JPS61112313A - 堆積膜形成法 - Google Patents

堆積膜形成法

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JPS61112313A
JPS61112313A JP59233357A JP23335784A JPS61112313A JP S61112313 A JPS61112313 A JP S61112313A JP 59233357 A JP59233357 A JP 59233357A JP 23335784 A JP23335784 A JP 23335784A JP S61112313 A JPS61112313 A JP S61112313A
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JP
Japan
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compound
film
oxygen
compounds
halogen
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JP59233357A
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English (en)
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Shunichi Ishihara
俊一 石原
Masaaki Hirooka
広岡 政昭
Shigeru Ono
茂 大野
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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    • H10P14/3204Materials thereof being Group IVA semiconducting materials
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    • HELECTRICITY
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は酸素を含有する堆積膜、とりわけ機能性nタ、
殊に半導体デバイス、電子写真用の感光デバイス、画像
入力用のラインセンサー、撮像デバイスなどに用いる非
晶質乃至は結晶質の酸素を含有する堆積■タを形成する
のに好適な方法に関する。
〔従来技術〕
例えば、アモルファスシリコン膜の形成には、真空蒸着
法、プラズマCVD法、CVD法、反応性スパッタリン
グ法、イオンプレーティング法。
光CVD法などが試みられており、一般的には・プラズ
マCVD法が広く用いられ,企業化されている。
面乍らアモルファスシリコンで構成される堆積膜は電気
的、光学的特性及び、繰返し使用での疲労特性あるいは
使用環境特性、更には均一性、再現性を含めて生産性、
量産性の点において、更に総合的な特性の向上を図る余
地がある。
従来から一般化されているプラズマCVD法によるアモ
ルファスシリコン堆積膜の形成に於ての反応プロセスは
、従来のCVD法に比較してかなり複雑であり、その反
応機構も不明な点が少なくなかった。又、その堆積膜の
形成パラメーターも多く、(例えば、基板温度、導入ガ
スの流量と比、形成時の圧力、高周波電力、電極構造、
反応容器の構造、排気速度、プラズマ発生方式など)こ
れら多くのパラメータの組合せによるため、時にはプラ
ズマが不安定な状態になり、形成された堆積膜に著しい
悪影響を与えることが少なくなかった。そのうえ、装置
特有のパラメータを装置ごとに選定しなければならず、
したがって製造条件を一般化することがむずかしいのが
実状であった。一方、アモルファスシリコン膜として電
気的、光学的、光導電的乃至は機械的、特性が各用途を
十分に満足させ得るものを発現させるためには、現状で
はプラズマCVD法によって形成することが最良とされ
ている。
丙午ら、堆積膜の応用用途によっては、大面積化、膜厚
均一化、膜品質の均一性を十分満足させ、しかも高速成
膜によって再現性のある量産化を図ねばならないため、
プラズマCVD法によるアモルファスシリコン堆積膜の
形成においては、量産装置に多大な設備投資が必要とな
り、またその量産の為の管理項目も複雑になり、管理許
