JPS608938A - マイクロ・プログラムのデバツグ・システム - Google Patents

マイクロ・プログラムのデバツグ・システム

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JPS608938A
JPS608938A JP58117855A JP11785583A JPS608938A JP S608938 A JPS608938 A JP S608938A JP 58117855 A JP58117855 A JP 58117855A JP 11785583 A JP11785583 A JP 11785583A JP S608938 A JPS608938 A JP S608938A
Authority
JP
Japan
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output
line
micro program
microprogram
signal line
Prior art date
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Application number
JP58117855A
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English (en)
Inventor
Shigeo Fujimura
藤村 成男
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS608938A publication Critical patent/JPS608938A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はマイクロ・プログラムのデバッグ・システム
に関するものである。
近年開発されているディジタル電子機器とυ分けCPU
においては、マイクロ・プログラム制御方式が主流とな
っておシ、マイクロ・プログラムのデバッグ・システム
は欠かせない存在となっている。
この発明は、マイクロ・プログラム制御方式で。
かつハードウェア量の縮少が要求されるCPUのマイク
ロ・プログラムのデバッグ・システムに関するものであ
る。
第1図は、従来のこの種のマイクロ・プログラムのデバ
ッグ・システムを示す図である。第1図において、(1
)はマイクロ・プログラム制御方式のCPUであり、以
下に説明するハードウェアにより構成されている。(2
)はマイクロ・プログラムを記憶しておくコントロール
・メモリをアドレッシングするカレント会アドレス・レ
ジスタ(以下CARという)である。(3)はこのCA
 R(2)から出力されるコントロール・メモリのアド
レス信号曜である。
(4)はマイクロ・プログラムを記憶しておくだめの。
読出しのみの機能を持つリード・オンリ・メモリ素子で
構成されるコントロール・メモリ(以下C−ROMとい
う)であり、前記アドレス信号線(3)によってアドレ
ッシングされたアドレスに記憶しであるマイクロ・命令
コードを出力する。(5)はこのC−ROM+4+の出
力線である。(6)は書込みと読出しの機能をもつライ
タプル・メモリ素子で構成されるコントロール・メモリ
(以下WCMという)である。(7)はSVCMt61
をCP 1.1 (11f7)外部カラアドレッシング
するだめのアドレス信号線である。(8)はこのアドレ
ス信号線(7)と前記CA R(21から出力されるア
ドレス信号線(3)のいずれをWCM(61のアドレス
信号線として使用するかを切り変えるセレクタである。
(9)はこのセレクタ(8)の切シ変え信号線であり、
 CPU(11の外部から供給される。OIはこの切り
変え信号線(9)に切り変え信号を発生するスイッチで
ある。αυはセレクタ(8)の出力であシ、前記wcM
f6)ヲアドレツシングするアドレス信号線である。α
2は前記wcMf6)のデータ入力線であシ。
CP U fl)の外部から供給される。a3は前記W
 CM(61の書込み信号線であシ、これにょシ、前記
アドレス信号線aυによってアドレッシングさし7’i
−WCM(61のアドレスに前記データ入力線0りを介
して送られてくるマイクロ命令コードを書込む。Q4)
はW CM+61の出力線であり、アドレス線0υによ
ってアドレッシングされたWCM(61のアドレスの内
容がこれに出力される。09は現在実行中のマイクロ命
令コードを保持するコントロール・データ・レジスタ(
CDR−Aという)であり、前記C−ROM (41ま
たはWCM(6)から出力されるマイクロ命令コードの
いずれか刻々とセットする。aeは前記C−ROM(4
)の出力線(5)とWCM(6)の出力線α→のいずれ
をCDR−A Q!9の入力線として使用するかを切シ
