JPS6083080A - Ｃｒｔ画面品質検査の枠検出方法 - Google Patents
Ｃｒｔ画面品質検査の枠検出方法Info
- Publication number
- JPS6083080A JPS6083080A JP58191613A JP19161383A JPS6083080A JP S6083080 A JPS6083080 A JP S6083080A JP 58191613 A JP58191613 A JP 58191613A JP 19161383 A JP19161383 A JP 19161383A JP S6083080 A JPS6083080 A JP S6083080A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frame
- screen
- display device
- determination
- test pattern
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（，１１）発明の技術分野
本発明はＣＲＴ （陰極線表示管）の表示画面が表示装
置の表示枠に対して相対的に正しい位置関係で、しかも
歪な（表示しているかどうかを自動的に検査するＣＲ７
画面品質検査方式に係り、特に該両面品質検査の基準と
なる前記表示枠を照明系のむらや影の影響を受けること
なく検出することを可能とするＣＲＴｉｉ！ｊ１面品質
検査の枠検出方法に関する。
置の表示枠に対して相対的に正しい位置関係で、しかも
歪な（表示しているかどうかを自動的に検査するＣＲ７
画面品質検査方式に係り、特に該両面品質検査の基準と
なる前記表示枠を照明系のむらや影の影響を受けること
なく検出することを可能とするＣＲＴｉｉ！ｊ１面品質
検査の枠検出方法に関する。
（ｂ）従来技術と問題点
ワードプロセンサをはじめとしてＣＲＴを使用した各種
データ処理装置に用いる表示装置では、ＣＲＴに表示さ
れる画面が表示装置の表示枠に対して相対的に正しい位
置関係で表示されないときは、画面の品質は著しく低下
するものとなる。
データ処理装置に用いる表示装置では、ＣＲＴに表示さ
れる画面が表示装置の表示枠に対して相対的に正しい位
置関係で表示されないときは、画面の品質は著しく低下
するものとなる。
例えば第１図に示す如き情報処理装置用の表示装置１で
は、オペレータは表示枠４を基準にして画面が止しい位
置にあるか否かを判断するので、ＣＲＴ２に表示される
画面３は、表示枠４に対して一ヒ下左右に片寄ったり、
傾いたすせず、目、つ画面３に歪が無いことが必要であ
る。家庭用テレビジョンでは画面の多少のずれや歪は利
用者にそれはと品質の低下を（・すしさせないが、情（
・ｕ処理用表示装置では、画面のずれ、領き、歪は表示
されたグラフや文字、記号を変形させるので著しく画面
品質を低下させることになる。このような画面のずれ、
傾き、歪の検査はＣＲＴ２が表示装置１に取（＝Ｊけら
れた後行われるが、従来、専ら検査員か目視で行ってい
た上記検査を特１１昭５７−１．１３５６６、ＣＲ′Ｖ
ｌ！！！１面品質検査方式により、人手によらず自動的
に行うことが提案されている。このＣＲＴ画面品質検査
方式の概要は第１図の表示装置１の機種が決まると枠４
及び画面３の寸法が決まるので、テレビカメラ等の観測
装置により表示画面を観測して、前記枠４と両面３の寸
法より相対的に定まる各種の判定量を測定し、表示装置
ｌの機種に応して一義的に規定される各判定量の基準量
により表示画面の良否を判定している。この判定量と基
準量とを用いることは、表示装置１と観測装置との距離
や領き等に影響されないようにするためである。この判
定量を測定するには基準となる枠４の検出が重要であり
、特願昭５７−１１３５６６ではＣＲＴ２ ニは何も表
示−Ｕず、且つＣＲＴ２の画面に照明光を投射すること
なく枠４を照らずような照明を行っ゛ζ枠部分の観測を
行うよう提案している。これは表示装置１の筐体部分５
のうち塗装色等のコン１−ラストのとれた直線部分６を
観測して、その寸法を測定することが必要なためである
。ＣＲＴ２の管面や枠４は通常賄い色であり、筐体部分
５は明るい色で枠４と筐体部分５との境界を示す直線部
分６は検出し易い構成となっている。しかし実際にはこ