容幅も狭くなり、装置の調整も微妙であることから、こ
れらのことが、今後改善すべき問題点として指摘されて
いる。他方1通常のCVD法による従来の技術では、高
温を必要とし、実用可能な特性を有する堆積膜が得られ
ていなかった。
上述の如く、アモルファスシリコン膜の形成に於て、そ
の実用可能な特性、均一性を維持させながら、低コスト
な装置で量産化できる形成方法を開発することが切望さ
れている。これ等のことは、他の機能性膜、例えば窒化
シリコン膜、炭化シリコン膜、酸化シリコン膜に於ても
同様なことかいえる。
本発明は、上述したプラズマCVD法の欠点を除去する
と時に、従来の形成方法によらない新規な堆積膜形成法
を提供するものである。
〔発明の目的及び概要〕
本発明の目的は、形成される膜の特性、成膜速度、再現
性の向上及び膜品質の均一化を図りなから、Sの大面積
化に適し、膜の生産性の向上及び   ゛・量産化を容
易に達成することのできる堆積膜形成法を提供すること
にある。
上記目的は、基体上に堆積膜を形成する為の成膜空間内
に、ゲルマニウムとハロゲンを含む化合物を分解するこ
とにより生成される活性種と、該活性種と化学的相互作
用をする酸素化合物とを夫々別々に導入し、これらに′
放電エネルギーを作用させて前記酸素化合物を励起し反
応させる裏によって、前記基体上に堆積膜を形成する事
を特徴とする本発明の堆積膜形成法によって達成される
〔実施態様〕
本発明方法では、堆積膜形成用の原料を励起し反応させ
るためのエネルギーとして、プラズマなどの放電エネル
ギーを用いるが、原料の1つとして活性種を成膜空間に
導入するため、従来と比べて低い放電エネルギーによっ
ても成膜が可能となり、形成される堆積膜は、エツチン
グ作用、或いはその他の例えば異常放電作用などによる
悪影響を受けることは実質的にない。
又、本発明によれば、成膜空間の雰囲気温度、基板温度
を所望に従って任意に制御することにより、より安定し
たCVD法とすることができる。
また、所望により、放電エネルギーに加えて。
光エネルギー及び/又は熱エネルギーを併用することが
できる。光エネルギーは、適宜の光学系を用いて基体の
全体に照射することができるし、あるいは所望部分のみ
に選択的制御的に照射することもできるため、基体上に
おける堆積膜の形成位置及び膜厚等を制御し易くするこ
とができる。また、熱エネルギーとしては、光エネルギ
ーから転換された熱エネルギーを使用することもできる
本発明の方法が従来のCVD法と違う点の1つは、あら
かじめ成膜空間とは異なる空間(以下、分解空間という
)に於いて活性化された活性種を使うことである。この
ことにより、従来のCVD法より成膜速度を飛躍的に伸
ばすことができ、加えて堆積膜形成の際の基板温度も一
層の低温化を図ることが可能になり、膜品質の安定した
堆積膜を工業的に大量に、しかも低コストで提供できる
尚、本発明での前記活性種とは、前記酸素化合物あるい
はこの励起分解物と化学的相互作用を起して例えばエネ
ルギーを付与したり、化学反応を起したりして、堆積膜
の形成を促す作用を有するものを云う、従って、活性種
としては、形成される堆積膜を構成する構成要素に成る
構成要素を含んでいても良く、あるいはその様な構成要
素を含んでいなくともよい、また、これに相応して、本
発明で使用する酸素化合物は形成される塩m膜を構成す
る構成要素に成る構成要素を含むことによ′り堆積膜形
成用の原料となり得る酸素化合物でもよいし、形成され
る堆a膜を構成する構成要素に成る構成要素を含まず単
に成膜のための原料とのみなり得る酸素化合物でもよい
、あるいは、これらの塩81膜形成用の原料となり得る
酸素化合物と成膜のための原料となり得る酸素化合物と
を併用してもよい。
本発明で使用する酸素化合物は、成膜空間に導入される
以前に既に気体状態となっているか、あるいは気体状態
とされて導入されることが好ましい0例えば液状及び固
状の化合物を用いる場合、化合物供給源に適宜の気化装
置を接続して化合物を気化してから成膜空間に導入する
ことができる。
酸素化合物としては、酸素(02) 、オゾン(03)
等の酸素単体、並びに酸素と酸素以外の原子の1種又は
2種以上とを構成原子とする化合物が挙げられる。前記
酸素以外の原子としては、水素(H)、ハロゲン(X=
F、C1,B r又はI)、イオウ(S)、炭素(C)
、ケイ素(Si)、ゲルマニウム(Ge)、リン(P)
、ホウ素(B)、アルカリ金属、アルカリ土類金属、遷
移金属等があり、この他周期律表各族に属する元素の原
