JPH05199246A - ネットワーク試験方式 - Google Patents
ネットワーク試験方式Info
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- JPH05199246A JPH05199246A JP4007266A JP726692A JPH05199246A JP H05199246 A JPH05199246 A JP H05199246A JP 4007266 A JP4007266 A JP 4007266A JP 726692 A JP726692 A JP 726692A JP H05199246 A JPH05199246 A JP H05199246A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】インタフェース装置内にネットワーク伝送路及
び通信相手インタフェース装置側、データ回線側の両方
向の試験に共用できる試験データ生成回路及び試験デー
タ照合回路を設けることによりネットワーク内の試験を
容易にする。 【構成】ローカルエリアネットワークにおいて、全く異
なるネットワーク伝送路３転送時とデータ回線４1〜４n
転送時のデータフレームフォーマットをインタフェース
装置１1〜１n内にて変換する過程において、そのフレー
ムフォーマット変換時に両方向に透過的なデータフレー
ム状態をつくることにより、ネットワーク伝送路３側及
び、データ回線４1〜４nの両方向の試験に共通な試験デ
ータ生成／照合回路によるネットワークの試験が実現で
きる。
び通信相手インタフェース装置側、データ回線側の両方
向の試験に共用できる試験データ生成回路及び試験デー
タ照合回路を設けることによりネットワーク内の試験を
容易にする。 【構成】ローカルエリアネットワークにおいて、全く異
なるネットワーク伝送路３転送時とデータ回線４1〜４n
転送時のデータフレームフォーマットをインタフェース
装置１1〜１n内にて変換する過程において、そのフレー
ムフォーマット変換時に両方向に透過的なデータフレー
ム状態をつくることにより、ネットワーク伝送路３側及
び、データ回線４1〜４nの両方向の試験に共通な試験デ
ータ生成／照合回路によるネットワークの試験が実現で
きる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、データ伝送システムの
試験方式に関し、特に、ネットワーク伝送路上に配置さ
れる複数のインタフェース装置と、その複数のインタフ
ェース装置のそれぞれを介してネットワーク伝送路上に
接続されるデータ伝送装置から構成されるローカルエリ
アネットワークの試験方式に関する。
試験方式に関し、特に、ネットワーク伝送路上に配置さ
れる複数のインタフェース装置と、その複数のインタフ
ェース装置のそれぞれを介してネットワーク伝送路上に
接続されるデータ伝送装置から構成されるローカルエリ
アネットワークの試験方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、リング型のローカルエリアネ
ットワークにおいては、ネットワークを構成する各装置
の動作確認やネットワークを構成する各装置間を接続す
るネットワーク伝送路、データ回線の導通確認、障害発
生時の障害箇所切り分け等を行う手段をネットワーク中
に設けている。この手段の一つとして、インタフェース
装置内にてインタフェース装置間を接続するネットワー
ク伝送路上のデータフレームフォーマットに適合する試
験データを生成してネットワーク伝送路側に送信し、試
験対象となるインタフェース装置にて折り返し、返送さ
れた試験データフレームの内容を送信側のインタフェー
ス装置にて照合及び解析する方法が一般的である。ま
た、特開平１−１６２４４９公報記載のように、リング
型ネットワークの中に試験データ発生及び照合機能を持
つ専用の試験装置を組み込み、試験を行う方法などがあ
る。また、インタフェース装置〜データ伝送装置間のデ
ータ回線の導通試験を行う場合は、インタフェース装置
にてデータ回線上のデータフレームフォーマットに適合
した試験データフレームを生成してデータ回線側に送信
し、データ伝送装置にて折り返し、返送された試験デー
タフレームの内容をインタフェース装置内にて照合及び
解析する方法などがある。また、これらのようなネット
ワーク内になんらかの試験機能を持たせるほかに、イン
タフェース装置のデータ回線用インタフェース部にデー
タ回線上データフレームフォーマットに適合する試験デ
ータ生成及び照合機能を持つ特定のテスタを接続して、
ネットワーク伝送路及び通信相手インタフェース装置側
に試験データを送信し、ネットワーク伝送路及び通信相
手インタフェース装置側の特定のポイントにて折り返し
し、返送された試験データをテスタに引き込んで照合及
び解析をする方法も行なわれている。
ットワークにおいては、ネットワークを構成する各装置
の動作確認やネットワークを構成する各装置間を接続す
るネットワーク伝送路、データ回線の導通確認、障害発
生時の障害箇所切り分け等を行う手段をネットワーク中
