JPS6097525A - マトリクス状に配列されたリレ−の動作診断装置 - Google Patents
マトリクス状に配列されたリレ−の動作診断装置Info
- Publication number
- JPS6097525A JPS6097525A JP58204472A JP20447283A JPS6097525A JP S6097525 A JPS6097525 A JP S6097525A JP 58204472 A JP58204472 A JP 58204472A JP 20447283 A JP20447283 A JP 20447283A JP S6097525 A JPS6097525 A JP S6097525A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- relay
- circuit
- relays
- diagnostic
- row
- Prior art date
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- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H47/00—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the relay and designed to obtain desired operating characteristics or to provide energising current
- H01H47/002—Monitoring or fail-safe circuits
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の属する分野］
本発明は、マトリクス状に配列されｌｊリレーの故障の
有無を自動的に診ｒＳづる診ｐｌｉ装置に関する。
有無を自動的に診ｒＳづる診ｐｌｉ装置に関する。
［従来技術］
従来より、マトリクスの格子点に０Ｎ１０ＦＦリレ一接
点を配置してなるマトリクス・リレー回路はよく知られ
ている。
点を配置してなるマトリクス・リレー回路はよく知られ
ている。
ところで、このようなマトリクス・リレー回路に使用さ
れるリレーは機械部品であり、ＩＣ等の電気回路部品に
比べて故障の発生づる確率が＾いのが普通である。７１
−リクス・リレー回路のリレーは、しばしば電気回路の
キーポイントに使用され、その場合故障が発生するとも
はや回路が正常に動作しなくなる。従来、このＪ：うな
場合にＪｊいて、リレーの故障の有無を自動的に診断づ
るという方法はなく、素早く対処できないという問題が
あった。
れるリレーは機械部品であり、ＩＣ等の電気回路部品に
比べて故障の発生づる確率が＾いのが普通である。７１
−リクス・リレー回路のリレーは、しばしば電気回路の
キーポイントに使用され、その場合故障が発生するとも
はや回路が正常に動作しなくなる。従来、このＪ：うな
場合にＪｊいて、リレーの故障の有無を自動的に診断づ
るという方法はなく、素早く対処できないという問題が
あった。
［発明の目的］
本発明は、この様な点に鑑み、マトリクス状レー回路に
６３＋ｊるリレーの故障の４１無を簡単に診断づること
のＣきる診断装置を提供４ることにある。
６３＋ｊるリレーの故障の４１無を簡単に診断づること
のＣきる診断装置を提供４ることにある。
し発明の（■要コ
マトリクス状に配置された多数個の被試験リレーを右ツ
るリレー回路と、このリレー回路の各リレーをそれぞれ
ｔｊ勢づることのできるリレードライバ回路と、１）う
記リレー回路の隣接する列又（よ行に係わる２つのリレ
ーを対象としそのＯＮ Ｊ：たはＯＦＦ状態を検出しそ
の結果を２値信号として１９ることのできる診断回路と