変えるだめのセレクタである。αηはこのセレクタQf
9の切シ変え信号線であり、CPU(1)の外部から供
給される。α槌はこの切シ変え信号線aηに切り変え信
号を発生するスイッチである。α傷は前記CDI’L−
A(1!9の入力線であり、スイッチ(11と切り変え
線αカ及びセレクタOQによって、前記C−ROM (
41の出力線(5)またはWCM+6)の出力線α乃の
いずれかが選択され。
この入力線α9にCDR−A(1!9にセットすべき次
のマイクロ命令コードが出力される。翰はCDR−Aα
9の出力線である。QυはCDR−人(I!9からその
出力線−を介して出力されるマイクロ命令コードを。
マイクロ命令コードによって制御される〕1−ドウエア
に供給するだめのバッファ・ゲートである。
(社)はこのバッファ・ゲートの出力禁止信号線であj
5.CPU(11の外部から供給される。(ハ)はこの
バッファ・ゲートの出力禁止信号線に禁止信号を発生す
るスイッチである。(財)は前記バッファ・ゲート0υ
の出力線である。(ハ)はこの出力線c2→を介して供
給されるマイクロ命令コードによって制御を受けるハー
ドウェアである。(ホ)は前記CA R(21の入力線
であシ、このハードウェア(ハ)によって作成されたコ
ントロール・メモリすなわちc −ROM f4)また
はWCMf61のアドレス信号がこれに出力される。
@は前記CA R(2)のセット許可信号線であり、前
記ハードウェア(ハ)によって作成されたCAR(2)
のセット許可信号がこれに出力される。(ハ)は前記C
DR−人a9のセット許可信号線であり、前記ノ・−ド
ウエア(ハ)によって作成されたCDR−AQ!9のセ
ット許可信号がこれに出力される。翰はくり返しパルス
(以下クロックという)を作成するオシレータ(以下O
SCという)である。(至)はとの0SC(至)から出
力されるクロッ・りを前記CA Rf2)とCDR−A
09及びハードウェア(ハ)に供給するクロック供給線
である。前記CAR(2)に対するコントロール・メモ
リのアドレス信号のセット、CDR−Mi暖に対する次
に実行すべきマイクロ命令コードのセット及びハードウ
ェア(ハ)の動作は、全てこのクロツりに同期化されて
刻々と行なわれる。
次に、従来のマイクロ・プログラムのデバッグ・システ
ムにおけるデバッグ手順について説明する。通常マイク
ロ・プログラムのデバッグとは。
前記C−ROM (41に記憶させておくマイクロ・プ
ログラムが正しいかどうかを、C−ROM(4)に記憶
する前に何らかの手段でシュミレーションすることをい
う。従来のデバッグ・システムにおいては。
まず前記バッファ・ゲー)Gυの出力禁止信号を作成す
るスイッチ(ハ)を禁止側にすることによって。
前記ハードウェア(ハ)の動作を固定する。また、前記
セレクタ(8)の切シ変えスイッチ01をCP U (
+1の外部からのアドレス信号線(7)を有効にする側
にする。
次に、とのc p U (11の外部からのアドレス信
号線(7)と前記w CM (61のデータ入力線α2
及び書込み信号線03を用いて、CPU(1)の外部か
らデバッグしたいマイクロ・プログラムをWCM(61
に順次書込みを行なう。WCM(6)へのマイクロ・プ
ログラムの書込みが終了したら、前記セレクタαQの切
り変えスイッチ(IllをWCM(61の出力線α4を
有効にする側にし。
前記セレクタ(8)の切シ変えスイッチ(lIをCA 
R(21の出力のアドレス信号線(3)を有効にする側
にした後に、前記バッファ・ゲート0υの出力を禁止状
態にしてあったスイッチ(ハ)を許可側にする。これに
より、上記手順であらかじめWCM(6+に書込まれて
いたマイクロ・プログラムの実行が開始される。
この場合、マイクロ・プログラムの実行開始アドレス及
び最初に実行するマイクロ命令コードは。
当然ながらハードウェア(ハ)によって各々CAR12
+及びCDR−AQ!9に準備されていなければならな
い。これは、前記バッファ・ゲー)2υの出力が禁止状
態にある時、出力線(財)には全て論理10′が出力さ
れると仮定すれば、ハードウェア(ハ)はこれを1種の
マイクロ命令コードと解することにより。
前記CA R(21の入力線(ハ)とCAR(21のセ
ット許可信号線(5)及びCDR−AQ!9のセット許
可信号線(至)を制御することによって実現できる。例
えば全て論理20′のマイクロ命令コードにおいては、
CAR(2)の入力線(ハ)に全て0″を出力しておき
、CAR(2+のセット許可信号線罰とCDR−AQ9
のセット許可信号線(ハ)の各々にセット許可信号を出
力しておくように、ハードウェア(至)を構成しておく
ことによ#)0番地からのマイクロ・プログラムのスタ
ートが可能となる。一方、この場合上記手順におけるW
CM(61へのデバッグしたいマイクロ・プログラムの
書込みは0番地から行なう必要がある。かくして開始さ
