表示装置等からなるデジタル表
示部4が配設され、また下方には機械式の指針表示部5
が配設されている。すなわち、本実施例は、タッチスイ
ッチ装置を構成するタッチ電極の下方にデジタル表示部
4および指針表示部5を配設した構成であり、このよう
な積層構造により、腕時計の小型化を可能としたもので
ある。また、時計ケース1の一側部には、各種のモード
を切換えるモードスイッチSI、S1、また、他側部に
は、指針表示部5の指針位置を修正するリューズSRが
設けられている。
デジタル表示部4は、第3図に示す如く、8桁までの数
字をデジタル表示可能な数字表示体4a。
字をデジタル表示可能な数字表示体4a。
四則演算の[÷J、rXJ、「−」、「+」を表わすフ
ァンクション表示体4b等を有する構成となっている。
ァンクション表示体4b等を有する構成となっている。
なお、数字表示体4aけ、時刻データ、計算結果データ
等を表示する他、特に、後述するタッチ電極の検査結果
データ等を表示するものである。
等を表示する他、特に、後述するタッチ電極の検査結果
データ等を表示するものである。
次に、第4図を参照して計算機能付電子腕時計の全体の
回路構成について説明する。モードスイッチS、を操作
すると、ワンショット回路11からパルス信号が出力さ
れ、トリガクリップフロップ(T=Fp )12の出力
状態を反転させる。このT−FF12のQおよびQ出力
は、対応するアントゲ−)13.14を介してモード指
定信号X1Yとして送出される。この場合、信号Xは時
計モード、信号Yは計算機モードを指定する信号である
。また、モードスイッチS、を操作すると、ワンショッ
ト回路15からパルス信号が出力され、T−FF16の
出力状態を反転させる。このT−FFI 6のQ出力は
、モード指定信号Zとして送出される。この場合、信号
Zは、タッチスイッチ装置の検査を行うチェックモード
を指定する。なお、上記チェックモードにおいて、モー
ドスイッチ”S2を操作してT−FF16を反転させ、
チェックモードを解除すると、T−FF16の回出力に
よりアンドゲート13.14が夫々開成され、T−FF
12の出力に応じて時計モードあるいけ計算機モードに
設定されるようになっている。また、T−FF16のQ
出力は、アンドゲート17に開閉信号として入力されて
いる。而して、時計モードあるいは計算機モードの設定
状態において、換言すれば、T−FF16の算出力が1
″のとき、モードスイッチS、が操作されると、ワンシ
ョット回路15の出力がアンドゲート17を介してSR
型ラフリップフロップSR−FF)18のセット端子S
に入力される。5R−FF18は、モード設定回路で、
そのQ出力が1″のとき、セットモードに設定するもの
で、このセットモードは、上述した9枚のタッチ電極の
浮遊容量成分(タッチ電極配線容量及び0MO8ICゲ
ート容量等の浮遊容量)を後述するメモリに各タッチ電
極に対応させて書き込む処理を実行するものである。而
して、5R−FF18のQ出力は、タッチ入力部19お
よび文字認識制御gls20に信号Sとして夫々入力さ
れる。なお、5R−FF18は、最後の9枚目のタッチ
電極に対する浮遊容量成分の書き込みが終了すると、文
字認識制御部20の出力でリセットされるようになって
いる。
回路構成について説明する。モードスイッチS、を操作
すると、ワンショット回路11からパルス信号が出力さ
れ、トリガクリップフロップ(T=Fp )12の出力
状態を反転させる。このT−FF12のQおよびQ出力
は、対応するアントゲ−)13.14を介してモード指
定信号X1Yとして送出される。この場合、信号Xは時
計モード、信号Yは計算機モードを指定する信号である
。また、モードスイッチS、を操作すると、ワンショッ
ト回路15からパルス信号が出力され、T−FF16の
出力状態を反転させる。このT−FFI 6のQ出力は
、モード指定信号Zとして送出される。この場合、信号
Zは、タッチスイッチ装置の検査を行うチェックモード
を指定する。なお、上記チェックモードにおいて、モー
ドスイッチ”S2を操作してT−FF16を反転させ、
チェックモードを解除すると、T−FF16の回出力に
よりアンドゲート13.14が夫々開成され、T−FF
12の出力に応じて時計モードあるいけ計算機モードに
設定されるようになっている。また、T−FF16のQ
出力は、アンドゲート17に開閉信号として入力されて
いる。而して、時計モードあるいは計算機モードの設定
状態において、換言すれば、T−FF16の算出力が1
″のとき、モードスイッチS、が操作されると、ワンシ
ョット回路15の出力がアンドゲート17を介してSR
型ラフリップフロップSR−FF)18のセット端子S
に入力される。5R−FF18は、モード設定回路で、
そのQ出力が1″のとき、セットモードに設定するもの
で、このセットモードは、上述した9枚のタッチ電極の
浮遊容量成分(タッチ電極配線容量及び0MO8ICゲ
ート容量等の浮遊容量)を後述するメモリに各タッチ電
極に対応させて書き込む処理を実行するものである。而
して、5R−FF18のQ出力は、タッチ入力部19お
よび文字認識制御gls20に信号Sとして夫々入力さ
れる。なお、5R−FF18は、最後の9枚目のタッチ
電極に対する浮遊容量成分の書き込みが終了すると、文
字認識制御部20の出力でリセットされるようになって
いる。
タッチ入力M19は、9枚のタッチ電極を順次センスす
るための「11〜「9」のデータWが文字認識制御部2
0から順次入力される。また、タッチ入力部11t、入
力される上記各モード指定信号X、Y、zVc2じた動
作を実行すると共に、文字認識制御部2oから入力され
る例えば32Hzの矩形波信号A、 1024Hzのク
ロックパルスダにしたがってタッチ入力処理を実行する
。而して、タッチ入力部19ば、タッチ入力処理によっ
て得られたデータMを文字認識制御部2oに出力する。
るための「11〜「9」のデータWが文字認識制御部2
0から順次入力される。また、タッチ入力部11t、入
力される上記各モード指定信号X、Y、zVc2じた動
作を実行すると共に、文字認識制御部2oから入力され
る例えば32Hzの矩形波信号A、 1024Hzのク
ロックパルスダにしたがってタッチ入力処理を実行する
。而して、タッチ入力部19ば、タッチ入力処理によっ
て得られたデータMを文字認識制御部2oに出力する。
文字認識制御部2oは、入力されるデータMにしたがっ
てタッチ電極の座標位置を検出し、そして検出された各
座標位置をら入力文字パターンをRlOM(リードオン
リメモ1月21の内容にしたがって文字認識するもので
ある。この種の技術は、本出願人が既に提案した特許出
願(特願昭57−232559、発明の名称:文字認識
装置)を利用すればよい。ROM21には、数字「o」
〜「9」、四則演算のファンクション記号なトニ対応す
る各標準文字パターンのベクトル列(後述する)がデー
タとして記憶されており、文字認識制御部20は、上記
標準ベクトル列と入力文字パターンのベクトル列(後述
する)とを比較することにより文字認識を行う。なお、
文字認識制御部20には上記各モード指定信号X、Y、
Zが入力されている。
てタッチ電極の座標位置を検出し、そして検出された各
座標位置をら入力文字パターンをRlOM(リードオン
リメモ1月21の内容にしたがって文字認識するもので
ある。この種の技術は、本出願人が既に提案した特許出
願(特願昭57−232559、発明の名称:文字認識
装置)を利用すればよい。ROM21には、数字「o」
〜「9」、四則演算のファンクション記号なトニ対応す
る各標準文字パターンのベクトル列(後述する)がデー
タとして記憶されており、文字認識制御部20は、上記
標準ベクトル列と入力文字パターンのベクトル列(後述
する)とを比較することにより文字認識を行う。なお、
文字認識制御部20には上記各モード指定信号X、Y、
Zが入力されている。
而して、文字認識制御部20から出力される文字データ
は、時計モード指定信号Xにしたがって開成されるアン
ドゲート22を介して時計部23に入力され、また、計
算機モード指定信号Yにしたがって開成されるアンドゲ
ート24を介して計算機部25に入力される。この場合
、時計部23は入力文字データにしたがって時刻等の計
時データを修正し、また、計算機部25は、入力文字デ
ータにしたがって四則演算を実行する。而して、時計1
