JPS61107152A - 水分測定装置 - Google Patents
水分測定装置Info
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- JPS61107152A JPS61107152A JP59228222A JP22822284A JPS61107152A JP S61107152 A JPS61107152 A JP S61107152A JP 59228222 A JP59228222 A JP 59228222A JP 22822284 A JP22822284 A JP 22822284A JP S61107152 A JPS61107152 A JP S61107152A
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- Japan
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- gas
- measurement
- electrode
- measuring
- flow passage
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0011—Sample conditioning
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/417—Systems using cells, i.e. more than one cell and probes with solid electrolytes
- G01N27/4175—Calibrating or checking the analyser
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、酸素と水蒸気とを含んだ測定ガスをジルコニ
アのような固体電解質素子に設けた測定電極に供給し、
前記測定ガスから水蒸気を除去した乾燥ガスを基準ガス
として前記固体電解質素子に設けた基準電極に供給し、
前記両電極間に出力される電圧にもとづき前記測定ガス
中の水蒸気濃度を測定する、固体電解質式酸素濃度検出
器を用いた水分測定装置、特に測定ガス中の酸素濃度の
急激な変動にもとづく測定誤差を少なくすることができ
る装置構成に関する。
アのような固体電解質素子に設けた測定電極に供給し、
前記測定ガスから水蒸気を除去した乾燥ガスを基準ガス
として前記固体電解質素子に設けた基準電極に供給し、
前記両電極間に出力される電圧にもとづき前記測定ガス
中の水蒸気濃度を測定する、固体電解質式酸素濃度検出
器を用いた水分測定装置、特に測定ガス中の酸素濃度の
急激な変動にもとづく測定誤差を少なくすることができ
る装置構成に関する。
水蒸気と酸素とその他のガスとからなる測定ガスにおい
ては水蒸気濃度と酸素濃度との間に相互依存関係がある
ので、条件か整えば一方を測定することによって他方を
知ることができる。今、上記測定ガスの体積をVとし、
この体積中の水蒸気、酸素およびその他のガスの各体積
をそれぞれV。
ては水蒸気濃度と酸素濃度との間に相互依存関係がある
ので、条件か整えば一方を測定することによって他方を
知ることができる。今、上記測定ガスの体積をVとし、
この体積中の水蒸気、酸素およびその他のガスの各体積
をそれぞれV。
voおよび■3とし各濃度をAwlAoおよびAaとす
ると(1)式および(2)式が得られる。
ると(1)式および(2)式が得られる。
Aw:Vw/V、 AO=VO/V、 ha=va
/V−(1)Aw+Ao+Aa=1 ・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・(2)(2)式
から濃度人、が一定であれば酸素濃度A0を知ることに
よって水蒸気濃度Awを知ることができるが、前記測定
ガスを除湿して乾燥ガスを得ると、この乾燥ガス中の酸
素濃変人。rは(3)式で表されるから、(1)〜(3
)式から(4)式が得られ、濃度A0と濃度A。rとを
知ることによって(4)式によっても水蒸気濃度Awを
知ることができる。
/V−(1)Aw+Ao+Aa=1 ・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・(2)(2)式
