JPS609259A - スイツチングシステム試験回路 - Google Patents

スイツチングシステム試験回路

Info

Publication number
JPS609259A
JPS609259A JP59080013A JP8001384A JPS609259A JP S609259 A JPS609259 A JP S609259A JP 59080013 A JP59080013 A JP 59080013A JP 8001384 A JP8001384 A JP 8001384A JP S609259 A JPS609259 A JP S609259A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
switching
switch
input
output
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59080013A
Other languages
English (en)
Inventor
コンラツド・ルイス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Microsemi Semiconductor ULC
Original Assignee
Mitel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitel Corp filed Critical Mitel Corp
Publication of JPS609259A publication Critical patent/JPS609259A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
    • H04M3/28Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
    • H04M3/32Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for lines between exchanges
    • H04M3/323Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for lines between exchanges for the arrangements providing the connection (test connection, test call, call simulation)
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/24Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
    • H04M3/244Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q11/00Selecting arrangements for multiplex systems
    • H04Q11/04Selecting arrangements for multiplex systems for time-division multiplexing
    • H04Q11/0407Selecting arrangements for multiplex systems for time-division multiplexing using a stored program control

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
  • Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野〉 本発明は、スイッチングシステムに関し、詳しくはスイ
ッチングシステム内の上記システムの伝送経路を試験し
得る循環ループ配列に関する。
〈従来技術〉 スイッチングシステムは、通常電話セットや電話セット
とトランクやトーン受信器やトーン発生器などの周辺装
置間の信号伝送経路を相互接続するために使用される。
典型的なスイッチングシステムは、数個の段を有するス
イッチングネットワーク(スイッチング回路網)で形成
され、上記段とは、ライン回路やトランク回路などの周
辺機器インターフェース回路であり、筆記段はJ上記ス
イッチングネットワークと共通制御装置に接続される。
周辺装置がサービスの要求を示す信号を発生すると、上
記共通制御装置は、上記スイッチングネットワークを通
って要求された周辺装置間に接続を組立てる。これと同
様の一般的機能は、上記システムが空間分割スイッチン
グネットワークとして動作しても、時間分割スイッチン
グネットワークとして動作しても与えられる。
種々のスイッチングされたリンク(空間分割スイッチン
グでも時間分割スイッチングでも)を通る伝送経路は、
当然能動的構成要素と受動的構成要素のどちらをも通っ
て組立てられなければならない。これらの構成要素は時
々故障するので、上記伝送経路とスイ・ンチを試験して
、それらの無欠陥を保証することが上記システムの重要
な機能である。上記伝送経路およびスイッチを試験する
ために用いられる方法の1つは、上記スイッチングネッ
トワークを通って伝送経路ループを組立て、該経路に信
号を注入するために上記伝送経路ループにマトリックス
試験装置を接続し、上記ループを通過した結果の信号を
受信し、受信信号を注入信号と比較する方法である。両
信号間に何らかの差異があれば、それは上記ループを形
成する上記伝送経路に不完全な特質があることを意味す
る。
伝送経路を試験するための上記の方法は、主スイツチン
グネットワークを通って周辺装置間にループを組立てて
、夫々の使用可能な伝送経路を適切に試験することを必
要とする。従って、この方法は相当数のスイッチングネ
ットワーク交差点(空間分割型の交差点またはそれと等
価値の時間分割装置)を相当な時間のあいだ使用し、そ
の交差点(または時間分割装置)と該交差点に連合する
リンクは、上記試験の期間中利用できない。この種の循
環ループ試験はそのシステムの送話伝送容量を相当減少
させることが分かっている。
上記循環ループ試験システムは、シャンクターを経て周
辺装置相互間よりもむしろ、ジャンクターと周辺装置と
の間にも使用されている。この場合、トーンは、上記ジ
ャンクターから上記周辺装置に注入され、その結果のト
ーンは、試験装置に戻って受信される。この種の循環ル
ープ試験もまたそのネットワークの送話伝送容量を相当
減少させることが分かっている。
スイッチングネットワークを試験する他の方法、特にP
CM(パルス符号変調)信号スイッチングシステムにお
いては、2つの2進法試験特別ビツトが全てのメツセー
ジに注入され、それと同様の試験メツセージが、通信し
ている2つの周辺装置へループを経て伝送される。もし
両周辺装置で受信されたメツセージが同一であれば、そ
のループは無欠陥であると考えることがでトる。
しかし、この方法においては、全ての通信の間中、伝送
ループと絶えずチェックするので、非常な時間消費があ
り、それが再びそのシステムの送話伝送容量を相当減少
させる。
〈発明の目的、構成〉 本発明は、システム内の周辺装置間の伝送ループ全体を
比較的長時間のあいだ忙しくさせる必要なくスイッチン
グネットワークを試験できる方法および装置に関するも
のである。本発明は、個々のスイッチ(またはそれと等
価値の時間分割装置)や、スイッチング段とネットワー
クとの間のループや、周辺装置間の完全なループや、周
辺装置とその局部制御装置との間の短いループなど、実
に長、短にかかわらず上記システム内で組立てられるい
かなるループも、いかなるスイッチをも試験゛でとる手
段を提供する。この上らに、上記システムは万能でかつ
効率が高い。さらに、制御メツセージが通信メツセージ
から分離されてスイッチングおよび経路づけされるとい
う類のない型のスイッチングシステムを用いているため
、通信メツセージ経路は、上記試験の処理のための監視
信号を伝送する必要がない。試験は、上記スイッチやリ
ンクが暇な時の罰にもより好んで行なうことができる。
その結果は、上記システムに前述の従来例よりも実質的
に少ない衝撃しか与えず、さらに上記システム内の構成
要素の特定の欠陥を自動的力り従来よりも高精度に分離
する能力を改善するスイッチングシステム試験装置であ
る。
この試験装置は、上記の類のないシステム構造に基づく
のみならず、時間、空間分割スイ・ンチネ・ノドワーク
の組合せという分離した発明1こも基づ〜)ており、上
記時間、空間分割スイ・/チネ・ノドワークは、時分割
入、出力ポート相互間の通信を許すばかりでなく、上記
スイッチへの直列PCM時分時分割チャネル人力出力列
バスとの間を接続し得るマイクロプロセッサとの通信を
も許す。このスイッチは、フンラッY・レヴイスの発明
で社団法人ミテルに帰す1981年9月11日提出のカ
ナダ国特許出願385,726 に述べられており、こ
こで゛はDXスイッチとして言及されてりする。
〈実施例〉 第1図は、代表的な従来システムのプロ・ツク図を示す
。上記システムは、スイ・ンチングマトリ・ンクスを制
御する共通制御装置1を備え、上記スイッチングマトリ
ックスは、1つまたは複数の第1段2A、2B等を含み
、該第1段は、通信リンクを経て第2段3に接続される
。電話セ・ント4のような周辺装置は、上記1つまたは
複数の第1段に接続される。従来例のいくつかにおいて
は、ネ・ノド 。
ワークシャンクター(図示せず)が、上記第2段3内の
種々のリンクを相互に連結するために用いられる。トラ
ンク回路は、ある場合には周辺装置として、またある場
合にはさらにスイッチングマトリックスを経て、第2段
3に接続される。もちろん、このようなシステムの種類
は多様性に富んでいる。 従来の試験方法では、マトリ
ックステスター5が、例えばシャンクターを介してスイ
ッチングネットワーク(スイッチング回路網)に接続さ
れる。上記共通制御装置1は、通信経路ループ6(破線
で示す)を組立てる。上記信号ループは、マトリックス
テスター5を、上記第2段3のスイッチおよび上記第1
段2Bに継がるリンクさらに上記第2段3へ向うリンク
を通り、第2段3のスイッチおよび第1段2に継がるリ
ンクおよび第1段2内のスイッチおよび第2段3へ向う
リンクさらに第2段3内のスイッチを通って、上記マト
リックステスター5へ戻るよう接続する。そしてマトリ
ックステスター5は上記ループ6に信号音を印加し、該