に設けている。この手段の一つとして、インタフェース
装置内にてインタフェース装置間を接続するネットワー
ク伝送路上のデータフレームフォーマットに適合する試
験データを生成してネットワーク伝送路側に送信し、試
験対象となるインタフェース装置にて折り返し、返送さ
れた試験データフレームの内容を送信側のインタフェー
ス装置にて照合及び解析する方法が一般的である。ま
た、特開平１−１６２４４９公報記載のように、リング
型ネットワークの中に試験データ発生及び照合機能を持
つ専用の試験装置を組み込み、試験を行う方法などがあ
る。また、インタフェース装置〜データ伝送装置間のデ
ータ回線の導通試験を行う場合は、インタフェース装置
にてデータ回線上のデータフレームフォーマットに適合
した試験データフレームを生成してデータ回線側に送信
し、データ伝送装置にて折り返し、返送された試験デー
タフレームの内容をインタフェース装置内にて照合及び
解析する方法などがある。また、これらのようなネット
ワーク内になんらかの試験機能を持たせるほかに、イン
タフェース装置のデータ回線用インタフェース部にデー
タ回線上データフレームフォーマットに適合する試験デ
ータ生成及び照合機能を持つ特定のテスタを接続して、
ネットワーク伝送路及び通信相手インタフェース装置側
に試験データを送信し、ネットワーク伝送路及び通信相
手インタフェース装置側の特定のポイントにて折り返し
し、返送された試験データをテスタに引き込んで照合及
び解析をする方法も行なわれている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ネット
ワーク伝送路上転送時のデータフレームフォーマット
と、データ回線上転送時のデータフレームフォーマット
に大きな違いがある場合、前項にて述べた従来の方法で
は、ネットワーク伝送路及び通信相手インタフェース装
置側試験機能とデータ回線側試験機能の２つの機能をイ
ンタフェース装置に持たせた場合、両方の試験用に別々
の回路を設ける必要があり、この２つの回路のうちの一
方を使用して両方の試験用として共用しようとすると、
試験データの転送経路が複雑になり、障害探索が困難で
あった。また、特定のテスタを用いてネットワーク伝送
路及び通信相手インタフェース装置側の試験を行なう場
合は、折り返すポイントを細かく設定することにより、
複雑な折り返し試験が可能となるが、その都度、高価な
テスタが必要である等の欠点がある。
ワーク伝送路上転送時のデータフレームフォーマット
と、データ回線上転送時のデータフレームフォーマット
に大きな違いがある場合、前項にて述べた従来の方法で
は、ネットワーク伝送路及び通信相手インタフェース装
置側試験機能とデータ回線側試験機能の２つの機能をイ
ンタフェース装置に持たせた場合、両方の試験用に別々
の回路を設ける必要があり、この２つの回路のうちの一
方を使用して両方の試験用として共用しようとすると、
試験データの転送経路が複雑になり、障害探索が困難で
あった。また、特定のテスタを用いてネットワーク伝送
路及び通信相手インタフェース装置側の試験を行なう場
合は、折り返すポイントを細かく設定することにより、
複雑な折り返し試験が可能となるが、その都度、高価な
テスタが必要である等の欠点がある。
【０００４】従って、本発明の一つの目的は、インタフ
ェース装置内にネットワーク伝送路及び通信相手インタ
フェース装置側、データ回線側の両方向の試験に共用出
来る試験データ生成及び挿入回路及び、試験データ引き
込み及び照合回路を提供することである。
ェース装置内にネットワーク伝送路及び通信相手インタ
フェース装置側、データ回線側の両方向の試験に共用出
来る試験データ生成及び挿入回路及び、試験データ引き
込み及び照合回路を提供することである。
【０００５】本発明の他の目的は、上記インタフェース
装置において試験データを任意に設定できる試験データ
生成回路を提供することである。
装置において試験データを任意に設定できる試験データ
生成回路を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によれば、全く異なるネットワーク伝送路転
送時のデータフレームフォーマットとデータ回線転送時
のデータフレームフォーマットを、インタフェース装置
内にて変換する過程において、そのフレームフォーマッ
ト変換時に両方向に透過的なデータフレーム状態を作る
ことにより、ネットワーク伝送路及び通信相手インタフ
ェース装置側、データ回線側の両方向の試験に共通な試
験データ生成回路及び照合回路が提供される。
に、本発明によれば、全く異なるネットワーク伝送路転
送時のデータフレームフォーマットとデータ回線転送時
のデータフレームフォーマットを、インタフェース装置
内にて変換する過程において、そのフレームフォーマッ
ト変換時に両方向に透過的なデータフレーム状態を作る
ことにより、ネットワーク伝送路及び通信相手インタフ
ェース装置側、データ回線側の両方向の試験に共通な試
験データ生成回路及び照合回路が提供される。
【０００７】また、本発明によれば、任意に設定できる
スイッチにより構成される試験データ生成回路をインタ