、前記リレードライブ回路を駆動し目的とするリレーを
ＯＮ又はＯＦＦにジるための−」ン１〜１コール１５号
と前記診…１回路を制御づるためのコン１〜ロール信号
を発生づるとともに、前記診断回路から１ｑられた結果
をもとに故障リレーのイｊ照及び少なくとも故障リレー
を含む一対のリレーの位置を特定することができる中火
処理装置を具備しｌこことを特６＆とづる。
るリレー回路と、このリレー回路の各リレーをそれぞれ
ｔｊ勢づることのできるリレードライバ回路と、１）う
記リレー回路の隣接する列又（よ行に係わる２つのリレ
ーを対象としそのＯＮ Ｊ：たはＯＦＦ状態を検出しそ
の結果を２値信号として１９ることのできる診断回路と
、前記リレードライブ回路を駆動し目的とするリレーを
ＯＮ又はＯＦＦにジるための−」ン１〜１コール１５号
と前記診…１回路を制御づるためのコン１〜ロール信号
を発生づるとともに、前記診断回路から１ｑられた結果
をもとに故障リレーのイｊ照及び少なくとも故障リレー
を含む一対のリレーの位置を特定することができる中火
処理装置を具備しｌこことを特６＆とづる。
［実施例］
以下図面を用いて本発明を訂しく説明ジろ。第１図μ本
几明に係るリレーの動作診断共だの一実施例を承り（題
略的）ｊす成因である。１１１１図にＨ３い（，１０は
マトリクス状 （ＬＯ〜Ｌ３）１６列〈ＰＯ・〜Ｐ ’Ｉ ５ ）でな
る７１〜リクスの格子点（６／Ｉ点）にＯＮ 、／ Ｏ
Ｆ ｆ＝摺接点リレーが配置され、行及び列指定（・各
リレーが駆動されるようになっている。２０１よりシー
１−ラ１１回路で、中央処理装置（例えばマイクロブ１
コセツザでｔ ４７４成される。数十この装置をＣＰ
Ｏと略称づる。）３０の制御にＪ、リリレー回路の６４
個のリレーをそれぞれ個別に駆８８Ｊることかでさるよ
うになっている。４０は診［１１ｉ回路で、モの出力は
２線式℃・リレー回路１０の列１） ０と１〕１に接続
され、リレーの界雷を検出Ｃきるようにむっている。Ｃ
Ｐ Ｕ ３０は診ＩＱｉ回路４０を制υ１１りるよう１
こなつＣおり、そのコン（−ロール（Ｈ６どしＵ Ｃ１
−Ｃ３かあり、次の礪能を持つ。
几明に係るリレーの動作診断共だの一実施例を承り（題
略的）ｊす成因である。１１１１図にＨ３い（，１０は
マトリクス状 （ＬＯ〜Ｌ３）１６列〈ＰＯ・〜Ｐ ’Ｉ ５ ）でな
る７１〜リクスの格子点（６／Ｉ点）にＯＮ 、／ Ｏ
Ｆ ｆ＝摺接点リレーが配置され、行及び列指定（・各
リレーが駆動されるようになっている。２０１よりシー
１−ラ１１回路で、中央処理装置（例えばマイクロブ１
コセツザでｔ ４７４成される。数十この装置をＣＰ
Ｏと略称づる。）３０の制御にＪ、リリレー回路の６４
個のリレーをそれぞれ個別に駆８８Ｊることかでさるよ
うになっている。４０は診［１１ｉ回路で、モの出力は
２線式℃・リレー回路１０の列１） ０と１〕１に接続
され、リレーの界雷を検出Ｃきるようにむっている。Ｃ
Ｐ Ｕ ３０は診ＩＱｉ回路４０を制υ１１りるよう１
こなつＣおり、そのコン（−ロール（Ｈ６どしＵ Ｃ１
−Ｃ３かあり、次の礪能を持つ。
Ｃ″１：診…ｉ回銘４０の出力をＰＯと［〕１に接続り
る。
る。
Ｃ２：診断回路４０での電流供給の小ＩＪ ｔｉｌ＋
。
。
Ｃ３：診断回路４０のフリップ・フロップ（詳細は後述
する）をクリＡ７する。
する）をクリＡ７する。
また、ＣＰＵは診断回路の出力（リレー動作の試験結果
である２値信号）を臥めとることができるようになって
いる。
である２値信号）を臥めとることができるようになって
いる。
第２図は診…ｉ回路の詳細を示Ｊ椙成因Ｃ・ある。
図にＨ３いて、ＸＩ、Ｘ２はリレー回路のリレー接点−
（・ある。４１１．ｌ＋１２はそれぞれＤタイプのフリ
ップ・）１」ツブ（以下Ｄ−ＦＦという）、４２１は１
〜ランジスタ、４２２はバツフト・ノ′ンプ、４２５（
まりレー接点／１２３，４２４を駆動づるドライノ回路