1s23および計算機部25の出力データは、表示切換
回路26に送られる。また、表示切換回路26には、タ
ッチ入力部19から出力されるタッチ電極等の検査結果
データN、、To、Txがオアゲート27を介して入力
されている。而して表示切換回路26は入力される各モ
ード指定信号XSY、Zにしたがって時計部23、計算
機部25、タッチ入力部19の出方データを切換出方し
、デジタル表示部4に択一的に表示させるものである。
は、時計モード指定信号Xにしたがって開成されるアン
ドゲート22を介して時計部23に入力され、また、計
算機モード指定信号Yにしたがって開成されるアンドゲ
ート24を介して計算機部25に入力される。この場合
、時計部23は入力文字データにしたがって時刻等の計
時データを修正し、また、計算機部25は、入力文字デ
ータにしたがって四則演算を実行する。而して、時計1
1s23および計算機部25の出力データは、表示切換
回路26に送られる。また、表示切換回路26には、タ
ッチ入力部19から出力されるタッチ電極等の検査結果
データN、、To、Txがオアゲート27を介して入力
されている。而して表示切換回路26は入力される各モ
ード指定信号XSY、Zにしたがって時計部23、計算
機部25、タッチ入力部19の出方データを切換出方し
、デジタル表示部4に択一的に表示させるものである。
次に、タッチ入力部19の構成を第5図を参照して詳述
する。なお、本実施例のタッチスイッチ装置は、時計ケ
ースが一方の電位で、この時計ケースと絶縁状態にある
タッチ電極T1〜T9を人体で接触することにより時計
ケース→人体→タッチ電極の電気通路に人体による接触
容量成分が形成されるものである。タッチ電極T、〜T
9け、対応するトランスミッションゲートG1〜G、の
入力側に接続されている。このトランスミッションゲー
トG1〜G、は、デコーダ31から時分割に順次出力さ
れる信号&、〜a、が対応するアンドゲートAN、〜A
N、を介して入力されることによりON、OFFされる
もので、夫々の出方側は一括接続された後、単一の抵抗
成分Rに接続されている。すなわち、トランスミッショ
ンゲートG、〜G0は、各タッチ電極T1〜T、の夫々
を単一の抵抗成分Rに時分割に接続させ、夫々のタッチ
電極と単一の抵抗成分Rとの直列回路を時分割に形成さ
せるものである。
する。なお、本実施例のタッチスイッチ装置は、時計ケ
ースが一方の電位で、この時計ケースと絶縁状態にある
タッチ電極T1〜T9を人体で接触することにより時計
ケース→人体→タッチ電極の電気通路に人体による接触
容量成分が形成されるものである。タッチ電極T、〜T
9け、対応するトランスミッションゲートG1〜G、の
入力側に接続されている。このトランスミッションゲー
トG1〜G、は、デコーダ31から時分割に順次出力さ
れる信号&、〜a、が対応するアンドゲートAN、〜A
N、を介して入力されることによりON、OFFされる
もので、夫々の出方側は一括接続された後、単一の抵抗
成分Rに接続されている。すなわち、トランスミッショ
ンゲートG、〜G0は、各タッチ電極T1〜T、の夫々
を単一の抵抗成分Rに時分割に接続させ、夫々のタッチ
電極と単一の抵抗成分Rとの直列回路を時分割に形成さ
せるものである。
デコーダ31には、データWがアンドゲート32、オア
ゲート33を順次介して入力され、またはカウンタ34
の計数値データがアンドゲート35、オアゲート33を
順次介して入力され、これによって、デコーダ31は、
時分割的にデコード出力a、〜a0を出力する。なお、
アンドゲート32は、各モード指定信号X、Y、Sが夫
々入力されているオアゲート36の出力に応じて開閉さ
れ、また、アンドゲート35はモード指定信号Zに応じ
て開閉される。カウンタ34は、そのプリセット端子に
信号Sがインバータ37を介して入力されており、信号
Sの立ち上がりに同期して10進数の1″がプリセット
されると共に、後述する信号θがその+1入力端子に与
えられる毎にその内容が+1ずつ歩進されるもので、そ
の計数値データは、タッチ電極番号に対応し、デジタル
表示されるデータNとして送出される。
ゲート33を順次介して入力され、またはカウンタ34
の計数値データがアンドゲート35、オアゲート33を
順次介して入力され、これによって、デコーダ31は、
時分割的にデコード出力a、〜a0を出力する。なお、
アンドゲート32は、各モード指定信号X、Y、Sが夫
々入力されているオアゲート36の出力に応じて開閉さ
れ、また、アンドゲート35はモード指定信号Zに応じ
て開閉される。カウンタ34は、そのプリセット端子に
信号Sがインバータ37を介して入力されており、信号
Sの立ち上がりに同期して10進数の1″がプリセット
されると共に、後述する信号θがその+1入力端子に与
えられる毎にその内容が+1ずつ歩進されるもので、そ
の計数値データは、タッチ電極番号に対応し、デジタル
表示されるデータNとして送出される。
他方、矩形波信号Aは、データWに同期する信号で、C
MOSインバータ38に入力される。CMOSインバー
タ38は、PチャンネルMO8)う/ラスタ39とNチ
ャンネルMO8)ランジスタ40とから成り、各トラン
ジスタ39.40は矩形波信号人にしたがってON、O
FF制御される。この場合、PチャンネルMO8)ラン
ジスタ39のソース側には、高電位VDD(論理値”1
つ、NチャンネルMO8)ランジスタ40のソース側に
は低電位V s s (論理値″’O”)が印加されて
いる。そして、各トランジスタ39.40のドレイン側
は夫々抵抗Rを介して接続されている。この抵抗RとP
チャンネルMO8)ランジスタ39の接続点から出力さ
れた信号は、インバータ41で反転され、信号Bとなる
。なお、信号Bは、タッチ電極に人体が接触しているか
否か、つ會りタッチ有無の判定に供される被判定信号で
ある◎被判定信号Bは、ナントゲート42に入力される
。ナントゲート42の他方の入力端子には、信号Sが入
力されており、信号Sが0″のときには、被判定信号B
に拘らず、ナントゲート42からは′1″の)出力が得
られ、アンドゲート43に入力される。アンドゲート4
3は、ナントゲート42の出力信号および入力される矩
形波信号Aが”1″のときに規制解除され、クロックツ
くルスグを出力してカウンタ44に入力する。このカウ
ンタ44は、矩形波信号Aの立ち上がりでリセットされ
、アンドゲート43の出力(クロックツ(ルスダ)の計
数動作を実行する。而して、カウンタ44の計数値は、
RAM(ランダム・アクセス・メモリ)45に入力され
、書き込まれる。
MOSインバータ38に入力される。CMOSインバー
タ38は、PチャンネルMO8)う/ラスタ39とNチ
ャンネルMO8)ランジスタ40とから成り、各トラン
ジスタ39.40は矩形波信号人にしたがってON、O
FF制御される。この場合、PチャンネルMO8)ラン
ジスタ39のソース側には、高電位VDD(論理値”1
つ、NチャンネルMO8)ランジスタ40のソース側に
は低電位V s s (論理値″’O”)が印加されて
いる。そして、各トランジスタ39.40のドレイン側
は夫々抵抗Rを介して接続されている。この抵抗RとP
チャンネルMO8)ランジスタ39の接続点から出力さ
れた信号は、インバータ41で反転され、信号Bとなる
。なお、信号Bは、タッチ電極に人体が接触しているか
否か、つ會りタッチ有無の判定に供される被判定信号で
ある◎被判定信号Bは、ナントゲート42に入力される
。ナントゲート42の他方の入力端子には、信号Sが入
力されており、信号Sが0″のときには、被判定信号B
に拘らず、ナントゲート42からは′1″の)出力が得
られ、アンドゲート43に入力される。アンドゲート4
3は、ナントゲート42の出力信号および入力される矩
形波信号Aが”1″のときに規制解除され、クロックツ
くルスグを出力してカウンタ44に入力する。このカウ
ンタ44は、矩形波信号Aの立ち上がりでリセットされ
、アンドゲート43の出力(クロックツ(ルスダ)の計
数動作を実行する。而して、カウンタ44の計数値は、
RAM(ランダム・アクセス・メモリ)45に入力され
、書き込まれる。
RAM45は、タッチ電極の数に対応するアドレス領域
を有し、各アドレス領域は、オアゲート33から出力さ
れるデータWあるいはカウンタ34の計数値に応じてア
ドレス指定され、指定アドレス領域にカウンタ44の内
容が書き込まれる。