信号音は上記リンクとスイッチの交差点の全てを通って
、このループを通過した信号音は上記マトリックステス
ター5に再び受信される。もし受信信号音が、予め選定
したレベル以下の振幅に減少したり、全く現われなかっ
たり、帯域幅または池の質的低下を被ったり、予め選定
した範囲を越えた直流電流の偏りを搬送するならば、上
記マトリックステスターは、試験された伝送経路に欠陥
があるということを確定することがでとる。
上記マトリックステスター5から(図示しない手段を通
って)伝送経路に欠陥があるという情報を受けた後、上
記共通制御装置1は、完全なループを試験する多数の択
一的経路を組立てねばならず、該経路は、上記と同様に
夫々が各自のリンクと交差点を有し、そうしてどのリン
クやスイッチ交差点に欠陥があるかを絞り込んで、決定
することができる。ループをiit験し、欠陥を分離す
るためには、明らかに非常に多くの試験時間と非常に多
くのリンクやスイッチの使用とを必要とする。
本発明によれば、個々のスイッチも、所望の長さのルー
プと同様に試験することができる。このシステムを、P
CM(パルス符号変調)時分割マルチプレクススイッチ
ングネットワークに関連して述べることにするが、ひと
たびこの原理が理解されれば、当業者は同様の概念を用
いて空間分割ネットワークを設計でとるものと考えられ
る。
第2図は、本発明を実施するシステムのブロック図を示
し、制御プロセッサ7は、高速並列バス8を経て2種の
スイッチングネットワーク、即ちメツセージスイッチと
して後述する監視および制御の回路経路手段としてのス
イッチングネットワーク9および回路スイッチとして後
述するスイッチングネットワーク10と通信する。メツ
セージスイッチと回路スイッチは、共に直列リンクを経
て1つまたは複数の周辺機器制御装置11A、11Bに
接続され、該周辺機器制御装置は、周辺インターフェー
ス装置(図示せず)を経て周辺装置12A、12B、1
3等に接続される。各周辺機器制御装置は、スイッチン
グネットワークを備える。
記述を容易にするため、上記周辺装置が夫々のインター
フェース装置を含むと仮定する。サービス装置14もバ
ス8に接続される。
前述のシステムは、コンラッド・レヴイスの発明で社団
法人ミテルに帰す1983年2月18日提出のカナダ国
特許出願421,936 に述べられている。このシス
テムにおいて、監視信号と制御信号は、メツセージスイ
ッチ9とバス8を通るリンクを経て、周辺機器制御装置
と制御プロセッサとの開で(即ち、周辺装置から周辺機
器制御装置を経て制御プロセッサへ)伝送される。周辺
装置間の実際の通信信号は、周辺装置から周辺(幾器制
御装置と回路スイッチ10と周辺機器制御装置とを通り
他の周辺装置へ組立てられた回路を通過する。ある場合
には、通信信号回路は、回路スイッチ10を通らず1つ
の周辺(幾器制御装置のみを通って周辺装置相互間に接
続される。例えば、トーン ′受信器13が、電話セラ
)12Bと同じ周辺機器制御装置に接続され、上記電話
セットからのトーンダイヤリング信号を受信せねばなら
ない場合である。しかし、トーン受信器13を継いでい
ない周辺機器制御装置に周辺電話セラ)12Aが接続さ
れるならば、回路伝送経路は、周辺機器制御装置11A
と回路スイ・ンチ10と周辺様器制御装置11Bとを通
り、電話セット12Aとトーン受信器13との間に組立
てられる。サービスと電話接続の組立てとの要求を促進
する監視信号ならびに制御信号は、周辺機器制御装置と
メツセージスイッチ9とバス8とを通る分離したメツセ
ージリンクを経て、周辺トーン装置または周辺トーン受
信器と制御プロセッサ7どの間を往復する。
本発明によれば、実質的には任意の長さの局部的監視ル
ープを組立てることができ、このシステム内の実質的に
はいかなるスイッチやリンクも試験することができる。
例えば、電話セラ)12Bのインターフェースとトーン
受信器13との開の周辺機器制御装置11Bを通る短い
伝送経路を試験する場合、制御プロセッサ7は、バス8
とメツセージスイッチ9を経て周辺機器制御装置11B
に制御メツセージを送り、該制御メツセージによって上
記周辺(幾器制御装置11Bは、内蔵するスイッチング
マトリックス(例えば、時分割スイッチングマトリック
ス)を通り上記電話セットのインターフェースとトーン
受信器13との1if11こ通信ループを組立てるが、
該通信ループは、この場合回路スイッチ10へのリンク
を除外している。さらに、試験メツセージが、サービス
装置14からバス8とメツセージスイッチ9と周辺(幾
器制御装置11Bとを経て上記通信ループに送られ、該
通信ループを通過した試験結果の信号は、直前に述べた
メツセージスイッチリンクの系を通ってサービス装置1
4に戻り、該サービス装置14に受信される。
このようにして、小規模で孤立した伝送ループを組立て
、試験することか゛できる。
同様の方法で他の形のループを組立て、試験することが
できる。例えば、制御プロセッサ7は、バス8を通すメ
・ンセーシスイッチ9を経て周辺は器制御装置11Aと
回路スイッチ10とにメツセージを送ることかでと、該
メツセージによって周辺電話12Aのインターフェース
から周辺機器制御装置11Aと回路スイッチ10と周辺
機器制御装置11Bとを通りトーン受信器13のインタ
ーフェースへの回路スイッチループ16が組立てられる
。試験1−ン信号がサービス装置14によってメツセー
ジループに注入され、局部ループ15に関する応答信号
が前述のメツセージリンクを経て受信される。このよう
にして、周辺インターフェース相互間の完全なループま
たは長いループを組立て、試験することができる。回路
経路の試験について特に述べて鰺だので、メツセージス
イッチ経路も試験することができるということに特に言
及しておく。メツセージスイッチ経路を試験するために
組立てられたループは、参照番号17で示される。この
例では、制御プロセッサ7からのメツセージスイッチル
ープは、バス8とメツセージスイッチ9と周辺機器制御
装置11Aとを通って周辺電話12Aのインターフェー
スへ向って組立てられる。制御メツセージは、サービス
装置14によって注入され、上記ループ(2重リンク)
の帰路を経て解析のため受信される。
第3図は、本発明を実施するために用いた前述のDXス
イッチ18のブロック図であり、該DXスイッチは、基
本的なスイッチング要素として上記メツセージスイッチ
や上記回路スイッチや上記周辺(幾器制御装置に備えら
れている。上記DXスイッチ自体は、時間、空間分割ス
イッチの組合せであり、より好ましい形としては、夫々
時分割された32のチャネルをもつ8本の入力線19と
、夫々時分割された32のチャネルをもつ8本の出力線
20とを用いている。上記カナダ国特許出願385.7
26 で述べたように、上記入力線の任意の1本から上
記出力線の任意の1本へスイッチングすることができる
。この基礎的(幾能は、フランス、パリ、トンプソン−
C3Fに与えられた1978年6月6日発行の米国特許
4,093,827にも述べられている。しかし、本発
明では、出力線の1本2OAが入力線の1本19Aに戻
るよう接続され、ループバック構造を生ぜしめている。
従って、入力線19の任意のチャネルを、入力線19A
にループバックする出力線2OAの任意のチャネルに接
続することがでと、入力線19の任意のチャネルを出力
線20(2OAを含む)の任意のチャネルに接続するこ
とができる。
カナダ国特許出願385,726 に述べられており、
本発明に用いられるDXスイッチにおいて、1列バス2
1がDXスイッチをインターフェースし、それによって
上記並列バスからのデータ信号は、任意の出力線20(
2OAを含む)の任意のチャネルに印加されることがで
き、任意の入力線19(19Aを含む)の任意のチャネ
ルからのデータ信号は、並列バス21に受信されること
ができる。
この構造は、上記トンプソン−〇SFの特許に記載の構
造と著しく異なり、本発明を促進するものである。
従って、試験メツセージ(即ちサービス装置14からの
PCM)−ン)は任意の入力線19の任意のチャネルと
並列バス21とに受信され得ることが分か1)、上記並
列バス21は、カナダ国特許出願421,936 に記
載されたように制御プロセッサへ導くメツセージ伝送経
路をインターフェースしている。また、入力チャネルに
受信されたいかなる試験メツセージも、上記DXスイッ
チ内の任意のチャネル割り当てを経て、ループバック出
力線2OAから入力線19A回送され得る。従って、局
部的DXスイッチを通ってループバックする経路は、試
験され乞ことができる。
さらに、試験メツセージは、上記メツセージリンク系を
経て並列バス21に受信され得、任意の(局部的DXス
イッチのメモリに格納された)チャネル割り当てを経て
ループバック出力線2OAに印加され得、ループバンク
入力線19Aに入力されイし再び並列バス21に受信さ
れ得る。このようにして、DXスイッチ18自体は、残
りの入力線および出力線の直列PCMチャネルのいずれ
をも使わずに、試験され得る。従来のシステムは、基本
スイッチマトリックスまたは基本スイッチネットワーク
だけを含むような短いループを試験することは明らかに
できなかった。・池のループバック構造と同じくこの構
造も、以下のこのシステムの詳細な記述とDXスイッチ
自体とを考察することによってより良(理解できるであ
ろう。なお、以下の詳細な記述には、上記システムが好
んで用いられている。
ここに述べるDXスイッチは、本発明において、回路ス
イッチやメツセージスイッチや周辺機器制御装置などに
スイッチング要素としで用いられ、試験信号と同じく伝
送されるべき信号をも伝送する。
第4A図は、カナダ国特許出願421,936に述べら
れたようなより好ましい基本的スイッチングネットワー
クをより詳細に示している。
主制御プロセッサ207は、良く知られた方法で主コン
トロール・バ′ス212に継がれるマイクロ・コンピュ
ータからなる主制御器211を備える。大量データ記憶
メモリ213と、大容量データ転送回路214とが同様
にバス212に継がれる。繰作技術に熟達した人は、ス
イッチングシステムの繰作を制御でトるマイクロ・コン
ピュータの操作を知っていると仮定する。
主制御装置、は、メモリ213と共同してプログラムと
データを収容し、上記システムの操作を制御し、上記シ
ステムの諸要素(エレメント)の状態メモリ・マツプを
保持する。
コムラムバッフy(COMRAM buffer)21
4゛として後述するコミュニケーションバッフ7は、1
6ビツト並列バスを経てバス212に接続される。バッ
