JPS6088351A - 汚濁レベル検出装置 - Google Patents
汚濁レベル検出装置Info
- Publication number
- JPS6088351A JPS6088351A JP58196771A JP19677183A JPS6088351A JP S6088351 A JPS6088351 A JP S6088351A JP 58196771 A JP58196771 A JP 58196771A JP 19677183 A JP19677183 A JP 19677183A JP S6088351 A JPS6088351 A JP S6088351A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- turbidity
- sensors
- height
- different
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
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- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば、食品工業におりる廃水の水処理に対
して、不充分な処理水が下水道や河川に放流されること
力にないような、監視と制御を行なう装置に関し、更に
詳しくは、これらの処理水が放流に適した両市しヘルに
達したかどうかを検出するための汚濁レヘル検出装置に
関するものである。
して、不充分な処理水が下水道や河川に放流されること
力にないような、監視と制御を行なう装置に関し、更に
詳しくは、これらの処理水が放流に適した両市しヘルに
達したかどうかを検出するための汚濁レヘル検出装置に
関するものである。
１ノ１水処理設備の最終工程である沈綴槽において、処
理水の清澄層と汚濁層の境界を′１贋時連続的に監視し
ておき、処理の不活性によって生じる汚１ｆｉｌＮ５の
増加が設定レヘル以上になったごとを検出して自動的に
放流を遮ＩＪｉすると同時に、Ｎ（’１４を出し２て処
理の活性化その他の処置を促すようにすることが必要で
ある。
理水の清澄層と汚濁層の境界を′１贋時連続的に監視し
ておき、処理の不活性によって生じる汚１ｆｉｌＮ５の
増加が設定レヘル以上になったごとを検出して自動的に
放流を遮ＩＪｉすると同時に、Ｎ（’１４を出し２て処
理の活性化その他の処置を促すようにすることが必要で
ある。
処理水の消ａ層と汚濁層の境界あるいは汚濁の度合を検
出するには、光方式、超音波方式、電気伝導度方式など
各種の方式が考えられるが、光方式が実用性と経済性の
面から適当であると考えられる。
出するには、光方式、超音波方式、電気伝導度方式など
各種の方式が考えられるが、光方式が実用性と経済性の
面から適当であると考えられる。
とごろで、実際の処理水は、清澄層といえども、多少の
着色と濁りがあるので、まず放流可能な清澄層であるか
どうかという点、及び清澄層と汚濁層とで、光の減衰度
が明らかに弁別できるほどの差異が出るのかどうかとい
う点、更には、’／ｌ′ｉ ？ｎ ＋＝と汚＠層との境
界付近の様子はどうかという点などが、未解決な問題点
であった。
着色と濁りがあるので、まず放流可能な清澄層であるか
どうかという点、及び清澄層と汚濁層とで、光の減衰度
が明らかに弁別できるほどの差異が出るのかどうかとい
う点、更には、’／ｌ′ｉ ？ｎ ＋＝と汚＠層との境
界付近の様子はどうかという点などが、未解決な問題点
であった。
また、単一の光方式汚濁センサを用いた場合、沈澱槽の
水中にｌ！Ｉ−遊する水苔等４コよって光が遮られて誤
動作が生しるおそれがあり、また汚ｆｉｌｆｉの上昇速
度などのパラメータが分からないので活性化などの処置
への対応が困ｆｌｉであるなどの問題点があった。
水中にｌ！Ｉ−遊する水苔等４コよって光が遮られて誤
動作が生しるおそれがあり、また汚ｆｉｌｆｉの上昇速
度などのパラメータが分からないので活性化などの処置
への対応が困ｆｌｉであるなどの問題点があった。
本発明は、このような従来の問題点を解消して、沈鍛槽
に浮遊する水苔等による誤動作をなくし、またｌη濁層
の土性速度なども検出することのできる装置を提供する
ことを目的とするものである。
に浮遊する水苔等による誤動作をなくし、またｌη濁層
の土性速度なども検出することのできる装置を提供する
ことを目的とするものである。
本発明の汚濁レベル検出装置は、沈＃層内に、高さ及び
水平方向の相異なる少なくとも２対の光方式汚濁センサ
を備えたことを特徴とするものである。
水平方向の相異なる少なくとも２対の光方式汚濁センサ
を備えたことを特徴とするものである。
以下、本発明を実施例に基づいて説明する。
第１図は本発明に係る汚濁センサの構成を示すものであ
り、＋１１は投光器、（２）は受光器である。ごれらの
投受光器は、沈澱槽内の水中に直接受ジノると、防水対
策、結露によるガラスの曇り、あるいは金１１Ｌ物の腐
食などの問題があるので、本実施例においては、投光器
