JPS61108954A - 塗膜測定プロ−ブ - Google Patents
塗膜測定プロ−ブInfo
- Publication number
- JPS61108954A JPS61108954A JP22982284A JP22982284A JPS61108954A JP S61108954 A JPS61108954 A JP S61108954A JP 22982284 A JP22982284 A JP 22982284A JP 22982284 A JP22982284 A JP 22982284A JP S61108954 A JPS61108954 A JP S61108954A
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- JP
- Japan
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- coating film
- impedance
- electrode
- sponge
- probe
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/20—Investigating the presence of flaws
- G01N27/205—Investigating the presence of flaws in insulating materials
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は塗膜測定ブＯ−ブに係り、特に金属表面に防錆
や美観仕上げ等の目的で塗付された塗装膜の劣化を電気
化学的に検出し評価するに好適な塗膜測定プローブに関
する。
や美観仕上げ等の目的で塗付された塗装膜の劣化を電気
化学的に検出し評価するに好適な塗膜測定プローブに関
する。
一般に、金属表面の塗膜劣化の検出や評価を行なう場合
、第５図の概念図に示す如き構成を用いた電気化学的評
価方式が実施されている。同図に示す如く、評価に当っ
ては素地金属１上に塗装した評価すべき塗装膜２の上に
導電性ゲル３を介してＡ１箔等の測定用電極４を接触さ
せる。次に、素地金属１と測定用電極４間に電流計５を
介して電流電源６を用いて交流電圧を印加する。このと
きに印加された電圧を素地金属１と測定用電極４の間に
接続された電圧計７により読取る。
、第５図の概念図に示す如き構成を用いた電気化学的評
価方式が実施されている。同図に示す如く、評価に当っ
ては素地金属１上に塗装した評価すべき塗装膜２の上に
導電性ゲル３を介してＡ１箔等の測定用電極４を接触さ
せる。次に、素地金属１と測定用電極４間に電流計５を
介して電流電源６を用いて交流電圧を印加する。このと
きに印加された電圧を素地金属１と測定用電極４の間に
接続された電圧計７により読取る。
一般に、塗装膜２は塗装置後の正常な状態では電気抵抗
が非常に大きく、１０８Ω−ａｒｔあるいはそれ以上の
直流抵抗を有する。塗装ＷＡ２の電気的等価回路は、塗
装膜２が正常な場合には、第６図の等価回路図に示すよ
うな抵抗Ｒｆと容量Ｏｆとの並列回路で表わされる。こ
れに対して、塗装膜２が劣化してくると、この抵抗Ｒｆ
が減少してくるとともに、第６図に示されるような単純
な等価回路から複数の時定数を持つような複雑なインピ
ーダンスを示すようになってくる。しかしながら、劣化
の初期段階では、抵抗Ｒｆと容量Ｃｆとの並列回路とし
て扱うことが可能である。
が非常に大きく、１０８Ω−ａｒｔあるいはそれ以上の
直流抵抗を有する。塗装ＷＡ２の電気的等価回路は、塗
装膜２が正常な場合には、第６図の等価回路図に示すよ
うな抵抗Ｒｆと容量Ｏｆとの並列回路で表わされる。こ
れに対して、塗装膜２が劣化してくると、この抵抗Ｒｆ
が減少してくるとともに、第６図に示されるような単純
な等価回路から複数の時定数を持つような複雑なインピ
ーダンスを示すようになってくる。しかしながら、劣化
の初期段階では、抵抗Ｒｆと容量Ｃｆとの並列回路とし
て扱うことが可能である。
塗装膜２のインピーダンスＺ（ｊω）は、第５図の構成
を通じて測定される電圧、電流に基いて、（１）式から
求めることができる。
