JPS6090222A - 高分子物質の放射線処理方法 - Google Patents

高分子物質の放射線処理方法

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JPS6090222A
JPS6090222A JP19816083A JP19816083A JPS6090222A JP S6090222 A JPS6090222 A JP S6090222A JP 19816083 A JP19816083 A JP 19816083A JP 19816083 A JP19816083 A JP 19816083A JP S6090222 A JPS6090222 A JP S6090222A
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JP
Japan
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radiation
cross
irradiation
irradiated
ionizing radiation
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Pending
Application number
JP19816083A
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English (en)
Inventor
Manabu Yamazaki
学 山崎
Kazuo Shingyouchi
新行内 和夫
Norio Takahata
紀雄 高畑
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Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の背景と目的〕 本発明は、ポリオレフィンやナイロンなどの高分子物質
に電離性の放射線を照射して橋かけ処理する高分子物質
の放射線処理方法の改良に関するものである。
電子線などの放射線照射による橋かけ処理は、高分子物
質の耐熱性の向上や化学薬品等に対して不溶化するなど
すぐれた特性の付与に効果があることが知られている。
しかし、限られた照射エネルギーにおいては、橋かけ処
理ができる高分子物質の厚さに限度がある。放射線の吸
収線tは、横軸に照射面からの距離をとり縦軸に橋かけ
密度をとって示した図の曲線AK示すように、照射され
た物質の照射面付近に最大値を持ち、この照射面からの
距離が増すに従い吸収線量は減少しでゆく。
橋か妙密度は吸収線量に依存するので曲線Aと同僚の傾
向を示す。また、照射エネルギーを増すと曲線Bのよう
に吸収Illの最大値は照射面からより離されたところ
に移動し、より厚い高分子物質の橋かけ処理が可能とな
るが、このための照射設備は著しく高価なものとなる。
そして、照射装置の持つ照射エネルギーに対し、厚さの
厚い高分子物質を照射する場合、特に照射面付近の橋か
け密夏に対して照射面より離れた部分の橋かけm[の低
いことが特性上の問題となっている。尚、゛放射線の照
射線量を増すことや照射する高分子物質に多官能モノマ
を添加することによっては、高分子物質の全体としての
橋かけ度を向上することは可能であるが、照射方向に対
する橋かけ密度の不均一性は解消できない。しかも1、
このような処理を施こすことにより照射面から離れた部
分に十分橋かけ処理をすると、照射面に近い部分の橋か
け密度が必要以上に増し、高分子物質の有する可撓性な
どを阻害することになる。
本発明は上記の状況に鑑みなされたものでちり、放射線
の照射方向における高分子物質の橋かけ密度の不均一性
を解消できると共に、限られた放射エネルギーを介しよ
り厚い高分子物質に均一な橋かけ処理ができる高分子物
質の放射線処理方法を提供−することを目的としたもの
である。
〔発明の概要〕
本発明の高分子物質の放射線処理方法は、ポリオレフィ
ンやナイロンなどの高分子物質に電離性放射線を照射し
橋かけ処理をする場合に、上記高分子物質の上記放射線
を照射する面と反対側面に橋かけ促進剤の多官能単量体
が含浸されている状態で、上記放射線を照射し橋かけ処
理する方法である。
本発明の高分子物質の放射線処理方法で用いられる放射
線照射により橋かけ可能な熱可塑性品分1も11h =〕を有する熱可逆性高分子物質である。ここで、R1
,)L2は水素、ハロゲン(フッ素、塩素、臭素、ヨウ
素)セドロキシ基及び炭素数に以下の有機残基(例えば
アルキル基、アラルキル基、アリール基、アリル基、ア
ルコキシ基、カルボキシレート基、アシルオキシ基、シ
アノ基、アミド基など)で表わされる基であるが、要す
るに主鎖の反復構成単位中に(−CH−CH−)を有す
るものであればよい。ポリオキシメチレン、ポリメチル
メタクリレートなど主鎖の構成反復単位中に(−CH−
CH−)を含まない高分子物質は橋かけ促進剤を用いて
放射線照射を行なっても分解反応の方が大きく、実質的
な橋かけは起らない。
かかる高分子物質としては例えば、高密度ポリ” f 
” ” 、低9tlF W ;f’ リエチレン、エチ
レン−酢酸ビニル共重合体、ポリプロピレン、エチレン
−プロピレン共重合体、ポリ−4−メチル−ペンテン=
1、ポリブタジェン、ポリイノプレン、エチレン−ブタ