フェース装置内に設けることにより、いろいろなパタン
を発生する試験データ生成回路が提供される。
スイッチにより構成される試験データ生成回路をインタ
フェース装置内に設けることにより、いろいろなパタン
を発生する試験データ生成回路が提供される。
【０００８】また、本発明によれば、任意に書き込み可
能なレジスタにより構成される試験データ生成回路をイ
ンタフェース装置内に設けることにより、いろいろなパ
タンを発生する試験データ生成回路が提供される。
能なレジスタにより構成される試験データ生成回路をイ
ンタフェース装置内に設けることにより、いろいろなパ
タンを発生する試験データ生成回路が提供される。
【０００９】
【作用】本発明によれば、全く異なるネットワーク伝送
路転送時のデータフレームフォーマットとデータ回線転
送時のデータフレームフォーマットを、インタフェース
装置内にて変換する過程において、そのフレームフォー
マット変換時に両方向に透過的なデータフレームフォー
マット状態を作ることにより、ネットワーク伝送路及び
通信相手インタフェース装置側、データ回線側の両方向
の試験に共通な試験データ生成回路及び照合回路を設け
ることによる容易なネットワーク伝送路及び通信相手イ
ンタフェース装置側試験、データ回線側試験が可能とな
る。
路転送時のデータフレームフォーマットとデータ回線転
送時のデータフレームフォーマットを、インタフェース
装置内にて変換する過程において、そのフレームフォー
マット変換時に両方向に透過的なデータフレームフォー
マット状態を作ることにより、ネットワーク伝送路及び
通信相手インタフェース装置側、データ回線側の両方向
の試験に共通な試験データ生成回路及び照合回路を設け
ることによる容易なネットワーク伝送路及び通信相手イ
ンタフェース装置側試験、データ回線側試験が可能とな
る。
【００１０】更に、本発明によれば、任意に試験データ
を設定できる試験データ生成回路をインタフェース装置
内に設けることにより、いろいろな試験データパタンに
よるネットワーク伝送路及び通信相手インタフェース装
置側試験、データ回線側試験が可能となる。
を設定できる試験データ生成回路をインタフェース装置
内に設けることにより、いろいろな試験データパタンに
よるネットワーク伝送路及び通信相手インタフェース装
置側試験、データ回線側試験が可能となる。
【００１１】
【実施例】図１に本発明の一実施例に基づくネットワー
ク構成及び、インタフェース装置の構成を示す。
ク構成及び、インタフェース装置の構成を示す。
【００１２】本図は、隣接するインタフェース装置１1
〜１n及びインタフェース装置管理用端末２1〜２nをネ
ットワーク伝送路３にて順に接続してループを形成する
リング型ローカルエリアネットワークに、同期系多重デ
ータ回線４1〜４nを介して構内交換機、時分割多重化装
置等の同期系データ伝送装置５1〜５nが接続された場合
のネットワーク及び、インタフェース装置の構成を示
す。但し、ここでは一例として同期系データ伝送システ
ムの例を示すが、非同期（パケット等）系データ伝送シ
ステムに適用することを制限するものではない。
〜１n及びインタフェース装置管理用端末２1〜２nをネ
ットワーク伝送路３にて順に接続してループを形成する
リング型ローカルエリアネットワークに、同期系多重デ
ータ回線４1〜４nを介して構内交換機、時分割多重化装
置等の同期系データ伝送装置５1〜５nが接続された場合
のネットワーク及び、インタフェース装置の構成を示
す。但し、ここでは一例として同期系データ伝送システ
ムの例を示すが、非同期（パケット等）系データ伝送シ
ステムに適用することを制限するものではない。
【００１３】インタフェース装置１1〜１nからインタフ
ェース装置１1をピックアップして説明する。インタフ
ェース装置１1は、試験データ生成回路１１０と、試験
データ照合回路１１１と、試験設定回路１１２と、セレ
クタ１１３から受信したシリアルデータフレームをイン
タフェース装置１1内のデータ転送形式であるパラレル
データフレームに変換するシリアル／パラレル変換回路
１０１と、インタフェース装置１1内のデータ転送形式
であるパラレルデータフレームを同期系多重データ回線
４1転送用のシリアルデータフレーム変換するパラレル
／シリアル変換回路１０８と、シリアル／パラレル変換
回路１０１から送出されるデータと試験データ生成回路
１１０から送信される試験データからネットワーク伝送
路３側に送出するデータを選択するセレクタ１０２と、
受信バッファメモリ１０５からのリードデータと試験デ
ータ生成回路１１０から送信される試験データから同期
系多重データ回線４1側に送出するデータを選択するセ
レクタ１０６と、セレクタ１０２から受信したデータフ
レームの先頭の制御情報用タイムスロット（以下、ＴＳ
と略す）の内容をネットワーク伝送路３転送時の制御情
報に変換するフレームヘッダ変換回路１０３と、セレク
タ１０６から受信したデータフレームの先頭の制御情報
用ＴＳの内容を同期系多重データ回線４1転送時の制御
情報に変換するフレームヘッダ変換回路１０７と、フレ