から濃度人、が一定であれば酸素濃度A0を知ることに
よって水蒸気濃度Awを知ることができるが、前記測定
ガスを除湿して乾燥ガスを得ると、この乾燥ガス中の酸
素濃変人。rは(3)式で表されるから、(1)〜(3
)式から(4)式が得られ、濃度A0と濃度A。rとを
知ることによって(4)式によっても水蒸気濃度Awを
知ることができる。
Aor”Vo/(vo+va) −・・・・・・
・・・= (3)Aw=1−Ao/Aor ・
・・・・・・・・・・・・・・(4)このため、従来、
2個の酸素濃度検出器を用いて水蒸気濃度Awを測定す
る方法が提案されており、この測定方法は、一方の酸素
濃度検出器には水分を含む測定ガスを導入し他方の酸素
濃度検出器には水分が除去されたガスを導入し、両検出
器のそれぞれに到達するガスの速さに差異があるときは
早い方のガスに対する酸素濃度検出信号を遅延回路を経
て遅らせて両検出器の検出信号を同期させ、最終的に(
4)式の演算を行って濃度Awを得るようにしたもので
あるが、この測定方法には2個の酸素濃度検出器と1個
の信号遅延回路とを必要とし装置が複雑になるという問
題がある。
・・・= (3)Aw=1−Ao/Aor ・
・・・・・・・・・・・・・・(4)このため、従来、
2個の酸素濃度検出器を用いて水蒸気濃度Awを測定す
る方法が提案されており、この測定方法は、一方の酸素
濃度検出器には水分を含む測定ガスを導入し他方の酸素
濃度検出器には水分が除去されたガスを導入し、両検出
器のそれぞれに到達するガスの速さに差異があるときは
早い方のガスに対する酸素濃度検出信号を遅延回路を経
て遅らせて両検出器の検出信号を同期させ、最終的に(
4)式の演算を行って濃度Awを得るようにしたもので
あるが、この測定方法には2個の酸素濃度検出器と1個
の信号遅延回路とを必要とし装置が複雑になるという問
題がある。
このため1個の固体電解質式酸素濃度検出器を用いて水
蒸気濃度Awを測定する方法か特開昭57−17815
4号公報によって提案されており、この方法は、上記濃
度検出器の測定電極に測定ガスを導きこの測定ガスを除
湿して得た乾燥ガスを濃度検出器の基準電極に導き、両
電極間に発生する電圧Eを測定して水蒸気濃度Awを得
るようにしたもので、この場合電圧Eは(5)式で表さ
れる。
蒸気濃度Awを測定する方法か特開昭57−17815
4号公報によって提案されており、この方法は、上記濃
度検出器の測定電極に測定ガスを導きこの測定ガスを除
湿して得た乾燥ガスを濃度検出器の基準電極に導き、両
電極間に発生する電圧Eを測定して水蒸気濃度Awを得
るようにしたもので、この場合電圧Eは(5)式で表さ
れる。
Kは比例定数である。
ボ=に−I n (Ao/Aor) ・・・・・
・・・・・・・・・・(5)(4)式と(5)式とから
(6)式が得られる。
・・・・・・・・・・(5)(4)式と(5)式とから
(6)式が得られる。
1i=工に−A’n(1−Aw) ・・・・・
・・・・・・・・・・(6)(6)式から電圧Eを測定
することにより水蒸気濃度Awが得られることか明らか
であるが、こめ測定方法に用いられる酸素濃度Aorは
上述した所かられかるように酸素濃度A0を呈する測定
ガスを除湿して得た乾燥ガスにおけるものでなければな
らず、測定ガスの酸素濃度A0か急変して、前記基準電
極に酸素濃変人。rlの乾燥ガスが導かれた時に、前記
測定電極に、酸素濃度A0,1の乾燥ガスを生じた元の
測定ガスにおけ酸素濃度A01とは異なる酸素濃変人。
・・・・・・・・・・(6)(6)式から電圧Eを測定
することにより水蒸気濃度Awが得られることか明らか
であるが、こめ測定方法に用いられる酸素濃度Aorは
上述した所かられかるように酸素濃度A0を呈する測定
ガスを除湿して得た乾燥ガスにおけるものでなければな
らず、測定ガスの酸素濃度A0か急変して、前記基準電
極に酸素濃変人。rlの乾燥ガスが導かれた時に、前記
測定電極に、酸素濃度A0,1の乾燥ガスを生じた元の
測定ガスにおけ酸素濃度A01とは異なる酸素濃変人。
2を有する測定ガスが導かれていると、この測定方法で
は測定誤差を生じる。
は測定誤差を生じる。
第2図はこのような測定方法を採用した従来の水分測定