れたデバッグしたいマイクロ・プログラムの美行が終了
したら、実行結果を点検し。
マイクロ・プログラムに誤りがあれば、WCM(21に
書込むマイクロ・プログラムを訂正して上記手順をくシ
返す。
従来のマイクロ・プログラムのデバッグ・システムは以
上のように構成されているので、CPUが通常使用状態
においては不要なWCMを実装する必要かあ]、cpu
にとって無駄なハードウェア構成となるなどの欠点があ
った。この発明は、この欠点を改善するためになされた
もので、WCMを実装する必要のないマイクロ・プログ
ラムのデバッグ・システムを提供するものである。
第2図に、この発明のマイクロ・プログラムのデバッグ
・システムの図を示す。第2図において。
(11はマイクロ・プログラム制御方式のCPUであシ
、以下に説明する)1−ドウエアによ多構成されている
。(2)はマイクロ・プロゲラ、ムを記憶しておくコン
トロール・メモリをアドレッシングするCARである。
(3)はこのCA R(21から出力されるコントロー
ル・メモリのアドレス信号線である。(4)はマイクロ
・プログラムを記憶しておくためのC−ROMであシ、
前記アドレス信号線(3)によってアトレンジングされ
たアドレスに記憶しであるマイクロ命名コードを出力す
る。(5)はとのC−ROM(4>の出力線である。α
啼は現在実行中のマイクロ命令コードを保持してお(C
DR−Aでありt”−ROM(4)から出力されるマイ
クロ命令コードをC−ROM(4)の出力線(5)を介
して刻々とセットする。
■はCDR−A(lGの出力線である。QυはCDR−
Aα啼からその出力線(イ)を介して出力されるマイク
ロ命令コードを、マイクロ命令コードによって制御され
るハードウェアに供給するためのバッファ・ゲートであ
る。@はこのバッファ・ゲートの出力禁正信号線であf
i、CPU(1)の外部から供給される。
(財)は前記バッファ・ゲー11υの出力線であシ、こ
の発明の構成においては、cpU(+)の外部から供給
されるマイクロ命令コードのバッファ・ゲートの出力線
とワイヤドORされる。(ハ)はこの出力線(24)を
介して供給されるマイクロ命令コードによって制御を受
けるハードウェアである。(イ)は前記CAR(2)の
入力線であシ、このハードウェア(ハ)によって作成さ
れたコントロール・メモリすなわちC−ROM(4)の
アドレス信号がこれに出力される。(5)は前記CA 
R(21のセット許可信号線であシ、前記ハードウェア
(ハ)によって作成されたC A R(2)のセット許
可信号がこれに出力される。(ハ)は前記CDR−AQ
!9のセット許可信号線であシ、前記ハードウェア(ハ
)によって作成されたCDR−A(151のセット許可
信号がこれに出力される。翰はクロックを作成するOS
Cである。(至)は前記CAR(2)とCDI’L−A
(1!9及びハードウェア(ハ)にクロックを供給する
クロック供給線であシ、この発明の構成においては、前
記OSC翰から出力されるクロックとCP U (4)
の外部から供給されるクロックのいずれを使用するかを
選択するセレクタを介したクロックがこのクロック供給
線(至)に出力される。(31)はそのだめのセレクタ
である。(32)は前記oscHよシクロツクを出力す
るクロック線であり、前記セレクタ(61)に入力する
。
(33)はCP Ufl)の外部からクロックを供給す
るためのクロック線であり、前記セレクタ(31)に入
力する。(34)は前記セレクタ(31)の切シ変え信
号線であシ、これにより08CcAのクロック線(32
)とcpU (11の外部からのクロック線(33)の
いずれを使用するかを選択する。以上がこの発明におけ
るCPU(1)の構成の説明である。以上のこの発明の
説明の文中において、[cPUfl)の外部]とあるの
は以下に説明する。マイクロ・プログラム・デバッグ装
置(以下デバッグ装置という)を示している。(65)
はそのデバッグ装置であり、以下に説明するハードウェ
アにより構成されている。(36)は各種の処理制御機
能をもつ汎用的なプロセッサであり、前記c p U(
1)の外部からのクロック線(33)にクロックを出力
する機能、前記セレクタ(31)の切シ変え信号線(5
4)に切シ変え信号を出力する機能、前記バッファ・ゲ
ー)(211の出力禁止信号線いに出力禁止信号を出力
する機能、及びデバッグしたいマイクロ・プログラムを
人間の操作によって内部に記憶させておく機能、更に人
間の操作によってそのマイクロ・プログラムを任意に変
更する機能、また以下に説明するデバッグ装置(35)
の他の構成品の制御を行なう機能などをもつ。(67)
は前記CDR−Aa5と同等のコントロール・データ・
レジスタ(以下CDR−Bという)である。(38)は
このCDR−Bの出力線である。(39)は前記バッフ
ァ・ゲートQυと同等のバッファ・ゲートであシ、その