の枠部分の観δ（１１は必ずしもコンミ−ラストよく安
定には行えぬことが多い。それは照明のむらや照明方向
によっては影が出来たり照明の反射がＣＲＴ ２の管面
から起こる、枠４の判定量を測定する観測線上に明るい
色の表示がある等のためである。
は、オペレータは表示枠４を基準にして画面が止しい位
置にあるか否かを判断するので、ＣＲＴ２に表示される
画面３は、表示枠４に対して一ヒ下左右に片寄ったり、
傾いたすせず、目、つ画面３に歪が無いことが必要であ
る。家庭用テレビジョンでは画面の多少のずれや歪は利
用者にそれはと品質の低下を（・すしさせないが、情（
・ｕ処理用表示装置では、画面のずれ、領き、歪は表示
されたグラフや文字、記号を変形させるので著しく画面
品質を低下させることになる。このような画面のずれ、
傾き、歪の検査はＣＲＴ２が表示装置１に取（＝Ｊけら
れた後行われるが、従来、専ら検査員か目視で行ってい
た上記検査を特１１昭５７−１．１３５６６、ＣＲ′Ｖ
ｌ！！！１面品質検査方式により、人手によらず自動的
に行うことが提案されている。このＣＲＴ画面品質検査
方式の概要は第１図の表示装置１の機種が決まると枠４
及び画面３の寸法が決まるので、テレビカメラ等の観測
装置により表示画面を観測して、前記枠４と両面３の寸
法より相対的に定まる各種の判定量を測定し、表示装置
ｌの機種に応して一義的に規定される各判定量の基準量
により表示画面の良否を判定している。この判定量と基
準量とを用いることは、表示装置１と観測装置との距離
や領き等に影響されないようにするためである。この判
定量を測定するには基準となる枠４の検出が重要であり
、特願昭５７−１１３５６６ではＣＲＴ２ ニは何も表
示−Ｕず、且つＣＲＴ２の画面に照明光を投射すること
なく枠４を照らずような照明を行っ゛ζ枠部分の観測を
行うよう提案している。これは表示装置１の筐体部分５
のうち塗装色等のコン１−ラストのとれた直線部分６を
観測して、その寸法を測定することが必要なためである
。ＣＲＴ２の管面や枠４は通常賄い色であり、筐体部分
５は明るい色で枠４と筐体部分５との境界を示す直線部
分６は検出し易い構成となっている。しかし実際にはこ
の枠部分の観δ（１１は必ずしもコンミ−ラストよく安
定には行えぬことが多い。それは照明のむらや照明方向
によっては影が出来たり照明の反射がＣＲＴ ２の管面
から起こる、枠４の判定量を測定する観測線上に明るい
色の表示がある等のためである。
第２図は枠４の検出を説明する図である。同図［ａ）の
表示装置１のＡ−Ａ’ で示す線上で枠４と筐体部分５
との境界線６を検出する場合、特願昭５７−１１３５６
６では同図（Ｃ１で示す如き濃淡信号が得られるように
説明されている。この場合枠４と筐体部分５との境界を
示す濃淡信号波形から枠４と筐体部分５との境界位置４
Ｒと４ Ｌとは明Ｕ（ｆｆｌに検出し得る。従ってＸで
示す範囲を測定することで枠寸法が検出出来る。しかし
同図（ｃ＋の波形は理想的な状態で得られるものであり
、実際は前記の如き種々の原因で同図（ｂｌで示す如（
枠４と筐体部分５との境界を示す波形の検出を困）ｌｉ
ｆ′にする波形が現れる。特に枠４に７で示す如き明る
い色の記号等があると７゛で示す如き波形が現れ枠４と
筐体部分５との境界検出を誤ることとなるという欠点が
ある。
表示装置１のＡ−Ａ’ で示す線上で枠４と筐体部分５
との境界線６を検出する場合、特願昭５７−１１３５６
６では同図（Ｃ１で示す如き濃淡信号が得られるように
説明されている。この場合枠４と筐体部分５との境界を
示す濃淡信号波形から枠４と筐体部分５との境界位置４
Ｒと４ Ｌとは明Ｕ（ｆｆｌに検出し得る。従ってＸで
示す範囲を測定することで枠寸法が検出出来る。しかし
同図（ｃ＋の波形は理想的な状態で得られるものであり
、実際は前記の如き種々の原因で同図（ｂｌで示す如（
枠４と筐体部分５との境界を示す波形の検出を困）ｌｉ
ｆ′にする波形が現れる。特に枠４に７で示す如き明る
い色の記号等があると７゛で示す如き波形が現れ枠４と
筐体部分５との境界検出を誤ることとなるという欠点が
ある。
（Ｃ）発明の目的
本発明の目的は上記欠点を除くため、枠４と筐体部分５
との境界を表す直線部分６を或範囲測定し、直線部分６
と平行な方向に複数画素分の画像の濃淡値を加勢するこ