を有し、各アドレス領域は、オアゲート33から出力さ
れるデータWあるいはカウンタ34の計数値に応じてア
ドレス指定され、指定アドレス領域にカウンタ44の内
容が書き込まれる。
この場合、RAM45の読み出し、書き込み動作は、信
号Sがリード/ライト信号R/Wとして入力されること
により実行される。而して、RAM45の指定アドレス
領域から読み出された内容量は、カウンタ44の内容n
と共に比較回路46に夫々入力される。
号Sがリード/ライト信号R/Wとして入力されること
により実行される。而して、RAM45の指定アドレス
領域から読み出された内容量は、カウンタ44の内容n
と共に比較回路46に夫々入力される。
比較回路46は、カウンタ44の内容がカウントアツプ
される毎に、入力データn〜mがn2mになったか否か
を検出し、そしてn≧m々る関係にあることを検出した
時に、論理値″1″の信号Cを出力する。この信号Cは
インバータ47で反転された後、カウンタ48にリセッ
ト信号として送られる。カウンタ48は、クロツクバル
スダを計数するもので、その計数値データは、ラッチ4
9に送られる。この場合、ラッチ49は、被判定信号B
の立ち上がりに同期してカウンタ48の内容を取り込む
もので、ラッチ49の内容は、e〉ε検出回路50に与
えられる。とのe〉ε検出回路50は、後で詳述するが
ラッチ49の内容eが一定値εを越えたか否かを検出す
ることにより、タッチ検出の安全性を確保するもので、
g〉εの検出によって1″の信号を出力し、アンドゲー
ト51には直接、アンドゲート52にはインバータ53
を介して入力する。アンドゲート51.52は、被判定
信号Bが遅延回路54を介して入力されることにより開
成され、そして、アンドゲート51の出力は、5R−F
F55のセット端子Sに1また、アンドゲート52の出
力は、5R−FF55のリセット端子Rに与えられる。
される毎に、入力データn〜mがn2mになったか否か
を検出し、そしてn≧m々る関係にあることを検出した
時に、論理値″1″の信号Cを出力する。この信号Cは
インバータ47で反転された後、カウンタ48にリセッ
ト信号として送られる。カウンタ48は、クロツクバル
スダを計数するもので、その計数値データは、ラッチ4
9に送られる。この場合、ラッチ49は、被判定信号B
の立ち上がりに同期してカウンタ48の内容を取り込む
もので、ラッチ49の内容は、e〉ε検出回路50に与
えられる。とのe〉ε検出回路50は、後で詳述するが
ラッチ49の内容eが一定値εを越えたか否かを検出す
ることにより、タッチ検出の安全性を確保するもので、
g〉εの検出によって1″の信号を出力し、アンドゲー
ト51には直接、アンドゲート52にはインバータ53
を介して入力する。アンドゲート51.52は、被判定
信号Bが遅延回路54を介して入力されることにより開
成され、そして、アンドゲート51の出力は、5R−F
F55のセット端子Sに1また、アンドゲート52の出
力は、5R−FF55のリセット端子Rに与えられる。
この5R−FF55は、タッチ有無判定回路で、そのQ
出力はタッチ有り、また互出力はタッチ無しに対応し、
そしてQ出力は、信号gとして送出され、また、互出力
はワンショット回路56に入力された後、遅延回路57
を介して信号eとして送出される。
出力はタッチ有り、また互出力はタッチ無しに対応し、
そしてQ出力は、信号gとして送出され、また、互出力
はワンショット回路56に入力された後、遅延回路57
を介して信号eとして送出される。
他方、CMOSインバータ38の出力は、インバータ4
1で反転された後、更にインノく一夕58で反転され、
アンドゲート59に入力される。このアンドゲート59
には更に、モード指定信号Zと共に信号gが入力され、
したがって、アンドゲート59は、チェックモードにお
いて、タッチ有りが検出されたときに、信号Bの立ち上
がり(インバータ58の立ち上がりに同期してHi g
hしペルの信号を出力し、ワンショット回路60に入
力される。ワンショット回路60は、アンドゲート59
の出力にしたがってパルス信号fを出力し、アンドゲー
ト61を開成させ、RAM45の出力データをアンドゲ
ート61を介してラッチ621C転送させる。これと同
時に、パルス信号fは、アンドゲート63を開成させ、
更にアンドゲート63の出力はアンドゲート64を開成
させ、ラッチ49の出力データVをアンドゲート64を
介してラッチ65に転送させる。ラッチ62および65
は信号eにしたがってその内容がクリアされるもので、
ラッチ65の出力Rは、比較回路66に入力され、ラッ
チ49の出力データ■と比較される。
1で反転された後、更にインノく一夕58で反転され、
アンドゲート59に入力される。このアンドゲート59
には更に、モード指定信号Zと共に信号gが入力され、
したがって、アンドゲート59は、チェックモードにお
いて、タッチ有りが検出されたときに、信号Bの立ち上
がり(インバータ58の立ち上がりに同期してHi g
hしペルの信号を出力し、ワンショット回路60に入
力される。ワンショット回路60は、アンドゲート59
の出力にしたがってパルス信号fを出力し、アンドゲー
ト61を開成させ、RAM45の出力データをアンドゲ
ート61を介してラッチ621C転送させる。これと同
時に、パルス信号fは、アンドゲート63を開成させ、
更にアンドゲート63の出力はアンドゲート64を開成
させ、ラッチ49の出力データVをアンドゲート64を
介してラッチ65に転送させる。ラッチ62および65
は信号eにしたがってその内容がクリアされるもので、
ラッチ65の出力Rは、比較回路66に入力され、ラッ
チ49の出力データ■と比較される。
而して、比較回路66は入力されるデータR,Vの大小
を比較し、V>Rなる関係の検出に伴って1″の信号を
出力し、アンドゲート63を開成させる。したがって、
ラッチ65には、信号gが′1″の間、換言すれば、タ
ッチ有り検出時に得られたラッチ49の出力データlの
最大値が記憶されることになる。
を比較し、V>Rなる関係の検出に伴って1″の信号を
出力し、アンドゲート63を開成させる。したがって、
ラッチ65には、信号gが′1″の間、換言すれば、タ
ッチ有り検出時に得られたラッチ49の出力データlの
最大値が記憶されることになる。
カお、ラッチ63の出力データは上述したデータT。と
じて、また、ラッチ65の出力データは、上述したデー
タTxとして送出される表示データである。他方、ラッ
チ49の出力データMは、文字認識制御部20に供給さ
れる。
じて、また、ラッチ65の出力データは、上述したデー
タTxとして送出される表示データである。他方、ラッ
チ49の出力データMは、文字認識制御部20に供給さ
れる。
次に、上記実施例の動作について説明する。先ず、上記
セットモード時におけるタッチ入力回路19の動作を第
6図に示すタイミングチャートを参照して説明する。セ
ットモードは、T−FFI6の穴出力が”1“、換言す
れば、時計モードあるいは計算機モードに設定されてい
る状態において、モードスイッチS、を1回操作する。
セットモード時におけるタッチ入力回路19の動作を第
6図に示すタイミングチャートを参照して説明する。セ
ットモードは、T−FFI6の穴出力が”1“、換言す
れば、時計モードあるいは計算機モードに設定されてい
る状態において、モードスイッチS、を1回操作する。
これにより、ワンショット回路15から出力が得られ、
アンドゲート17を介して送出されて5R−FF18を
セットする。このため、タッチ入力部19および文字認
識制御部20に夫々5R−FF13のセット出力である
信号Sが入力される。これによって、タッチ入力部19
および文字認識制御部20−はセットモードとして動作
するようになる。
アンドゲート17を介して送出されて5R−FF18を
セットする。このため、タッチ入力部19および文字認
識制御部20に夫々5R−FF13のセット出力である
信号Sが入力される。これによって、タッチ入力部19
および文字認識制御部20−はセットモードとして動作
するようになる。
すなわち、文字認識制御部20は、信号Sの入力に同期
してタッチ電極T1〜T0を順次センスするためのデー
タWを出力し、タッチ入力gA19に供給する。この場
合、タッチ入力部19には第6図に示す如く、データW
と共に矩形波信号Aおよびクロックバルスダが入力され
