JPS6089732A - 拡散反射装置の自動試料送り装置 - Google Patents
拡散反射装置の自動試料送り装置Info
- Publication number
- JPS6089732A JPS6089732A JP19700783A JP19700783A JPS6089732A JP S6089732 A JPS6089732 A JP S6089732A JP 19700783 A JP19700783 A JP 19700783A JP 19700783 A JP19700783 A JP 19700783A JP S6089732 A JPS6089732 A JP S6089732A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- diffuse reflection
- reflection device
- focus
- belt
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は赤外分光法により化合物試料を分析する拡散
反射装置に適用する拡散反射装置の自動試料送り装置に
関するものである。
反射装置に適用する拡散反射装置の自動試料送り装置に
関するものである。
赤外分光法は、試料に赤外線を照射して分子の振動のう
ち双極子モーメントの変化を起こす振動に起因する吸収
を測定するものである。一般に化合物は赤外域にそのも
の固２有の振動スペクトルを有するので赤外吸収波長を
測定することにより定性分析が、またその吸収の強さを
洞１定することにより定量分析が可能である。
ち双極子モーメントの変化を起こす振動に起因する吸収
を測定するものである。一般に化合物は赤外域にそのも
の固２有の振動スペクトルを有するので赤外吸収波長を
測定することにより定性分析が、またその吸収の強さを
洞１定することにより定量分析が可能である。
一般的なフーリエ変換型赤外分光４変計のブロック図を
第１図に示す。光源１から出た赤外光２は入口絞り３で
面積と立体角が制限され。
第１図に示す。光源１から出た赤外光２は入口絞り３で
面積と立体角が制限され。
凹面鏡４て反射して平行光線となりマイケルソン干渉計
５に入る。マイケルソン干渉計５は半透鏡のビームスプ
リッタ−６と固定鏡７および可動鏡８から成る。入射光
線はビームスプリッタ−６によって半分は反射して固定
鏡７の方にゆき、半分は可動鏡８にいって反射され、再
び合成されて平行光線となり、試料を装填された拡散反
射装置９を経て凹面鏡１０で集光されて出口絞り１１を
通り検出器１２上に焦点を締ぶ。このとぎ、ビームスプ
リフタ−６と固定鏡７．可動鏡８の距離に差があると、
固定鏡７で反射された光波と可動鏡８で反射された光波
との間には光路差が生じ、そのため合成波は打ち消し合
ったり強め合ったりする。こうして検出器１２からの出
力は光路差の関数である。この検出器１２からの出力を
フーリエ変換すると各波数毎の赤外光のエネルギー分布
が得られる。このため検出器１２の出力は以下電気信号
ラインを太線で示すように増幅器１３で増幅され、Ａ−
Ｄ変換器１４でデジタル値に変換され、更にＦＦＴアナ
ライサ−１５でフーリエ変換される。このＦＦＴアナラ
イザー１５で得られた結果は出力装置１６に直接かもし
くは演算装置１７で演算されたあと出力装置１６に゛出
力される。ＦＦＴアナライザー１５．演算装置＋７．お
よび出力装置１６はいずれも制御装置１８によって制御
され、更に制御装■１８は入力装置１９から指令を受け
る。また可動鏡８を駆動する駆動装置２０も制御装置１
８により制御される。
５に入る。マイケルソン干渉計５は半透鏡のビームスプ
リッタ−６と固定鏡７および可動鏡８から成る。入射光
線はビームスプリッタ−６によって半分は反射して固定
鏡７の方にゆき、半分は可動鏡８にいって反射され、再
び合成されて平行光線となり、試料を装填された拡散反
射装置９を経て凹面鏡１０で集光されて出口絞り１１を
通り検出器１２上に焦点を締ぶ。このとぎ、ビームスプ
リフタ−６と固定鏡７．可動鏡８の距離に差があると、
固定鏡７で反射された光波と可動鏡８で反射された光波
との間には光路差が生じ、そのため合成波は打ち消し合
ったり強め合ったりする。こうして検出器１２からの出
力は光路差の関数である。この検出器１２からの出力を
フーリエ変換すると各波数毎の赤外光のエネルギー分布
が得られる。このため検出器１２の出力は以下電気信号
ラインを太線で示すように増幅器１３で増幅され、Ａ−
Ｄ変換器１４でデジタル値に変換され、更にＦＦＴアナ
ライサ−１５でフーリエ変換される。このＦＦＴアナラ
イザー１５で得られた結果は出力装置１６に直接かもし
くは演算装置１７で演算されたあと出力装置１６に゛出
力される。ＦＦＴアナライザー１５．演算装置＋７．お
よび出力装置１６はいずれも制御装置１８によって制御