とにより、枠４の検出を安定に行えるＣ Ｒｉ”画面品
質検査の枠検出方法を提供するごとにある。
との境界を表す直線部分６を或範囲測定し、直線部分６
と平行な方向に複数画素分の画像の濃淡値を加勢するこ
とにより、枠４の検出を安定に行えるＣ Ｒｉ”画面品
質検査の枠検出方法を提供するごとにある。
（ｄ）発明の構成
本発明の構成はＣＲＴ表示装置と、このＣＲＴ表示装置
にテストパターンを発生させるテストパターン発生手段
と、前記ＣＲＴ表示装置に設ｂ）られて画面品質の良否
を判断する基準線を形成する基準部材と、前記テストパ
ターンともＩ：〆（βｉ’！＋＋ ＋Ａを観測して基準
線とテストパターン像のデータを出力する観測手段と、
これら基準線とナストパターン像のデータから基準線に
おける相対的間ｌ（ｉ、、％比に占（づき判定量を算出
する手段と、これらの判定量から画面の品質不良の有無
を判定する品質判定手段を有するＣＲ１画面品質検査方
式において、前記判定量を算出する場合の基準となる枠
寸法の校正を行う手段を設けたものである。
にテストパターンを発生させるテストパターン発生手段
と、前記ＣＲＴ表示装置に設ｂ）られて画面品質の良否
を判断する基準線を形成する基準部材と、前記テストパ
ターンともＩ：〆（βｉ’！＋＋ ＋Ａを観測して基準
線とテストパターン像のデータを出力する観測手段と、
これら基準線とナストパターン像のデータから基準線に
おける相対的間ｌ（ｉ、、％比に占（づき判定量を算出
する手段と、これらの判定量から画面の品質不良の有無
を判定する品質判定手段を有するＣＲ１画面品質検査方
式において、前記判定量を算出する場合の基準となる枠
寸法の校正を行う手段を設けたものである。
（ｅ）発明の実施例
第３図は本発明の詳細な説明する図である。同図９で示
す矩形領域に含まれる枠４と筐体部分５の境界を示す直
線９°の位置を測定するために第２図で説明したように
直線９゛と直交する方向に走査して、各画素の濃淡変化
から直線９゛の位置を決定する前に、直線９′以外の部
分からの反射（例えば第２図の７で不すようなｆ８１％
分）による影響をさけて、おおまかな直線９′の位置を
める。そのためには矩形領域９の中で直線９°と平行な
方向にまず走査し、尊画素の濃淡値の和をとった値を直
線９゛と直交する方向にならべてみると第３図ｄで示す
島うなパターン（投影パターンと呼ぶ）が（与られる。
す矩形領域に含まれる枠４と筐体部分５の境界を示す直
線９°の位置を測定するために第２図で説明したように
直線９゛と直交する方向に走査して、各画素の濃淡変化
から直線９゛の位置を決定する前に、直線９′以外の部
分からの反射（例えば第２図の７で不すようなｆ８１％
分）による影響をさけて、おおまかな直線９′の位置を
める。そのためには矩形領域９の中で直線９°と平行な
方向にまず走査し、尊画素の濃淡値の和をとった値を直
線９゛と直交する方向にならべてみると第３図ｄで示す
島うなパターン（投影パターンと呼ぶ）が（与られる。
この投影パターンは第２図で説明したような直線９゛と
直交する方向の一ライン分だけの濃淡値ではなく、Ｙｌ
からＹ２までの複数ｉＩ！ｌｉｌ素の濃淡値の和である
ため、部分的な反射の影響はうずめられ、連続的な直線
９”が第３図ｄの如く明瞭に濃淡変化として現れること
となる。しかしこの投影パターンからめた枠位置は、被
測定物である枠部分が傾いていると、正確な位置として
は決定しがたいために、この位置を仮の枠付Ｗ３：と定
めておくこととする。そしてその後第２図で説明した如
く直線９゛とは直交する方向に走査して、正ｆｉｆ＋ｉ
な直線９゛の位置をめることにするが、その時に、第２
図すのように枠の候補となる位置が数個所（７′で示す
如き位置）出た時に、仮枠位置でめた位が真の枠位置と
して決定される。」−記は矩形部分９の直線９°の位置
決定だけについて説明したが矩形部分８，１０．１１の
直線部分８’、ＩＯ’、ＩＩ’についても同様である。
直交する方向の一ライン分だけの濃淡値ではなく、Ｙｌ
からＹ２までの複数ｉＩ！ｌｉｌ素の濃淡値の和である
ため、部分的な反射の影響はうずめられ、連続的な直線
９”が第３図ｄの如く明瞭に濃淡変化として現れること
となる。しかしこの投影パターンからめた枠位置は、被