フ7214.’は、一つはメツセージ・スイッチ203
用ともう一つは回路スイッチ204用の2つの独立した
2ポートバツフ7で実際1こ作られている。
上記コムラム・バッフ7214’は、ifE列バス20
2Aを経てメツセージ・スイッチ203に、より詳細に
は該メツセージ・スイッチの中のメツセージ・スイッチ
・プロセッサ215.クロ、2り・トーン発生器216
. メツセージ・スイッチング・マトリックス217に
接続される。
より好ましい上記実施例では、メツセージ・スイッチン
グ・マトリックス17は、2,048MHzで動作する
32個までの双方向直列メンセージリンク(0〜31)
を有する。上記各リンクは周辺機器制御装置205のプ
ロセッサに接続される。
コムラム・バッファ214′は、並列バスヲ経て回路ス
イッチ204に、詳細には該回路スイッチの一部をなす
回路スイッチ・プロセッサ218に接続される。
回路スイッチは、時間と空間分割スイッチング・マトリ
ックスの結合を形成する4個の部分をもつ回路スイッチ
モジュールをも備える。各モジュールは、16ライン出
カをもっスイッチングマトリックス219によって64
本の並列ライン久方を含み、このマトリックスはローカ
ルバスっまり地域バス220に接続される64本の入力
線をもち、その16本の出力線は周辺スイッチトランシ
ーバに接続される。上記周辺スイッチトランシーバから
の16本の入力ラインは、各部分においてマルチプレク
サ221に接続され、該マルチプレクサの出力は上記バ
ス220に継がれる。上記回路スイッチプロセッサは、
コントローノ匹バス222に接続され、該フントロール
・バスに上記スイッチングマトリックス19の制御器が
接続される。
上記回路スイッチモノユニルは、このように16双方向
直列リンクの4倍までの1周辺機器制御器M2O3に継
がれるリンクをスイッチングすることができる。
上記直列リンクは、各周辺機器制御装置つまりコントロ
ーラ225に含まれる周辺スイッチ制御器223内のト
ランシーバに接続される。上記周辺スイッチ制御器22
3は前述のメツセージ・スイッチ・マトリックスに向か
うリンクにも用いられる。上記周辺スイッチ制御器は、
16ビツト内部回路バス224 ヲLかつコントびへル
・バス225によって周辺スイッチマトリックス226
にも接続される。該周辺スイミンチマトリックス226
は、周辺機器が継がれるθ〜23のボートを有する周辺
スイッチインターフェース回路227に接続される。
第4B図に、周辺スイッチ制御B223をより詳細に示
す。上記回路スイッチモノニールへのリンク233は、
平衡トランシーバ228に接続される。該平衡トランシ
ーバ228には、メツセージ・スイッチ・マトリックス
217へのリンク234と、フレームパルスFP−が入
力される線と、クロックC244とが同じく接続される
。後者の2つの線つまり上記FP−線とC244線は、
周辺機器制御器の他の構成要素にも伸びている。上記平
衡トランシーバ228は、コントロール・バス225に
継がれる周辺スイッチ・プロセッサ229へ接続される
。上記平衡トランシーバ228は、上記周辺スイッチマ
トリックスに導びくバス224に接続される。周辺スイ
ッチ拡張器(extender) 232は、フレーム
パルスつまり上記FP−線と、C244線と同様に上記
平衡トランシーバと、上記コントロール・バスに接続さ
れる。
先に進むまえに、本発明に用いられてここでDXスイッ
チと称する時間・空間分割基本スイッチについて、簡単
に述べるのが理解の助けになろう。
上記スイッチは、コンラッド・レヴイスによる名称「時
分割スイッチングマトリックス」で1981年9月11
日提出のカナダ国特許出願386,726に完全に述べ
られており、読者はそれを参照されたい。上記DXスイ
ッチのブロック図は、第5A図および第5B図に示され
る。
第5A図において、時分割マルチプレクスト入力信号を
通す複数の入力線、典型的にはPCMlN0〜PCMl
N7の参照符を付した8本の線が、101Aとl0IB
の2部分で示す入力データマニピュレータに接続される
。上記各入力線を通って来たデータは、直列のフォーマ
ットで受け入れられ、該データの時系列が複数のフレー
ムに分割され、上記各フレームが32のチャネルに分割
され、上記各チャネルが、1デ一タ語を構成する8バイ
トずつに分割される。上記マニピュレータ101Aおよ
び101Bにて上記入力信号は直列形から並列形に変換
される。その結果の信号系列は、8ビット並列リンクを
経て各マニピュレータか呟メモリ102として後述する
データメモリ102Aおよび102Bの2つの対応する
部分のデータD入力に与えられる。このデータをデータ
メモリ102Aと102Bに記憶するタイミングは、書
き込み制御論理回路103Aと103Bとによって制御
され、この書す込み論理回路は一対のり一1″(lea
d)SDMMとり07り源c244によって制御され、
その両方はタイミング波形発生器118(第5B図)で
作られるタイミング波形をのせている。上記データメモ
リ部は、入力データマニピユレータ部および書き込み制
御論理回路が接続されるのと同様に勿論接続される。上
記例示のデータメモリは、8本の入力線の各1本からの
1フレームを格納するための256X8ビツトで編成さ
れる。その各入力線は夫々が2.048MHz直列デー
タ流を導く。
上記データメモリ102の出力ポートQは、8ビツト並
列リンクを経て後述する回路構成要素を通り、並列から
直列の変換を行なう出力データマニピュレータに導かれ
る。マニピュレータ104は、I/P CLK、、O/
P CLKL O/PLDの各ポートに夫々入力される
入力クロック信号、出力クロック信号、出力リードタイ
ミング信号によって操作される。
8ビツト並列出力導線(リード)1o5は、相応する数
の三状態っまり3位置スイッチ、すなわち三状態ドライ
バ106に接続され、該ドライバからの出力は、夫々が
時分割マルチプレクスト出力信号を通す8本の出力線P
’CMOUTO〜PCM0UT7の組に接続される。
8ビツト部分107Aと3ビツト部分107Bに編成さ
れる256X11ビツト接続メモリは、8ビツト並列デ
ータ入力ターミナルDを有し、該入力ターミナルは、デ
ータ源を供給するコントローラ・インターフェース11
7(第5B図)に線CD(7〜0)によって接続され、
上記コントローラ・イン9−7エースはマイクロプロセ
ッサ・コントローラ(図示せず。)に接続される。上記
接続メモリの8ビツト並列アドレス入力ADは、2つの
8ビツト並列入力をもっ2: 1マルチプレクサ108
の出力に接続される。一方の入力は、2つの組、即ち5
本の並列線A(4〜0)にアドレスを受ける組と3本の
並列線CAR(2〜0)にアドレスを受ける組とに分け
られ、上記入力の各組はコントローラ・インターフェー
ス117を経てマイクロプロセッサ・コントローラに接
続される。他方の8ビツト並列入力は、導線CMRAC
(7〜0)を経てタイミング波形発生器に接続される。
書ぎ込み制御論理回路109Aおよび109Bは、接続
メモリ部分107Aと107Bの夫々の書き込み線つま
りライト線Wに接続される出力を有し、CCMLBW、
SCR/W、CLK244の各線に入力タイミング信号
をもっている。
接続メモリ部分107Aおよび107Bの出力Qからの
8本の並列出力線と3本の並列出力線は、夫々、一対の
対応する接続メモリデータレジスタ110Aと110B
のデータ入力に接続される。
接続メモリ部分107Aおよ1107Bの出力導線は、
マイクロプロセッサ・コントローラに接続されるコント
ローラ・インターフェースの入力CMD(7〜0)およ
びCMD(10〜8)にも接続される。
データ・メモリ部分102Aおよび102Bの出力Qに
継がれる導線は、マイクロプロセッサ・コントローラに
接続されるコントローラ・インターフェース117のD
MD(7〜0)入力に接続される。
接続メモリ・データレジスタ110Aの8ビツト出力は
、マルチプレクサ110および111の相応する8ビツ
ト並列入力に加えられる。マルチプレクサ110の第2
の8ビツト入力は、データ゛ メモリ(下記102参照
)の出力に接続され、マルチプレクサ110の8ビツト
並列出力は、直列−並列変換器である出力データマニピ
ュレータ104の入力に接続される。マルチプレクサ1
11の8並列出力ビットのうちの7ビツトは、データメ
モリ102のアドレスAD入力に加えられ、一方、8番
目のビットは、上記データメモリの出力イネイブル入力
に1個のインバータ119を通って加えられる。マルチ
プレクサ111の第2の8ビツト並列入力は、アドレス
A(4〜0)出力およびコントローラ・インターフェー
ス117のメモリアドレス出力CAR(2〜0)に接続
される。さらに、第3の7ビツト並列入力は、導線DM
WAC(6〜0)を経てタイミング波形発生器118に
接続される。
接続メモリ・データレジスタll0Bの出力ビット8〜
10は、オアゲート112の3ビット並列人力CMDR
IOに加えられる。オアゲート112の第2の入力は、
コントローラ・インターフェース117からのCARV
線に接続される。オアゲート112の出力は、マルチプ
レクサ110の入力選択ポートに接続され、上記出力に
よって上記マルチプレクサへの2つの入力のうちどちら
かが選択され得る。
上記接続メモリ・データレジスタ部分110Bからの第
8および第9ビツトを通す出力導線は、リタイミングレ
ジスタ113の入力に接続される。
上記ビットは、上記リタイミングレジスタを通過させら
れ論理回路120に達し、1本の出力線が直列−並列変
換器114の入力に接続される。リタイミングレジスタ
113の参照符XCを付した第9ビツト出力線は、外部
回路の制御に用いるために設けられる。コントローラ・
インターフェース117からのCAR6およびCAR5
導線は、論理回路120に接続される。
接続メモリ・データレジスタ11.OBからの出力線の
直列ビットは、直列−並列変換器114で並列7オーマ
ツトに変換され、上記変換器114の出力Qから8ビッ
ト並列形で出力ドライバ制御レジスタ115に加えられ
る。出力ドライバ制御信号を運ぶ上記レジスタ115か
らの出力導線0DC(7〜0)は、出力イネイブル入力
導線ODEを持つ出力イネイブル制御論理回路116の
相応する入力に接続され、上記出力イネイブル制御論理
回路は、外部回路から出力圧状態ドライバを特定の状態
にさせるために、外部回路構成要素に接続され得る。出
力イネイブル制御論理回路116の出力導線は、上記出
力圧状態ドライバ106の制御入力に接続される。
マイクロプロセッサ・コントローラ・インターフェース