装置の概略構成図で、図において1はジルコニア等で形
成した有底円筒状の固体電解質素子、2,3は該素子1
の底部外面および内面にそれぞれ接合した測定電極、基
準電極である。ジルコニア素子1の開口端には取付フラ
ンジ4が設けられている。5ば酸素と水蒸気とを含む測
定ガス6が流れる流路、5aは該流路の壁、7は一端が
壁5aを貫通してかつ皺壁に固定され他端が流路5外に
突出して突出端に相フランジ8が固定された取付管であ
る。9は両端にそれぞれ第1フランジ9aと第2フラン
ジ9bとが固定され中間側壁に内部に連通ずるガス抽出
口9Cが設けられたガ −ス採取管で、ガス採取管9は
フランジ8と9bとを図示していない締結手段によって
フランジ結合することにより取付管7に固定され、ジル
コニア素子1は取付管7とガス採取管9とによって形成
された一連の円柱状内部空所10に遊挿され、フランジ
9aと4とのフランジ結合によってガス採取管9に固定
されている。11は一端11aか基準電極3の近傍に配
置され他端11bがジルコニア素子1外に引き出された
ガス注入管である°。12は流路5から内部空所10に
流入してきた測定ガス6をガス抽出口9Cを介して吸引
して除湿し、乾燥ガス13をガス注入管の他端11bに
送り込むようにしたガス処理装置である。
装置の概略構成図で、図において1はジルコニア等で形
成した有底円筒状の固体電解質素子、2,3は該素子1
の底部外面および内面にそれぞれ接合した測定電極、基
準電極である。ジルコニア素子1の開口端には取付フラ
ンジ4が設けられている。5ば酸素と水蒸気とを含む測
定ガス6が流れる流路、5aは該流路の壁、7は一端が
壁5aを貫通してかつ皺壁に固定され他端が流路5外に
突出して突出端に相フランジ8が固定された取付管であ
る。9は両端にそれぞれ第1フランジ9aと第2フラン
ジ9bとが固定され中間側壁に内部に連通ずるガス抽出
口9Cが設けられたガ −ス採取管で、ガス採取管9は
フランジ8と9bとを図示していない締結手段によって
フランジ結合することにより取付管7に固定され、ジル
コニア素子1は取付管7とガス採取管9とによって形成
された一連の円柱状内部空所10に遊挿され、フランジ
9aと4とのフランジ結合によってガス採取管9に固定
されている。11は一端11aか基準電極3の近傍に配
置され他端11bがジルコニア素子1外に引き出された
ガス注入管である°。12は流路5から内部空所10に
流入してきた測定ガス6をガス抽出口9Cを介して吸引
して除湿し、乾燥ガス13をガス注入管の他端11bに
送り込むようにしたガス処理装置である。
第2図においては各部が上述のように構成されているの
で、測定1!L極2には測定ガス6が接触し、基準電極
3には乾燥ガス13が接触し、両電極間に電圧Eが発生
する。14は電圧Eが入力され(6)式にもとづく演算
を行って水蒸気濃度Awに応じた信号14aを出力する
演算器、15はジルコニア素子1と測定電極2と基準電
極3と演算器14とからなる固体電解質式酸素濃度検出
器である。
で、測定1!L極2には測定ガス6が接触し、基準電極
3には乾燥ガス13が接触し、両電極間に電圧Eが発生
する。14は電圧Eが入力され(6)式にもとづく演算
を行って水蒸気濃度Awに応じた信号14aを出力する
演算器、15はジルコニア素子1と測定電極2と基準電
極3と演算器14とからなる固体電解質式酸素濃度検出
器である。
82図の水分測定装置は上記の信号14aによって測定
ガス6の水蒸気濃度Awを測定しようとするものである
から、測定ガス6が測定電極2に接触してからこのガス
を除湿して得た乾燥ガス13が基準電極3に接触するま
での間に時間差、換言すれば乾燥ガスの供給遅れがある
。故に、この遅れ時間が経過した時測定電極2に接触す
る測定ガス6の酸素濃度か変化していると前述したよう
にこの水分測定装置では測定誤差を生じる。
ガス6の水蒸気濃度Awを測定しようとするものである
から、測定ガス6が測定電極2に接触してからこのガス
を除湿して得た乾燥ガス13が基準電極3に接触するま
での間に時間差、換言すれば乾燥ガスの供給遅れがある
。故に、この遅れ時間が経過した時測定電極2に接触す
る測定ガス6の酸素濃度か変化していると前述したよう
にこの水分測定装置では測定誤差を生じる。
本発明は、上述したような従来の水分測定装置における