測定物である枠部分が傾いていると、正確な位置として
は決定しがたいために、この位置を仮の枠付Ｗ３：と定
めておくこととする。そしてその後第２図で説明した如
く直線９゛とは直交する方向に走査して、正ｆｉｆ＋ｉ
な直線９゛の位置をめることにするが、その時に、第２
図すのように枠の候補となる位置が数個所（７′で示す
如き位置）出た時に、仮枠位置でめた位が真の枠位置と
して決定される。」−記は矩形部分９の直線９°の位置
決定だけについて説明したが矩形部分８，１０．１１の
直線部分８’、ＩＯ’、ＩＩ’についても同様である。
そして直線８゛と９゛より幅Ｘが１０“と１１゛により
１ｕｉさＹがめられる。
１ｕｉさＹがめられる。
第４図は本発明の一実施例を示す回路のブロック図であ
る。まず制御部２０から枠／画面観測切替指示信号を送
出し、照明部５０で表示装置１の枠部分を検出出来るよ
うに照明させ、観測位置指示信号を観測部２１に送出し
て第３図に示す矩形領域を観測させる。制御部２０は仮
走査／実走査切替信号を送出して画像信号りＪ替部２２
をりｊり替えて枠領域格納バッファ２３に前記矩形領域
の測定波形を格納する。投影パターン作成回路２４は枠
領域格納バッファ２３より測定波形を読出し、第３図の
矩形領域８と９についてはＹ）〜Ｙ２の間の複数の画像
波形を、矩形領域１０と１１についてはＸ１〜Ｘ２の間
の複数の画像波形を加える。
る。まず制御部２０から枠／画面観測切替指示信号を送
出し、照明部５０で表示装置１の枠部分を検出出来るよ
うに照明させ、観測位置指示信号を観測部２１に送出し
て第３図に示す矩形領域を観測させる。制御部２０は仮
走査／実走査切替信号を送出して画像信号りＪ替部２２
をりｊり替えて枠領域格納バッファ２３に前記矩形領域
の測定波形を格納する。投影パターン作成回路２４は枠
領域格納バッファ２３より測定波形を読出し、第３図の
矩形領域８と９についてはＹ）〜Ｙ２の間の複数の画像
波形を、矩形領域１０と１１についてはＸ１〜Ｘ２の間
の複数の画像波形を加える。
この場合７で示す如き明るい色の記号等があってもその
反射波形７゛は見掛は上域製させられて目立たなくなる
。従って第３図ｆｔ１１に示１如き波形のｒＩ！ｌＩ像
信号が得られる。エツジ検出回路２５は該画像信吐より
第３図のＸ及びＹの寸法を検出し、仮の枠位置を決定す
る。該仮枠位置は仮枠位置情報格納部２Ｇ！こ格納され
る。制御部２０は画像信号切替部２２を切り替え観測位
置指示信号により観測部２１の観測位；Ｉグを変更し、
第１図面面３の横方向の中心及び縦方向の中心の各１ラ
イン分の画像信号をラインバッファ２７に格納する。エ
ツジ検出回路２８はラインバッファ２７よりｆｆ５２図
ｆｂ）で示す如き画像信号を読出して、枠寸法を検出し
、枠／ ｉｉ！＋ｉ面切替部面切全部２９エツジ情報格
納部３０に格納する。枠情報検出部３２は仮枠位置情報
格納部２Ｇの出力を参照し一ζ枠エツジ情報格納部３０
の枠寸法が７゛で示す如き波形により誤った枠寸法を検
出しＣいた場合は修正し真の枠寸法を画面位（ｉ−ずれ
検出部３４とｉＩ！ｊｉ面”づｌ力検出ｔ＋＋： ３５
に送出する。
反射波形７゛は見掛は上域製させられて目立たなくなる
。従って第３図ｆｔ１１に示１如き波形のｒＩ！ｌＩ像
信号が得られる。エツジ検出回路２５は該画像信吐より
第３図のＸ及びＹの寸法を検出し、仮の枠位置を決定す
る。該仮枠位置は仮枠位置情報格納部２Ｇ！こ格納され
る。制御部２０は画像信号切替部２２を切り替え観測位
置指示信号により観測部２１の観測位；Ｉグを変更し、
第１図面面３の横方向の中心及び縦方向の中心の各１ラ
イン分の画像信号をラインバッファ２７に格納する。エ
ツジ検出回路２８はラインバッファ２７よりｆｆ５２図
ｆｂ）で示す如き画像信号を読出して、枠寸法を検出し
、枠／ ｉｉ！＋ｉ面切替部面切全部２９エツジ情報格
納部３０に格納する。枠情報検出部３２は仮枠位置情報
格納部２Ｇの出力を参照し一ζ枠エツジ情報格納部３０
の枠寸法が７゛で示す如き波形により誤った枠寸法を検
出しＣいた場合は修正し真の枠寸法を画面位（ｉ−ずれ
検出部３４とｉＩ！ｊｉ面”づｌ力検出ｔ＋＋： ３５
に送出する。
次ぎに照明５０を消し、表示装置１のＣＲＴ２にテスト
パターンを表示する。観７１１１１部２１は該テストパ
ターンから判定量を得るため横方向で中心と画面３のα