ームヘッダ変換回路１０３から受信したデータフレーム
をネットワーク伝送路３転送用データフレームフォーマ
ットに合わせて並べ替えを行う送信バッファメモリ１０
４と、ネットワーク伝送路３から受信したデータフレー
ムを同期系多重データ回線４1転送用データフレームフ
ォーマットに合わせて並べ替えを行う受信バッファメモ
リ１０５と、シリアル／パラレル変換回路１０１からの
送出データと受信バッファメモリ１０５リードデータか
ら試験データ照合回路１１１にて照合するデータを選択
するセレクタ１０９と、同期系多重データ回線４1から
の受信データとパラレル／シリアル変換回路１０８から
の送出データからシリアル／パラレル変換回路１０１に
送出するデータを選択することによりインタフェース装
置１1における最も同期系多重データ回線４1に近い所で
の折り返しポイントとなるセレクタ１１３を有する。
ェース装置１1をピックアップして説明する。インタフ
ェース装置１1は、試験データ生成回路１１０と、試験
データ照合回路１１１と、試験設定回路１１２と、セレ
クタ１１３から受信したシリアルデータフレームをイン
タフェース装置１1内のデータ転送形式であるパラレル
データフレームに変換するシリアル／パラレル変換回路
１０１と、インタフェース装置１1内のデータ転送形式
であるパラレルデータフレームを同期系多重データ回線
４1転送用のシリアルデータフレーム変換するパラレル
／シリアル変換回路１０８と、シリアル／パラレル変換
回路１０１から送出されるデータと試験データ生成回路
１１０から送信される試験データからネットワーク伝送
路３側に送出するデータを選択するセレクタ１０２と、
受信バッファメモリ１０５からのリードデータと試験デ
ータ生成回路１１０から送信される試験データから同期
系多重データ回線４1側に送出するデータを選択するセ
レクタ１０６と、セレクタ１０２から受信したデータフ
レームの先頭の制御情報用タイムスロット（以下、ＴＳ
と略す）の内容をネットワーク伝送路３転送時の制御情
報に変換するフレームヘッダ変換回路１０３と、セレク
タ１０６から受信したデータフレームの先頭の制御情報
用ＴＳの内容を同期系多重データ回線４1転送時の制御
情報に変換するフレームヘッダ変換回路１０７と、フレ
ームヘッダ変換回路１０３から受信したデータフレーム
をネットワーク伝送路３転送用データフレームフォーマ
ットに合わせて並べ替えを行う送信バッファメモリ１０
４と、ネットワーク伝送路３から受信したデータフレー
ムを同期系多重データ回線４1転送用データフレームフ
ォーマットに合わせて並べ替えを行う受信バッファメモ
リ１０５と、シリアル／パラレル変換回路１０１からの
送出データと受信バッファメモリ１０５リードデータか
ら試験データ照合回路１１１にて照合するデータを選択
するセレクタ１０９と、同期系多重データ回線４1から
の受信データとパラレル／シリアル変換回路１０８から
の送出データからシリアル／パラレル変換回路１０１に
送出するデータを選択することによりインタフェース装
置１1における最も同期系多重データ回線４1に近い所で
の折り返しポイントとなるセレクタ１１３を有する。
【００１４】インタフェース装置１1におけるネットワ
ーク伝送路３〜同期系多重データ回線４1間の通常デー
タの流れを説明すると、同期系多重データ回線４1から
受信したシリアルデータ形式のフレームは、セレクタ１
１３を通り、シリアル／パラレル変換回路１０１にてパ
ラレルデータフレームに変換され、セレクタ１０２を通
り、フレームヘッダ変換回路１０３にてフレーム先頭の
同期系多重データ回線４1転送時用いられる制御情報用
ＴＳの内容をネットワーク伝送路３転送時の制御情報に
変換し、送信バッファメモリ１０４へ送信する。送信バ
ッファメモリ１０４では、ネットワーク伝送路３転送用
データフレームフォーマットにあわせデータを並べ替
え、ネットワーク伝送路３に送信する。逆に、ネットワ
ーク伝送路３から受信したデータは、受信バッファメモ
リ１０５にて同期系多重データ回線４1用データフレー
ムフォーマットに合うよう並べ替えられたあと、セレク
タ１０６を通り、フレームヘッダ変換回路１０７にてフ
レーム先頭ＴＳのネットワーク伝送路３転送時の制御情
報を同期系多重データ回線４1伝送時の制御情報に変換
し、パラレル／シリアル変換回路１０８にてパラレルデ
ータフレームをシリアルデータフレームに変換し、同期
系多重データ回線４1へ送信する。これらの構成、手順
にてデータフレームフォーマット相互変換を行なうこと
により、シリアル／パラレル変換回路１０１〜送信バッ
ファメモリ１０４間と受信バッファメモリ１０５〜パラ
レル／シリアル変換回路１０８間に透過的なデータフレ
ーム状態を作ることが出来る。そこで、試験時には試験
データ生成回路１１０にて、ある決まった固定パタンを
生成し、セレクタ１０２，１０６、試験データ照合回路
１１１に送信し、セレクタ１０２，１０６では、通常デ
ータと試験データ送信の切り変えを試験設定回路１１２
からの選択信号により行なう。セレクタ１０９では、シ
リアル／パラレル変換回路１０１からの出力データと受
信バッファメモリ１０５のリードデータを引き込み、試