る。なお、データWは、第6図に示す如く、矩形波信号
Aと同期して出力される。而して、セットモードにおい
て、タッチ入力部19に供給されたデータWは、信号S
によって開成されるアンドゲート32を介してデコーダ
31に送られる。すなわち、セットモードにあってはデ
コーダ31には、データWが入力される。まず、データ
Wが「0」のときには、デコーダ31は、データWが「
0」の間、’Hi g hレベルの信号al(第6図参
照)を出力する。これによって、アンドゲートAN、は
、矩形波信号Aに同期して′1″の信号を出力するので
、トランスミッションゲートG、がONされ、このため
、タッチ電極T、とCMOSインバータ38との直列回
路が形成される。この結果、CMOSインバータ38の
出力の反転信号である被判定信号Bは、第6図に示す如
く、矩形波信号Aの立ち上がりに対して時間T。だけ、
その立ち上がり遅れることになる。この遅延時間T>は
、タッチ電極T、に対する浮遊容量成分に相当するもの
となる。而して、被判定信号Bは、ナントゲート42に
入力されるが、ナントゲート42の出力は、被判定信号
Bが立ち上がるまで61”となっている。いま、矩形波
信号Aが立ち上がると、カウンタ44の内容がリセット
されると共に、ナントゲート42の出力が1′″の間、
カウンタ44はクロツクパルスダの計数動作を実行して
いる。そして、被判定信号Bが第6図に示すように矩形
波信号Aが立ち上がってから時間T0だけ遅れて立ち上
がると、ナントゲート42の出力が1′となるので、カ
ウンタ44の計数動作が停止される。したがって、今の
場合にはカウンタ44は、タッチ電極T□の浮遊容量成
分に対するカウンタ値を得る。このカウント値けR,A
M45+c送られる。この際、RAM45は信号Sが′
1″のとき、つ壕り、セットモードのときにはデータの
書き込み可能な状態に設定されており、またデータWV
cしたがって先頭のアドレス領域が指定されているので
、上記カウント値はRAM45の先頭アドレス領域に書
き込まれることになる。
してタッチ電極T1〜T0を順次センスするためのデー
タWを出力し、タッチ入力gA19に供給する。この場
合、タッチ入力部19には第6図に示す如く、データW
と共に矩形波信号Aおよびクロックバルスダが入力され
る。なお、データWは、第6図に示す如く、矩形波信号
Aと同期して出力される。而して、セットモードにおい
て、タッチ入力部19に供給されたデータWは、信号S
によって開成されるアンドゲート32を介してデコーダ
31に送られる。すなわち、セットモードにあってはデ
コーダ31には、データWが入力される。まず、データ
Wが「0」のときには、デコーダ31は、データWが「
0」の間、’Hi g hレベルの信号al(第6図参
照)を出力する。これによって、アンドゲートAN、は
、矩形波信号Aに同期して′1″の信号を出力するので
、トランスミッションゲートG、がONされ、このため
、タッチ電極T、とCMOSインバータ38との直列回
路が形成される。この結果、CMOSインバータ38の
出力の反転信号である被判定信号Bは、第6図に示す如
く、矩形波信号Aの立ち上がりに対して時間T。だけ、
その立ち上がり遅れることになる。この遅延時間T>は
、タッチ電極T、に対する浮遊容量成分に相当するもの
となる。而して、被判定信号Bは、ナントゲート42に
入力されるが、ナントゲート42の出力は、被判定信号
Bが立ち上がるまで61”となっている。いま、矩形波
信号Aが立ち上がると、カウンタ44の内容がリセット
されると共に、ナントゲート42の出力が1′″の間、
カウンタ44はクロツクパルスダの計数動作を実行して
いる。そして、被判定信号Bが第6図に示すように矩形
波信号Aが立ち上がってから時間T0だけ遅れて立ち上
がると、ナントゲート42の出力が1′となるので、カ
ウンタ44の計数動作が停止される。したがって、今の
場合にはカウンタ44は、タッチ電極T□の浮遊容量成
分に対するカウンタ値を得る。このカウント値けR,A
M45+c送られる。この際、RAM45は信号Sが′
1″のとき、つ壕り、セットモードのときにはデータの
書き込み可能な状態に設定されており、またデータWV
cしたがって先頭のアドレス領域が指定されているので
、上記カウント値はRAM45の先頭アドレス領域に書
き込まれることになる。
次に、データWが「1」になると、上述と同様にしてタ
ッチ電極T、がセンスされると共に、タッチ電極T2に
対する浮遊容量成分のカウント値が1(A、M45の次
qドレス領域に書き込まれる。
ッチ電極T、がセンスされると共に、タッチ電極T2に
対する浮遊容量成分のカウント値が1(A、M45の次
qドレス領域に書き込まれる。
このようにしてタッチ電極が順次データWにしたがって
アドレス指定されることにより、RAM45には各タッ
チ電極に対する浮遊容量成分のカウント値が順次書き込
iれる。すなわち、RAM45に書き込まれたカウント
値は、各タッチ電極T、〜T、の浮遊容量成分の影響に
よる矩形波信号Aに対する被判定信号Bの遅れ時間T。
アドレス指定されることにより、RAM45には各タッ
チ電極に対する浮遊容量成分のカウント値が順次書き込
iれる。すなわち、RAM45に書き込まれたカウント
値は、各タッチ電極T、〜T、の浮遊容量成分の影響に
よる矩形波信号Aに対する被判定信号Bの遅れ時間T。
[夫々対応する値である。なお、RAM45に全てのタ
ッチ電極に対する書き込み処理が終了すると、文字認識
制御部20ば、5R−FFtsをリセットし、セットモ
ードを自動的に解除する。
ッチ電極に対する書き込み処理が終了すると、文字認識
制御部20ば、5R−FFtsをリセットし、セットモ
ードを自動的に解除する。
次に、上記手ニックモードでのタッチ入力部19の動作
を第7図に示すタイミングチャートを参照して説明する
。チェックモードは、時計モードあるいは計算機モード
において、モードスイッチS、を1回操作することによ
りT−FF16の出力状態を反転させ、そのT−FF1
6の互出力を1″とすることによりセットされる。而し
て、タッチ入力部19ば、上記セットモードが自動的に
解除されると、信号Sがそれと同時に立ち下がるので、
カウンタ34には信号Sの立ち下がり(インバータ37
の立ち−よがり)に同期して「1」がプリセットされる
。また、チェックモードにおいては、デコーダ31には
データWに代ってカウンタ34の内容が入力される。こ
のため、デコーダ31はまず、信号a、を出力してタッ
チ電極T1をセンスする。この結果、上述の場合と同様
にデコード出力&、によってトランスミッションゲート
G、がONされてタッチ電極T1とCMOSインバータ
38とが直列接続され、被判定信号Bは、タッチ電極T
、の浮遊容量成分に対応する時間T。
を第7図に示すタイミングチャートを参照して説明する
。チェックモードは、時計モードあるいは計算機モード
において、モードスイッチS、を1回操作することによ
りT−FF16の出力状態を反転させ、そのT−FF1
6の互出力を1″とすることによりセットされる。而し
て、タッチ入力部19ば、上記セットモードが自動的に
解除されると、信号Sがそれと同時に立ち下がるので、
カウンタ34には信号Sの立ち下がり(インバータ37
の立ち−よがり)に同期して「1」がプリセットされる
。また、チェックモードにおいては、デコーダ31には
データWに代ってカウンタ34の内容が入力される。こ
のため、デコーダ31はまず、信号a、を出力してタッ
チ電極T1をセンスする。この結果、上述の場合と同様
にデコード出力&、によってトランスミッションゲート
G、がONされてタッチ電極T1とCMOSインバータ
38とが直列接続され、被判定信号Bは、タッチ電極T
、の浮遊容量成分に対応する時間T。
だけ連れて立ち上がる(第7図参照)。他方、RAM4
5は、セットモードの解除によりデータの読み出し可能
状態に設定されると共に、カウンタ34の出力によりそ
の先頭アドレス領域が指定される。そのため比較回路4
6においては、カウンタ44の出力データnがRAM4
5の先頭アドレスから読み出されたデータmになった時
点、つまり、被判定信号Bの立ち上がった時点で”1″
の信号Cを出力する。この結果、カウンタ48はインバ
ータ47の反転信号に同期してクロックパルスゲを計数
し始め、そして、このカウンタ49の内容は、被判定信
号Bの立ち上がりに同期してラッチ49に読み込まれた