（１）及び受光器（２）を水中に入れることをやめ、光
ファイバ（３１，＋４１で光を水中へ導き、取り出すこ
とにした。この場合、投受光ギャップは６０〜１）３０
■馬で安定した特性がｉ遥ｔられた。また、投光器（１
）の光源として遠赤外線の発光ダイオードを用い、また
投光器（１）からの光は、一定周波数の変調を行なわせ
ることにより、ｉ’＋ｉｉ記の波長（１：とともに太陽
光の影誓８をほとんど無視できるようにした。
り、＋１１は投光器、（２）は受光器である。ごれらの
投受光器は、沈澱槽内の水中に直接受ジノると、防水対
策、結露によるガラスの曇り、あるいは金１１Ｌ物の腐
食などの問題があるので、本実施例においては、投光器
（１）及び受光器（２）を水中に入れることをやめ、光
ファイバ（３１，＋４１で光を水中へ導き、取り出すこ
とにした。この場合、投受光ギャップは６０〜１）３０
■馬で安定した特性がｉ遥ｔられた。また、投光器（１
）の光源として遠赤外線の発光ダイオードを用い、また
投光器（１）からの光は、一定周波数の変調を行なわせ
ることにより、ｉ’＋ｉｉ記の波長（１：とともに太陽
光の影誓８をほとんど無視できるようにした。
第２図は、本発明によるｌη濁レベル検出装置の構成を
示すものであり、投光器（１１と受光器（２）からなる
汚濁センサの対Ａ、＋３を、高さ及び水平位：どを相異
ならせて沈澱槽００）内に設ｉＷシたものである。
示すものであり、投光器（１１と受光器（２）からなる
汚濁センサの対Ａ、＋３を、高さ及び水平位：どを相異
ならせて沈澱槽００）内に設ｉＷシたものである。
図中（ＩＩ）はマイクロコンピュータ−７ｌｌ’ ２ｂ
リ、（１２）はＣＰＵ、（＋３）はキーボード、（１
４） Ｉ、ｔ ｃ ■＜ ′＋゛ディスプレイ、（１５
）は排水処理制御盤に対して制御指令を出力するリレー
出力発生器である。
リ、（１２）はＣＰＵ、（＋３）はキーボード、（１
４） Ｉ、ｔ ｃ ■＜ ′＋゛ディスプレイ、（１５
）は排水処理制御盤に対して制御指令を出力するリレー
出力発生器である。
この装置において、？Ｑ濁センザΔ、Ｂを、高さ及び水
平位置を異ならせて配置したごとにょろりＪ果は次のよ
うな点である。
平位置を異ならせて配置したごとにょろりＪ果は次のよ
うな点である。
■高さの異なる２対の汚濁センサにより、ｌｌす濁１−
のレベルが」１下する／’ｓ ？”Ａパターンの場合に
は、汚濁層と漬ａ層の境界層の変位速度を算出できる。
のレベルが」１下する／’ｓ ？”Ａパターンの場合に
は、汚濁層と漬ａ層の境界層の変位速度を算出できる。
即し、下位センサΔが境界層を検出しζがら−Ｌ位セン
サ■３にｌ’ｉ Ｗ：Ｊ層が達するまでの時間より、汚
訓しベルの上昇速度がわかれば、活性化等の処置が極め
てやりやすくなる。
サ■３にｌ’ｉ Ｗ：Ｊ層が達するまでの時間より、汚
訓しベルの上昇速度がわかれば、活性化等の処置が極め
てやりやすくなる。
■高さ及び水平位置を異なる配置としたことにより、１
１５’に沈澱４１ツ内の廃水の汚濁が均一に変化するパ
ターンの場合、沈澱槽内を浮遊する水苔は、２つの汚濁
センサのギャップを同時に遮蔽することはなくなる。
１５’に沈澱４１ツ内の廃水の汚濁が均一に変化するパ
ターンの場合、沈澱槽内を浮遊する水苔は、２つの汚濁
センサのギャップを同時に遮蔽することはなくなる。
上述したように本発明によれば、沈殿槽に浮遊する水苔
等による誤動作をなくし、また汚濁層の上昇速度なども
検出することができるという効果を奏するものである。
等による誤動作をなくし、また汚濁層の上昇速度なども
検出することができるという効果を奏するものである。
第１図は本発明において使用する汚濁センサの実施例を
示す正面図、第２図は本発明の装置の構成を示１ブロッ
ク図である。 Ａ、Ｂ：ｌｒ；濁センザ （１）二股光器 （２）：受光器 ＋３１． （４１：光ファイバ ００）；沈澱槽 （１１） ：マイクロコンピュータ （１２） ： ＣＰ Ｕ （１３） ：キーボード （１４） ： ＣＲＴディスプレイ （１５） ：リレー出力発生器 特許出願人 株式会社コンピュータ・デクユカ代理人
手掘 益（ばか２名） 」王わ１ｔネｌｉ正凹： 昭Ｆ目５８年１２月７１日 昭［１５８年 特許層 第１９６７７１号２、発明の名
称 汚濁レベル検出装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 氏 名 株式会社 コンピュータ・テクニカ４、代理人 ５、補正命令の日付 −１ 図面の／？Ｉ書（内容に変更なし）
示す正面図、第２図は本発明の装置の構成を示１ブロッ
ク図である。 Ａ、Ｂ：ｌｒ；濁センザ （１）二股光器 （２）：受光器 ＋３１． （４１：光ファイバ ００）；沈澱槽 （１１） ：マイクロコンピュータ （１２） ： ＣＰ Ｕ （１３） ：キーボード （１４） ： ＣＲＴディスプレイ （１５） ：リレー出力発生器 特許出願人 株式会社コンピュータ・デクユカ代理人
手掘 益（ばか２名） 」王わ１ｔネｌｉ正凹： 昭Ｆ目５８年１２月７１日 昭［１５８年 特許層 第１９６７７１号２、発明の名