回路117(第5B図)は、上記回路とマイクロプロセ
ッサ・コントローラ(図示せず。)とを、E、R/W、
MR,CEの各導線およびアドレスバス導線A(5〜0
)およびデータバス導線D(7〜0)によりインターフ
ェースする。上記コントローラ・インターフェース11
7への入力は、データメモリ・リードデータ線DMD(
7〜0)と。
11接続メモリ・リードデータ線CMD’(7〜O)お
よびCMD(10〜8)である。コントローラ・インタ
ーフェース117がらの出力は、夫々1本のコントロー
ラ接続ロー・ライト・イネイブル・メモリ線CCMLB
Wおよびコントローラ接続ハイ・ライト・イネイブル・
メモリ線CCMHBLと、5アドレスビツト線A(4〜
O)と、コントローラ・アドレス・レジスタビットCA
R(2〜0)と、データおよび接続メモリのアドレスを
明示するだめのコントローラ・アドレス・レジスタピッ
)CAR(7〜5)と、接続メモリ久方データを明示す
る8本の線CD(7〜0)とである。
運転中では、入力信号は導線PCM’lN0−7PCM
 I N 7 ニ受ltうj’L、101Aおよび1o
IBの入力データマニピュレータの直列−並列変換器で
直列から並列に変換される。次いで、上記並列データは
、データメモリ102に相応するスピーチ・メモリに書
き込韮れる。接続メ毫’J 107で構成されるアドレ
ス・メモリは、データマニピュレータ104に相応する
並列−直列変換器へ読み出されるデータワードのアドレ
スを格納し、上記データマニピュレータから上記データ
ワードカ咄力線PCM0UTO〜PCM0UT7に直接
加えられる。
このようにして、上記回路は、前述のように時分割スイ
ッチングと空間分割スイッチングとの組合せを形成する
マイクロプロセッサ・コントローラは、上記データメモ
リ102へのリード・アクセスと、接続メモリ107へ
のリード・ライトアクセスとの両方を持つ。それ故、デ
ータメモリ102が8直列入力リンクに入力される8ビ
ツトワードの1フレームを格納すれば、このデータのど
れもが上記マイクロプロセッサ・コントローラによって
読まれ得る。このことは、出力線D M D (7〜0
)を経てデータメモリ102からコントローラ・インタ
ーフェース117の入力に接続されるデータメモリ10
2の出力によって成就される。こうして、入力PCM線
に伝えられるデータ信号は、上記マイクロプロセッサ・
コントローラによって読まれ得る。
上記マイクロプロセッサ・コントローラは、データ導線
CD(7〜0)を経て、マルチプレクサ108に接続さ
れる導線A(4〜0)およびCAR(2〜0)上に明記
される接続メモリ107のアドレスに書き込みを行なう
とともに、上記接続メモリの内容を導線CDM(7〜0
)を経て読み込み、該導線CM D (7〜0)は、接
続メモリ107Aの出力からコントローラ・インターフ
ェース117の対応する入力に接続される。
上記マイクロプロセッサは、以下のように出力導線PC
MOUTO−PCMOUT7に直接書き込みを行なうこ
ともで終る。上記接続メモリからの信号は、接続メモリ
データレジスタ部分110Aと110Bに一時的に格納
される。接続メモリレジスタ]10Aからの最も重要な
8ビツトの出力(CMDR(7〜O))は、マルチプレ
クサ110の並列人力ポートの一方に加えられ、主たデ
ータメモ1月02の出力ビットは上記並列入力ボートの
他方に加えられる。データレジスタ11.OEh>’ら
の第10ビツトが上記マイクロプロセッサ・コントロー
ラからのCAR7線上のビットとあいまって、マルチプ
レクサ110の上記2つの入力グループのうちどちらか
゛、出力データマニピュレータ104およびPCM出力
導線への出力であるかを統御するので、上記マイクロプ
ロセッサ・コントローラが、デーダメモリ102からP
CMワードのかわりに上記コントローラ自身の信号をそ
の出力線上に代用することがで終るということは明白で
ある。
前述の如く、すぐ前の同じスイッチング・マトリックス
からデータメモリ102に音声信号あるいはデータ信号
が格納されると、上記信号は、データメモリ102の出
力からの導線D M D (7〜0)を経て、コントロ
ーラ・インターフェースを通って地域マイクロプロセッ
サに直接読まれ得る。
コントローラからコントローラへの通信はこのようにし
て本発明を用いて促進される。
データメモリ102に格納された信号は、接続メモリ1
07Aに格納された信号で明記されるアドレスによって
、通常その出力PGM導線と時間スロットとを指定され
、上記接続メモリ107Aに格納された信号は、接続メ
モリ・データ・レジスタ110Aおよび8ビット並列導
線DMDR(7〜O)を経て、マルチプレクサ111へ
の入力になる。さらに、上記マイクロプロセッサは、マ
ルチプレクサ111への入力であるメモリアドレス導線
CAR(2〜O)およびA(4〜0)を通して、データ
メモリ102から出力されるべぎワードを直接特定して
代替することがでとる。マルチプレクサ111への第3
の信号源は、タイミング波形発生器118から接続され
るタイミング信号線DMWAC(6〜0)である(第5
B図)。
上記マイクロプロセッサは、導線CAR(2〜0)とA
(4〜0)上に明記された接続メモリ部分107Aおよ
び107Bのアドレスに、書き込み制御論理回路109
Aと109Bによって明記される時間に、11ピツトの
ワード(θ〜10ビット)を書き込むとともに、上記書
き込み制御論理回路は、それに接続する上記メモリに書
軽込み命令を発する。上記接続メモリの第10ビツトは
、上記データメモリまたは上記接続メモリの第7〜0ビ
ツトのいずれが、8ビツトワード)原として直列出力リ
ンクに送出されるべぎかを選択するのに用いられる。上
記第10ビツトの状態によって上記直列出力リンクの8
ビツトは、導線CMDR(7〜0)とマルチプレクサ1
10を経て送られるワードを形成するか、あるいは対応
するチャネル時間の間に対応する出力リンクに送られる
。上記データメモリに格納された256個の8ビツトワ
ードのうちの、1ワードを選択する。前述の如く、上記
第10ビツトは、マルチプレクサ110の状態を変更す
るオアゲート112を通り、上記マルチプレクサを経て
出力データマニピュレータ104へ通過可能とされる特
別のデータ源を明示する。
上記接続メモリの第9ビツトは外部回路の制御のために
用いられる。上記第9ビツトは、接続メモリデータレジ
゛スタ部分110Bから入力され、リタイミング・レジ
スタ113でタロツクタイミング信号C488により位
相を修正され、導線XC上に外部回路制御用に利用可能
とされる。
第8ビツトは、接続メモリデータ・レジスタ部分110
Bからりタイミングレジスタ113および論理回路12
0を経て直列−並列変換器114へ通り、直列ビットは
直列−並列変換器114で8ビット並列形に変換され、
該並列8ビツトは出力ドライバ制御レジスタ115に格
納される。上記出力ドライバ制御レジスタの出力信号は
、出力イネイブル制御論理回路116に加えられ、次い
で、該回路から出力圧状態ドライバ106のデートに加
えられる。これによって、対応する出力リンクに対する
上記三状態ドライバの伝達と出力インピーダンス状態が
明記される。
上記第10ビツトがOの場合、上記接続メモリの第7〜
0ビツトは、上記データメモリのうちからその接続メモ
リのロケーションに対応しかつ直列出力リンクに送られ
るべき1ワードを、その接続メモリのロケーションに対
応したチャネル時間の開明記する。こうして、第10ビ
ツトがOの場合、上記第7〜0ビツトは、導線CMDR
(7〜0)からマルチプレクサ111を経てデータメモ
リ102のAD大入力加えられるアドレス信号である。
上記第10ビツトが1の場合、上記接続メモリの第7〜
0ビツトは、その接続メモリのロケーションに対応しか
つ直列出力リンクに送られるべきデータワードを、その
接続メモリのロケーションに対応したチャネル時間の間
構成する。このデータワードは前述の如くマルチプレク
サ11()を通過する。
これによって、マイクロプロセッサ・コントローラは、
それ自身フレーム、チャネル、ビットタイミングおよび
直列−並列変換に関係なく、上記データメモリからの直
列人力リンクを読み込む。
上記接続メモリの書き込みによって、上記マイクロプロ
セッサ・コントローラは、それ自身タイミングや並列−
直列変換に関係なくその直列出力リンクを経て、データ
ワードを送ることができる。
このように、上記DX(送受切換)スイッチは、任意の
入力線の入力チャネルと任意の出力線の出力チャネルと
の間で信号のスイッチングを行なえ、またデータをマイ
クロプロセッサへ送ったり、マイクロプロセッサからデ
ータを受けて該データをいずれの出力チャネルにも加え
ることができる、ということが明らかである。さらに、
上記マイクロプロセッサは、上記DXスイッチ内のスイ
ッチング経路を制御でき、上記DXスイッチは、導線X
Cを経て別の機器を制御したり、上記機器にデータを送
ったりもできる。上記DXスイッチは単一チップの集積
回路になっている。ループバックに関する本発明は、デ
ータを並列入力を経て、双方向に、DXチップとその任
意の数本の入力線へ、また任意の直列出力線(その各線
が任意の上記入力線へ接続され得る)へ伝送する能力を
高めたものである。
本発明より好ましい実施例としてのシステムの動作を、
詳細なブロック図、第6.第7および第8図を参照して
以下に述べる。
まず第8図に移れば、周辺機器インターフェース回路は
、PCM(パルス符号変調)情報信号経路と周辺機器イ
ンターフェース制御器または周辺装置自体の制御部への
経路との両方を含むと仮定する。このために専用の双方
向データリンクDATAINO〜?、DATA IN 
8〜15.DATA IN 16〜23.DATA O
UT 8〜15およびDATA OUT 15〜23が
、上記周辺数冊インターフェース回路の制御器に接続し
、専用の双方向信号伝達リンクpcso〜7.PC88
〜15.PC816〜23.CC3O〜7゜CC88〜
15およびCC816〜23が、上記周辺機器インター
フェース回路のPCM情報伝達ボートに接続する。以下
に述べる周辺スイッチマトリックスは、夫々が32チヤ
ネルからなる48個の周辺機器側双方向PCM1jンク
か呟回路スイッチに導く夫々が32チヤネルからなる8
個または16個の双方向リンクへの情報の往復を集中す
る役割を果す。
周辺スイッチプロセッサ229(第4B図)は、第8図
のデータ線DO−7.アドレス線A1−10およびC2
44(クロック)t FP−LDS (7レーム・パル
ス−ロード)、R/W(リート/ライ))、C3−(チ