（゛ある。このドライブ回路には信Ｑ Ｃ１が加えられ
る。４３０は比較回路で、４３１゜４３２は′：１ンバ
レータ、４３３〜４３６はそれぞれ抵抗素子である。コ
ン１−ロール信号Ｃ２はバツノトアンプ４２２を介して
１〜ランシスタ４２１に加えられる。（・ランジスタ４
２１ののエミッタ化（本は抵抗素子４３３〜４３５より
なる分圧回路を介しくもＸ準電位 ＋ｊ；ｊ ＣＯＮ・１に１ｆ２続されると共に、抵抗素
子４３６とリレー接１ｉｉｊ ４２３の直列回路をｆｉ
（ノて被試験リレー接点の一端に接続され、ま１．：被
試験リレー接点の他端はリレー接点４２４を介して旦準
の電位点ＣＯＭに接続されている。抵抗素子４３３と４
３１１の分圧点Ｂはコンパレータ／１３１の一入力端子
に接続され、抵抗素子４３４と４３５の分圧点Ｃはコン
パレータ／１３２の十入力嫡子に接続されている。抵抗
素子４３６とリレー接点’１２３の接続点Ｅｌよ、コン
パレータ７′１３１，４３２の＋、−入力端子にそれぞ
れ接続され文いる。Ｄ −Ｆ Ｆ ／Ｉ’＋１、／１１
２にｄｊけるブリセラ１一端子Ｐ ＲＬｉ−＋シバレー
タ４３１，４３２の出力端子に、１つ端子（ｊ基準電位
点ＣＯ没１に、またクリア端子Ｃ１，、、Ｒは＋５Ｖの
“市に！端子にそれぞれ接続されている。りＬ１ツク喘
子ＣＫに（Ｊり１」ツク信号としてコン１〜ロール伯号
Ｃ３が加えられる。
（・ある。４１１．ｌ＋１２はそれぞれＤタイプのフリ
ップ・）１」ツブ（以下Ｄ−ＦＦという）、４２１は１
〜ランジスタ、４２２はバツフト・ノ′ンプ、４２５（
まりレー接点／１２３，４２４を駆動づるドライノ回路
（゛ある。このドライブ回路には信Ｑ Ｃ１が加えられ
る。４３０は比較回路で、４３１゜４３２は′：１ンバ
レータ、４３３〜４３６はそれぞれ抵抗素子である。コ
ン１−ロール信号Ｃ２はバツノトアンプ４２２を介して
１〜ランシスタ４２１に加えられる。（・ランジスタ４
２１ののエミッタ化（本は抵抗素子４３３〜４３５より
なる分圧回路を介しくもＸ準電位 ＋ｊ；ｊ ＣＯＮ・１に１ｆ２続されると共に、抵抗素
子４３６とリレー接１ｉｉｊ ４２３の直列回路をｆｉ
（ノて被試験リレー接点の一端に接続され、ま１．：被
試験リレー接点の他端はリレー接点４２４を介して旦準
の電位点ＣＯＭに接続されている。抵抗素子４３３と４
３１１の分圧点Ｂはコンパレータ／１３１の一入力端子
に接続され、抵抗素子４３４と４３５の分圧点Ｃはコン
パレータ／１３２の十入力嫡子に接続されている。抵抗
素子４３６とリレー接点’１２３の接続点Ｅｌよ、コン
パレータ７′１３１，４３２の＋、−入力端子にそれぞ
れ接続され文いる。Ｄ −Ｆ Ｆ ／Ｉ’＋１、／１１
２にｄｊけるブリセラ１一端子Ｐ ＲＬｉ−＋シバレー
タ４３１，４３２の出力端子に、１つ端子（ｊ基準電位
点ＣＯ没１に、またクリア端子Ｃ１，、、Ｒは＋５Ｖの
“市に！端子にそれぞれ接続されている。りＬ１ツク喘
子ＣＫに（Ｊり１」ツク信号としてコン１〜ロール伯号
Ｃ３が加えられる。
この條な栴成にお（ノる動作を次に説明りる。診断項目
としては、ＯＮ試験とｏ ｔ： ｔ：試験がある。
としては、ＯＮ試験とｏ ｔ： ｔ：試験がある。
ＯＮ試験は、（り接点が閉じＣいるべき時に確かに閉じ
Ｃいるかどうか、■接触抵抗が人さＪさないか、■動作
時間が長づぎないかを調べる。
Ｃいるかどうか、■接触抵抗が人さＪさないか、■動作
時間が長づぎないかを調べる。
一方、ＯＦＦ試験では、（ｂ接白が開いているべ８とき
に確かに聞いているかどうか、■接触抵抗が小さずぎな
いか、■復帰時間が艮すぎないかを倹Ｉ！ｉする。両シ
（貌とも、■、■、■が総べて正常でな（プればそのリ
レーを異常と判断する。
に確かに聞いているかどうか、■接触抵抗が小さずぎな
いか、■復帰時間が艮すぎないかを倹Ｉ！ｉする。両シ
（貌とも、■、■、■が総べて正常でな（プればそのリ