され、更に制御装■１８は入力装置１９から指令を受け
る。また可動鏡８を駆動する駆動装置２０も制御装置１
８により制御される。
用いられる拡散反射装置９の内部の側面図を第２図に示
す。ここで拡散反射装置９の入射赤外光２１は平面鏡２
２．２８で反射され、凹面鏡２４で反射され試料２５表
面上に集光される。試料２５により拡散反射された赤外
光は凹面鏡２６で反射集光され、平面鏡２７．２８で反
射されて第１図で示す検出器１２に送られる。
す。ここで拡散反射装置９の入射赤外光２１は平面鏡２
２．２８で反射され、凹面鏡２４で反射され試料２５表
面上に集光される。試料２５により拡散反射された赤外
光は凹面鏡２６で反射集光され、平面鏡２７．２８で反
射されて第１図で示す検出器１２に送られる。
第１図において、前述の構成のうち、光源１２マイケル
ソン干渉計５．拡＃Ｉ１．反射装置９．検出器１２．凹
面鏡４，１０等は全体が箱型カバーでおおわれている。
ソン干渉計５．拡＃Ｉ１．反射装置９．検出器１２．凹
面鏡４，１０等は全体が箱型カバーでおおわれている。
（この箱型カバーは図示していない）これはビームスプ
リッタ−６等の吸湿性の材質を保護し１分光室内への測
定妨害成分（水や炭酸ガスなど）の侵入を防ぐため１分
光室内に常に炭酸ガスを除去した乾燥空気を流す必要が
あるからである。
リッタ−６等の吸湿性の材質を保護し１分光室内への測
定妨害成分（水や炭酸ガスなど）の侵入を防ぐため１分
光室内に常に炭酸ガスを除去した乾燥空気を流す必要が
あるからである。
赤外分光々度肝は以上のような構成であるため、これに
用いられる拡散反射装置９に試料を装填するには箱型カ
バーに設けられた試料装填ドアを開けて行なう。（箱型
カバーと試料装填ドアは図示してない。）この試料装填
ドアは拡散反射装置９の所定の位置に容易に試料を取り
付けられるように充分に大きいものである。このように
、試料交換時に分光室内のパージが破れるので次の試料
測定はパージが完全に復帰するまで待つ必要があり、測
定に時間を要する。
用いられる拡散反射装置９に試料を装填するには箱型カ
バーに設けられた試料装填ドアを開けて行なう。（箱型
カバーと試料装填ドアは図示してない。）この試料装填
ドアは拡散反射装置９の所定の位置に容易に試料を取り
付けられるように充分に大きいものである。このように
、試料交換時に分光室内のパージが破れるので次の試料
測定はパージが完全に復帰するまで待つ必要があり、測
定に時間を要する。
本発明は赤外分光法等に用いる拡散反射装置において、
前述のように時間を要していた試料交換を短時間に、か
つ分光室のパージを破らないように行なうことが出来る
ことを目的としてなされたもので、赤外分光法に用いる
拡散反射装Ｐ（において、試料を載置する試料保持台と
。
前述のように時間を要していた試料交換を短時間に、か
つ分光室のパージを破らないように行なうことが出来る
ことを目的としてなされたもので、赤外分光法に用いる
拡散反射装Ｐ（において、試料を載置する試料保持台と
。
該試オ′１保持台を載置し同保持台の上に配置した複数
の試料の試料表面が上記拡散反射装置の焦点を順次通過
し試料を連続的に測定出来るように構成された試料移動
手段と、該試料移動手段の駆動を試料が上記焦点上に達
した時に止め測定を可能とし測定完了後再び駆動し以降
順次これを繰り返すような駆動を与える駆動回路と。
の試料の試料表面が上記拡散反射装置の焦点を順次通過
し試料を連続的に測定出来るように構成された試料移動
手段と、該試料移動手段の駆動を試料が上記焦点上に達
した時に止め測定を可能とし測定完了後再び駆動し以降
順次これを繰り返すような駆動を与える駆動回路と。
該駆動回路を制御するための制御＊ｌとを具備してなる
ことを特徴とする拡散反射装置の自動試料送り装置を提
供して、前述のような不都合を解決するために２分光室
外部からの操作で連続的に試料を供給するようにしたも
のである。
ことを特徴とする拡散反射装置の自動試料送り装置を提
供して、前述のような不都合を解決するために２分光室
外部からの操作で連続的に試料を供給するようにしたも
のである。
第８図は２本発明の一実施例の装置を示す側面図である
。図中２９は光学ベンチであり、その上には凹面鏡２４
．平面鏡２７．２８等やミラー保持板３０．架台８１で
構成される拡散反射装置９が載置されている。更にこれ
らの拡散反射装Ｐｒ９全体を覆うように箱型カバー８２
が設けられている。
。図中２９は光学ベンチであり、その上には凹面鏡２４
．平面鏡２７．２８等やミラー保持板３０．架台８１で
構成される拡散反射装置９が載置されている。更にこれ
らの拡散反射装Ｐｒ９全体を覆うように箱型カバー８２
が設けられている。
光学ベンチ２９内には２つのローラー８８．８４が内股
されており、それらのローラー８８．８４にはベルト８