問題を解決して、水蒸気と酸素とを含む測定ガス中の水
蒸気濃度を、該測定ガス中の酸素濃度か急変しても小さ
い誤差で測定することのできろ水分測定装置を提供する
ことを目的とする。
問題を解決して、水蒸気と酸素とを含む測定ガス中の水
蒸気濃度を、該測定ガス中の酸素濃度か急変しても小さ
い誤差で測定することのできろ水分測定装置を提供する
ことを目的とする。
本発明は、上述の目的を達成するために、酸素と水蒸気
とを含む測定ガスの雰囲気内に配置され、測定ガスが流
入しうる少なくとも一個の細孔を有するガス溜室と;両
面にそれぞれ測定電極および基準電極が設けられた固体
・電解質素子を有し、ガス溜室に流入した測定ガスが測
定電極に接触するようにガス溜室内に配置された固体電
解質式酸素濃度検出器と;ガス溜室内の測定ガスを除湿
して基準ガスとして基準電極に供給する基準ガス供給機
構と;からなり、酸素濃度検出器の出力信号により前記
水蒸気の濃度を測定する水分測定装置において、基準ガ
ス供給機構を、ガス溜室内の測定ガスをガス溜室外に吸
引するガス吸引機構と、ガス吸引機構によって吸引され
た測定ガスを除湿して基準ガスを生成する半透膜式除湿
器と、基準ガスを基準電極に案内するガス注入管と、で
構成し半透膜式除湿器は該除湿器における測定ガス流路
容積が基準ガス供給機構におけるガス流路容積の1/2
をこえないようにしたもので、このように構成すること
によって、測定ガス中の酸素濃度が急変してもこの変動
がガス溜室内においては該ガス溜室のタンク作用によっ
て緩慢になるようにして、もって酸素濃度の変動による
測定誤差の少ない水分測定装置が得られるようにしたも
のであり、また基準ガス供給機構におけるガス流路容積
を小さくして乾燥ガスの基準電極への供給遅れ時間を短
<シ、もってガス溜室細孔の塵埃による目詰まりが起り
難くするようにしながら上述の酸素濃度変動にもとづく
測定誤差が生じることの少ない水分測定装置が得られる
ようにしたものである。
とを含む測定ガスの雰囲気内に配置され、測定ガスが流
入しうる少なくとも一個の細孔を有するガス溜室と;両
面にそれぞれ測定電極および基準電極が設けられた固体
・電解質素子を有し、ガス溜室に流入した測定ガスが測
定電極に接触するようにガス溜室内に配置された固体電
解質式酸素濃度検出器と;ガス溜室内の測定ガスを除湿
して基準ガスとして基準電極に供給する基準ガス供給機
構と;からなり、酸素濃度検出器の出力信号により前記
水蒸気の濃度を測定する水分測定装置において、基準ガ
ス供給機構を、ガス溜室内の測定ガスをガス溜室外に吸
引するガス吸引機構と、ガス吸引機構によって吸引され
た測定ガスを除湿して基準ガスを生成する半透膜式除湿
器と、基準ガスを基準電極に案内するガス注入管と、で
構成し半透膜式除湿器は該除湿器における測定ガス流路
容積が基準ガス供給機構におけるガス流路容積の1/2
をこえないようにしたもので、このように構成すること
によって、測定ガス中の酸素濃度が急変してもこの変動
がガス溜室内においては該ガス溜室のタンク作用によっ
て緩慢になるようにして、もって酸素濃度の変動による
測定誤差の少ない水分測定装置が得られるようにしたも
のであり、また基準ガス供給機構におけるガス流路容積
を小さくして乾燥ガスの基準電極への供給遅れ時間を短
<シ、もってガス溜室細孔の塵埃による目詰まりが起り
難くするようにしながら上述の酸素濃度変動にもとづく
測定誤差が生じることの少ない水分測定装置が得られる
ようにしたものである。
第1図は本発明の一実施例の構成図で、図においては、
ジルコニア素子1は底部に細孔21を有する円筒状ガス
溜室22内に遊挿されており、ガス溜室22の開口端は
取付フランジ4に気密に固定されている。23は、ジル
コニア素子1とガス溜室22との間に形成された空所2
4に一端23aが配置され他端23bが取付フランジ4
を貫通してガス溜室22外に引き出されたガス吸引管、
25はガス溜室22の底部外面を被うようにした除塵用
フィルタである。この場合フィルタ25が設けられたガ
ス溜室22は取付管7内を通って流路5内に挿入され、
該ガス溜室が取り付けられたフランジ4は相フランジ8
に気密に固定されている。26はガス吸引管23を介し
て空所24のガスをガス溜室22外に吸引しこの吸引し