レーを異常と判断する。
次に、診断のｈ式について説明覆る。第３図に承りよ°
）に診断回路４０から見て、直列に２つ並／υ−（゛い
るリレーＸ＋ 、Ｘ２を交互に診断する。リレーの接点
を閉じる（ＯＮにづる）命令をｍ ａ ｋ ｅ命令、聞
＜ （ＯＦＦｋｌ、’ｌる）命令を１ｌｒｏａｋ命令と
づる。リレーＸ、の試験の場合、リレー×２は常にｍ
ａ ｋ ａとしておき、リレー×１のみをｍａｋｅする
ことによりＯＮ試験を、逆にｍａｋｅされているリレー
×１をｂｒｅａｋ ＴすることによりＯＦ Ｆ試験をそ
れぞれ実施づる。
）に診断回路４０から見て、直列に２つ並／υ−（゛い
るリレーＸ＋ 、Ｘ２を交互に診断する。リレーの接点
を閉じる（ＯＮにづる）命令をｍ ａ ｋ ｅ命令、聞
＜ （ＯＦＦｋｌ、’ｌる）命令を１ｌｒｏａｋ命令と
づる。リレーＸ、の試験の場合、リレー×２は常にｍ
ａ ｋ ａとしておき、リレー×１のみをｍａｋｅする
ことによりＯＮ試験を、逆にｍａｋｅされているリレー
×１をｂｒｅａｋ ＴすることによりＯＦ Ｆ試験をそ
れぞれ実施づる。
リレー×２についても同様である。
この様なＯＮ試験、ＯＦＦ試験とも第４図のような処理
フＬ１−に従つ６行われる。第４図及び第５図を参照し
て動作を説明１れば次の通りｒある。
フＬ１−に従つ６行われる。第４図及び第５図を参照し
て動作を説明１れば次の通りｒある。
ＣＰＵ３０から、リレードラ・イノ回路２０’＼制御信
号を与え、リレー×１を駆動しＣ第５図の＜［Ｊ）に示
づようにＩｌｗａｋｅにする。続い−ｃ１リレーＸ２に
ついても同様にしてｍａｋｅとする（同図（ハ））。
号を与え、リレー×１を駆動しＣ第５図の＜［Ｊ）に示
づようにＩｌｗａｋｅにする。続い−ｃ１リレーＸ２に
ついても同様にしてｍａｋｅとする（同図（ハ））。
リレーの駆動開始から第５図の（イ）に示ず侍ち時間ａ
（リレーの動作時間及び復ｌｌ！時間）を経た後、ｃｐ
ｕからの」ントロール信号ｃ ’＋−ｃ３ににり診断回
路４０がイづ勢される。づな４つら、信号Ｃ１によりド
ライブ回路４２５が句勢されリレー４２３、／１２４が
ともにＯＮとなり、更に信号Ｃ２によりトランジスタ４
２１がＯＮと４１って分圧回路４３０に電流が供給され
（第５図の（ニ））、続いて信号Ｃ３によりＤ−ＦＦ４
１１，４１２がクリーフされる〈同図の（ボ））。
（リレーの動作時間及び復ｌｌ！時間）を経た後、ｃｐ
ｕからの」ントロール信号ｃ ’＋−ｃ３ににり診断回
路４０がイづ勢される。づな４つら、信号Ｃ１によりド
ライブ回路４２５が句勢されリレー４２３、／１２４が
ともにＯＮとなり、更に信号Ｃ２によりトランジスタ４
２１がＯＮと４１って分圧回路４３０に電流が供給され
（第５図の（ニ））、続いて信号Ｃ３によりＤ−ＦＦ４
１１，４１２がクリーフされる〈同図の（ボ））。
これによりリレーＸ＋ とＸ２とのＯＮ ／’ Ｏｒ
Ｉ：状態の検出が司ＯＦｉとなる。今、リレーｘ１とＸ
２とが共にＯＮの状態である場合には」ンバレータ４３
１の出力がＩ Ｌ １１、コンパレータ４３２の出力が
Ｉビとなり、その各出力はＤ −Ｆ Ｆ ／Ｉ １ ’
ｌ 。
Ｉ：状態の検出が司ＯＦｉとなる。今、リレーｘ１とＸ
２とが共にＯＮの状態である場合には」ンバレータ４３
１の出力がＩ Ｌ １１、コンパレータ４３２の出力が
Ｉビとなり、その各出力はＤ −Ｆ Ｆ ／Ｉ １ ’
ｌ 。
４１２のプリセラ１〜端子ＰＲに入力される。ｌ） −
「「は、プリセッＩ一端子に′Ｌ゛°が与えられるど、
そのＱ出力が’ ｌ−１”になるようになっているため
、Ｄ −Ｆ Ｆ ４１１は′Ｈ″のＤ１信号を出力し、
４１２は“Ｌ″のＤ２信号を出力づる。ＣＰ Ｕはこの
Ｄ′ｌ、Ｄ２１Ｅｉ号を読みとり、リレーの良否判別（
故障の合った場合はその一対のリレーの位ｉｂ知ること
かできる。）を行い（同図（ホ））、その後診１ｆｌｉ
回路へのコントロール信号を落す。