出力線はバッファ・ゲー)Hの出力線Q4にワイヤドO
Rさパれる。(40)はこのバッファ・ゲー) (39
)の出力禁止信号線であシ、前記プロセッサ(66)よ
シ禁止信号がこれに出力される。(41)は前記CDR
−B(37)のデータ入力線であシ、前記プロセッサ(
36)よシデータがこれに出力される。(42)は前記
CDR−B(!+7)のセット信号線であり、前記プロ
セッサ(36)よりセット信号がこれに出力される。以
上がこの発明の構成である。
次に、この発明のマイクロ・プログラムのデバッグ・シ
ステムのデバッグ手順について説明する。
この発明のデバッグ手順の特徴は、前記CPIJ(1)
の外部からデバッグ装置(35)を接続し、デバッグ手
順の全てをこのデバッグ装置(35)の制御によって行
なうところにある。まず、前記プロセッサ(36)K7
”バッグしたいマイクロ・プログラムを記憶させる。次
に前記OS CrAから出力されるクロック線(62)
とプロセッサ(36)から出力されるクロック線(33
)を切り変えるセレクタ(31力切シ変え信号線(34
)に、プロセッサ(66)によシ、プロセッサ(36)
から出力されるクロック線(63)を有効にする切シ変
え信号を出力する。また、前記CP U (1)内のバ
ッファ・ゲー)C1υの出力禁止信号線(2)に、プロ
セッサ(36)により出力禁止信号を出力し、デバッグ
装置(35)内のバッファ・ゲー) C59)の出力禁
止信号、i@ (40)に、プロセッサ(36)によシ
出力を許可にする信号を発生する。その後、プロセッサ
(36)によシ、前記CDR−B (37)に対し、デ
ータ入力線(41)とセット信号線(42)を介して、
プロセッサ(36)にあらかじめ記憶しであるデバッグ
したいマイクロ・プログラムの先頭のマイクロ命令コー
ドをセリトンワ前記クロック線(33)にクロックを1
発のみ出力する。これにより、cpU(1)内のノ・−
ドウエアT25)に対し、1つのマイクロ命令コードと
1発のクロックが供給されるので、ノ1−ドウエア(ハ
)はそのマイクロ命令コードに対応した動作を1回行な
う。
次にデバッグしたいマイクロ・プログラムの2つ目のマ
イクロ命令コードを、前記手順によりCDR−B (3
7)にセットし、クロックm(33)にクロックを1発
出力する。これにより、ノ・−ドウエア(25)は2つ
目のマイクロ命令コードに対応した動作を1回行なう。
以下、デバッグしたいマイクロ・プログラムの3つ目以
降のマイクロ命令コードについても上記2つ目と同様の
手順によシ、マイクロ命令コードとクロックを順次出力
する。かくしてデバッグしたいマイクロ・プログラムの
出力が終了したら、ハードウェア(ハ)の動作結果を点
検し。
マイクロ・プログラムに誤りがあれば、プロセッサ(6
6)に記憶しであるマイクロ・プログラムを訂正して上
記手順をくシ返す。また、マイクロ・プログラムの動作
結果の点検は、各マイクロ命令コードとクロックの出力
が1回終る毎に行なうことや、マイクロ・プログラムの
途中の任意の箇所で行なうことなどもできる。
マイクロ・プログラムのデバッグが終了し、マイクロ・
プログラムを前記C−ROM+4)に記憶させた段階で
は、デバッグ装置(35)はCP U (1)から切り
離される。この場合、前記クロック線(32)(33)
のセレクタ(31)の切り変え信号線(34)は08C
(29)から出力されるクロック線(62)を選択する
信号極性となり、 cpU(11内のバッファ・ゲー1
12υの出力禁止信号線@は、出力許可側の信号極性と
なるように、各線の極性を選定しておくことによシ。
CP U (1)は、0SC(ハ)から出力されるクロ
ックとC−ROM(4)に記憶されているマイクロ・プ
ログラムによって動作することとなる。
この発明は1以上のような構成になっているから、その
効果としては、従来のマイクロ・プログラムのデバッグ
・システムのようにCPUが通常使用状態においては不
要なWCMを実装する必要があるという欠点を除去でき
る。
ナシ2以上はマイクロ・プログラム制御方式でかつハー
ドウェア量の縮少が要求されるCPUのマイクロ・プロ
グラムのデバッグ・システムに9いて説明しだが、この
発明はこの種のCPUに限らず通常のマイクロ・プログ
ラム制御のCPUや特殊力信号処理を行なうマイクロ・
プログラム制御方式のプロセッサなどに使用しても良い
。
以上説明したように、この発明によれば汎用的なプロセ
ッサをもつデバッグ装置をCPHの外部から接続し、そ
のデバッグ装置内にデバッグしたいマイクロ・プログラ
ムを記憶し、デバッグ装置の制御によってマイクロ・プ
ログラムのデバッグを行なうシステム構成であるから、
CPHに通常不要なWCMとその関連ハードウェアを実
装する必要がな(、CPUのハードウェアを縮少できる