子のうち酸素と化合し得る原子であるならば使用するこ
とができる。
因みに、例えばOとHを含む化合物としては、H2O,
H2O2等、OとXを含む化合物としては、HXO1H
xO4等の酸素酸類、又はx20、x207等の酸化物
類、OとSを含む化合物トシテは、H2S 02 、 
H2S Oa等の酸及びS02.503等の酸化物類、
0とCを含む化合物としては、H2CO3等の酸及びC
O,C02等の酸化物等、OとSiを含む化合物として
は、ジシロキサン(H35iOSiH3)、)ジシロキ
サン(H3S iO3iH20SiH3)等のシロキサ
ン類等、0とGeを含む化合物としては、Geの酸化物
類、水酸化物類、ゲルマニウム酸類、H3Ge0GeH
3,H3GeOGeH20−GeH3等の有機ゲルマニ
ウム化合物、0とPを含む化合物としては、H3PO3
,H,PO。
等の酸及びF203.F20S等の酸化物類、OとBを
含む化合物としては、H2BO3等の酸及びB2O2等
の酸化物等が挙げられるが、本発明で使用する酸素化合
物はこれらに限定されない。
これらの酸素化合物は、1種を使用しても、あるいは2
種以上を併用してもよい。
本発明では、成膜空間に導入される分解空間からの活性
種は、生産性及び取扱い易さなどの点から、その寿命が
5秒以上、より好ましくは15以上、最適には30秒以
上あるものが、所望に従って選択されて使用される。
本発明において、分解空間に導入されるゲルマニウムと
ハロゲンを含む化合物としては1例えば鎖状又は環状水
素化ゲルマニウム化合物の水素原子の一部乃至全部をハ
ロゲン原子で置換した化合物が用いられ、具体的には、
例えば、GeY2u+2.(uは1以上の!!数、Yは
F、CI。
Br又は工である。)で示される鎖状ハロゲン化ゲルマ
ニウム、Ge  Y  (vは3以上の整数、v   
 2v Yは前述の意味を有する。)で示される環状ハロは前述
の意味を有する。  x+y=2u又は2u+2である
。)で示される鎖状又は環状化合物などが挙げられる。
具体的には例えばG e F4、(GeF2)S。
(Ge F2 )6 、(GeF2 )’4 、Ge2
 FG、Ge3 F6 、GeHF3 、GeH2F2
、GeC14(GeC12)  3.GeBra  、
(GeBr2)5.  Ge2C16゜Ge7 C13
F3などのガス状態の又は容易にガス化し得るものが挙
げられる。
また1本発明においては、前記ゲルマニウムとハロゲン
を含む化合物を分解することにより生成される活性種に
加えて、ケイ素と/\ロゲンを含む化合物を分解するこ
とにより生成される活性種及び/又は炭素とハロゲンを
含む化合物を分解することにより生成される活性種を併
用することができる。
このケイ素とハロゲンを含む化合物としては、例えば鎖
状又は環状シラン化合物の水素原子の一部乃至全部をハ
ロゲン原子で置換した化合物が用いられ、具体的には、
 例えば、 5iuY     (uは1以上の整数、
YはF、C1,2u + 2 Br又はIである。)で示される鎖状ハロゲン化ケイ素
、 S l v Y 2V   (Vは3以上の整数、
Yは前述の意味を有する。)で示される環状八日は前述
の意味を有する。  )(+y=2u又は2u+2であ
る。)で示される鎖状又は環状化合物などが挙げられる
具体的には例えばSiF4、(SiF2)s、(SiF
z)6、(SiF2)n、Si2 F6、Si3 FQ
、SiHF3.SiH2F2.5iC14(SiC12
)c、、SiBr4、(SiBr2 ) 5.Si2 
C16,5i2C13F3などのガス状態の又は容易に
ガス化し得るものが挙げられる。
これらのケイ素化合物は、1種用いても2種以上を併用
してもよい。
また、炭素とハロゲンを含む化合物としては、例えば鎖
状又は環状炭化水素化合物の水素原子の、! 一部乃至全部をハロゲン原子で置換した化合物が用いら
れ、具体的には、例えば、C□Y2uヤ2(1」は1以
上の整数、YはF、C1,Br又はIである。)で示さ
れる鎖状ハロゲン化炭素、CY   (vは3以上の整
数、Yは前述の意v    2v 味を有する。)で示される環状ハロゲン化ケイ素、  
CHY  (u及びYは前述の意味を有xy する。  X+y=2u又は2u+2である。)で示さ
れる鎖状又は環状化合物などが挙げられる。
具体的には例えばCF4、(CF2)S、(CF2)5
、(CF2)4.C2F6.C3Fs、CHF3 、C
H2F2 、CC14(CC12)3.CBr4、(C
Br2) 1、c2C16、C2Cl3F3などのガス