１１１に近い位置の上下各１ラインを走査し、ラインバ
ッファ２７、エツジ検出回路２８、枠／画面切替部２９
を経て格子エツジ情報格納部３］に各ライン毎の格子位
置を格納する。格子情報検出部３３は格子間の間隔をめ
て格子間隔検出部３６に送る。画面位置すれ検出部３４
はテストパターンを走査して得られた前記判定量を左官
１５３７、中心ｉｓ＋’、 ｓ ｓ、右部３９に送出し
て保持さ・已る。画面位置ずれ判定部４６は両面の中心
位置のずれ及び画面の傾きの態様を判定して制定表示部
４９に送出し判定結果を表示させる。画面寸法検出部３
５も同様にして各判定量を左部４０、中心部４１、右部
４２に送出して保持させる。画１ｆ＋ｉＮ法歪判定部４
７は垂直振幅歪や水平方向の糸巻挟止の有無を４１＋１
１定して判定表示部４９人出力送り、判定結果を表示さ
せる。格子間隔検出部３６は各格子間隔の平均値を夫々
」二部４３、中心部４４、下部４５に送出して保持さ−
せ゛る。直線歪判定部４８はこれらの平均値から垂直直
線歪の態様を判定して判定表ボ部４９に送出し、判定結
果を表示させる。
パターンを表示する。観７１１１１部２１は該テストパ
ターンから判定量を得るため横方向で中心と画面３のα
１１１に近い位置の上下各１ラインを走査し、ラインバ
ッファ２７、エツジ検出回路２８、枠／画面切替部２９
を経て格子エツジ情報格納部３］に各ライン毎の格子位
置を格納する。格子情報検出部３３は格子間の間隔をめ
て格子間隔検出部３６に送る。画面位置すれ検出部３４
はテストパターンを走査して得られた前記判定量を左官
１５３７、中心ｉｓ＋’、 ｓ ｓ、右部３９に送出し
て保持さ・已る。画面位置ずれ判定部４６は両面の中心
位置のずれ及び画面の傾きの態様を判定して制定表示部
４９に送出し判定結果を表示させる。画面寸法検出部３
５も同様にして各判定量を左部４０、中心部４１、右部
４２に送出して保持させる。画１ｆ＋ｉＮ法歪判定部４
７は垂直振幅歪や水平方向の糸巻挟止の有無を４１＋１
１定して判定表示部４９人出力送り、判定結果を表示さ
せる。格子間隔検出部３６は各格子間隔の平均値を夫々
」二部４３、中心部４４、下部４５に送出して保持さ−
せ゛る。直線歪判定部４８はこれらの平均値から垂直直
線歪の態様を判定して判定表ボ部４９に送出し、判定結
果を表示させる。
次に観測部２ｊは縦方向で中心と画面；３のｍ１１に近
い位置の左右釜１ラインを走査するが動作ば」二記同様
である。この場合は左部３７及び４０、右部３９及び４
２、上部４３、下部４５は図示括弧内の名称をとるごと
になる。
い位置の左右釜１ラインを走査するが動作ば」二記同様
である。この場合は左部３７及び４０、右部３９及び４
２、上部４３、下部４５は図示括弧内の名称をとるごと
になる。
（［）発明のタノ果
辺土説明した如く、本発明はＣＲｉ’両而面品質検査を
自ｕノ的に行う場合の基準となる枠寸法の検出を、枠イ
」近に設けられた文字やデザイン図形等の明るい色から
の反射や照明系の反射等の影響を除き、確実に行うこと
が出来るため、より確実な品質検査を実施することが出
来る。
自ｕノ的に行う場合の基準となる枠寸法の検出を、枠イ
」近に設けられた文字やデザイン図形等の明るい色から
の反射や照明系の反射等の影響を除き、確実に行うこと
が出来るため、より確実な品質検査を実施することが出
来る。
第１図は表示装置の一例を示す図、第２図は枠の検出を
説明する図、第３図は本発明の詳細な説明する図、第４
図は本発明の一実施例を示す回１俗のブロック図である
。 ■は表示装置、２ばＣＲｉ”、３は画面、４は枠、５ば
筐体部分、２１は観測部、２２は画像信号切替部、２３
は枠領域格納バッファ、２４は投影パターン作成回路、
２５はエツジ検出回路、２６は仮枠位置情報格納部、２
７ばラインバッファ、２８はエツジ検出回路、２９は枠
／画面切替部、３０は枠エツジ情報格納部、３１は格子
エツジ情報格納部、３２は枠情報検出部、３３ば格子情
報検出部、３４は画面位置ずれ検出部、３５は画面寸法
検出部、３６は格子間隔検出部、３７，４０ば左部、３
８．４１．４４は中心部、３９．４２は右部、４３ば上
部、４５ば下部、４６は画面位置ずれ判定部、４７は画
面寸法歪判定ＨＵＢ、４８は直線歪判定部、４９ば判定
表示部、５０ば照明である。 茅１ 同 算３ 園