を通じて測定される電圧、電流に基いて、（１）式から
求めることができる。
Ｚ（ｊω）−ｅ（ｊω）／ｉ （ｊω）・・・（１）た
だし、ωは角周波数、ｅ（ｊω）は電圧、ｉ（ｊω）は
電流である。また、もう一つの劣化の指標であるｔａｎ
δは（２）式から求めることができる。
だし、ωは角周波数、ｅ（ｊω）は電圧、ｉ（ｊω）は
電流である。また、もう一つの劣化の指標であるｔａｎ
δは（２）式から求めることができる。
ｔａｎ６−Ｉ２ｍｌ／１Ｚｅｌ −（２）ここ
で、Ｚｍはインピーダンスの虚数部、Ｚｅはインピーダ
ンスの実数部である。ちなみに、実数部とはインピーダ
ンスが純抵抗で得られるときの位相成分である。塗装膜
が劣化してくると、第６図の抵抗Ｒｆが減少し、同じ交
流電圧ｅ（ｊω）を印加した場合にはｉ’（ｊω）が増
加し、インピーダンスＺ（ｊω）が減少する。同様にし
て、抵抗Ｒｆが減少してくると、１７ｅｌが減少しｔａ
ｎδが増加する。このようにして塗装膜２のインピーダ
ンスあるいはｔａｎδを測定することで、塗装膜の劣化
を検出することができる。
で、Ｚｍはインピーダンスの虚数部、Ｚｅはインピーダ
ンスの実数部である。ちなみに、実数部とはインピーダ
ンスが純抵抗で得られるときの位相成分である。塗装膜
が劣化してくると、第６図の抵抗Ｒｆが減少し、同じ交
流電圧ｅ（ｊω）を印加した場合にはｉ’（ｊω）が増
加し、インピーダンスＺ（ｊω）が減少する。同様にし
て、抵抗Ｒｆが減少してくると、１７ｅｌが減少しｔａ
ｎδが増加する。このようにして塗装膜２のインピーダ
ンスあるいはｔａｎδを測定することで、塗装膜の劣化
を検出することができる。
塗装膜２の劣化前後のインピーダンスの変化を第７図な
らびに第８図の特性図に示す。ちなみに、第７図はイン
ピーダンスの絶対値を周波数（対数）に対してプロット
したものであり、一般にボード線図と言われている。劣
化していない塗装膜のインピーダンス曲線ａに対して塗
装膜が劣化してくるとインピーダンスは曲線すのように
周波数の低い側での減少が顕著となる。したがって、イ
ンピーダンスの絶対値のみから劣化を検出する場合には
、周波数の低い方で測定する方が有効である。
らびに第８図の特性図に示す。ちなみに、第７図はイン
ピーダンスの絶対値を周波数（対数）に対してプロット
したものであり、一般にボード線図と言われている。劣
化していない塗装膜のインピーダンス曲線ａに対して塗
装膜が劣化してくるとインピーダンスは曲線すのように
周波数の低い側での減少が顕著となる。したがって、イ
ンピーダンスの絶対値のみから劣化を検出する場合には
、周波数の低い方で測定する方が有効である。
一方、第８図はインピーダンスを実数部と虚数部とで表
示したもので、一般にはナイキスト線図と言われる形に
複素表示したものである。塗装ＷＡ２が劣化してくると
インピーダンス軌跡ｄは正常な場合（曲線Ｃ）と比べて
半円が小さくなるとともに円が変形してくる。この形か
ら塗装膜の劣化の程度を推定することができる。
示したもので、一般にはナイキスト線図と言われる形に
複素表示したものである。塗装ＷＡ２が劣化してくると
インピーダンス軌跡ｄは正常な場合（曲線Ｃ）と比べて
半円が小さくなるとともに円が変形してくる。この形か
ら塗装膜の劣化の程度を推定することができる。
上述した如く、第５図の概念図に示す如き構成を通じて
、塗装膜２のインピーダンスを測定した結果から塗装置
１２の劣化を検出することができる。
、塗装膜２のインピーダンスを測定した結果から塗装置
１２の劣化を検出することができる。
ところが、このような方式において正確な測定を行なう
ためには、アルミニウム箔等の測定用電極４を塗装膜２
に密着させる必要がある。このため、従来から導電性ゲ
ル３を被測定面に塗布して、測定誤差を少なくするべく
対策が考えられてきた。
ためには、アルミニウム箔等の測定用電極４を塗装膜２
に密着させる必要がある。このため、従来から導電性ゲ
ル３を被測定面に塗布して、測定誤差を少なくするべく
対策が考えられてきた。
しかしながら、塗装膜２上の被測定面が天井面や凹面部
分に対応するような場合には、第９図（ａ）、（ｂ）に
示すように、導電性ゲル３内に気泡Ｍを生じやすく、生