たガスをドレン分離器27に送り込むようにしたポンプ
で、28はポンプ26とガス吸引管23とからなるガス
吸引機構である。ドレン分離器27は、ポンプ26から
吐出されたガスが流入口27aから流入して流出口27
bから流出するように構成されており、さらに流入口2
7aから流出口27bに該ガスが流れる際流速が遅くな
るように該ガスの流路断面積が大きく形成されているの
で、ポンプ26の吐出側ガス中に水滴が混在していると
この水滴はドレン分離器27内で落下する。29はこの
落下した水滴をポンプ26の吐出ガスの一部と共に大気
に排出するようにしたドレン排出管である。
ジルコニア素子1は底部に細孔21を有する円筒状ガス
溜室22内に遊挿されており、ガス溜室22の開口端は
取付フランジ4に気密に固定されている。23は、ジル
コニア素子1とガス溜室22との間に形成された空所2
4に一端23aが配置され他端23bが取付フランジ4
を貫通してガス溜室22外に引き出されたガス吸引管、
25はガス溜室22の底部外面を被うようにした除塵用
フィルタである。この場合フィルタ25が設けられたガ
ス溜室22は取付管7内を通って流路5内に挿入され、
該ガス溜室が取り付けられたフランジ4は相フランジ8
に気密に固定されている。26はガス吸引管23を介し
て空所24のガスをガス溜室22外に吸引しこの吸引し
たガスをドレン分離器27に送り込むようにしたポンプ
で、28はポンプ26とガス吸引管23とからなるガス
吸引機構である。ドレン分離器27は、ポンプ26から
吐出されたガスが流入口27aから流入して流出口27
bから流出するように構成されており、さらに流入口2
7aから流出口27bに該ガスが流れる際流速が遅くな
るように該ガスの流路断面積が大きく形成されているの
で、ポンプ26の吐出側ガス中に水滴が混在していると
この水滴はドレン分離器27内で落下する。29はこの
落下した水滴をポンプ26の吐出ガスの一部と共に大気
に排出するようにしたドレン排出管である。
ドレン排出管29は内径が細く形成されているのでドレ
ン分離器27内の圧力が低下することは少なく、この結
果ドレン分離器27において気水分離されたガスが流出
口27bから除湿器30の内管 4301に導かれる。30は水蒸気濃度の高いガスを流
すようにした内管301とこの内管を遊挿した外管30
2とからなり、内管301と外管302との間に水蒸気
濃度の低いガスを流して、内管301内を流れるガスか
ら該内管壁を水蒸気を透過させて該ガスを除湿するよう
にした半透膜式気相除湿器で、この除湿器の内管301
から流出した、上記のようにして除湿された乾燥ガス1
3は、内径を細くシてガスの流動抵抗を高くした絞り機
構31ど、内管301と外管302との間に形成された
空所30aにガスを流入させるようにしたガス流入口3
02aと、に送り込まれるように構成されている。30
2bは流入口302aから空所30a内に導入されたガ
スを大気に排出するガス排出口である。絞り機構31を
通った乾燥ガス13はガス注入管の端部11bに導かれ
ているQ 第1図においては各部が上述のように構成されているの
で、流路5における測定ガス6はフィルタ25で除塵さ
れた後細孔21を通ってガス溜室内の空所24に入り測
定電極2に接触する。また空所24に入ってきた測定ガ
スはガス吸引管23を介してポンプ26によって吸い出
され、ドレン分離器27および除湿器30によって除湿
されて乾燥ガス13となり、絞り機構31およびガス注
入管11を順次経由して基準ガスとして基準電極3に供
給される。ドレン分離器27は流動ガス中に水滴が存在
することによって除湿器30の除湿能力が低下すること
のないように設けられており、能 絞り機4も有するドレン排出管29と絞り機構31とは
各部を流れるガス流量を加減する機能を有している。3
2はドレン分離器27とドレン排出管29と除湿器30
とからなる除湿機構、33はガス吸引櫨構28と除湿機
構32と絞り機構31とガス注入管11とからなる基準
ガス供給機病、34は、フィルタ25か設けられたガス
溜室22と、フランジ4が設けられかつ演算器15が接
続された酸素濃度検出器15と、基準ガス供給機構33
と、からなる水分測定装置である。水分測定装置34に
おいては基準ガス供給機構33におけるガス流路容積が