５が掛けられている。ベルト８５の上には試料容器保持
台８６が載せられ、更にその試料容器保持台８６の上に
は試料２５が装填された試料容器３７が載置されている
。これらの試料容器保持台３６、試料容器８７は箱型カ
バー３２ζこ開けられた微小な穴３８．８９を通って、
ローラー８８．８４の回転によりベルト３５の上を分光
室外部→分光室内部→分光室外部の順に移動するように
構成されている。この移動の際、試料容器３７内の試料
２５表面が凹面鏡２４の焦点を通るように配置されてい
る。ベルト８５上を移動する試料容器保持台８６を容易
に装着や承り外しできるように補助台４０゜４１が光学
ベンチ２９の左右に配置されている。また、以下太線の
電気系統で示されるように、一方のローラー３３はパル
スモータ−４２に接続されており、パルスモータ−４２
は駆動回路４３に、更に駆動回路４３は制御装置４４に
接続されている。
されており、それらのローラー８８．８４にはベルト８
５が掛けられている。ベルト８５の上には試料容器保持
台８６が載せられ、更にその試料容器保持台８６の上に
は試料２５が装填された試料容器３７が載置されている
。これらの試料容器保持台３６、試料容器８７は箱型カ
バー３２ζこ開けられた微小な穴３８．８９を通って、
ローラー８８．８４の回転によりベルト３５の上を分光
室外部→分光室内部→分光室外部の順に移動するように
構成されている。この移動の際、試料容器３７内の試料
２５表面が凹面鏡２４の焦点を通るように配置されてい
る。ベルト８５上を移動する試料容器保持台８６を容易
に装着や承り外しできるように補助台４０゜４１が光学
ベンチ２９の左右に配置されている。また、以下太線の
電気系統で示されるように、一方のローラー３３はパル
スモータ−４２に接続されており、パルスモータ−４２
は駆動回路４３に、更に駆動回路４３は制御装置４４に
接続されている。
次に、」二記の構成の装置の作用を説明する。
試料２５を試料容器３７に装填した後、試料容器保持台
３６に多数個配置する。その試料容器保持台３６をベル
ト３５上に載せ、制御装置４４から駆動回路４３に信号
を送ってパルスモータ−４２，ローラー８３．８４を回
転させることイこより徐々にベルト８５を動かす。試料
容器保持台８６が箱型カバー３２に開けられた微小な八
３８を通って拡散反射装置９の方に移動し、第１番目の
試料２５の表面が凹面鏡２４の焦点に達したときベルト
８５の移動を止める。この状態で第１番目の試料２５の
赤外吸収スペクトルの測定を行なう。潤定後更ｌこベル
ト３５を駆動して第２番目の試料２５の表面を凹面鏡２
４の焦点まで移動する。この状態で第２番目の試料２５
の赤外線吸収スペクトルを測定する。
３６に多数個配置する。その試料容器保持台３６をベル
ト３５上に載せ、制御装置４４から駆動回路４３に信号
を送ってパルスモータ−４２，ローラー８３．８４を回
転させることイこより徐々にベルト８５を動かす。試料
容器保持台８６が箱型カバー３２に開けられた微小な八
３８を通って拡散反射装置９の方に移動し、第１番目の
試料２５の表面が凹面鏡２４の焦点に達したときベルト
８５の移動を止める。この状態で第１番目の試料２５の
赤外吸収スペクトルの測定を行なう。潤定後更ｌこベル
ト３５を駆動して第２番目の試料２５の表面を凹面鏡２
４の焦点まで移動する。この状態で第２番目の試料２５
の赤外線吸収スペクトルを測定する。
以上のような操作を繰り返すことによって第３番目、第
４番目の試料２５を次々に測定していく。
４番目の試料２５を次々に測定していく。
測定された試料２５は順次箱型カバー８２のもう一方の
穴３９を通して補助台４１上に送り出されてくる。
穴３９を通して補助台４１上に送り出されてくる。
以−１−説明の本発明の拡散反射装置の自動試料送り装
置Ｈによれば、従来は拡散反射装置で試料を測定する場
合、その試料交換時に′分光室内のパージ状態をその都
度破る必要があったため。
置Ｈによれば、従来は拡散反射装置で試料を測定する場
合、その試料交換時に′分光室内のパージ状態をその都
度破る必要があったため。
次の試料測定までにパージを回復するための待機時間を
要していた。
要していた。
本発明の装置によると２分光室を形成している箱型カバ
ーの一部に設けられた微小な穴（入口、出口）を通して
試料を自動的に搬送する構造であるため、上記のような
パージ回復のための待機時間の必要もなく、試料のセン
ティングも容易に出来るようになった。
ーの一部に設けられた微小な穴（入口、出口）を通して
試料を自動的に搬送する構造であるため、上記のような
パージ回復のための待機時間の必要もなく、試料のセン
ティングも容易に出来るようになった。
第１図は一般的なフーリエ変換型赤外分光４変計のブロ
ック図、第２図は一般的な拡散反射装置内部の側面図に
光線の反射状態を示した説明図、第３図は本発明の一実
施例を示す装置の側面図と制御部のブＯ，り図をそれぞ