験設定回路１１２からの選択信号により照合するデータ
の切り変えを行ない、試験データ照合回路１１１にて、
試験データ生成回路１１０で生成した試験データと、受
信した試験データとの照合を行なう。
ーク伝送路３〜同期系多重データ回線４1間の通常デー
タの流れを説明すると、同期系多重データ回線４1から
受信したシリアルデータ形式のフレームは、セレクタ１
１３を通り、シリアル／パラレル変換回路１０１にてパ
ラレルデータフレームに変換され、セレクタ１０２を通
り、フレームヘッダ変換回路１０３にてフレーム先頭の
同期系多重データ回線４1転送時用いられる制御情報用
ＴＳの内容をネットワーク伝送路３転送時の制御情報に
変換し、送信バッファメモリ１０４へ送信する。送信バ
ッファメモリ１０４では、ネットワーク伝送路３転送用
データフレームフォーマットにあわせデータを並べ替
え、ネットワーク伝送路３に送信する。逆に、ネットワ
ーク伝送路３から受信したデータは、受信バッファメモ
リ１０５にて同期系多重データ回線４1用データフレー
ムフォーマットに合うよう並べ替えられたあと、セレク
タ１０６を通り、フレームヘッダ変換回路１０７にてフ
レーム先頭ＴＳのネットワーク伝送路３転送時の制御情
報を同期系多重データ回線４1伝送時の制御情報に変換
し、パラレル／シリアル変換回路１０８にてパラレルデ
ータフレームをシリアルデータフレームに変換し、同期
系多重データ回線４1へ送信する。これらの構成、手順
にてデータフレームフォーマット相互変換を行なうこと
により、シリアル／パラレル変換回路１０１〜送信バッ
ファメモリ１０４間と受信バッファメモリ１０５〜パラ
レル／シリアル変換回路１０８間に透過的なデータフレ
ーム状態を作ることが出来る。そこで、試験時には試験
データ生成回路１１０にて、ある決まった固定パタンを
生成し、セレクタ１０２，１０６、試験データ照合回路
１１１に送信し、セレクタ１０２，１０６では、通常デ
ータと試験データ送信の切り変えを試験設定回路１１２
からの選択信号により行なう。セレクタ１０９では、シ
リアル／パラレル変換回路１０１からの出力データと受
信バッファメモリ１０５のリードデータを引き込み、試
験設定回路１１２からの選択信号により照合するデータ
の切り変えを行ない、試験データ照合回路１１１にて、
試験データ生成回路１１０で生成した試験データと、受
信した試験データとの照合を行なう。
【００１５】尚、セレクタ１０２，１０６，１０９，１
１３に選択信号を送信する試験設定回路１１２は、イン
タフェース装置管理用端末からの指示により容易にライ
ト可能なレジスタやインタフェース装置内に設けるスイ
ッチにて構成し、セレクタ１０２，１０６，１０９，１
１３を別々に設定可能なようにする。
１３に選択信号を送信する試験設定回路１１２は、イン
タフェース装置管理用端末からの指示により容易にライ
ト可能なレジスタやインタフェース装置内に設けるスイ
ッチにて構成し、セレクタ１０２，１０６，１０９，１
１３を別々に設定可能なようにする。
【００１６】次に図２を用い、本発明におけるシリアル
／パラレル変換回路１０１〜送信バッファメモリ１０４
間、受信バッファメモリ１０５〜パラレル／シリアル変
換回路１０８間のデータフレームフォーマット状態につ
いて説明する。同期系多重データ回線から受信したシリ
アルデータフレームは図２に示すような８ビットパラレ
ルデータに変換される。このパラレルデータフレーム先
頭のＴＳ０はネットワーク伝送路転送時及び、同期系多
重データ回線転送時の制御情報用の領域である。
／パラレル変換回路１０１〜送信バッファメモリ１０４
間、受信バッファメモリ１０５〜パラレル／シリアル変
換回路１０８間のデータフレームフォーマット状態につ
いて説明する。同期系多重データ回線から受信したシリ
アルデータフレームは図２に示すような８ビットパラレ
ルデータに変換される。このパラレルデータフレーム先
頭のＴＳ０はネットワーク伝送路転送時及び、同期系多
重データ回線転送時の制御情報用の領域である。
【００１７】次に、図３を用い本発明における試験デー
タ生成回路１１０の構成及び、生成される試験データに
ついて説明する。図２のデーフレームフォーマットに適
合するよう、図３に示すような回路にて、例えば、ＡＡ
・５５・ＦＦ・ＣＣ・３３（ＨＥＸ）のような８ビッ
ト、５パタンの固定パタンを連続生成する。パタン生成
時、カウンタ３００はネットワーク伝送路３側から受信
したデータの先頭から動き始める。生成した試験データ
は、シリアル／パラレル変換回路１０１〜送信バッファ
メモリ１０４間及び、受信バッファメモリ１０５〜パラ
レル／シリアル変換回路１０８間のデータフレームフォ
ーマットと同等であり、同期系多重データ回線４1およ
び、ネットワーク伝送路３上転送時に必要なフレーム先
頭ＴＳの制御情報はセレクタ１０２及び、セレクタ１０
６通過後に変換されるため、ネットワーク伝送路３及び
インタフェース装置１2〜１n側、データ回線側の両方向
へ同一の試験データ挿入が可能となる。尚、試験データ
生成回路１１０にて生成する試験データのビット幅はネ
ットワーク伝送路３及び、同期系多重データ回線４1上