ップ・セレクト)、CDID(クロック)、C125(
クロック)の各線およびデータ承認線(DACK)およ
び配列イネイブル線(ARRAY)から構成されるコン
トロール・バス225を経て、通信を行う。上記周辺ス
イッチプロセッサは、周辺機器インターフェース・カー
ドを絶えず走査するプログラム信号を含む。
上記周辺スイッチプロセッサは、前述のコントロール・
バスに制御信号を出力し、該制御信号は、バッファ23
5とバッファ236を通過し、デコーダ237で復号さ
れて、DXEN(DXスイッチイネイブル)、DATA
 LINK LOOP BACK、ODE REG W
RおよびCA RDIDR,D(カード検証リード)の
各記号を付したバスに出てくる。上記DXXビイ7チイ
ネイブルおよび上記周辺スイッチプロセッサからの池の
導線は、コントロ1ル・インターフェース117と3個
の8X8DXスイッチ238,239,240のタイミ
ング波形発生器118とをインターフェースする。同様
にデータ線Do−D7は、双方向バッファ241を通っ
て接続され、上記バッファの出力線Do−D7は、上記
3個のDXスイッチの制御器インターフェースに接続さ
れる。周辺機器インターフェースのデータ入力線、即ち
DATAINO〜7.DATA IN 8〜15および
DATA IN 16〜23は、マルチプレクサ242
の同相入力に接続され、上記マルチプレクサ242は、
Dχスイッチ238〜240の夫々のpcN4 IN 
0〜7人力線に接続される3つの出力を有する。上記3
個のDXスイッチのPCM0UT O〜7線は、バッフ
ァ243の3つの入力に接続され、上記バッファは、周
辺機器インターフェースの制御器へのデータ出力線DA
TAOUT O〜7.DATAOUT 8〜15および
DATA OUT 16〜23に接続される3つの出力
を有する。従って、双方向伝達リンクが、周辺スイ・ン
チプロセッサ229(第4B図)と周辺機器インターフ
ェース回路のデータ入出力線との間に3つのDXスイッ
チ238,239,240により組み立てられる。
上記周辺スイッチプロセッサは、サービス装置14から
メツセージ系を経て受信される試験信号を出力し、上記
3つのDXスイッチの接続メモリと、次いでデータメモ
リとを通過する。この信号は、ループバックされ、制御
プロセッサ7で読まれる信号である。上記ループバック
された信号は、対応するDXスイッチのデータメモリに
格納され、上記DXXビインチは、所望のチャネルに対
応した時間にのみ働く。上記DXスイッチのデータメモ
リ内容は、データメモリ出力線D M D (第5A図
)。
バッフy241(第8[1)およびコントロール・バス
225(第4A図)を経て周辺スイッチプロセッサ22
9に受信される。 ゛ 上記周辺スイッチプロセッサは、絶えず周辺装置を走査
してインテリジェント周辺装置からの主制御装置を指名
するメツセージを探す。上記周辺スイッチプロセッサ2
29は、同様にDXスイッチ238〜240に対する制
御器インターフェースも利用し、該インターフェースは
、」二記DXスイッチのPCM DATA OUT O
〜23 リンク上に走査制御メツセージ信号を伝達し出
力する。
単一のループバック経路能力を有するインテリジェント
周辺装置が用いられる場合、該周辺装置のみの間のルー
プまたはいづれかのリンクを経て回路スイッチ10へす
ぐ戻るループが組立てられ得る。
上記リンクは夫々の周辺装置に専用なので、設計に適合
するよう特有の走査信号フォーマットと特有の周辺装置
状態メツセージ信号7オーマツトを決めることができる
。上記の実施例では、上記メツセージ信号は、メツセー
ジのタイプが最初のバイトを形成し、制御バイトが、プ
ロトコールを指名する部分とプロトコール制御ビットと
を有する最後のバイトを形成し、残1)のバイトが1発
信器と受信器のアドレスや、機能コード(即ちループバ
ックイネイブル)や、データバイトや、検査合計(チェ
ック・サム)などのメツセージ゛を含んでいる。典型的
には18バイト長の上記メツセージは、遂行されるべ外
機能の数値表現を選定する1つまたは複数の機能コード
と、この機能がパラメータとして利用でとるいくつかの
データバイトとを含んでいる。上記機能バイトに続くバ
イト数は上記コード自身が表示する。即ち、あるコード
は3バイトのデータが続くことを示し、他のコードはデ
ータを全く要しない。
周辺スイッチプロセッサ229か、DXスイッチ238
〜240のうちの1つのデータメモリに格納されたルー
プバック信号を探知したと仮定すれば、上記周辺スイッ
チプロセッサ229は、メツセージを構成し、該メツセ
ージを平衡トランシーバ228とメツセージ・スイッチ
ング・マトリックス17を経てそれを主制御装置に伝達
するためのソフトウェアバッファに格納し、上記主制御
装置は、上記メツセージを評価のためにサービス装置1
4へ送る。
データリンクループバック出力は、DXス、イッチ23
8,239,240の入力であるとともに該DXスイッ
チへの復号されたメツセージ′を構成し、該メツセージ
は、上記DXスイッチをして該スイン・チの並列インタ
ーフェースに所定のチャネルを接続せしめる。データ出
力DO−D7は、データループバックレジスタ244で
復号され、マルチプレクサ242のBチャネルに出力バ
ラ77243から信号を入力(ループバック)できるよ
うにする。このようにして、メツセージリンク(直接制
御プロセッサ)から並列入力を経てD×スイッチ238
〜240に注入される信号は、ループバックされ得、上
記制御プロセッサによって読まれ得る。それによって、
DXスイッチ238〜240は、貴重な通信回路伝送リ
ンクに接続することなく、作動性能が適切かどうかをチ
ェックされる。
同様の方法で、マルチプレクサ258は、DXスイッチ
255から出力される信号をDXスイッチ254ヘルー
プバックすることができ、メツセージリンクネットワー
クを介してDXスイッチ254と254とをインターフ
ェースする制御プロセッサ(またはサービス装置)によ
って上記信号は読まれ得る。
さらに、回路スイッチに伝送され、DXスイッチ255
に伝送される信号は、前述のようにループバックされ得
、回路スイッチもしくはDXXベイ;チ254と255
においてメツセージリンクネットワークを介して制御プ
ロセッサ(またはサービス装置)によって読まれ得る。
しカルなが呟この場合はさらに便利な設備がある。即ち
、DXスイッチ255のXC出力を経て信号を提供する
ことかでと、該信号は、マルチプレクサ259がDXス
イッチ254から信号出力をDXスイッチ25Sの入力
へループバックすることを可能にし、上記信号は、上記
I)Xスイッチがらメツセージリンクネットワークを経
て制御プロセッサ(またはサービス装置)によって読ま
れ得る。
このように、個々のスイッチ、個々のスイッチングネッ
トワークおよびスイッチングネットワーク内に特定の相
互接続リンクを有する特定のリンクは、通信回路リンク
の破壊を最小限にとどめてチェックされ得ることが分る
前述のように、バッフ7243のDATA 0UTO〜
23データ出力線は、マルチプレクサ242の第2同相
入力ポートに接続されていることに特に言及しておく。
マルチプレクサ242は、A相入力あるいはB相入力の
いずれかを通し、データループバック・レジスタ244
がら受ける信号によって働かされ、上記データループバ
ック・レジスタ244は、周辺スイッチプロセッサ22
9の信号から生じてバッファ241を経るデータ信号を
受ける。予め定められた信号がデータループバック・レ
ジスタ244に受けられると、該レジスタ244は、マ
ルチプレクサ242をしてバッフ7243(7)出力線
とDATA IN 0−23線の相入力とをバッフ72
43の出力線を通じて接続せしめる。その際、上記デー
タループバック・レジスタは、周辺スイッチプロセッサ
229もしくは周辺(幾器インターフェース回路からD
ATAINO〜23線を経て受信される信号が、DXス
イッチ238〜240のデータメモリに容易に格納され
るよう働く。
周辺スイッチプロセッサ229からの信号は、インバー
タ245を経てデータリンク制御回路246にも加えら
れ、該データリンク制御回路246の出力は、バッファ
243に接続され力りバ・ノア7243を通過する夫々
のリンクの状態を制御する。
メツセージスイッチ203(第4A図)は、夫々の周辺
スイッチプロセッサを絶えず走査して、各プロセッサの
出力バラ77にメツセージ信号が格納されているかどう
かを決める。メツセージ・スイッチ・プロセッサ215
は、AO−A7線、DO〜D7線など(@7図)を経て
メツセージ・スイッチ・マトリックス217に、予め定
められた周期的走査のメツセージを送る。この走査メツ
セージ(即ち「メツセージがありますか」と指名する)
は、DXスイッチ250の接続lモリ10?A(第7図
、第5A図参照)に加えられ、かつマルチプレクサ11
0を通って、PCM出力リンクか゛。
周辺スイッチトランシーバ゛へ導く出力メツセージリン
ク252に平衡差動ドライバ251(第7図)を通って
接続されるように加えられ、上記走査メツセージは、周
辺スイッチプロセッサの出力バッファがメツセージを収
容していることを示す応答に対して各周辺スイッチプロ
セッサを投票する。それに応じて、投票された周辺スイ
ッチプロセッサは、そのバッファをクリアーするようメ
ツセージを送る。
周辺スイッチプロセッサ229からのメツセージ信号は
、平衡トランシーバ228を通って、平衡差動レシーバ
248への入力メツセージリンク247の1つに現われ
る。三状態バッファ249を通った上記信号は、入力線
PCM IN 0−PCMlN7(第5A図)の1本を
経て、8個で配列をなすDXスイッチ250の1個のデ
ータメモリに加えられる。上記のことは周辺スイッチプ
ロセッサが走査された後に起こる。
上記応答メツセージ信号は、専用の直列人力メツセージ
リンク247を経て、平衡差動レシーバ248を通り、
三状態バッフ7249を通って、上記DXスイッチ25
0のうちの1つのPCM゛入力リンクに送られる(上記
DXスイッチは、入力リンクと入力チャネルに応じてデ
コーダ230によって選択される。)。
メツセージスイッチプロセッサ215は、データメモリ
のDMD線(第5A図)および実質的には第7図にバッ
ファ253として示された制御器インターフェースを経
て、DXスイッチのデータメモリに格納されたデータを
呼び出す。上記データは、並列バス212(第4A図)
に加えられ、主制御装置1に入力するためにコムラムバ
ッファ214゛に受信される。
主制御装置7の主制御器211は、先入れ先出しバッフ