約5(fF!J)、半透膜式除湿器30における測定ガ
ス流路容積か約0.6〔fnl〕、ガス吸引管23によ
る吸引ガス流量が0.2 (J/m1n)、ガス注入管
11によって電極3に供給される基準ガス流量が0.1
(l/m1n)であるように各部が構成されている。
ン分離器27内の圧力が低下することは少なく、この結
果ドレン分離器27において気水分離されたガスが流出
口27bから除湿器30の内管 4301に導かれる。30は水蒸気濃度の高いガスを流
すようにした内管301とこの内管を遊挿した外管30
2とからなり、内管301と外管302との間に水蒸気
濃度の低いガスを流して、内管301内を流れるガスか
ら該内管壁を水蒸気を透過させて該ガスを除湿するよう
にした半透膜式気相除湿器で、この除湿器の内管301
から流出した、上記のようにして除湿された乾燥ガス1
3は、内径を細くシてガスの流動抵抗を高くした絞り機
構31ど、内管301と外管302との間に形成された
空所30aにガスを流入させるようにしたガス流入口3
02aと、に送り込まれるように構成されている。30
2bは流入口302aから空所30a内に導入されたガ
スを大気に排出するガス排出口である。絞り機構31を
通った乾燥ガス13はガス注入管の端部11bに導かれ
ているQ 第1図においては各部が上述のように構成されているの
で、流路5における測定ガス6はフィルタ25で除塵さ
れた後細孔21を通ってガス溜室内の空所24に入り測
定電極2に接触する。また空所24に入ってきた測定ガ
スはガス吸引管23を介してポンプ26によって吸い出
され、ドレン分離器27および除湿器30によって除湿
されて乾燥ガス13となり、絞り機構31およびガス注
入管11を順次経由して基準ガスとして基準電極3に供
給される。ドレン分離器27は流動ガス中に水滴が存在
することによって除湿器30の除湿能力が低下すること
のないように設けられており、能 絞り機4も有するドレン排出管29と絞り機構31とは
各部を流れるガス流量を加減する機能を有している。3
2はドレン分離器27とドレン排出管29と除湿器30
とからなる除湿機構、33はガス吸引櫨構28と除湿機
構32と絞り機構31とガス注入管11とからなる基準
ガス供給機病、34は、フィルタ25か設けられたガス
溜室22と、フランジ4が設けられかつ演算器15が接
続された酸素濃度検出器15と、基準ガス供給機構33
と、からなる水分測定装置である。水分測定装置34に
おいては基準ガス供給機構33におけるガス流路容積が
約5(fF!J)、半透膜式除湿器30における測定ガ
ス流路容積か約0.6〔fnl〕、ガス吸引管23によ
る吸引ガス流量が0.2 (J/m1n)、ガス注入管
11によって電極3に供給される基準ガス流量が0.1
(l/m1n)であるように各部が構成されている。
故にこのような水分測定装置では、ガス吸引管23によ
る吸引ガス流量が少ないのでフィルタ25に付着する塵
埃か少なく、この結果該フィルタを掃除する時間間隔が
長くなる利点であり、また基準ガス供給機構33におけ
るガス流路容積が小さいのでガス吸引管23による吸引
ガス流量が少ないにもかかわらず、測定ガスか測定電極
2に接触する時刻と基準ガスか基準電極3に接触する時
刻との間の時間差、換言すれば基準ガスの基準電極3へ
の供給遅れが短く、約2秒となっている。したがってこ
のような水分測定装置によれば、一台の固体電解質式酸
素濃度検出器を用いたものであるにもかかわらず、測定
ガス6の酸素濃度変動による測定誤差か少なくなる。ま
た水分測定装置34においては、流路5における測定ガ
ス6中の酸素濃度が急激に変動してもこの変動はガス溜
室22内においては該ガス溜室のタンク作用によって緩
慢になる。このため基準ガスの基準電極3への供給遅れ
か若干存在しても、測定ガス6中の酸素濃度の変動にも
とづく測定誤差は発生し難くなる。なお第1図の測定装
置は、測定電極2近傍の測定ガスをポンプ26によって
強制的に吸い出すようにしているので、応答速度の早い
水分測定装置となっていることは明らかである。
る吸引ガス流量が少ないのでフィルタ25に付着する塵
埃か少なく、この結果該フィルタを掃除する時間間隔が
長くなる利点であり、また基準ガス供給機構33におけ
るガス流路容積が小さいのでガス吸引管23による吸引