でのデータフレームフォーマットと、インタフェース装
置１1〜１n内部転送時のデータフレーム状態を考慮し、
任意に定められる。
タ生成回路１１０の構成及び、生成される試験データに
ついて説明する。図２のデーフレームフォーマットに適
合するよう、図３に示すような回路にて、例えば、ＡＡ
・５５・ＦＦ・ＣＣ・３３（ＨＥＸ）のような８ビッ
ト、５パタンの固定パタンを連続生成する。パタン生成
時、カウンタ３００はネットワーク伝送路３側から受信
したデータの先頭から動き始める。生成した試験データ
は、シリアル／パラレル変換回路１０１〜送信バッファ
メモリ１０４間及び、受信バッファメモリ１０５〜パラ
レル／シリアル変換回路１０８間のデータフレームフォ
ーマットと同等であり、同期系多重データ回線４1およ
び、ネットワーク伝送路３上転送時に必要なフレーム先
頭ＴＳの制御情報はセレクタ１０２及び、セレクタ１０
６通過後に変換されるため、ネットワーク伝送路３及び
インタフェース装置１2〜１n側、データ回線側の両方向
へ同一の試験データ挿入が可能となる。尚、試験データ
生成回路１１０にて生成する試験データのビット幅はネ
ットワーク伝送路３及び、同期系多重データ回線４1上
でのデータフレームフォーマットと、インタフェース装
置１1〜１n内部転送時のデータフレーム状態を考慮し、
任意に定められる。
【００１８】また、試験データ生成回路を図４のような
スイッチ４０１をベースにして構成することにより、任
意に設定できる８ビットの試験データを得ることも可能
である。また、試験データ生成回路を図５のようなレジ
スタ５０２によって構成することにより、インタフェー
ス装置管理用端末５００からの指示により、任意に設定
できる８ビットの試験データを得ることも可能である。
スイッチ４０１をベースにして構成することにより、任
意に設定できる８ビットの試験データを得ることも可能
である。また、試験データ生成回路を図５のようなレジ
スタ５０２によって構成することにより、インタフェー
ス装置管理用端末５００からの指示により、任意に設定
できる８ビットの試験データを得ることも可能である。
【００１９】次に、図６を用いて、本発明における試験
データ照合回路１１１の回路構成について説明する。図
６に示すように、試験設定回路１１２からの選択信号に
より、セレクタ６０１にて選択された照合データ６０４
と、生成した試験データ６０３とを８ビット単位で照合
し、照合結果をインタフェース装置管理用端末６０２に
出力する。
データ照合回路１１１の回路構成について説明する。図
６に示すように、試験設定回路１１２からの選択信号に
より、セレクタ６０１にて選択された照合データ６０４
と、生成した試験データ６０３とを８ビット単位で照合
し、照合結果をインタフェース装置管理用端末６０２に
出力する。
【００２０】次に、図７を用い、本発明により可能とな
るインタフェース装置内の試験データ転送経路を示す。
７０５は試験データ生成回路７０３からネットワーク伝
送路７００側に送信し、ネットワーク伝送路７００側か
ら試験データ照合回路７０４にデータを引き込み、照合
する経路であり、７０６は試験データ生成回路７０３か
ら同期系多重データ回線７０１側に送信し、折り返した
後、同期系多重データ回線７０１側から試験データ照合
回路７０４にデータを引き込み、照合する経路であり、
７０７は試験データ生成回路７０３からネットワーク伝
送路７００側に送信し、ネットワーク伝送路７００側か
らの受信データを同期系多重データ回線７０１側に通常
ルートにて転送し、折り返した後、同期系多重データ回
線７０１側から試験データ照合回路７０４にデータを引
き込み、照合する経路であり、７０８は試験データ生成
回路７０３からの受信データを同期系多重データ回線７
０１側に送信し、折り返した後、ネットワーク伝送路７
００側に通常ルートにて転送し、ネットワーク伝送路７
００側から試験データ照合回路７０４にデータを引き込
み、照合をする経路である。また、インタフェース装置
１1〜１n内の試験データ生成回路１１０にて生成される
試験データは全て同じであるため、ネットワーク伝送路
３／インタフェース装置１1〜１n側の試験時、インタフ
ェース装置１1〜１nの試験データ生成回路１１０及び、
試験データ照合回路１１１の起動をかけることにより、
インタフェース装置１1にて生成した試験データをイン
タフェース装置１2に送信し、インタフェース装置１2に
て照合、インタフェース装置１2にて生成した試験デー
タをインタフェース装置１3に送信し、インタフェース
装置１3にて照合、というような折り返しを必要としな
い試験も可能となる。
るインタフェース装置内の試験データ転送経路を示す。
７０５は試験データ生成回路７０３からネットワーク伝
送路７００側に送信し、ネットワーク伝送路７００側か
ら試験データ照合回路７０４にデータを引き込み、照合
する経路であり、７０６は試験データ生成回路７０３か
ら同期系多重データ回線７０１側に送信し、折り返した
後、同期系多重データ回線７０１側から試験データ照合
回路７０４にデータを引き込み、照合する経路であり、
７０７は試験データ生成回路７０３からネットワーク伝