状態の又は容易にガス化し得るものが挙げられる。
これらの炭素化合物は、1種用いても2種以上を併用し
てもよい。
活性種を生成させるためには、例えば前記ゲルマニウム
とハ、ロゲンを含む化合物の活性種を生成させる場合に
は、この化合物に加えて、必要に応じてゲルマニウム単
体等信のゲルマニウム化合物、水素、ハロゲン化合物(
例えばF2ガス、C12ガス、ガス化したBr2.I2
等)などを併用することができる。
本発明において、分解空間で活性種を生成させる方法と
しては、各々の条件、装置を考慮して放電エネルギー、
熱エネルギー、光エネルギーなどの励起エネルギーが使
用される。
上述したものに、分解空間で熱、光、放電などの分解エ
ネルギーを加えることにより、活性種が生成される。
本発明において、成膜空間における酸素化合物と分解空
間からの活性種との量の割合は、堆積条件、活性種の種
類などで適宜所望に従って決められるが、好ましくは1
0:1〜1:10(導入流量比)が適当である。
本発明において、酸素化合物の他に、成膜のための原料
として水素ガス、ハロゲン化合物(例えばF2ガス、C
12ガス、ガス化したBr2、I2等)、アルゴン、ネ
オン等の不活性ガス、また堆積膜形成用の原料としてケ
イ素化合物、炭素化合物、ゲルマニウム化合物などを成
膜空間に導入して用いることもできる。これらの原料ガ
スの複数を用いる場合には、予め混合して成膜空間内に
導入することもできるし、あるいはこれらの原料ガスを
夫々独立した供給源から各個別に供給し、成膜空間に導
入することもできる。
堆積膜形成用の原料となるケイ素化合物としては、ケイ
素に水素、ハロゲン、あるいは炭化水素基などが結合し
たシラン類及びシロキサン類等を用いることができる。
とりわけ鎖状及び環状のシラン化合物、この鎖状及び環
状のシラン化合物の水素原子の一部又は全部をハロゲン
原子で置換した化合物などが好適である。
具体的には、例えば、SiH4,Si2 H6、Si3
 H8,St、Hl(、,5i5H12。
5i6H1,等のStH(pは1以上 p  2p+2 好ましくは1〜15、より好ましくは1−10の整数で
ある。)で示される直鎖状シラン化合物。
SiH3SiH(SiH3)SiH3,5iH3SiH
(SiH3)Si3H7,5i2H5SiH(SiH・
)Si2H・等のSi、H2,+2(pは前述の意味を
有する。)で示される分岐を有する鎖状シラン化合物、
これら直鎖状又は分岐を有する鎖状のシラン化合物の水
素原子の一部又は全部をハロゲン原子で置換した化合物
、5i3H6,5iaHB、Si、HIO,5i6H1
□等のSi  H(qは3以上、好ましくは3〜  z
q 6の整数である。)で示される環状シラン化合物、該環
状シラン化合物の水素原子の一部又は全部を他の環状シ
ラニル基及び/又は鎖状シラニル基で置換した化合物、
上記例示したシラン化合物の水素原子の一部又は全部を
ハロゲン原子で置換した化合物の例として、SiH3F
、S 1H3C1,SiH3Br、SiH3I等のSi
  HS x (xはハロゲン原子、rは1以上、好ましくし は1〜10、より好ましくは3〜7の整数、S+E=2
r+2又は2rである。)で示されるハロゲン置換鎖状
又は環状シラン化合物などである。
これらの化合物は、1種を使用しても2種以上を併用し
てもよい。
また、堆積膜形成用の原料となる炭素化合物としては、
鎖状又は環状の飽和又は不飽和炭化水素化合物、炭素と
水素を主構成原子とし、この他ケイ麦、ハロゲン、イオ
ウ等の1種又は2種以上を構成原子とする有機化合物、
炭化水素基を構成分とする有機ケイ素化合物などのうち
、気体状態のものか、容易に気化し得るものが好適に用
いられる。 このうち、炭化水素化合物としては1例え
ば、炭素数1〜5の飽和炭化水素、炭素数2〜5のエチ
レン系炭化水素、炭素数2〜4のアセチレン系炭化水素
等、具体的には、飽和炭化水素としではメタン(CH3
)、エタン(CZ H& ) 、プロパ7 (C3H8
)、n−ブタ7(n−C4H1゜)、  ペンタン(C
5HI2)、エチレン系炭化水素としてはエチレン(C
2Ha ) 、プロピレン(C3Hb ) 、ブテン−
1(C4Ha ) 、ブテン−2(C4H8)、  イ
ンブチレン(C4H8)、ペンテン(CsHlo)、ア
セチレン系炭化水素としてはアセチレン(C2H2)、
メチルアセチレン(C3H4)、ブチン(C4H6)等
が挙げられる。
また、有機ケイ素化合物としては、 (CH3)4 St、CH3SiCl3、(CH3)2