れ示す。 ２５・・・試料、２９・・・光学ベンチ、３０・・・保
持板、８１・・・架台、３２・・・箱型カバー、 ８８
．８４・・・ローラー。 ３５・・・ベルト、３６・・・試料容器保持台、８７・
・・試料容ｒｄ＋ ３８．３９・・・微少な穴、 ４０
．４１・・・補助台、４２・・・パルスモータ、４３・
・・駆動回路、４４・・・制御装置。
ック図、第２図は一般的な拡散反射装置内部の側面図に
光線の反射状態を示した説明図、第３図は本発明の一実
施例を示す装置の側面図と制御部のブＯ，り図をそれぞ
れ示す。 ２５・・・試料、２９・・・光学ベンチ、３０・・・保
持板、８１・・・架台、３２・・・箱型カバー、 ８８
．８４・・・ローラー。 ３５・・・ベルト、３６・・・試料容器保持台、８７・
・・試料容ｒｄ＋ ３８．３９・・・微少な穴、 ４０
．４１・・・補助台、４２・・・パルスモータ、４３・
・・駆動回路、４４・・・制御装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 赤シト分光法に用いる拡散反射装置において。 試料を載置する試料保持台と、該試料保持台を載置し同
保持台の上に配置した複数の試料の試料表面が上記拡散
反射装置の焦点を順次通過し試料を連続的に測定出来る
ように構成された試料移動手段と、該試料移動手段の駆
動を試料が」二記焦点上に達した時に止め測定を可能と
し測定完了後再び駆動し以降次順これを繰り返すような
駆動を与える駆動回路と、該駆動回路を制御するための
制御装置とを具備してなることを特徴とする拡散反射装
置の自動試料送り装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19700783A JPS6089732A (ja) | 1983-10-21 | 1983-10-21 | 拡散反射装置の自動試料送り装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19700783A JPS6089732A (ja) | 1983-10-21 | 1983-10-21 | 拡散反射装置の自動試料送り装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6089732A true JPS6089732A (ja) | 1985-05-20 |
Family
ID=16367237
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19700783A Pending JPS6089732A (ja) | 1983-10-21 | 1983-10-21 | 拡散反射装置の自動試料送り装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6089732A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0217427A (ja) * | 1988-05-09 | 1990-01-22 | Spectra Tech Inc | 拡散反射分光システム |
| WO2001011342A1 (en) * | 1999-08-09 | 2001-02-15 | Colin Roy Jeffress | Automated sample analysis system |
| CN115091654A (zh) * | 2022-08-24 | 2022-09-23 | 深圳市唯锐科技有限公司 | 一种基于中红外线探测器的塑料识别分类系统及方法 |
-
1983
- 1983-10-21 JP JP19700783A patent/JPS6089732A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0217427A (ja) * | 1988-05-09 | 1990-01-22 | Spectra Tech Inc | 拡散反射分光システム |
| WO2001011342A1 (en) * | 1999-08-09 | 2001-02-15 | Colin Roy Jeffress | Automated sample analysis system |
| US6739209B1 (en) | 1999-08-09 | 2004-05-25 | Colin Roy Jeffress | Automated sample analysis system |
| CN115091654A (zh) * | 2022-08-24 | 2022-09-23 | 深圳市唯锐科技有限公司 | 一种基于中红外线探测器的塑料识别分类系统及方法 |
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