送路７００側に送信し、ネットワーク伝送路７００側か
らの受信データを同期系多重データ回線７０１側に通常
ルートにて転送し、折り返した後、同期系多重データ回
線７０１側から試験データ照合回路７０４にデータを引
き込み、照合する経路であり、７０８は試験データ生成
回路７０３からの受信データを同期系多重データ回線７
０１側に送信し、折り返した後、ネットワーク伝送路７
００側に通常ルートにて転送し、ネットワーク伝送路７
００側から試験データ照合回路７０４にデータを引き込
み、照合をする経路である。また、インタフェース装置
１1〜１n内の試験データ生成回路１１０にて生成される
試験データは全て同じであるため、ネットワーク伝送路
３／インタフェース装置１1〜１n側の試験時、インタフ
ェース装置１1〜１nの試験データ生成回路１１０及び、
試験データ照合回路１１１の起動をかけることにより、
インタフェース装置１1にて生成した試験データをイン
タフェース装置１2に送信し、インタフェース装置１2に
て照合、インタフェース装置１2にて生成した試験デー
タをインタフェース装置１3に送信し、インタフェース
装置１3にて照合、というような折り返しを必要としな
い試験も可能となる。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、全
く異なるネットワーク伝送路転送時のデータフレームフ
ォーマットとデータ回線転送時のデータフレームフォー
マットをインタフェース装置内にて変換する過程におい
て、そのフレームフォーマット変換時に両方向に透過的
なデータフレーム状態を作り、ネットワーク伝送路及び
通信相手インタフェース装置側とデータ回線側の両方向
に共通な試験データ生成回路及び照合回路を設けること
により、容易にネットワーク伝送路及び通信相手インタ
フェース装置側、データ回線側の試験を行うことができ
る。
く異なるネットワーク伝送路転送時のデータフレームフ
ォーマットとデータ回線転送時のデータフレームフォー
マットをインタフェース装置内にて変換する過程におい
て、そのフレームフォーマット変換時に両方向に透過的
なデータフレーム状態を作り、ネットワーク伝送路及び
通信相手インタフェース装置側とデータ回線側の両方向
に共通な試験データ生成回路及び照合回路を設けること
により、容易にネットワーク伝送路及び通信相手インタ
フェース装置側、データ回線側の試験を行うことができ
る。
【図１】本発明の一実施例に基づくネットワーク構成及
び、インタフェース装置構成図である。
び、インタフェース装置構成図である。
【図２】インタフェース装置内部転送フレーム構成図で
ある。
ある。
【図３】試験データ生成回路図である。
【図４】試験データ生成回路図である。
【図５】試験データ生成回路図である。
【図６】試験データ照合回路図である。
【図７】試験データ転送経路図である。
１1〜１n…インタフェース装置、２1〜２n…インタフェ
ース装置管理用端末、３…ネットワーク伝送路、４1〜
４n…同期系多重データ回線、５1〜５n…同期系データ
伝送装置、１０１…シリアル／パラレル変換回路、１０
２，１０６，１０９，１１３…セレクタ、１０３，１０
７…フレームヘッダ変換回路、１０４…送信バッファメ
モリ、１０５…受信バッファメモリ、１０８…パラレル
／シリアル変換回路、１１０…試験データ生成回路、１
１１…試験データ照合回路、１１２…試験設定回路。
ース装置管理用端末、３…ネットワーク伝送路、４1〜
４n…同期系多重データ回線、５1〜５n…同期系データ
伝送装置、１０１…シリアル／パラレル変換回路、１０
２，１０６，１０９，１１３…セレクタ、１０３，１０
７…フレームヘッダ変換回路、１０４…送信バッファメ
モリ、１０５…受信バッファメモリ、１０８…パラレル
／シリアル変換回路、１１０…試験データ生成回路、１
１１…試験データ照合回路、１１２…試験設定回路。
フロントページの続き (72)発明者 本木 由子 横浜市戸塚区戸塚町216番地株式会社日立 製作所戸塚工場内
Claims (3)
- 【請求項１】ローカルエリアネットワークにおける、リ
ング状のネットワーク伝送路上に配置される複数のイン
タフェース装置と、該複数のインタフェース装置のそれ
ぞれを介して該ネットワーク伝送路に接続されるデータ
伝送装置から構成されるデータ伝送システムにおいて、
該インタフェース装置内にて該インタフェース装置と該
データ伝送装置とを接続するデータ回線から受信したデ
ータのフレームフォーマットを該ネットワーク伝送路用
データフレームフォーマットに変換する過程と、該ネッ
トワーク伝送路から受信したデータのフレームフォーマ
ットを該データ回線用データフレームフォーマットに変
換する過程との両過程において該フレームフォーマット
変換時にその内容を透過的に転送可能なデータ形式で試
験データを生成する試験データ生成回路及び、該ネット
ワーク伝送路、若しくは該データ回線から受信した試験
データと、該試験データ生成回路にて生成した試験デー
タとその照合を行う試験データ照合回路を設けることに
より、該ネットワーク伝送路側に試験データを送信し、