7であるコムラムバッファ14゛を絶えず走査し、上記
バッファに含まれるデータを読み取る。
試験信号が戻ったというメツセージ信号を上記システム
を経て受けた主制御器211は、上記試験信号のメツセ
ージを公式的に表現し、該メツセージをサービス装置1
4に伝送するとともに、上記メツセージ信号を受けたこ
とを認める。上記周辺電話に返すべき、メツセージ信号
を公式的に表現する。このメツセージ信号は、並列バス
212を経て下方へ向ってコムラムバッフア214゛に
加えられ、該コムラムバッフ7は、前述と同様の方法で
逆の方向に動作する。上記信号はメツセージスイッチ・
プロセッサ215によってアクセスされ、上記メツセー
ジスイッチ・プロセッサ215は、コントローラ・イン
ターフェース117゜接続メモリ107Aおよびマルチ
プレクサ111を経て上記信号をDXスイッチ250(
第5A。
5B、7図)のうちの1つのデータメモリに入力する。
そして、上記信号は、PCM出力リンクPCM OUT
 Q〜7の1つおよびメツセージリンク252(第7図
または第4A、4B図の234)を経て、周辺(幾器制
御装置205に送られる。とくに、上記信号は、メツセ
ージスイッチリンク234に受けられ、平衡トランシー
バ22B(第4B図)を通って周辺スイッチプロセッサ
229に送られる。このようにして、上記周辺スイッチ
プロセッサは、主制御装置1が上記メツセージ゛の受信
を認めたという指示を受けるのである。
回路スイッチからのリンクがDXXチップ接続チャネル
トロ試験されねばならない場合、上記主制御装置は、ル
ープバックされるべきDXチップと回路スイッチ204
への回路リンクとの間の信号回路経路のメモリマツプを
調査する。暇な経路のロケーションが決定されたと仮定
すれば、主制御器211は、回路経路を組立てるための
メツセージ信号を周辺(幾器制御装置205および回路
スイッチプロセッサ218に送る。
上記メツセージ信号は、前述のメツセージリンクを経て
周辺スイッチプロセッサ229に受信され、DXスイッ
チ制御信号が、コントロール・バス225に加えられる
。けれどもこの場合、上記制御信号は、周辺装置から・
通常受けられる信号を取扱うDXスイッチ254(第8
図)および周辺装置行きの信号を取扱うDXスイッチ2
55からなるDXスイッチスイッチング配列の一方また
は双方に向けられる。
本実施例では、完全な回路を試験する場合上記周辺スイ
ッチプロセッサ229によって受信された信号は、DX
スイッチ255の1つへのPCM入力線PC8IO〜1
5の1本と出力線ccs。
O〜15の特定の1本との間に、ループバックマルチプ
レクサ258とDXスイッチ254を通って、上記プロ
セッサ229をしてループバックリンクを組立てせしめ
る。出力線は、バッファ256の1つを通ってccso
o〜7またはccs。
8〜15の1つと接続される。
第4A図に戻って、主制御装置207は、コムラムバッ
フ7214’ と該バッファに伴なう並列バス202B
を経て、回路スイッチプロセッサ218にも信号を送る
。それ1こ応答して、回路スイッチプロセッサ218(
第4A図)は、1つまたはそれ以上のDXスイッチマト
リックス219とマルチプレクサ221に信号を加え、
該信号は、周辺スイッチバッフ7256(第8図)から
の入力リンクとマトリックス219を経る特定の出力リ
ンク上の特定の出力チャネルとの間に、マルチプレクサ
221(第4A図)から地域バス220を通って、伝達
経路を組立てる。このようにして、導線PC8IO〜7
とCC8O8〜15(第8図)のチャネル間に回路スイ
ッチマトリックス(第4A図)を通って前述と同様の周
辺スイッチマトリックスへ導く他のリンクへ向かう双方
向リンクが組立てられる。
上記周辺スイッチマトリックスもまた、ループがDXス
イッチを通って連続して作られない(連続して作られれ
ばフィードバック効果が得られる。)ということを除い
て前述と同様に、ループバックされる。
サービス装置からの試験トーンは、復号され、メツセー
ジスイッチプロセッサの制御のもとてメツセージスイッ
チマトリックスに送られ。この信号は、PCM信号とし
て周辺機器制御装置へ伝送され、周辺電話に随伴するD
Xスイッチを通1)周辺スイッチプロセッサによって前
述のループに印加され、該ループを通過した上記信号は
、前述のメツセージ系によって上記サービス装置へ送り
返され、該サービス装置によって評価される。
手短に、第6図に戻ると、同図は、第4A図に示した4
つの回路スイッチスイッチング部分の1つを示す。信号
は、主制御装置1からバス202Bを経て回路スイッチ
プロセッサ218によって受信され、コントロールバス
222に加えられる。
上記信号は、共にコントローラ・インターフェース11
7にあるバッファ261およびカードアクセス、コント
ロール262を通り、次いでインターフェース262か
ら16個の配列をなすDXスイッチ263のうちの1つ
の接続メモリに加えられる。それによって、1つの入力
チャネルとPCM出力チャネルPCM0UTの1つとの
開に、1つの特有の入力−出力チャネル伝達経路が作ら
れる。
マルチプレクサ264を経て受信される周辺スイッチ制
御器トランシーバ228からの入力信号は、三状態バッ
フ7265と266および同相入力を経てマルチプレク
サ267を通り、DXスイッチ263配列のPCM入力
線に送られる。64本線地域スイッチングバス220は
、マルチプレクサ267の位相捜査入力にも接続され、
回路スイッチ204内の他のスイッチングマトリックス
からの信号が、上記マルチプレクサ267によってこの
DXスイッチ配列への入力として加えられる。
回路スイ・ノチ自体、または入力リンクと共に該回路ス
イッチを試験するために、DXスイッチ250の出力は
ループバックマルチプレクサ245を介して該DXスイ
ッチ250の入力に戻ることができ、このことは周辺機
器制御装置あマトリックスに関して前に述べたのと同様
にして可能にされる。
ループバック試験トーン信号は、DXスイッチへの並列
インターフェースもしくは直列入力を経てこのループに
注入され得、他のDXスイッチからの入力リンクを経て
周辺機器制御装置のマトリックスで受信され得、該マト
リックスはサービス装置からメツセージリンクを経て上
記試験トーンを受信する。上記ループを通過した試験結
果の信号は、DXスイッチのメモリもしくは直列出力か
ら要求に応じて読まれ得る。
要約すれば、前述のメツセージスイッチ経路を用いて、
周辺機器制御装置内でループバックを組立てることがで
き、該ループバックによってDXスイッチ255の出力
チャネルは、マルチプレクサ258を通ってDXスイッ
チ254の入力へ接続される(第8図参照)。主制御プ
ロセッサ7の制御下でサービス装置14にて作られる試
験信号は、メ・7セージ系を周辺機器制御装置およびD
Xスイッチ255と254のインターフェースへ向かっ
て通過し、上記DXスイッチ内のチャネルスイッチング
機能を試験する。さらに、マルチプレクサ258ヘルー
プバツクするよりもむしろ、DXスイッチ255から周
辺インター7エースカードヘ出て、特定のインター7エ
ースカード内のDXスイッチを経てループバックし、マ
ルチプレクサ258を通ってDXスイッチ254に戻る
ループを組立てることができ、試験信号と受信信号は、
DXスイッチ255と254を経て周辺スイッチ制御器
のメツセージリンクに既述の如く伝送および受信される
〈発明の効果〉 本発明を用いることによって、個々のスイッチ。
短いリンクおよび周辺装置間のリンク全体と、同じくメ
ツセージ装置要素を取り巻くスイッチ間のリンク、完全
なメツセージリンクの一部分お上びメツセージリンク全
体を試験し得ることが明らかである。メツセージ系への
監視および制御伝送経路は、回路スイッチ経路を通過す
る通信リンクから分離しており、該通信リンク系の送話
量負荷を実質的に減少させ、上記監視および制御伝送経
路の分離が、周辺装置間の伝送経路の処理する送話容量
の増大を可能にしていることが理解される。
スイッチやリンクが利用できる自由時間は、上記スイッ
チやリンクを試験するために使われ、該試験を行うため
に周辺装置間の全伝送経路を組立てる必要はれ−ので、
通常の往復通信を伝送するために利用される要素の実質
的な増加が利用できるようになる。さらに、試験ループ
は、長かろうと短かろうと望みどおり作ることがでトる
ので、リンクやスイッチやさらにDXスイッチ内のメモ
リロケーションの欠陥を正確に指摘することが、従来よ
り少ない通信経路構成要素を用いてより速(行なえる。
このことは明らかに、一定の送話伝送容量を要する装置
の価格を低減せしめるとともに、従来例に比べて欠陥発
見をより速くせしめるという結果をもたらす。
本発明を理解する人は、ここに明らかにされた原理を用
いて今や他の実施例や設計の変形を思いつくかも知れな
い。これら全ては、ここに添付される特許請求の範囲に
明示される本発明の範囲内にあると考えられる。
【図面の簡単な説明】
第1図はループアラウンド試験設備を示す典型的な従来
システムのブロック図、第2図は本発明に用いるシステ
ムのブロック図、第3図は基本ループアラウンド回路に
接続される時間、空間分割スイッチネットワークの組合
せのブロック図、第4A図および第4B図は本発明に用
いられるより好ましい時間、空間分割スイッチネットワ
ークの組合せの詳細ブロック図、第5A図および第5B
図は共にいわゆるDXスイッチのブロック図を示し、該
DXスイッチは本発明の詳細な説明に関連し、本発明の
より好ましい実施例に用いられ、第6図は本発明のより
好ましい実施例に用いられる回路スイッチマトリックス
のブロック図、第7図は本発明のより好ましい実施例に
用いられるメツセージスイッチマトリックスのブロック
図、第8図は本発明のより好ましい実施例に用いられる
周辺スイッチマトリックスのブロック図である。 7・・・制御プロセッサ、8・・・高速並列バス、9・
・・メツセージスイッチ、10・・・回路スイッチ、1
1A、11B・・・周辺機器制御装置、12A、12B
・・・周辺電話セット、13・・・トーン受信器、14
・・・サービス装置、15・・・局部ループ、203・
・・メツセージスイッチ、204・・・回路スイッチ、
205・・・周辺機器制御装置、207・・・主制御プ
ロセッサ、212・・・バス、233・・・回路スイッ
チモジュールへのリンク、234・・・メツセージスイ
ッチマトリラスへのリンク、383〜240,254,
255・・・DXスイッチ、242・・・マルチプレク
サ、243・・・出力バッフ7.258・・・ループバ
ックマルチプレクサ。