「「は、プリセッＩ一端子に′Ｌ゛°が与えられるど、
そのＱ出力が’ ｌ−１”になるようになっているため
、Ｄ −Ｆ Ｆ ４１１は′Ｈ″のＤ１信号を出力し、
４１２は“Ｌ″のＤ２信号を出力づる。ＣＰ Ｕはこの
Ｄ′ｌ、Ｄ２１Ｅｉ号を読みとり、リレーの良否判別（
故障の合った場合はその一対のリレーの位ｉｂ知ること
かできる。）を行い（同図（ホ））、その後診１ｆｌｉ
回路へのコントロール信号を落す。
この様な処理フ１］−で各リレーの故障診断を行うが、
全リレーを診断する場合の診断順序の一例を次に述べる
。
全リレーを診断する場合の診断順序の一例を次に述べる
。
■スＴツブ１
第６図に示すように、リレー回路の１０列、２１行に配
置された４対のリレーを順次診断する。
置された４対のリレーを順次診断する。
■ステップ２
第７図に承りように、１０列［０行、Ｐ１列Ｌ１行の２
つのリレーをｍ ａ ｋ ｅにしＣおき、ＬＯ行とＬ１
行の１４対のリレーを診Ｉｇｉする。診ｌｌ１ｉ後は、
ＦｌＯ列ＬＯ行と１１列１１行との２つのリレーを共に
ｂｒｅａｋとし’ＣＡｊ ＜。
つのリレーをｍ ａ ｋ ｅにしＣおき、ＬＯ行とＬ１
行の１４対のリレーを診Ｉｇｉする。診ｌｌ１ｉ後は、
ＦｌＯ列ＬＯ行と１１列１１行との２つのリレーを共に
ｂｒｅａｋとし’ＣＡｊ ＜。
■ステップ３
第８図に承りように、ＰＯ列Ｌ２行、［）１列Ｌ３行の
２つのリレーを＋ｎ ａ ｋ ｅにしＵＪメさ、１２行
とＬ３行の１７１対のリレーを診１！７ｉ ’Ｊる。診
断後は、１０列し２行とＰ１列し３行との２つのリレー
を共に１月゛ｅａｋとしておく。
２つのリレーを＋ｎ ａ ｋ ｅにしＵＪメさ、１２行
とＬ３行の１７１対のリレーを診１！７ｉ ’Ｊる。診
断後は、１０列し２行とＰ１列し３行との２つのリレー
を共に１月゛ｅａｋとしておく。
以上の手順にＪ−９６４個のリレーを診断Ｊることがで
きる。
きる。
ただし、ステップ１で検査づ−るリレーは、ステップ２
，３でのキーポイン］−となるリレーが含まれているの
で、ステップ１で異常が検出された場合には、スーアッ
プ２，３の検査は中断する。
，３でのキーポイン］−となるリレーが含まれているの
で、ステップ１で異常が検出された場合には、スーアッ
プ２，３の検査は中断する。
ＯＦＦ試験で動作異花のリレーが検出された場合は、そ
のとき検査している２つのリレーの内、どちらかが異常
であると言える。
のとき検査している２つのリレーの内、どちらかが異常
であると言える。
なお、診断回路のリレー回路に対する接続４；１． Ｆ
ｆは実施例に限らず他の列又は行であってもよい。
ｆは実施例に限らず他の列又は行であってもよい。
また、リレー回路のマ（〜リクスの人ささく沫２×２以
上任意とすることができる。
上任意とすることができる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば、７１〜リクス・
リレー回路の名リレーの故障をＯＮ 、／′Ｏｒ−「−
（験にＪ、り簡単に検出ザることができ、しかも故障リ
レーの位置すほば特定することが（゛きる。
リレー回路の名リレーの故障をＯＮ 、／′Ｏｒ−「−
（験にＪ、り簡単に検出ザることができ、しかも故障リ
レーの位置すほば特定することが（゛きる。
ａ’＋ １ ＊ Ｌよ本発明の一実施例を示４概念的１
１〜１成図、第２図は診断回路の一興体例、第３図はリ
レーのＯＮ ／’ ＯＦ Ｆ試験の様子を説明りるため
の図、第４図は診断方式を説明づるためのフローチト−
１〜、第５図は動１’ｌ’を説明づるためのタイムチｉ
−−−１−１第６図ないし第８図は診１ｔｌｉの順序と
診断リレーを承りだめの図でｄうる。 １０、、、ンＩ〜リクス・リレー回路、２０．、。 リレードライブ回路、３０．、、中央処ＬＩＥ装置、ｌ
ＩＯ，、、診…１回路。 第２図 ４Ｕ 第３図 第４図
１〜１成図、第２図は診断回路の一興体例、第３図はリ