 S ic 12、(CH3)3SfC1,C2H55
iC13等のオルガノクロルシラン、CH3S i F
2 C1,CH3S i FCl2、(CH3)25i
FC1,C2H5SiF2 C1,C2H5SiFC1
2,C3H75iF2C1,C3H75iFC12等の
オルガノクロルフルオルシラン、[(CH3) 3S 
i] 2、[(C3H7)3si]z等のオルガノジシ
ラザンなどが好適に用いられる。
これらの炭素化合物は、1種用いても2種以上を併用し
てもよい。
また堆積膜形成用の原料となるゲルマニウム化合物とし
ては、ゲルマニウムに水素、ハロゲンするいは炭化水素
基などが結合した無機乃至は有機のゲルマニウム化合物
を用いることができ、例えばGe  H(aは1以上の
整数、b=2a+2b 又は2aである。)で示される鎖状乃至は環状水素化ゲ
ルマニウム、この水素化ゲルマニウムの重合体、前記水
素化ゲルマニウムの水素原子の一部乃至は全部をハロゲ
ン原子で置換した化合物、前記水素化ゲルマニウムの水
素原子の一部乃至は全部を例えばアルキル基、アリール
基の等の有機基及び所望によりハロゲン原子で置換した
化合物等の有機ゲルマニウム化合物、その他ゲルマニウ
ムの硫化物、イミド等を挙げることができる。
具体的には、例えばGeH,、Ge2 H6、Ge3H
B、n−Ge4H,。、tert −Ge4 H16、
Ge3 H6、Ge5 H,0,GeH3F、GeH3
C1,GeH2F2 、H6Ge6  F6  、Ge
  (CH3)4  、Ge  (C2Hs)4  、
  Ge  (C1,Hs)4  、Ge  (CH3
)2  F2  、GeF2  、Ge F4 、Ge
S等が挙げられる。これらのゲルマニウム化合物は1種
を使用してもあるいは2種以上を併用してもよい。
また本発明の方法により形成される堆積膜を不純物元素
でドーピングすることが可能である。
使用する不純物元素としては、p型不純物として、周期
率表環1II  族Aの元素、例えばB、A1、Ga、
In、T1等が好適なものとして挙げられ、n型不純物
としては、周期率表環V  MAの元素、例えばN、P
、As、Sb、Bi等が好適なものとして挙げられるが
、特にB、Ga。
P、Sb等が最適である。ドーピングされる不純物の量
は、所望される電気的・光学的特性に応じて適宜決定さ
れる。                パ1・かかる
不純物元素を成分として含む化合物としては、常温常圧
でガス状態であるか、あるいは少なくとも堆積膜形成条
件下で気体であり、適宜の気化装置で容易に気化し得る
化合物を選択するのか好ましい。この様な化合物として
は、PH3、F2 Hs 、PF3 、PFs、PCl
3、AsH3,AsF3.AsF3、AsCl3、Sb
H3、SbF5 、SiH3、BF3 。
BCl3.BBr3、B2H6,B4H1゜、B5H9
・BSHll、B6HIO・ Bt、H+ 2 、A Ic 13等を挙げることがで
きる。不純物元素を含む化合物は、1種用いても2種以
上併用してもよい。
不純物元素を成分として含む化合物を成膜空間内に導入
するには、予め前記酸素化合物等と混合して導入するか
、あるいは独立した複数のガス供給源よりこれらの原料
ガスを各個別に導入することができる。
次に、本発明方法によって形成される電子写真用像形成
部材の典型的な例を挙げて本発明を説明する。
第1図は、本発明によって得られる典型的な光導電部材
の構成例を説明するための模式図である。
第1図に示す光導電部材10は、電子写真用像形成部材
として適用させ得るものであって、光導電部材用として
の支持体11の上に、必要に応じて設けられる中間Ji
j12、及び感光層13で構成される層構成を有してい
る。
支持体11としては、導電性でも電気絶縁性であっても
良い、導電性支持体としては、例えば、NiCr、ステ
ア1/ス、A1.Cr、Mo。
Au、I r、Nb、Ta、V、Ti、Pt、Pd等の
金属又はこれ等の合金が挙げられる。
電気絶縁性支持体としては、ポリエステル、ポリエチレ
ン、ポリカーボネート、セルローズアセテート、ポリプ
ロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリ
スチレン、ポリアミド等の合成樹脂のフィルム又はシー
ト、ガラス、セラミック、紙等が通常使用される。これ
らの電気絶縁性支持体は、好適には少なくともその一方
の表面が導電処理され、該導電処理された表面側に他の
層が設けられるのが望ましい。
例えばガラスであれば、その表面がNiCr、A 1.