じた気ａＭの除去も極めて困難であるというような状況
になりやすい。この場合、塗装膜２上の被測定面全面に
導電性ゲル３が介在していない状態となり、測定用電極
４と塗装膜２の間の測定面積が一定とならない。このた
めに、インピーダンスの測定結果に誤差を生じ、塗装膜
２の本来のインピーダンスが測定できなくなり、塗装膜
２の劣化を正確に検出することが不可能となる。
分に対応するような場合には、第９図（ａ）、（ｂ）に
示すように、導電性ゲル３内に気泡Ｍを生じやすく、生
じた気ａＭの除去も極めて困難であるというような状況
になりやすい。この場合、塗装膜２上の被測定面全面に
導電性ゲル３が介在していない状態となり、測定用電極
４と塗装膜２の間の測定面積が一定とならない。このた
めに、インピーダンスの測定結果に誤差を生じ、塗装膜
２の本来のインピーダンスが測定できなくなり、塗装膜
２の劣化を正確に検出することが不可能となる。
従って、本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解消
し、金属構造体表面に塗布された塗装膜の劣化を正確か
つ簡便に検出、評価することを可能とした塗膜測定プロ
ーブを提供するにある。
し、金属構造体表面に塗布された塗装膜の劣化を正確か
つ簡便に検出、評価することを可能とした塗膜測定プロ
ーブを提供するにある。
上記目的を達成するために、本発明は塗膜に対向する面
に凸面状に配されるスポンジ状電極と、スポンジ状電極
に含浸すべき導電性ゲルを収容する容器とを備えた塗膜
測定プローブを提供するものである。
に凸面状に配されるスポンジ状電極と、スポンジ状電極
に含浸すべき導電性ゲルを収容する容器とを備えた塗膜
測定プローブを提供するものである。
以下、図面を参照しながら本発明の実施例を説明する。
第１図は本発明の一実施例に係る塗膜、測定プローブの
概略構成図で、同図（ａ）は断面図、同図（ｂ）は底面
図をそれぞれ示すものである。一方、第２図は第１図に
示した塗膜測定プローブを使用して塗装膜の凹面状部分
の塗膜インピーダンスを測定している状態を示した説明
図である。
概略構成図で、同図（ａ）は断面図、同図（ｂ）は底面
図をそれぞれ示すものである。一方、第２図は第１図に
示した塗膜測定プローブを使用して塗装膜の凹面状部分
の塗膜インピーダンスを測定している状態を示した説明
図である。
さて、第１図に示す如く、プローブ本体８の内部にはベ
ロー９を取り付けた多孔板１０が配されており、先端に
は外面（被測定面側）を凸面状にしたスポンジ状電極１
１が取り付けられている。
ロー９を取り付けた多孔板１０が配されており、先端に
は外面（被測定面側）を凸面状にしたスポンジ状電極１
１が取り付けられている。
更に、プローブ本体８のへロー９の上部には空気抜き孔
１２が配され、側面には導電性ゲル３を注入するための
ゲル注入口１３が設けられている。
１２が配され、側面には導電性ゲル３を注入するための
ゲル注入口１３が設けられている。
導電性ゲル３は注入口１３よりスポンジ状電極１１と多
孔板１０およびベロー９から成るゲル槽内に注入される
。導電性ゲル３にはリード線として被覆銅Ｉ！１４が接
続されている。ちなみに、導電性ゲル３としては３％食
塩水に３％の増粘剤（カルボキシルメチルセルローズ 等が使用可能である。なお、プローブ本体８の下端には
塗膜インピーダンスの測定時にプローブ本体８を塗装膜
に固定するための磁石１５が取り付けられている。
孔板１０およびベロー９から成るゲル槽内に注入される
。導電性ゲル３にはリード線として被覆銅Ｉ！１４が接
続されている。ちなみに、導電性ゲル３としては３％食
塩水に３％の増粘剤（カルボキシルメチルセルローズ 等が使用可能である。なお、プローブ本体８の下端には
塗膜インピーダンスの測定時にプローブ本体８を塗装膜
に固定するための磁石１５が取り付けられている。
かかる構成において、次にその作用を第２図の説明図に
従って説明する。第１図に示すように構成された塗膜測
定プローブを塗装膜２上の被測定面に当てると、プロー
ブ本体８の先端部のスポンジ状電極１１は凸面状となっ
ているために被測定 ′面側に必ず中央部より接触し
て行き、塗装膜２のスポンジ状電極１１との間に気泡が