後、e〉ε検出回路50に供給される。ところで、浮遊
容量成分は環境の条件によって変化するため、浮遊容量
成分のふらつき、あるいはカウンタの計数誤差等を考慮
して上記εの値を2〜3に設定しておき、浮遊容量成分
をやや大きめの値とするためにg〉εの処理が実行され
る。すなわち、とのe〉εの処理は、タッチ有無の安全
性を考慮に入れたものである。而して、eの値がε以下
のときには、その検出回路50の出力は0”、したがっ
て、インバータ53の出力は1″となるので、アンドゲ
ート52の出力は、被判定信号Bが立ち上がってから所
定時間遅れた時点で′1′となり、5R−FF55のリ
セット端子Rに入力される。この場合、5R−FF55
は、セットモードで菟出力が”1”の状態にあり、した
がって、この時点では、5R−FF55の出力状態は、
第7図に示す如くセットモードの状態のままとなってい
る。す々わち、5R−FF55のQffl力は0″、■
出力は“1″にセットされているので、タッチ電極’I
”、 [対するタッチ無しが検出され、そして、この場
合には、第7図に示す如く、信号f、eの出力は得られ
ない。
5は、セットモードの解除によりデータの読み出し可能
状態に設定されると共に、カウンタ34の出力によりそ
の先頭アドレス領域が指定される。そのため比較回路4
6においては、カウンタ44の出力データnがRAM4
5の先頭アドレスから読み出されたデータmになった時
点、つまり、被判定信号Bの立ち上がった時点で”1″
の信号Cを出力する。この結果、カウンタ48はインバ
ータ47の反転信号に同期してクロックパルスゲを計数
し始め、そして、このカウンタ49の内容は、被判定信
号Bの立ち上がりに同期してラッチ49に読み込まれた
後、e〉ε検出回路50に供給される。ところで、浮遊
容量成分は環境の条件によって変化するため、浮遊容量
成分のふらつき、あるいはカウンタの計数誤差等を考慮
して上記εの値を2〜3に設定しておき、浮遊容量成分
をやや大きめの値とするためにg〉εの処理が実行され
る。すなわち、とのe〉εの処理は、タッチ有無の安全
性を考慮に入れたものである。而して、eの値がε以下
のときには、その検出回路50の出力は0”、したがっ
て、インバータ53の出力は1″となるので、アンドゲ
ート52の出力は、被判定信号Bが立ち上がってから所
定時間遅れた時点で′1′となり、5R−FF55のリ
セット端子Rに入力される。この場合、5R−FF55
は、セットモードで菟出力が”1”の状態にあり、した
がって、この時点では、5R−FF55の出力状態は、
第7図に示す如くセットモードの状態のままとなってい
る。す々わち、5R−FF55のQffl力は0″、■
出力は“1″にセットされているので、タッチ電極’I
”、 [対するタッチ無しが検出され、そして、この場
合には、第7図に示す如く、信号f、eの出力は得られ
ない。
而して、タッチ電極T、がセンスされている状態におい
て、タッチ電極T1をその状態を検査するためにタッチ
すると、被判定信号Bは、第7図に示す如く、矩形波信
号Aに対する遅れMは、浮遊容量成分と接触容器成分と
の合成容量に相当する時間T。+Txとなるので、比較
回路46から1′″の信号が出力される時点においては
被判定信号Bはまだ立ち上がっていない。したがって、
ラッチ49に書き込まれるカウンタ48の内容は、接触
容量成分の遅れ時間TXに相当するものとなる。而して
、この遅れ時間Txに相当するカウント値がe〉ε検出
回路50に供給されるので、この検出回路50の出力は
1”となり、したがって、アンドゲート51が開成され
る一方、アンドゲート52が閉成される。このため、5
R−FF55の出力状態は、第7図に示す如く、被判定
信号Bが立ち上がってから所定時間遅れて反転され、そ
のQ出力が″1″、Q出力がI′0″となる。これによ
ってタッチ電極T、に対するタッチ有りが検出され、信
号gが1″となる。これによって、チェックモードにお
いて、タッチ有りが検出されると、被判定信号Bの反転
信号の立ち上がりに同期して第7図に示す如く、パルス
信号でか得られ、アンドゲート61を規制解除する。こ
の結果、ラッチ62には、RAM45の出力データ、換
言すれば、タッチ電極T、の浮遊容量成分に対するカウ
ント値が書き込まれる。これと同時に、パルス信号fけ
、アンドゲート63に入力されるが、このアンドゲート
63は、比較回路66の出力にしたがって規制解除され
るので、比較回路66において、■〉Rなる関係が成立
している期間、アンドゲート64を開成させ、ラッチ4
9の出力データ(いま、タッチ電極T1の接触容量成分
に相当するカウント値が出力される)■がラッチ65に
書き込まれる。この場合、タッチ電極T、の接触容量成
分検出処理は、タッチ電極T、を接触している状態なら
ば、その間は、矩形波信号Aにしたがって何回も実行さ
れるが、これによって得られた複数の検出データのうち
、その最大値がラッチ65に書き込まれる。
て、タッチ電極T1をその状態を検査するためにタッチ
すると、被判定信号Bは、第7図に示す如く、矩形波信
号Aに対する遅れMは、浮遊容量成分と接触容器成分と
の合成容量に相当する時間T。+Txとなるので、比較
回路46から1′″の信号が出力される時点においては
被判定信号Bはまだ立ち上がっていない。したがって、
ラッチ49に書き込まれるカウンタ48の内容は、接触
容量成分の遅れ時間TXに相当するものとなる。而して
、この遅れ時間Txに相当するカウント値がe〉ε検出
回路50に供給されるので、この検出回路50の出力は
1”となり、したがって、アンドゲート51が開成され
る一方、アンドゲート52が閉成される。このため、5
R−FF55の出力状態は、第7図に示す如く、被判定
信号Bが立ち上がってから所定時間遅れて反転され、そ
のQ出力が″1″、Q出力がI′0″となる。これによ
ってタッチ電極T、に対するタッチ有りが検出され、信
号gが1″となる。これによって、チェックモードにお
いて、タッチ有りが検出されると、被判定信号Bの反転
信号の立ち上がりに同期して第7図に示す如く、パルス
信号でか得られ、アンドゲート61を規制解除する。こ
の結果、ラッチ62には、RAM45の出力データ、換
言すれば、タッチ電極T、の浮遊容量成分に対するカウ
ント値が書き込まれる。これと同時に、パルス信号fけ
、アンドゲート63に入力されるが、このアンドゲート
63は、比較回路66の出力にしたがって規制解除され
るので、比較回路66において、■〉Rなる関係が成立
している期間、アンドゲート64を開成させ、ラッチ4
9の出力データ(いま、タッチ電極T1の接触容量成分
に相当するカウント値が出力される)■がラッチ65に
書き込まれる。この場合、タッチ電極T、の接触容量成
分検出処理は、タッチ電極T、を接触している状態なら
ば、その間は、矩形波信号Aにしたがって何回も実行さ
れるが、これによって得られた複数の検出データのうち
、その最大値がラッチ65に書き込まれる。
而して、ラッチ62の内容(タッチ電極T1の浮遊容量
成分に対するカウント値)およびラッチ65の内容(タ
ッチ電極T、の最大接触容量成分に対するカウント値)
は、カウンタ34の内容(タッチ電極T、を特定する電
極番号「1」)と共に、表示切換回路26に送られる。
成分に対するカウント値)およびラッチ65の内容(タ
ッチ電極T、の最大接触容量成分に対するカウント値)
は、カウンタ34の内容(タッチ電極T、を特定する電
極番号「1」)と共に、表示切換回路26に送られる。
これによって、表示切換回路26はチェックモードにお
いて、上述した3種類のデータをデジタル表示部4に出
力するので、デジタル表示部4の表示内容は、例えば、
第8図に示す如くとなる。すなわち、デジタル表示部4
の2桁目に電極番号rIJ、3〜5桁目に浮遊容量成分
のカウント値「036」、6〜8桁目に接触容量成分の
カウント値「107」が夫々デジタル表示される。この
結果、タッチ電極T、′□゛の断線状態、そのタッチ入
力回路の動作状態あるいはタッチ感度等の状態を数字に
より定量的に検査することができ、その検査を簡単かつ
確実に行うことが可能となる。
いて、上述した3種類のデータをデジタル表示部4に出
力するので、デジタル表示部4の表示内容は、例えば、
第8図に示す如くとなる。すなわち、デジタル表示部4
の2桁目に電極番号rIJ、3〜5桁目に浮遊容量成分