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)主システム制御手段と;該主システム制御手段の
    制御下で、複数の入力経路のうちの何れかを複数の出力
    経路のうちの何れかにスイッチングする(Switch
    ing)スイッチング手段を備え、また、上記出力また
    は入力経路の何れかに信号を伝送および/または受信す
    ると共に、上記主システム制御手段から信号を受信する
    ために、上記スイッチング手段と上記主システム制御手
    段との間を接続するための監視および制御の回路経路手
    段を備え、 また、上記スイッチング手段の外部への入力経路の一つ
    に接続される出力経路の一つを備え、それによって、上
    記入力経路の何れかによって伝送される信号は、上記ス
    イッチング手段内の上記一つの出力経路へスイッチング
    されると共に、上記一つの入力経路に現われ、さらに上
    記主システム制御手段によって受信されて、上記スイッ
    チング手段の試験を容易にするようにしたことを特徴と
    するスイッチングシステム試験回路。
  2. (2)上記特許請求の範囲第1項に記載のスイッチング
    システム試験回路において、上記スイッチング手段は、
    一方向伝送経路を通すための分離した一方向入力スイッ
    チと一方向出力スイッチを備え、上記両スイッチが双方
    向スイッチリンクを形成し、上記入力スイッチの出力経
    路はマルチプレクサの入力を経て上記出力スイッチの入
    力経路に接続され、上記マルチプレクサの他の入力に追
    加の入力経路が接続されているスイッチングシステム試
    験回路。
  3. (3)上記特許請求の範囲第1項に記載のスイッチング
    システム試験回路において、上記スイッチング手段が、
    デジタルパルス符号変調信号を上記入力経路の時分割入
    力チャネルから上記出力経路の時分割出力チャネルへス
    イッチングするための時間および空間分割組合せスイッ
    チから構成されるスイッチングシステム試験回路。
  4. (4)上記特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか
    に記載のスイッチングシステム試験回路において、 連合する制御回路手段を含む複数の周辺装置と、周辺装
    置間の通信信号を伝送するための回路スイッチングネッ
    トワークとを備え、 また、周辺装置制御回路手段に関する監視および制御の
    信号を上記主システム制御手段と上記周辺装置制御回路
    手段との間に伝送するためのメツセージスイッチングネ
    ットワークを備え、また、上記入力経路および出力経路
    ?上記回路スイッチングネットワークと上記周辺装置と
    の間でスイッチングするとともに、上記監視および制御
    の回路経路を上記メツセージスイッチングネットワーク
    へスイッチングするために、上記スイッチング手段を含
    む周辺スイッチマトリックスを含む制御回路手段を備え
    たことを特徴とするスイッチングシステム試験回路。
  5. (5)特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれかに記
    載のスイッチングシステム試験回路において、 連合する制御回路手段を含む複数の周辺装置と;複数の
    周辺装置間に通信信号を伝送するための回路スイッチン
    グネットワークと;上記周辺装置制御回路手段に関する
    監視および制御の信号を上記主システム制御手段と上記
    周辺装置制御回路手段との間で伝送するためのメツセー
    ジスイッチングネットワークを備え、また、上記回路ス
    イッチングネットワークと上記周辺装置との間の上記入
    力経路および上記出力経路をスイッチングするとともに
    、上記監視および制御の回路手段を上記メツセージスイ
    ッチングネットワークへスイッチングするために、上記
    スイッチング手段からなる周辺スイッチマトリックスを
    含む制御回路手段を備え、また、上記入力経路の一つに
    接続される上記出力経路の一つを経て上記スイッチング
    手段の一つの回りの伝送経路ループ、または上記制御回
    路手段を経て一つの周辺装置から他の周辺装置への伝送
    経路ループ、あるいは制御回路手段と上記回路スイッチ
    ングネットワークとの間の伝送経路ループ、あるいは上
    記回路スイッチングネットワークを経て個々の制御回路
    手段相互間、または周辺装置と制御回路手段との間の伝
    送経路ループ、あるいは連合する制御回路手段および回
    路スイッチングネットワークを経て一つの周辺装置と池
    の周辺装置との間の伝送経路ループを形成するための手
    段を備え、 また、上記メツセージスイッチングネットワーク 夕を
    経て上記ループの片側に試験信号を送出するとともに、
    上記メツセージスイッチングネットワークを経て上記ル
    ープの他の側から上記試験信号を受信するための手段を
    備えるスイッチング試験回路。
  6. (6)通信回路経路スイッチングネットワークを含むス
    イッチングシステムと;複数の周辺装置に接続するため
    の周辺スイッチングネットワークと;上記周辺スイッチ
    ングネットワークと上記通信回路経路スイッチングネッ
    トワークとの間でスイッチング可能なリンクとを備え、
    上記スイッチングネットワークの各々はスイッチング要
    素がらなっており、;まだ、試験伝送ループを確立する
    手段とを備え、該試験伝送ループは、何らかのスイッチ
    ング要素、またはリンクをもつ一つのスイ・7チングネ
    ツトワークのスイッチング要素の組合せ。 または一つまたは複数のリンクと連合した一つ以上のス
    イッチングネットワークのいずれかのスイッチング要素
    の組合せと、上記ループの両端の試験信号注入点と試験
    信号結果受信点とから成り、また、上記注入点へ試験信
    号を供給するとともに上記受信点から上記試験信号結果
    を受信する手段を備えるスイッチングシステム試験回路
  7. (7)上記特許請求の範囲第6項に記載の又イ・ンチン
    グシステム試験回路において、各スイッチングネットワ
    ークが、時分割スイッチング手段から成るスイッチング
    システム試験回路。
  8. (8)上記特許請求の範囲第6項に記載のスイ・ンチン
    グシステム試験回路において、各スイ・ンチングネット
    ワークが、複数の多チヤネル入力経路と複数の多チヤネ
    ル出力経路とを有する時間および空間分割スイッチング
    手段の組合せから成るスイ・ンチングシステム試験回路
  9. (9)上記特許請求の範囲第8項に記載のスイッチング
    システム試験回路において、出力経路を入力経路に接続
    するための手段をさらに含み、それによって何れかの入
    力チャネルと上記出力経路上の何れかの出力チャネルと
    の開にループバック経路が確立されるようにしたことを
    特徴とするスイ、シチングシステム試験回路。
  10. (10)上記特許請求の範囲第6項または第8項または
    第9項のいずれかに記載のスイッチング試験回路におい
    て、上記試験信号を供給および受信する手段が、上記試
    験信号注入点、上記試験信号を発生する手段および上記
    試験信号結果を受信する手段の開で接続されるーっまた
    は複数の分離したメツセージ回路継路から成るスイッチ
    ング試験回路。
  11. (11)一つまたは複数のスイッチングマトリックスと
    、少なくとも一つのスイッチングマトリックスに試験信
    号を注入するとともに、少なくとも一つのマトリックス
    から試験l果を表わす信号を受信する手段と、上記マト
    リックスの出力線を上記マ) 17ツクスの一つまたは
    複数の人力線に接続するための手段とを備えるスイッチ
    ングシステムを含み、それによって上記マトリックスを
    通る伝送の質が試験され得るようにしたことを特徴とす
    るスイッチング試験回路。
  12. (12)上記特許請求の範囲第11項に記載のスイッチ
    ング試験回路において、上記マトリックスは、複数の時
    分割入力線と複数の時分割出力線とを有する時分割スイ
    ッチングネットワークであり、上記出力線の一つが、上
    記入力線の一つに接続されることを特徴とするスイッチ
    ング試験回路。
  13. (13)上記特許請求の範囲第12項に記載のスイッチ
    ングループバンク試験回路において、上記マ) IJソ
    ックス、上記試験信号と上記試験結果を表わす信号とを
    伝送するための補助の双方向リンクと、上記マトリック
    スによって伝送される予め定められた何れかのチャネル
    に上記試験信号を印力1けるとともに、予め定められた
    チャネルから上記試験結果の信号を受信するための手段
    とを含むことを特徴とするスイッチング試験回路。
  14. (14)上記特許請求の範囲第13項に記載のスイッチ
    ング試験回路において、上記マトリックスを制御するた
    めに上記補助の双方向リンクから信号を受信するための
    手段を含むことを特徴とするスイッチング試験回路。
JP59080013A 1983-06-16 1984-04-19 スイツチングシステム試験回路 Pending JPS609259A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CA000430531A CA1203875A (en) 1983-06-16 1983-06-16 Switching system loopback test circuit
CA430531 1983-06-16