発生しても、これは外周に押し出されていく。このため
、気泡を生じることなく、最終的にスポンジ状電極１１
は塗装膜２の被測定面に全面密着して、磁石１５と素地
金属１の間の磁気的な吸着力により固定される。導電性
ゲル３はスポンジ状電極１１に浸み込んでおり、被測定
塗膜面全面に付着する。また、スポンジ状電極１１を被
測定面に押しつけたりはがしたりする時に生じるゲル槽
内の圧力の変化は、ベロー９の伸縮により緩衝される。
従って説明する。第１図に示すように構成された塗膜測
定プローブを塗装膜２上の被測定面に当てると、プロー
ブ本体８の先端部のスポンジ状電極１１は凸面状となっ
ているために被測定 ′面側に必ず中央部より接触し
て行き、塗装膜２のスポンジ状電極１１との間に気泡が
発生しても、これは外周に押し出されていく。このため
、気泡を生じることなく、最終的にスポンジ状電極１１
は塗装膜２の被測定面に全面密着して、磁石１５と素地
金属１の間の磁気的な吸着力により固定される。導電性
ゲル３はスポンジ状電極１１に浸み込んでおり、被測定
塗膜面全面に付着する。また、スポンジ状電極１１を被
測定面に押しつけたりはがしたりする時に生じるゲル槽
内の圧力の変化は、ベロー９の伸縮により緩衝される。
測定時のプローブ本体８の固定は磁石１５により行なう
ので、斜面、垂直面、天井面のいずれでも確実に固定す
ることができ、簡単でかつ確実な塗装膜インピーダンス
の測定が可能となる。
ので、斜面、垂直面、天井面のいずれでも確実に固定す
ることができ、簡単でかつ確実な塗装膜インピーダンス
の測定が可能となる。
さて、本実施例の塗膜測定プローブを使用してエポキシ
系厚膜塗料の塗装膜インピーダンスを測定した結果を下
の表１に示す。表１からも明らかな如く、測定結果はア
ルミ箔電極を使用した場合とほぼ一致しており、本実施
例の塗膜測定ブＯーブは塗膜インピーダンス測定に当っ
て有効に作用する。
系厚膜塗料の塗装膜インピーダンスを測定した結果を下
の表１に示す。表１からも明らかな如く、測定結果はア
ルミ箔電極を使用した場合とほぼ一致しており、本実施
例の塗膜測定ブＯーブは塗膜インピーダンス測定に当っ
て有効に作用する。
表１．エポキシ系厚膜塗料の塗膜
なお、上記実施例では、スポンジ状電ＩＮ＋１１の形状
が円形の場合を例示したが、第３図（ａ）。
が円形の場合を例示したが、第３図（ａ）。
（ｂ）の説明図に示すように正方形または長方形の電極
形状とすることにより、円形電極では電極表面が全面密
着しないような曲面の場合等に、塗装膜インピーダンス
の測定が可能となる。
形状とすることにより、円形電極では電極表面が全面密
着しないような曲面の場合等に、塗装膜インピーダンス
の測定が可能となる。
また、スポンジ状電極１１の材質は、ポリウレタン製ス
ポンジを使用してもゴム製スポンジを使用してもよく、
いずれでも塗装膜２に十分に密酋し、効果的なインピー
ダンス測定を可能とする。
ポンジを使用してもゴム製スポンジを使用してもよく、
いずれでも塗装膜２に十分に密酋し、効果的なインピー
ダンス測定を可能とする。
第４図（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の他の実施例及
びその他の実施例に係る塗膜測定プローブの断面図を示
すものである。同図（ａ）はスポンジ状電極１１を被測
定面に密着させる時に生じる導電性ゲル槽内の圧力変化
を、多孔板１０の上部に取りつけた薄ゴム膜１６の伸縮
により緩衝させる構成を例示するものである。一方、同
図（ｂ）は導電性ゲル槽内の圧力変化を極低圧スプリン
グ１７をとりつけたダンパー１８で緩衝さける構成を例
示したものである。
びその他の実施例に係る塗膜測定プローブの断面図を示
すものである。同図（ａ）はスポンジ状電極１１を被測
定面に密着させる時に生じる導電性ゲル槽内の圧力変化
を、多孔板１０の上部に取りつけた薄ゴム膜１６の伸縮
により緩衝させる構成を例示するものである。一方、同
図（ｂ）は導電性ゲル槽内の圧力変化を極低圧スプリン
グ１７をとりつけたダンパー１８で緩衝さける構成を例
示したものである。
以上述べたように、本発明によれば、塗装膜インピーダ