Cr、Mo、Au、I r、Nb、Ta、V、Ti、P
t、Pd、In2O3,5n02、I To (I n
7 o3+s n02 )等の薄膜を設けることによっ
て導電処理され、あるいはポリエステルフィルム等の合
成樹脂フィルムであれば、NiCr、A1.Ag、Pb
、Zn、Ni、Au。
Cr、MOlI r、Nb、Ta、V、Ti、Pt等の
金属で真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリング等で
処理し、又は前記金属でラミネート処理して、その表面
が導電処理される。支持体の形状としては、円筒状、ベ
ルト状、板状等、任意の形状とし得、所望によって、そ
の形状が決定されるが1例えば、l’G1図の光導電部
材10を電子写真用像形成部材として使用するのであれ
ば、連続高速複写の場合には、無端ベルト状又は円筒状
とするのが望ましい。
例えば中間層12には、支持体11の側から感光層13
中へのキャリアの流入を効果的に阻止し且つ電磁波の照
射によって感光層13中に生じ。
支持体11の側に向って移動するフォトキャリアの感光
層13の側から支持体11の側への通過を容易に許す機
能を有する。
この中間層12は、例えば、必要に応じて水素(H)及
び/又はハロゲン(X)、並びに酸素(0)を構成原子
とするアモルファスシリコン(以下、a−5i(H,X
、O)と記す、)で構成されると共に、電気伝導性を支
配する物質として、例えばB等のP型不純物あるいはP
等のp型不純物が含有されている。
本発明に於て、中間層12中に含有されるB、P等の伝
導性を支配する物質の含有量としては、好適には、0.
001〜5X10’ at omi cppm、より好
適には0.5〜lX1lX104ato  ppm、最
適には1〜5X103atomic  PPmとされる
のが望ましい。
中間層12を形成する場合には、°感光層13の   
 ゛形成まで連続的に行なうことができる。その場合に
は、中間層形成用の原料として、分解空間で生成された
活性種と、気体状態の酸素化合物、必要に応じて水素、
ハロゲン化合物、不活性ガス、ケイ素化合物、炭素化合
物、ゲルマニウム化合物、及び不純物元素を成分として
含む化合物のガス等と、を夫々別々に支持体11の設置
しである成膜空間に導入し、放電エネルギーを用いるこ
とにより、+iij記支持体11上に中間層12を形成
させればよい。
中間層12を形成させる際に分解空間に導入されて活性
種を生成するケイ素とハロゲンを含む化合物は、高温下
で容易に例えば5iF−の如き活性種を生成する。
中間層12の層厚は、好ましくは、30A〜log、よ
り好適には40ス〜8延、最適には50A〜5ルとされ
るのが望ましい。
感光層13は1例えばa−3t (H、X) テ構成さ
れ、レーザー光の照射によってフォトキャリアを発生す
る電荷発生機能と、該電荷を輸送する電荷輸送機能の両
機能を有する。
感光層13の層厚としては、好ましくは、1−100g
、より好適には1〜80終、最適には2〜50JLとさ
れるのが望ましい。
感光層13は、ノンドープのa−5i(H。
X)層であるが、所望により中間層12に含有される伝
導特性を支配する物質の極性とは別の極性(例えばn型
)の伝導特性を支配する物質を含有させてもよいし、あ
るいは、同極性の伝導特性を支配する物質を、中間層1
2に含有される実際の量が多い場合には、線量よりも一
段と少ない量にして含有させてもよい。
感光層13の形成も、中間層12の場合と同様に、分解
空間にゲルマニウムとハロゲンを含む化合物が導入、さ
れ、高温下でこれ等を分解することで活性種が生成され
、成膜空間に導入される。また、これとは別に、気体状