称 汚濁レベル検出装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 氏 名 株式会社 コンピュータ・テクニカ４、代理人 ５、補正命令の日付 −１ 図面の／？Ｉ書（内容に変更なし）
Claims (1)
- １、 沈ｄ’＆ Ｉｆｉ内に、高さ及び水平方向の相異
なる少なくとも２対の光方式汚濁センサを備えたことを
特徴とする汚濁レヘル検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58196771A JPS6088351A (ja) | 1983-10-20 | 1983-10-20 | 汚濁レベル検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58196771A JPS6088351A (ja) | 1983-10-20 | 1983-10-20 | 汚濁レベル検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6088351A true JPS6088351A (ja) | 1985-05-18 |
Family
ID=16363349
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58196771A Pending JPS6088351A (ja) | 1983-10-20 | 1983-10-20 | 汚濁レベル検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6088351A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63128447U (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-23 | ||
| JPS63128448U (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-23 | ||
| JPS63256182A (ja) * | 1987-04-13 | 1988-10-24 | Tsurumi Mfg Co Ltd | 汚水処理槽内における上澄水の放流制御方法および装置 |
| WO1994019674A1 (en) * | 1993-02-26 | 1994-09-01 | British Nuclear Fuels Plc | Measuring properties of a slurry |
| US6669838B1 (en) | 1999-06-21 | 2003-12-30 | Access Business Group International Llc. | Apparatus for filtering and sterilizing water utilizing a turbidity and microorganism sensing system |
| CN113368554A (zh) * | 2021-06-17 | 2021-09-10 | 珠海九通水务股份有限公司 | 排泥检测单元及水处理装置 |
-
1983
- 1983-10-20 JP JP58196771A patent/JPS6088351A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63128447U (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-23 | ||
| JPS63128448U (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-23 | ||
| JPS63256182A (ja) * | 1987-04-13 | 1988-10-24 | Tsurumi Mfg Co Ltd | 汚水処理槽内における上澄水の放流制御方法および装置 |
| WO1994019674A1 (en) * | 1993-02-26 | 1994-09-01 | British Nuclear Fuels Plc | Measuring properties of a slurry |
| US6669838B1 (en) | 1999-06-21 | 2003-12-30 | Access Business Group International Llc. | Apparatus for filtering and sterilizing water utilizing a turbidity and microorganism sensing system |
| CN113368554A (zh) * | 2021-06-17 | 2021-09-10 | 珠海九通水务股份有限公司 | 排泥检测单元及水处理装置 |
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