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS609259A true JPS609259A (ja) 1985-01-18

Family

ID=4125493

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59080013A Pending JPS609259A (ja) 1983-06-16 1984-04-19 スイツチングシステム試験回路

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4685102A (ja)
JP (1) JPS609259A (ja)
CA (1) CA1203875A (ja)
DE (1) DE3416990C2 (ja)
ES (1) ES530123A0 (ja)
FR (1) FR2547686A1 (ja)
GB (1) GB2141606B (ja)
IT (1) IT1170293B (ja)
MX (1) MX155099A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8247143B2 (en) 2008-11-07 2012-08-21 Ricoh Company, Ltd. Photoreceptor, image formation method, image forming apparatus and process cartridge
US8273513B2 (en) 2009-06-25 2012-09-25 Ricoh Company, Limited Image forming apparatus, process cartridge, and image bearing member

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4745593A (en) * 1986-11-17 1988-05-17 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Arrangement for testing packet switching networks
US5060227A (en) * 1988-02-29 1991-10-22 Motorola, Inc. Digital telephone switch with simultaneous dual PCM format compatibility
US4860281A (en) * 1988-02-29 1989-08-22 Motorola, Inc. Individual subchannel loopback in the PCM interfaces of a digital telephone exchange with control of the outbound path
GB2219172B (en) * 1988-03-30 1992-07-08 Plessey Co Plc A data path checking system
JP2719523B2 (ja) * 1988-09-03 1998-02-25 株式会社日立製製所 再生中継器およびネットワークシステム
US5309448A (en) * 1992-01-03 1994-05-03 International Business Machines Corporation Methods and systems for alarm correlation and fault localization in communication networks
ES2173079T3 (es) * 1992-11-20 2002-10-16 Siemens Ag Procedimiento para la supervision de conexiones telefonicas existentes, especialmente conexiones telefonicas conmutadas de forma permanente.
WO1995015630A1 (en) * 1993-11-30 1995-06-08 Integrated Network Corporation Network interface unit remote test pattern generation
JPH07160154A (ja) * 1993-12-06 1995-06-23 Minolta Co Ltd 異常箇所検出方法
GB9406212D0 (en) * 1994-03-29 1994-05-18 Plessey Telecomm Telecommunication customer interface
JP3454297B2 (ja) * 1995-04-10 2003-10-06 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション ネットワーク・スイッチ間のリンクをテストするための方法および装置
FI106334B (fi) * 1998-05-08 2001-01-15 Ericsson Telefon Ab L M Menetelmä ja järjestely testaukseen
US8089888B2 (en) 2001-12-10 2012-01-03 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for testing traffic and auxiliary channels in a wireless data communication system
KR20040020517A (ko) * 2002-08-30 2004-03-09 주식회사 현대시스콤 이동통신시스템에서 제어국 관리부의 이중화 링크 절체방법
US7324458B2 (en) 2003-03-21 2008-01-29 Intel Corporation Physical layer loopback
US20070180329A1 (en) * 2006-01-31 2007-08-02 Lanus Mark S Method of latent fault checking a management network
JP5477112B2 (ja) * 2010-03-31 2014-04-23 富士通株式会社 ネットワークシステムの試験方法
US8913507B2 (en) * 2012-06-21 2014-12-16 Breakingpoint Systems, Inc. Virtual data loopback and/or data capture in a computing system

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5657384A (en) * 1979-10-15 1981-05-19 Fujitsu Ltd Continuity test system of channel
JPS56143746A (en) * 1980-04-10 1981-11-09 Fujitsu Ltd Time-division channel continuity test system
JPS57206154A (en) * 1981-06-13 1982-12-17 Fujitsu Ltd Foldover testing system for folding

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1444919A (en) * 1972-11-14 1976-08-04 Gen Electric Co Ltd Telecommunication switching systems wiring harnesses for buildings
FR2252718B1 (ja) * 1973-11-27 1978-11-10 Materiel Telephonique
GB1450457A (en) * 1974-01-02 1976-09-22 Plessey Co Ltd Telecommunication exchange systems
US4093827A (en) * 1976-02-17 1978-06-06 Thomson-Csf Symmetrical time division matrix and a network equipped with this kind of matrix
US4046964A (en) * 1976-06-24 1977-09-06 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Testing of digital systems
DE2735341C3 (de) * 1977-08-05 1984-05-10 Standard Elektrik Lorenz Ag, 7000 Stuttgart Anordnung zur Durchgangsprüfung in Fernmeldeanlagen
US4279032A (en) * 1979-04-26 1981-07-14 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Channel bank loop-around test arrangement and method
US4296492A (en) * 1979-12-26 1981-10-20 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Continuity verification arrangement
US4393491A (en) * 1980-11-05 1983-07-12 Anaconda-Ericsson Automatic self-test system for a digital multiplexed telecommunication system
DE3046217A1 (de) * 1980-12-08 1982-07-15 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum anschalten von zu pruefenden baugruppen an pruefungseinrichtungen in zentral gesteuerten fernsprechnebenstellenanlagen
US4435704A (en) * 1981-03-13 1984-03-06 Hitachi, Ltd. Loop transmission system
CA1171946A (en) * 1981-09-11 1984-07-31 Mitel Corporation Time division switching matrix
DE3212236C1 (de) * 1982-03-30 1983-04-21 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Schaltungsanordnung für zentralgesteuerte Fernmeldeanlagen, insbesondere Fernsprechnebenstellenanlagen, mit über Datenübertragungsleitungsbündel steuerbaren zentralen und dezentralen Einrichtungen (zentrale Fehlererkennungseinrichtungen)
DE3215672C1 (de) * 1982-04-27 1983-08-11 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Anordnung zur automatischen Prüfung von Fernsprechanlagen, insbesondere Fernsprechnebenstellenanlagen
US4486877A (en) * 1982-06-25 1984-12-04 At&T Bell Laboratories Packet switching loop-around network and facilities testing
CA1199394A (en) * 1983-02-18 1986-01-14 Conrad Lewis Switching system with separate supervisory links

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5657384A (en) * 1979-10-15 1981-05-19 Fujitsu Ltd Continuity test system of channel
JPS56143746A (en) * 1980-04-10 1981-11-09 Fujitsu Ltd Time-division channel continuity test system
JPS57206154A (en) * 1981-06-13 1982-12-17 Fujitsu Ltd Foldover testing system for folding

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8247143B2 (en) 2008-11-07 2012-08-21 Ricoh Company, Ltd. Photoreceptor, image formation method, image forming apparatus and process cartridge
US8273513B2 (en) 2009-06-25 2012-09-25 Ricoh Company, Limited Image forming apparatus, process cartridge, and image bearing member

Also Published As

Publication number Publication date
GB2141606B (en) 1987-04-08
CA1203875A (en) 1986-04-29
IT8324414A1 (it) 1985-06-28
DE3416990C2 (de) 1987-05-07
GB2141606A (en) 1984-12-19
GB8400497D0 (en) 1984-02-15
IT1170293B (it) 1987-06-03
ES8501191A1 (es) 1984-11-01
ES530123A0 (es) 1984-11-01
MX155099A (es) 1988-01-26
IT8324414A0 (it) 1983-12-28
FR2547686A1 (fr) 1984-12-21
DE3416990A1 (de) 1984-12-20
US4685102A (en) 1987-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS609259A (ja) スイツチングシステム試験回路
US5268903A (en) Multichannel telephonic switching network with different signaling formats and cross connect/PBX treatment selectable for each channel
US4615028A (en) Switching system with separate supervisory links
US4154988A (en) Method and means for accessing program memory of a common control telecommunications switching system
FI61375C (fi) Foerfarande foer kontroll av genomgaoende koppling i digitala datasystem
US5014268A (en) Parallel time slot interchanger matrix and switch block module for use therewith
US4616360A (en) Peripheral control for a digital telephone system
DK157967B (da) Mikroprocessor-styreindretning til brug i et telefonsystem
KR930008709B1 (ko) 디지탈 전송 라인 루프 형성 방법 및 장치
US3812297A (en) Bus control arrangement for a communication switching system
US4771282A (en) Terminal for data transmission system
JPS6118236A (ja) 多重リンクを有するデ−タ通信システムの折返しテスト方式
SE461432B (sv) Tidsmultiplexkopplingssystem med utrustning foer testning av ledig tidsluckevaeg
US7684338B2 (en) Circuit arrangement for testing a communication system
CN115883412B (zh) 一种交换机vlan测试方法及系统
JPH10133903A (ja) データ転送制御装置及び折返し試験方式
KR920001417B1 (ko) 전자 교환기용 디지틀 회의 통화 장치
JPH05199246A (ja) ネットワーク試験方式
JPS5997257A (ja) ドライバ/レシ−バ素子試験方式
JPH06250766A (ja) 可変配線素子及び可変配線バックボード
JPH0410265B2 (ja)
JPS63232662A (ja) インタフエ−ス試験装置
JPS60208144A (ja) 折返し試験方式
JPH07226723A (ja) 回線試験回路
JPS605099B2 (ja) ロ−カルステ−シヨンの送信先アドレス制御方式