ガス流量が少ないにもかかわらず、測定ガスか測定電極
2に接触する時刻と基準ガスか基準電極3に接触する時
刻との間の時間差、換言すれば基準ガスの基準電極3へ
の供給遅れが短く、約2秒となっている。したがってこ
のような水分測定装置によれば、一台の固体電解質式酸
素濃度検出器を用いたものであるにもかかわらず、測定
ガス6の酸素濃度変動による測定誤差か少なくなる。ま
た水分測定装置34においては、流路5における測定ガ
ス6中の酸素濃度が急激に変動してもこの変動はガス溜
室22内においては該ガス溜室のタンク作用によって緩
慢になる。このため基準ガスの基準電極3への供給遅れ
か若干存在しても、測定ガス6中の酸素濃度の変動にも
とづく測定誤差は発生し難くなる。なお第1図の測定装
置は、測定電極2近傍の測定ガスをポンプ26によって
強制的に吸い出すようにしているので、応答速度の早い
水分測定装置となっていることは明らかである。
第3図は本発明の他の実施例の構成図である。
この実施例と第1図に示した実施例との相違は、第1図
の実施例では除湿器30の内管と外管との間に流すガス
を内管を経た乾燥ガスによって形成しているが、この実
施例ではその内管と外管との間に乾燥空気を流すように
した点にある。このようにすることにより、加圧を小さ
くでき、かつ、必要な基準ガスだけを除湿すればよいの
で、除湿器に能力の小さいものを使用可能となる。
の実施例では除湿器30の内管と外管との間に流すガス
を内管を経た乾燥ガスによって形成しているが、この実
施例ではその内管と外管との間に乾燥空気を流すように
した点にある。このようにすることにより、加圧を小さ
くでき、かつ、必要な基準ガスだけを除湿すればよいの
で、除湿器に能力の小さいものを使用可能となる。
上述したように、本発明においては、酸素と水蒸気とを
含む測定ガスの雰囲気内に配置され、測定ガスが流入し
うる少なくとも一個の細孔を有するガス溜室と二側面に
それぞれ測定電極および基準電極が設けられた固体電解
質素子を有し、ガス溜室に流入した測定ガスが測定電極
に接触するようにガス溜室内に配置された固体電解質式
酸素製置検出器と;ガス溜室内の測定ガスを除湿して基
準ガスとして基準電極に供給する基準ガス供給機構と;
からなり、酸素濃度検出器の出力信号により前記水蒸気
の濃度を測定する水分測定装置において、基準ガス供給
機構を、ガス溜室内の測定ガスをガス溜室外に吸引する
ガス吸引機構と、ガス吸引機構によって吸引された測定
ガスを除湿して基準ガスを生成する半透膜式除湿器と、
基準ガスを基準゛電極に案内するガス注入管と、で構成
し、半透膜式除湿器は該除湿器における測定ガス流路容
積が基準ガス供給機構におけるガス流路容積の1/2を
こえないようにしたので、このように構成することによ
って、測定ガス中の酸素濃度が急変してもこの変動がガ
ス溜室内においては該ガス溜室のタンク作用によって緩
慢になる結果、酸素濃度の変動による測定誤差の少ない
水分測定装置が得られる効果があり、また基準ガス供給
機構におけるガス流路容積を小さくして乾燥ガスの基準
・1極への供給遅れ時間を短くすることによって、ガス
溜室細孔の塵埃による目詰まりが起り雌くするようにし
ながら上述の酸素濃度変動にもとづく測定誤差が生じる
ことの少ない水分測定装置が得られる効果がある。
含む測定ガスの雰囲気内に配置され、測定ガスが流入し
うる少なくとも一個の細孔を有するガス溜室と二側面に
それぞれ測定電極および基準電極が設けられた固体電解
質素子を有し、ガス溜室に流入した測定ガスが測定電極
に接触するようにガス溜室内に配置された固体電解質式
酸素製置検出器と;ガス溜室内の測定ガスを除湿して基
準ガスとして基準電極に供給する基準ガス供給機構と;
からなり、酸素濃度検出器の出力信号により前記水蒸気
の濃度を測定する水分測定装置において、基準ガス供給
機構を、ガス溜室内の測定ガスをガス溜室外に吸引する
ガス吸引機構と、ガス吸引機構によって吸引された測定
ガスを除湿して基準ガスを生成する半透膜式除湿器と、
基準ガスを基準゛電極に案内するガス注入管と、で構成
し、半透膜式除湿器は該除湿器における測定ガス流路容
積が基準ガス供給機構におけるガス流路容積の1/2を
こえないようにしたので、このように構成することによ
って、測定ガス中の酸素濃度が急変してもこの変動がガ