利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のマイクロ・プログラムのデバッグ・シス
テム例の図、第2図はこの発明のマイクロ・プログラム
のデバッグ・システムの図である。 図において、(1)はCPU、(2)はCAR,(3)
はアドレス信号線、(4)はC−ROM、(5)はC−
1’LOMの出力線。 (6)はWCM、 (7)はアドレス信号線、(8)は
セレクタ。 (9)はセレクタ切り変え信号線、 Qlはスイッチ、
Uはアドレス信号線、α擾はデータ入力線、θjはWC
M書込み信号線、HはWCM (7)出力線、u!9は
CDR−A。 αeはセレクタ、αηはセレクタ切シ変え信号線、α梯
はスイッチ、α9はCpR−Aの入力線、(2IはCD
R−人の出力線、 +21)はバッファ・ゲート、(財
)はバッファ・ゲート出力禁止信号線、(ハ)はスイッ
チ、(財)はバッファ・ゲートの出力線、(ハ)はノ・
−ドウエア。 (ハ)はCARの入力線、@はCARセット許可信号線
。 翰はCDR−Aセット許可信号線、@はosc、Mはク
ロック供給線、 (!11)はセレクタ、 (32)(
33)はクロック線、 (34)はセレクタ切シ変え信
号線、 (35)はデバッグ装置、 (36)はプロセ
ッサ、 (37)はCDR−B、 (3B)はCDR−
Bの出力線、(39)はバックァ・ゲート、(40)は
バッファ・ゲート出力禁止信号線、 (41)はデータ
入力線、 (42)はCDR−Bセラ)信号線である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大岩増雄

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 マイクロ・プログラムを記憶しておくコントロール・メ
    モリド、コントロール・メモリをアドレッシングするカ
    レント・アドレス・レジスタと。 実行中のマイクロ命令コードを保持するコントロール・
    データ・レジスタと、オシレータと、マイクロ命令コー
    ド及びオシレータから出力されるクロックによって制御
    されるハードウェアと、マイクロ命令コードをハードウ
    ェアに供給するバッファ・ゲートから構成されるマイク
    ロ・プログラム制御方式のCPUのマイクロ・プログラ
    ムのデバッグ・システムにおいて、・CPUにマイクロ
    ・プログラム・デバッグ装置を接続できるようにし、C
    PUの内部に、上記オシレータから出力されるクロック
    と上記マイクロ・プログラム・デバッグ装置から供給さ
    れるクロックのいずれを使用するかを上記マイクロ・プ
    ログラム・デバッグ装置によシセレクトできるセレクタ
    と、上記バッファ・ゲートから出力されるマイクロ命令
    コードと上記マイクロ・プログラム・デバッグ装置から
    供給されるマイクロ命令コードをワイヤド03し、かつ
    いずれのマイクロ命令コードを使用するかを上記マイク
    ロ・プログラム・デバッグ装置によって指定できる制御
    線を備えていることを特徴とするマイクロ・プログラム
    のデバッグ・システム。
JP58117855A 1983-06-29 1983-06-29 マイクロ・プログラムのデバツグ・システム Pending JPS608938A (ja)

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JP58117855A JPS608938A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 マイクロ・プログラムのデバツグ・システム

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JP58117855A JPS608938A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 マイクロ・プログラムのデバツグ・システム

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5971840A (ja) * 1982-10-18 1984-04-23 Mitsubishi Electric Corp 樹脂硬化方法
JPH01244548A (ja) * 1988-03-25 1989-09-28 Fujitsu Ltd マイクロプログラム制御装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5971840A (ja) * 1982-10-18 1984-04-23 Mitsubishi Electric Corp 樹脂硬化方法
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