のカウント値「036」、6〜8桁目に接触容量成分の
カウント値「107」が夫々デジタル表示される。この
結果、タッチ電極T、′□゛の断線状態、そのタッチ入
力回路の動作状態あるいはタッチ感度等の状態を数字に
より定量的に検査することができ、その検査を簡単かつ
確実に行うことが可能となる。
而して、タッチ電極T、に対するタッチが解除されると
、被判定信号Bの遅れ量は、浮遊容量成分に対する遅れ
T。のみとなり、したがって、e〉ε検出回路50の出
力は再び”1′となり、5R−FF55の出力状態が反
転(第7図参照)され、その結果、ワンショット回路5
6の出力が所定時間後、信号eとして出力される(第7
図参照)。これにより、電極番号を計数するカウンタ3
4の値が+1されて「2」となるので、タッチ電極T、
が次にセンスされる。また、これと同時にラッチ62お
よび65の内容がクリアされる。
、被判定信号Bの遅れ量は、浮遊容量成分に対する遅れ
T。のみとなり、したがって、e〉ε検出回路50の出
力は再び”1′となり、5R−FF55の出力状態が反
転(第7図参照)され、その結果、ワンショット回路5
6の出力が所定時間後、信号eとして出力される(第7
図参照)。これにより、電極番号を計数するカウンタ3
4の値が+1されて「2」となるので、タッチ電極T、
が次にセンスされる。また、これと同時にラッチ62お
よび65の内容がクリアされる。
このような動作がカウンタ34の内容にしたがって順次
実行される結果、チェックモードにおいては、タッチ電
極T1〜T、に対する検査データが順次デジタル表示さ
れることになる。
実行される結果、チェックモードにおいては、タッチ電
極T1〜T、に対する検査データが順次デジタル表示さ
れることになる。
万お、時計モードおよび計算機モードでのタッチ入力有
無の検出動作は、上述したチェックモードでの検出動作
と同様であるので、その詳細は省略するが、この場合に
おいては上記セットモードと同様デコーダ31にデータ
Wが入力されるので、タッチ電極のセンス動作は、デー
タWにしたがって実行される。
無の検出動作は、上述したチェックモードでの検出動作
と同様であるので、その詳細は省略するが、この場合に
おいては上記セットモードと同様デコーダ31にデータ
Wが入力されるので、タッチ電極のセンス動作は、デー
タWにしたがって実行される。
次に、文字認識制御giS20の動作を第9図乃至第1
6図を参照して簡単に説明する。この文字認識動作の説
明に先立って3×3のマトリック状に配設された9枚の
タッチ電極に設定されているXY座標系を第9図を参照
して説明する。このXY座標系は、外周部に位置する8
ケのタッチ電極T。
6図を参照して簡単に説明する。この文字認識動作の説
明に先立って3×3のマトリック状に配設された9枚の
タッチ電極に設定されているXY座標系を第9図を参照
して説明する。このXY座標系は、外周部に位置する8
ケのタッチ電極T。
を除く全てのタッチ電極の各中心位置を結ぶ座標面内に
おいて、11X11 =121の座標位置が設定されて
いる。そして、そのXY座標位置は(0,0)、(0%
1)・・・の如く表現される。
おいて、11X11 =121の座標位置が設定されて
いる。そして、そのXY座標位置は(0,0)、(0%
1)・・・の如く表現される。
このようにして設定された121の座標位桁により数字
、記号等の文字パターンデータが入力される。すなわち
、文字パターンデータを入力する場合には、上記座標面
内において、数字等を手書入力すればよい。
、記号等の文字パターンデータが入力される。すなわち
、文字パターンデータを入力する場合には、上記座標面
内において、数字等を手書入力すればよい。
而して、文字認識処理は、第10図に示すフローにした
がって実行される。すなわち、文字認識処理に入ると、
ステップS1のイニシャライズ処理が先ず実行され、文
字認識制御部2o内のRAM(第12図参照)に設けら
れているFlおよびF2レジスタic”1″が夫々セッ
トされると共にカウンタZの内容がクリアされる。この
場合、Bレジスタは1文字の書き始めで0”、書き終り
で1”がセットされ、捷た、F2 レジスタは1ストロ
ークの書き始めで10”、書き終りで6fがセットされ
る。更に、カウンタZll″i1文字のストローク数を
カウントするものである。次で、タッチ入力有無が判断
(ステップs、)され、まだ、タッチ入力されていなけ
れば、ステップs0に移行してFルジスタの内容がrO
Jか否がが判断されるが、最初Fi″1′であるからス
テップS。
がって実行される。すなわち、文字認識処理に入ると、
ステップS1のイニシャライズ処理が先ず実行され、文
字認識制御部2o内のRAM(第12図参照)に設けら
れているFlおよびF2レジスタic”1″が夫々セッ
トされると共にカウンタZの内容がクリアされる。この
場合、Bレジスタは1文字の書き始めで0”、書き終り
で1”がセットされ、捷た、F2 レジスタは1ストロ
ークの書き始めで10”、書き終りで6fがセットされ
る。更に、カウンタZll″i1文字のストローク数を
カウントするものである。次で、タッチ入力有無が判断
(ステップs、)され、まだ、タッチ入力されていなけ
れば、ステップs0に移行してFルジスタの内容がrO
Jか否がが判断されるが、最初Fi″1′であるからス
テップS。
に戻ってタッチ入力が有るまで待機する。
而して、タッチ入力が有ると、ステップs3に進行し、
F、レジスタの内容が「1」が否がが判断される。最初
Fi”1′°であるから、ステップs4に進行し、1文
字の書き始めを示すためにFルジスタに0”をセットす
る。次に、ステップS。
F、レジスタの内容が「1」が否がが判断される。最初
Fi”1′°であるから、ステップs4に進行し、1文
字の書き始めを示すためにFルジスタに0”をセットす
る。次に、ステップS。
では、F2レジスタの内容が“1”か否かが判断される
が、最初は1”であるからストローク数カウンタZの内
容を+1するインクリメント処理が打力われる。この結
果、1文字の1ストロークを書き込めると、ストローク
数カウンタZの内容は「1」となり、1ストローク目の
値となる。次に、F、レジスタの内容がクリア(ステッ
プS7)されたのち、ステップs8に進行し、座標入力
処理が実行される。
が、最初は1”であるからストローク数カウンタZの内
容を+1するインクリメント処理が打力われる。この結
果、1文字の1ストロークを書き込めると、ストローク
数カウンタZの内容は「1」となり、1ストローク目の
値となる。次に、F、レジスタの内容がクリア(ステッ
プS7)されたのち、ステップs8に進行し、座標入力
処理が実行される。
この座標入力処理は、第11図に示すフローにしたがっ
て実行される。すなわち、先ず、各タッチ電極に対する
接触容量成分のカウント値をタッチ入力部19から読み
込み(ステップS、)、その最大容量のタッチ電極TM
axをめる(ステップS、)。すなわち、複数のタッチ
電極を同時に触れた場合には、最大容量のタッチ電極’
I’ M aXがめられる。そして、最大容量のタッチ
電極TM a xの周辺、すなわち、上方、下方、右方
、左方のタッチ電極を選択し、最大容量のタッチ電極’
I’M axとその周辺のタッチ電極との接触容量成分
に対するカウント値から接触領域の中心位時の座標をめ
る(ステップSs )。而して、次のステップS4では
、座標変化したか否か、換言すれば、指が1箇所で停止
しておりその中心座標が変化していないか否かが調べら
れ、変化していなければ、第10図に示すフローの次処
理に移るが、中心座標が変化していれば、次のステップ
S、に進み、上述のようにしてめられた1ストローク目
の1番目の中心座標が第12図のRAMに送られて記憶
される。第12図のRA Mは、ストローク1の座標記
憶部M、 Nストローク2の座標記憶gISM、・・・
を有し、各記憶部M、 、M2・川・・は\最大二個の
中心座標をその1〜n番地に書き込まれる。なお、$1
211のRAMにおいて、Tけ時刻データが記憶される
レジスタ、TMはタイマ時間が記憶されるレジスタであ
る。
て実行される。すなわち、先ず、各タッチ電極に対する
接触容量成分のカウント値をタッチ入力部19から読み
込み(ステップS、)、その最大容量のタッチ電極TM
axをめる(ステップS、)。すなわち、複数のタッチ
電極を同時に触れた場合には、最大容量のタッチ電極’