説明する図、第３図は本発明の詳細な説明する図、第４
図は本発明の一実施例を示す回１俗のブロック図である
。 ■は表示装置、２ばＣＲｉ”、３は画面、４は枠、５ば
筐体部分、２１は観測部、２２は画像信号切替部、２３
は枠領域格納バッファ、２４は投影パターン作成回路、
２５はエツジ検出回路、２６は仮枠位置情報格納部、２
７ばラインバッファ、２８はエツジ検出回路、２９は枠
／画面切替部、３０は枠エツジ情報格納部、３１は格子
エツジ情報格納部、３２は枠情報検出部、３３ば格子情
報検出部、３４は画面位置ずれ検出部、３５は画面寸法
検出部、３６は格子間隔検出部、３７，４０ば左部、３
８．４１．４４は中心部、３９．４２は右部、４３ば上
部、４５ば下部、４６は画面位置ずれ判定部、４７は画
面寸法歪判定ＨＵＢ、４８は直線歪判定部、４９ば判定
表示部、５０ば照明である。 茅１ 同 算３ 園
Claims (1)
- ｃ Ｒ’ｒ表示装置と、このＣＲＴ表示装置にテストパ
ターンを発生させるテストパターン発生手段と、前記Ｃ
ＲＴ表示装置に設りられて画面品質の良否を判断する基
準線を形成する捕準部材と、前記テストパターンと基準
部材を観測して基準線とナストパターン像のデータを出
力する観測手段と、これら基準線とテストパターン像の
データから基準線における相対的間隔比に基づき判定量
を算出する手段と、これらの判定量から画面の品質不良
の有無を判、定する品質判定手段を有するＣ ＲＴｉ８
！！ｉ面品質検査方式において、前記判定量を算出する
場合の基準となる枠寸法の校正を行う手段を設けたこと
を特徴とするＣＲＴｌｌＩｊ１面品５！ｌｊ険査の枠検
出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58191613A JPS6083080A (ja) | 1983-10-13 | 1983-10-13 | Ｃｒｔ画面品質検査の枠検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58191613A JPS6083080A (ja) | 1983-10-13 | 1983-10-13 | Ｃｒｔ画面品質検査の枠検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6083080A true JPS6083080A (ja) | 1985-05-11 |
| JPS6365947B2 JPS6365947B2 (ja) | 1988-12-19 |
Family
ID=16277543
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58191613A Granted JPS6083080A (ja) | 1983-10-13 | 1983-10-13 | Ｃｒｔ画面品質検査の枠検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6083080A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0437896A (ja) * | 1990-06-04 | 1992-02-07 | Nippon Avionics Co Ltd | モニタ画像検査装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6420660U (ja) * | 1987-07-28 | 1989-02-01 |
-
1983
- 1983-10-13 JP JP58191613A patent/JPS6083080A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0437896A (ja) * | 1990-06-04 | 1992-02-07 | Nippon Avionics Co Ltd | モニタ画像検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6365947B2 (ja) | 1988-12-19 |
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