ンスの測定に当って、被測定塗膜面が斜面、垂直面、天
井面であっても、また凹状面や凸状面であっても、さら
に１［性ゲルを塗布した時に気泡を生じ易いような箇所
であっても、測定面内の気泡の発生を防止でき、塗膜劣
化を検出するためのインピーダンスの測定を正確に実施
することを可能とした塗膜測定プローブを得ることがで
きるものである。
ンスの測定に当って、被測定塗膜面が斜面、垂直面、天
井面であっても、また凹状面や凸状面であっても、さら
に１［性ゲルを塗布した時に気泡を生じ易いような箇所
であっても、測定面内の気泡の発生を防止でき、塗膜劣
化を検出するためのインピーダンスの測定を正確に実施
することを可能とした塗膜測定プローブを得ることがで
きるものである。
第１図（ａ）、（ｂ）は本発明の一実施例に係る塗膜測
定ブ０−プの断面図および底面図、第２図は第１図に示
した塗膜測定プローブを用いて塗装膜劣化を電気化学的
に評価する状態を示す説明図、 第３図（ａ）、（ｂ）は電極の形状の他の例を示す説明
図、 第４図（ａ＞、（ｂ）はそれぞれ本発明の他の実施例お
よびその他の実施例を示す説明図、第５図は塗装膜劣化
を電気化学的に評価１゛る周知の方式を示す概念図、 第６図は塗装膜の電気的な等価回路図、第７図は塗装膜
の劣化によるインピーダンスの周波数依存性の変化を示
す特性図、 第８図は第７図を複素平面上で表わした特性図、第９図
（ａ）、（ｂ）はＡ１箔電極を用いた場合の問題点を示
す説明図である。 １・・・素地金属、２・・・塗装膜、３・・・導電性ゲ
ル、８・・・プローブ本体、９・・・べ０−１１０・・
・多孔板、１１・・・スポンジ状電極、１４・・・リー
ド線、１５・・・磁石。 出願人代理人 猪 股 清 第１図 （α） Ｃｂ） 人り 第３図 （０Ｌ） （ｂ） 第４図 （α） （ｂ） 亮５図 第６図 ｆ ｆ 兜了図 大叡沙
定ブ０−プの断面図および底面図、第２図は第１図に示
した塗膜測定プローブを用いて塗装膜劣化を電気化学的
に評価する状態を示す説明図、 第３図（ａ）、（ｂ）は電極の形状の他の例を示す説明
図、 第４図（ａ＞、（ｂ）はそれぞれ本発明の他の実施例お
よびその他の実施例を示す説明図、第５図は塗装膜劣化
を電気化学的に評価１゛る周知の方式を示す概念図、 第６図は塗装膜の電気的な等価回路図、第７図は塗装膜
の劣化によるインピーダンスの周波数依存性の変化を示
す特性図、 第８図は第７図を複素平面上で表わした特性図、第９図
（ａ）、（ｂ）はＡ１箔電極を用いた場合の問題点を示
す説明図である。 １・・・素地金属、２・・・塗装膜、３・・・導電性ゲ
ル、８・・・プローブ本体、９・・・べ０−１１０・・
・多孔板、１１・・・スポンジ状電極、１４・・・リー
ド線、１５・・・磁石。 出願人代理人 猪 股 清 第１図 （α） Ｃｂ） 人り 第３図 （０Ｌ） （ｂ） 第４図 （α） （ｂ） 亮５図 第６図 ｆ ｆ 兜了図 大叡沙
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、塗膜に対向する面に凸面状に配されるスポンジ状電
極と、スポンジ状電極に含浸すべき導電性ゲルを収容す
る容器とを備えたことを特徴とする塗膜測定プローブ。 ２、スポンジ状電極の周辺に磁石を配したことを特徴と
する特許請求の範囲第１項に記載の塗膜測定プローブ。 ３、容器が導電性ゲルの圧力を吸収するように構成され
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の塗膜
測定プローブ。 ４、容器がベロー状に構成されることを特徴とする特許
請求の範囲第３項に記載の塗膜測定プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22982284A JPS61108954A (ja) | 1984-10-31 | 1984-10-31 | 塗膜測定プロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22982284A JPS61108954A (ja) | 1984-10-31 | 1984-10-31 | 塗膜測定プロ−ブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61108954A true JPS61108954A (ja) | 1986-05-27 |