レーのＯＮ ／’ ＯＦ Ｆ試験の様子を説明りるため
の図、第４図は診断方式を説明づるためのフローチト−
１〜、第５図は動１’ｌ’を説明づるためのタイムチｉ
−−−１−１第６図ないし第８図は診１ｔｌｉの順序と
診断リレーを承りだめの図でｄうる。 １０、、、ンＩ〜リクス・リレー回路、２０．、。 リレードライブ回路、３０．、、中央処ＬＩＥ装置、ｌ
ＩＯ，、、診…１回路。 第２図 ４Ｕ 第３図 第４図
Claims (1)
- ７１−リクス状に配置されＩこ多数個の被試験リレーを
右υるリレー回路と、このリレー回路の各リレーをそれ
ぞれ（Ｊ勢Ｊることのできるリレードライバ回路と、前
記リレー回路の隣接する列又は行に係わる２つのリレー
を対象としそのＯＮまたはＯＦＦ状態を検出しその結果
を２値信号として得ることのできる診１１ｉ回路と、前
記リレードライブ回路を駆動し目的とするリレーをＯＮ
又はＯＦＦにづるためのコントロール信号とｔｉＪ記診
断回路を制御づるための」ントロール信号を発生づると
ともに、前記診断回路からｉＦＪられた結果をもとに故
障リレーの有無及び少なくとも故障リレーを含む一対の
リレーの位置を特定づ″ることができる中央処理装置を
具備したことを特徴とするマトリクス状に配列されたリ
レーの動作診１ｉ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58204472A JPS6097525A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | マトリクス状に配列されたリレ−の動作診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58204472A JPS6097525A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | マトリクス状に配列されたリレ−の動作診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6097525A true JPS6097525A (ja) | 1985-05-31 |
| JPH0255894B2 JPH0255894B2 (ja) | 1990-11-28 |
Family
ID=16491092
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58204472A Granted JPS6097525A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | マトリクス状に配列されたリレ−の動作診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6097525A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61292833A (ja) * | 1985-06-19 | 1986-12-23 | 横河電機株式会社 | マトリクスリレ−動作診断装置 |
-
1983
- 1983-10-31 JP JP58204472A patent/JPS6097525A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61292833A (ja) * | 1985-06-19 | 1986-12-23 | 横河電機株式会社 | マトリクスリレ−動作診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0255894B2 (ja) | 1990-11-28 |
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