ジェン共重合体、エチレン−1・4−へキサジエン共重
合体、などのポリオレフィン類、ナイロン6、ナイロン
66、ナイロン6−1O、ナイロン11、ナイロン12
及びこれらの共重合体からなるポリアミド類、ポリ塩化
ビニル、ポリ酢酸ビニル、スチレン−ブタジェン共重合
体、AHS樹脂などを意味するが、これらの高分子物質
の中には6樵の安定剤、可塑剤、耐炎剤、発泡剤などが
加えられてもよい。
放射線を照射する面と反対側の面に塗布する多官能単量
体とはその分子中に複数の官能基を有するもので、例え
ば、エチレングリコールジメタクリレート、トリメチロ
ールプロパントリメタクリレートなどのようなメタクリ
レートを含むもの、ネオペンチルグリコールジアクリレ
ート、トリメチロールプロパントリアクリレート、テト
ラメチロールメタンテトラアクリレートなどのようにア
クリレートを含むもの、トリアリルイソシアタレートの
よりなアリル化合物が代表例として挙けられる。
〔実施例〕
以下本発明の高分子物質の放射線処理方法の実Ma例を
比較例と共に@1表により説明する。試料は、橋かけ処
理する高分子物質を厚さ3+nシート状にしたエチレン
−酢酸ビニル共重合体(VA量28%)を用い、照射電
子エネルギー1.0 M e Vで試験を行った。そし
て、実施例と比較例との緒特性について第2表により説
明する。
第 1 表 第2表中のゲル分率(チ)は、キシレン中で、110℃
−24時間抽出後取り出し乾燥してめた。また、加熱変
形率(チ)は、JI8に一6723法、aX35X35
mシート、温7![120℃、荷重1x9.時間#″1
111時間。
第 2 表 第2表において、実施例は橋かけ処理する高分子物質の
放射線を照射する面に対する反体側面に、多官能単量体
を途布含浸させたものであり、照射面と反照射面とでは
、ゲル分率値が近接しほぼ同様に架橋されており、加熱
変形率及び伸びともすぐれた特性を有しでいる。これに
対し、比較例1は多官能単量体の塗布が熾(、実施例と
同じ量の電子線を照射したものであるが、反照射面のゲ
ル分率は非常に低く、即ち、架橋が不充分のため、加熱
変形率が著しく劣る。また、比較例2は多官能単量体の
塗布がな〈実施例の2倍の量の電子線を照射したもので
あるが、照射面で分子崩壊を生じ、伸び特性が者しく劣
る。
このように本実施例の高分子物質の放射線処理方法にお
いては、高分子物質の放射線を照射する面と反対側向に
、橋かけ促進剤としての多官能単量体を塗布し含浸させ
た後、放射線を照射し橋かけ処理をするので、橋かけ高
分子物質の良好な特性を損うことなく限られた照射設備
能力において放射線の照射方向における高分子物質の橋
かけ密度の不均一性を解消しより厚い高分子物質も均一
に架橋することができる。
また、電線、ケーブルの絶縁体やシース材料に橋かけ処
理を施こすことは、耐熱性などの特性を付与するために
よく行われている。この場合に、この絶縁体やシースの
照射向と反対側の面、即ち内側に直接多官能単量体を塗
布することは、その構造上から困難でるる。このため、
照射処理する絶縁体やシースを導体またはコア上に被覆
する前にこの導体またはコア上に多官能単量体を塗布す
れば、導体またはコア上の多官能単量体が絶縁体やシー
スに含浸され、上記実施例と同様の作用効果が得られる
〔発明の効果〕
以上記述した如く本発明の高分子物質の放射線処理方法
によれば、放射線の照射方向における高分子物質の橋か
け密度の不均一性を解消できると共に、限られた放射エ
ネルギーを介しより厚い高分子物質に均一な橋かけ処理
ができる効果分有するものである。
【図面の簡単な説明】
図は高分子物質に放射線照射の場合の照射面からの距離
と橋かけ密度との関係説明図である。 手続補正書(航〕 59.2.06 昭和 年 月 日 り事件の表示 昭和 sr 年 g、 j′f願fg I’ll”l 
t O号a 補正をする者 屯 代 理 人〒100 6、穎−、rJも 明徊壜 ?、 琲正内y12 gすi1虚す y、 s&、t:tfr Vra c、)j丁工s% t、o f−、。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、 ポリオレフィンやナイロンなどの高分子物質に電
    離性放射線を照射し橋かけ処理をする方法において、上
    記高分子物質の上記放射線を照射する面と反対側面に、
    橋かけ促進剤の多官能単量体が含浸されている状態で、
    上記放射線を照射し橋かけ処理することを特徴とする高
    分子物質の放射線処理方法。
JP19816083A 1983-10-21 1983-10-21 高分子物質の放射線処理方法 Pending JPS6090222A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1103147C (zh) * 1994-07-29 2003-03-12 夸尔柯姆股份有限公司 Cdma通信系统中进行搜索捕获的改进方法和装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1103147C (zh) * 1994-07-29 2003-03-12 夸尔柯姆股份有限公司 Cdma通信系统中进行搜索捕获的改进方法和装置

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