| JPH0432982B2 JPH0432982B2 (ja) | 1992-06-01 |
Family
ID=16898209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22982284A Granted JPS61108954A (ja) | 1984-10-31 | 1984-10-31 | 塗膜測定プロ−ブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61108954A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61265559A (ja) * | 1985-05-14 | 1986-11-25 | シエル・インタ−ナシヨナル・リサ−チ・マ−トスハツペイ・ベ−・ヴエ− | 試験セル |
| JPS62130348A (ja) * | 1985-09-24 | 1987-06-12 | コ−ルブランド リミテツド | 腐食検出装置 |
| JPH02157642A (ja) * | 1988-12-12 | 1990-06-18 | Hideaki Takahashi | 金属材料の劣化度評価のための電気化学計測用ジェル電極 |
| JPH04190149A (ja) * | 1990-04-09 | 1992-07-08 | Toshiba Corp | 塗膜劣化診断装置 |
| JPH04218756A (ja) * | 1991-03-29 | 1992-08-10 | Toshiba Corp | 塗膜劣化診断方法 |
| JP2007225508A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Dainippon Toryo Co Ltd | 塗膜下金属腐食診断装置の測定セル |
| EP2068139A1 (en) | 2007-12-06 | 2009-06-10 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Electrochemical cell for EIS |
| JP2009204593A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Ihi Corp | 電解液中での電気化学測定用プローブ及び電気化学測定装置並びにそれを用いた電気化学測定方法 |
| JP2013238583A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-11-28 | Kansai Paint Co Ltd | 電気化学測定用プローブ及び腐食評価方法 |
| JP2017032514A (ja) * | 2015-08-05 | 2017-02-09 | 太平洋セメント株式会社 | 腐食センサおよび腐食検出方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013145136A (ja) * | 2012-01-13 | 2013-07-25 | Panasonic Corp | 試験片の疲労試験方法および疲労試験装置 |
-
1984
- 1984-10-31 JP JP22982284A patent/JPS61108954A/ja active Granted
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61265559A (ja) * | 1985-05-14 | 1986-11-25 | シエル・インタ−ナシヨナル・リサ−チ・マ−トスハツペイ・ベ−・ヴエ− | 試験セル |
| JPS62130348A (ja) * | 1985-09-24 | 1987-06-12 | コ−ルブランド リミテツド | 腐食検出装置 |
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