ス溜室内においては該ガス溜室のタンク作用によって緩
慢になる結果、酸素濃度の変動による測定誤差の少ない
水分測定装置が得られる効果があり、また基準ガス供給
機構におけるガス流路容積を小さくして乾燥ガスの基準
・1極への供給遅れ時間を短くすることによって、ガス
溜室細孔の塵埃による目詰まりが起り雌くするようにし
ながら上述の酸素濃度変動にもとづく測定誤差が生じる
ことの少ない水分測定装置が得られる効果がある。
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は従来の水
分測定装置の構成図、第3図は本発明の他の実施例の構
成図である。 1・・・固体14t%質素子としてのジルコニア素子、
2・・・測定゛電極、3・・・基準電極、6・・・測定
ガス、11・・・ガス注入管、13・・・基準ガスとし
ての乾燥ガス、15・・・固体′成解質式酸素濃胚検出
器、21・・・細孔、22・・ガス溜室、28・・・ガ
ス吸引機構、30・・・半透膜式除湿器、33・・基準
ガス供給機構、34・・・水分測定装置。
分測定装置の構成図、第3図は本発明の他の実施例の構
成図である。 1・・・固体14t%質素子としてのジルコニア素子、
2・・・測定゛電極、3・・・基準電極、6・・・測定
ガス、11・・・ガス注入管、13・・・基準ガスとし
ての乾燥ガス、15・・・固体′成解質式酸素濃胚検出
器、21・・・細孔、22・・ガス溜室、28・・・ガ
ス吸引機構、30・・・半透膜式除湿器、33・・基準
ガス供給機構、34・・・水分測定装置。
Claims (1)
- 酸素と水蒸気とを含む測定ガスの雰囲気内に配置され、
前記測定ガスが流入しうる少なくとも一個の細孔を有す
るガス溜室と;両面にそれぞれ測定電極および基準電極
が設けられた固体電解質素子を有し、前記ガス溜室に流
入した前記測定ガスが前記測定電極に接触するように前
記ガス溜室内に配置された固体電解質式酸素濃度検出器
と;前記ガス溜室内の前記測定ガスを除湿して基準ガス
として前記基準電極に供給する基準ガス供給機構と;か
らなり、前記酸素濃度検出器の出力信号により前記水蒸
気の濃度を測定する水分測定装置であつて、前記基準ガ
ス供給機構を、前記ガス溜室内の前記測定ガスを前記ガ
ス溜室外に吸引するガス吸引機構と、前記ガス吸引機構
によつて吸引された前記測定ガスを除湿して前記基準ガ
スを生成する半透膜式除湿器と、前記基準ガスを前記基
準電極に案内するガス注入管と、で構成し、前記除湿器
は該除湿器における測定ガス流路容積が前記基準ガス供
給機構におけるガス流路容積の1/2をこえないものと
したことを特徴とする水分測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59228222A JPS61107152A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | 水分測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59228222A JPS61107152A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | 水分測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61107152A true JPS61107152A (ja) | 1986-05-26 |
Family
ID=16873085
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59228222A Pending JPS61107152A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | 水分測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61107152A (ja) |
-
1984
- 1984-10-30 JP JP59228222A patent/JPS61107152A/ja active Pending
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