I’ M aXがめられる。そして、最大容量のタッチ
電極TM a xの周辺、すなわち、上方、下方、右方
、左方のタッチ電極を選択し、最大容量のタッチ電極’
I’M axとその周辺のタッチ電極との接触容量成分
に対するカウント値から接触領域の中心位時の座標をめ
る(ステップSs )。而して、次のステップS4では
、座標変化したか否か、換言すれば、指が1箇所で停止
しておりその中心座標が変化していないか否かが調べら
れ、変化していなければ、第10図に示すフローの次処
理に移るが、中心座標が変化していれば、次のステップ
S、に進み、上述のようにしてめられた1ストローク目
の1番目の中心座標が第12図のRAMに送られて記憶
される。第12図のRA Mは、ストローク1の座標記
憶部M、 Nストローク2の座標記憶gISM、・・・
を有し、各記憶部M、 、M2・川・・は\最大二個の
中心座標をその1〜n番地に書き込まれる。なお、$1
211のRAMにおいて、Tけ時刻データが記憶される
レジスタ、TMはタイマ時間が記憶されるレジスタであ
る。
以上で、入力された文字パターンの1ストローク目の1
番目の中心座標が第12図のRAMに書き込まれたこと
に々す、これによって第10図のステップS、に戻る。
番目の中心座標が第12図のRAMに書き込まれたこと
に々す、これによって第10図のステップS、に戻る。
而して、1ストロークの入力中においては、ステップS
3、ステップS、で夫々NOと判断されるので、ステッ
プS、 、S、、S、 、S8が夫々実行され、その結
果、1ストロークの各中心座標が第12図のRAMに順
次書き込捷れてゆく。
3、ステップS、で夫々NOと判断されるので、ステッ
プS、 、S、、S、 、S8が夫々実行され、その結
果、1ストロークの各中心座標が第12図のRAMに順
次書き込捷れてゆく。
而して、−文字の1ストロークが書き終って次のストロ
ークを書き始めるために、または、1ストロークの文字
を幣き終って次に入力する文字の1ストローク目を書き
始めるために、タッチ電極から指を離すと、ステップS
、でそのことが検出されてステップS、に進むが、いま
、F、レジスタの内容は0″なので、次のステップSI
Oに進み、F2レジスタの内容が0″か否かが判断され
る。この場合においてもF2レジスタの内容は′0″な
ので、ステップ811に進行し、1Mレジスタの内容を
クリア律ると共にその計時動作を開始させる。次で、ス
テップSatでF、レジスタに1″をセットしたのち、
ステップS、に戻る。
ークを書き始めるために、または、1ストロークの文字
を幣き終って次に入力する文字の1ストローク目を書き
始めるために、タッチ電極から指を離すと、ステップS
、でそのことが検出されてステップS、に進むが、いま
、F、レジスタの内容は0″なので、次のステップSI
Oに進み、F2レジスタの内容が0″か否かが判断され
る。この場合においてもF2レジスタの内容は′0″な
ので、ステップ811に進行し、1Mレジスタの内容を
クリア律ると共にその計時動作を開始させる。次で、ス
テップSatでF、レジスタに1″をセットしたのち、
ステップS、に戻る。
これによって、次のステップSIOの判断では、NOと
なり、ステップS、、Ic進行し、1ストロークが書き
終ってから2ストローク目が書き始められるまでの時間
間隔を1Mレジスタの内容を読み出すことにより検出し
、この時間間隔が一定時間よりも大きいか否かが判断さ
れる。ここでは、上記時間間隔が一定時間より小さけれ
ば、1ストロークの書き終り、他方、大きければ、1つ
の文字の書き終り、すなわち、文字の版切りが判別され
る。
なり、ステップS、、Ic進行し、1ストロークが書き
終ってから2ストローク目が書き始められるまでの時間
間隔を1Mレジスタの内容を読み出すことにより検出し
、この時間間隔が一定時間よりも大きいか否かが判断さ
れる。ここでは、上記時間間隔が一定時間より小さけれ
ば、1ストロークの書き終り、他方、大きければ、1つ
の文字の書き終り、すなわち、文字の版切りが判別され
る。
而して、上記時間間隔が一定時間よりも小さければ・ス
テップS、に戻り、同一文字の次のストロ一りが入力さ
れる寸でステップS2、Sg 、816 %81Bが繰
り返される待機状態となるが、大きいと判断されれば、
ステップS、4に、進行し、後述する文字認識処理が実
行され、これによって認識された文字は、上記時計モー
ドにおいては、時計部23に、また上記計算機モードに
おいては、計算機部25に夫々送られる。
テップS、に戻り、同一文字の次のストロ一りが入力さ
れる寸でステップS2、Sg 、816 %81Bが繰
り返される待機状態となるが、大きいと判断されれば、
ステップS、4に、進行し、後述する文字認識処理が実
行され、これによって認識された文字は、上記時計モー
ドにおいては、時計部23に、また上記計算機モードに
おいては、計算機部25に夫々送られる。
次に、上記ステップ814の文字認識処理を第13図乃
至第16図を参照して説明する。第16図は、ストロー
ク数が「1」の数字「2」をタッチ入力したときの状況
を示すもので、第13図(3)に示すように、文字パタ
ーン「2」を入力すると、上述した如く、その座標デー
タが第12図に示すRAMK順次書き込まれる。そして
、文字パターン「2」の入力後、タッチ電極から指が離
れると、上記RAMに書き込まれた座標データからその
ストローク長が算出され、次いで、第13図■に示すよ
うにそのストロークが6等分される。而して、第13図
(0に示すように、各等分点が始点側から終点側に向け
て直線近似され、第14図に示すベクトル(0〜7の8
種類)にしたがって各部のベクトルが判断され、ベクト
ル列が算出される。
至第16図を参照して説明する。第16図は、ストロー
ク数が「1」の数字「2」をタッチ入力したときの状況
を示すもので、第13図(3)に示すように、文字パタ
ーン「2」を入力すると、上述した如く、その座標デー
タが第12図に示すRAMK順次書き込まれる。そして
、文字パターン「2」の入力後、タッチ電極から指が離
れると、上記RAMに書き込まれた座標データからその
ストローク長が算出され、次いで、第13図■に示すよ
うにそのストロークが6等分される。而して、第13図
(0に示すように、各等分点が始点側から終点側に向け
て直線近似され、第14図に示すベクトル(0〜7の8
種類)にしたがって各部のベクトルが判断され、ベクト
ル列が算出される。
而して、このようにしてめられたベクトル列がR,OM
2’ 1内の標準ベクトル列と比較され、一番類似し
ている文字パターンを抽出し、その文字パターンが文字
認識制御部20から出力される。
2’ 1内の標準ベクトル列と比較され、一番類似し
ている文字パターンを抽出し、その文字パターンが文字
認識制御部20から出力される。
ここで、第15図および第16図は夫々ストロークが1
.2の各文字パターンの標準ベクトル列を示し、ROM
21に記憶されている。この場合、本実施例では入力可
能々文字ノくターンは数字と四則演算のファンクション
に限られているので、ROM21にid第151ス、第
16図に示す標準ベクトル列が記憶されていれば足りる
。なお、第15図において「1」は「÷」を示している
。
.2の各文字パターンの標準ベクトル列を示し、ROM
21に記憶されている。この場合、本実施例では入力可
能々文字ノくターンは数字と四則演算のファンクション
に限られているので、ROM21にid第151ス、第
16図に示す標準ベクトル列が記憶されていれば足りる
。なお、第15図において「1」は「÷」を示している
。
以上のように、本実施例によれば、文字認識装置に応用
したから、りAシチ入力部の検査を行う際に多数の文字
パターンを実際に手書き入力しなくとも、個々のタッチ
電極に入力を加えることにより行うことができるので、
チェック回数を極めて少なくすることができる。また、
個々のタッチ電極に対するチェックデータのデジタル表
示によって定量的な検査が可能となる。
したから、りAシチ入力部の検査を行う際に多数の文字
パターンを実際に手書き入力しなくとも、個々のタッチ
電極に入力を加えることにより行うことができるので、
チェック回数を極めて少なくすることができる。また、
個々のタッチ電極に対するチェックデータのデジタル表
示によって定量的な検査が可能となる。
々お、この発明は上記実姉例に限らず、この発明を逸脱