試験対象となる該インタフェース装置にて折り返し、返
送された試験データと該試験データ生成回路にて生成し
た試験データを送信側該インタフェース装置の該試験デ
ータ照合回路にて照合することによる該ネットワーク伝
送路及び該通信相手インタフェース装置側の折り返し試
験、または、該ネットワーク伝送路側に該試験データ生
成回路にて生成した試験データを送信し、該通信相手側
インタフェース装置にて該ネットワーク伝送路から受信
した試験データと該通信相手インタフェース装置側の該
試験データ生成回路にて生成した試験データを該通信相
手側試験データ照合回路にて照合する、あるいは、逆に
送信元インタフェース装置側に該通信相手インタフェー
ス装置側の該試験データ生成回路にて生成した試験デー
タを送信し、送信元インタフェース装置側にて該ネット
ワーク伝送路側から受信した試験データと該送信元イン
タフェース装置側の該試験データ生成回路にて生成した
試験データを該送信元試験データ照合回路にて照合する
ことによる該ネットワーク伝送路を介して接続される該
送信元インタフェース装置と該通信相手インタフェース
装置側間の折り返しを必要としない試験、または、該デ
ータ回線側に該ネットワーク伝送路及び該通信相手イン
タフェース装置側の試験時に用いられたものと同じ該試
験データ生成回路にて生成した試験データを送信し、該
データ伝送装置にて折り返し、返送された試験データと
該ネットワーク伝送路及び該通信相手インタフェース装
置側の試験時に用いられたものと同じ該試験データ生成
回路にて生成した試験データを該ネットワーク伝送路及
び該通信相手インタフェース装置側の試験時に用いられ
たものと同じ該試験データ照合回路にて、照合すること
による該データ回線及び該データ伝送装置側の折り返し
試験をすることを特徴とするネットワーク試験方式。 - 【請求項２】請求項１記載のネットワーク構成における
インタフェース装置において、試験データ生成回路をス
イッチにて切替え可能な構成にすることにより、試験デ
ータを任意に設定できることを特徴とするネットワーク
試験方式。 - 【請求項３】請求項１記載のネットワーク構成における
インタフェース装置において、試験データ生成回路を任
意に書き込み可能なメモリにて構成することにより、試
験データを任意に設定できることを特徴とするネットワ
ーク試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4007266A JPH05199246A (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | ネットワーク試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4007266A JPH05199246A (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | ネットワーク試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05199246A true JPH05199246A (ja) | 1993-08-06 |
Family
ID=11661230
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4007266A Pending JPH05199246A (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | ネットワーク試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05199246A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1995015630A1 (en) * | 1993-11-30 | 1995-06-08 | Integrated Network Corporation | Network interface unit remote test pattern generation |
-
1992
- 1992-01-20 JP JP4007266A patent/JPH05199246A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5553059A (en) * | 1993-03-11 | 1996-09-03 | Integrated Network Corporation | Network interface unit remote test pattern generation |
| WO1995015630A1 (en) * | 1993-11-30 | 1995-06-08 | Integrated Network Corporation | Network interface unit remote test pattern generation |
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