しない範囲内において種々変形応用可能である。例えば
、上記実施例では、6×3のマトリックス状にタッチ電
極を配列し、11×11−121の座標位置を入力する
ようにしたが、この座標規模は任意である他、タッチ電
極と座標とが1:1に対応するものであってもよい。ま
た、入力文字の種類もカタカナ、ヒラガナ、漢字等であ
ってもよく、更に文字認識装置に応用するものでなくて
もよい。その他、チェックデータの表示はデジタル表示
に限らず、定量的に表示できれば任意であり、また、こ
の表示と共に報音を行うようにしてもよい。
しない範囲内において種々変形応用可能である。例えば
、上記実施例では、6×3のマトリックス状にタッチ電
極を配列し、11×11−121の座標位置を入力する
ようにしたが、この座標規模は任意である他、タッチ電
極と座標とが1:1に対応するものであってもよい。ま
た、入力文字の種類もカタカナ、ヒラガナ、漢字等であ
ってもよく、更に文字認識装置に応用するものでなくて
もよい。その他、チェックデータの表示はデジタル表示
に限らず、定量的に表示できれば任意であり、また、こ
の表示と共に報音を行うようにしてもよい。
この発明は、以上詳細に説明したように、タッチ電極に
人体が餉れた際の容量成分の変化はを検出してスイッチ
ングを行う容量検出型のタッチスイッチ装置において、
タッチ電極の容量成分を表示するようにしたから、タッ
チ電極の断線状態、タッチ入力回路の動作状態、タッチ
感度等の状態を定量的に検査することができ、これによ
り、その検査を゛簡単かつ確7に行うことができる。
人体が餉れた際の容量成分の変化はを検出してスイッチ
ングを行う容量検出型のタッチスイッチ装置において、
タッチ電極の容量成分を表示するようにしたから、タッ
チ電極の断線状態、タッチ入力回路の動作状態、タッチ
感度等の状態を定量的に検査することができ、これによ
り、その検査を゛簡単かつ確7に行うことができる。
図面はこの発明の一実施例を示し、第1図はこの発明を
適用した電子腕時計の前面部を示した図、第2図はタッ
チ電極とその電極番号の関係を示した図、第3図は、デ
ジタル表示部の構成図、第4図は電子腕時計全体のブロ
ック回路図、第5図はタッチ入力部の詳細な回路構成図
、第6図はセットモードでの動作を説明するためのタイ
ミングチャート、第7図はチェックモードでの動作を説
明するためのタイミングチャート、第8図はチェックモ
ードでの表示状M図、第9図XY座標系を説明するため
の図、第10図および第11図は文字認識制御部の動作
を説明するためのフローチャート、第12図は文字認識
制御部内に設けられているRAMの構成図、第13図(
2)〜C)は、文字パターンとして数字「2」を入力し
た場合にそのベクトル列が得られる過程を示した図、第
14図は標準ベクトル列を構成する数値とベクトルの関
係を示した図、第15図、第16図は夫々ストローク数
がrlj、r2jで構成される文字パターンの標準ベク
トル列を示す図である。 3 (To ”To )・・・・・・タッチ電極、4・
・・・・・デ・ジタル表示部、19・・・・・・タッチ
入力部。 特許出願人 カシオ計算機株式会社 第8図 40L 第9図 第11図 第12図 第14図 第13図 第15図 第16図
適用した電子腕時計の前面部を示した図、第2図はタッ
チ電極とその電極番号の関係を示した図、第3図は、デ
ジタル表示部の構成図、第4図は電子腕時計全体のブロ
ック回路図、第5図はタッチ入力部の詳細な回路構成図
、第6図はセットモードでの動作を説明するためのタイ
ミングチャート、第7図はチェックモードでの動作を説
明するためのタイミングチャート、第8図はチェックモ
ードでの表示状M図、第9図XY座標系を説明するため
の図、第10図および第11図は文字認識制御部の動作
を説明するためのフローチャート、第12図は文字認識
制御部内に設けられているRAMの構成図、第13図(
2)〜C)は、文字パターンとして数字「2」を入力し
た場合にそのベクトル列が得られる過程を示した図、第
14図は標準ベクトル列を構成する数値とベクトルの関
係を示した図、第15図、第16図は夫々ストローク数
がrlj、r2jで構成される文字パターンの標準ベク
トル列を示す図である。 3 (To ”To )・・・・・・タッチ電極、4・
・・・・・デ・ジタル表示部、19・・・・・・タッチ
入力部。 特許出願人 カシオ計算機株式会社 第8図 40L 第9図 第11図 第12図 第14図 第13図 第15図 第16図
Claims (1)
- タッチ電極に人体が触れた際の容量成分の変化量を検出
してスイッチングを行う容量検出型のタッチスイッチ装
置において、タッチ電極の容量成分を表示するようにし
たことを特徴とするタッチスイッチ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18831883A JPS6080319A (ja) | 1983-10-11 | 1983-10-11 | タツチスイツチ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18831883A JPS6080319A (ja) | 1983-10-11 | 1983-10-11 | タツチスイツチ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6080319A true JPS6080319A (ja) | 1985-05-08 |
Family
ID=16221501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18831883A Pending JPS6080319A (ja) | 1983-10-11 | 1983-10-11 | タツチスイツチ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6080319A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6059327B1 (ja) * | 2015-11-30 | 2017-01-11 | バンドー化学株式会社 | 静電容量型スイッチ装置 |
| WO2017045369A1 (zh) * | 2015-09-16 | 2017-03-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种手表 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56132028A (en) * | 1980-03-19 | 1981-10-16 | Casio Comput Co Ltd | Touch switch device |
-
1983
- 1983-10-11 JP JP18831883A patent/JPS6080319A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56132028A (en) * | 1980-03-19 | 1981-10-16 | Casio Comput Co Ltd | Touch switch device |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017045369A1 (zh) * | 2015-09-16 | 2017-03-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种手表 |
| US10012960B2 (en) | 2015-09-16 | 2018-07-03 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Watch |
| JP6059327B1 (ja) * | 2015-11-30 | 2017-01-11 | バンドー化学株式会社 | 静電容量型スイッチ装置 |
| WO2017094390A1 (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | バンドー化学株式会社 | 静電容量型スイッチ装置 |
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