態のケイ素化合物と、必要に応じて、水素、ハロゲン化
合物、不活性ガス、炭素化合物、ゲルマニウム化合物、
不純物元素を成分として含む化合物のガス等を、支持体
llの設置しである成膜空間に導入し、放電エネルギー
を用いることにより、前記支持体11上に中間層12を
形成させればよい。
また、本発明方法は、この例のほか、IC、トランジス
タ、ダイオード、光電変換素子等の半導体デバイスを構
成するCVD法による5i02絶縁体膜、部分的に酸化
されたSi膜などを形成するのに好適であり、また例え
ば成膜空間への酸素化合物の導入時期、導入量等を制御
することにより層厚方向に酸素濃度の分布をもったSi
膜を形成することができる。あるいは、酸素化合物のほ
かにケイ素化合物、ゲルマニウム化合物、炭素化合物等
を必要により適宜組合せることにより、OとこれらSi
、Ge、C等との結合を構成単位とする所望する特性の
堆積膜を形成することも可能である。
以下に、本発明の具体的実施例を示す。
実施例1 −  第2図に示した装置を用い、以下の如き操作によ
ってi型、p型及びn型の酸素含有アモルファス堆積膜
を形成した。
第2図において、lotは堆積室であり、内部の基体支
持台102上に所望の基体103が載とされる。
104は基体加熱用のヒーターであり、導線105を介
して給電され、発熱する。基体温度は特に制限されない
が、本発明方法を実施するにあたっては、好ましくは5
0〜150℃、より好ましくは1゜0〜150’C!−
cある。とが望ましい、   パ・106乃至109は
、ガス供給源であり、酸素化合物、及び必要に応じて用
いられる水素、ハロゲン化合物、不活性ガス、ケイ素化
合物、炭素化合物、ゲルマニウム化合物、不純物元素を
成分とする化合物等の数に応じて設けられる。原料化合
物のうち液状のものを使用する場合には、適宜の気化装
置を具備させる0図中ガス供給源106乃至109の符
合にaを付したのは分岐管、bを付したのは流量計、C
を付したのは各流量計の高圧側の圧力を計測する圧力計
、d又はeを付したのは各気体流量を調整するためのバ
ルブである。110は成膜空間へのガス導入管、111
はガス圧力計である。図中112は分解空間、113は
電気炉、114は固体Ge粒、115は活性種の原料と
なる気体状態のゲルマニウムとハロゲンを含む化合物の
導入管であり、分解空間112で生成された活性種は導
入管116を介して成膜空間lot内に導入される。
117は放電エネルギー発生装置であって、マツチング
ボックス117a、高周波導入用カソード電極117b
等を具備している。
光エネルギー発生装置117から適宜の光学系を用いて
基体全体あるいは基体の所望部分に向けられた光118
は、矢印119の向きに流れている原料ガス等に照射さ
れ、成膜原料のガス等を励起し反応させる事によって基
体103の全体あるいは所望部分に酸素含有アモルファ
ス堆vK膜を形成する。また1図中、120は排気パル
プ、121は排気管である。
先ス、ポリエチレンテレフタレートフィルム基板103
を支持台102上に載置し、排気装置を用いて堆積空間
101内を排気し、10−’T。
rrに減圧した。第1表に示した基板温度で、ガス供給
源106を用いてo2 (Heで1Ovo1%に希釈)
150SCCM、あるいはこれとPH3ガス又はB2H
,ガス(何れも11000pp水素ガス希釈)405C
CMとを混合したガスを堆積空間に導入した。
また、分解空間102に固体Ge粒114を詰めて、電
気炉113により加熱し、Geを溶融し、そこへボンベ
からGeF、の導入管115により、GeF4を吹き込
むことにより、GeF2”の活性種を生成させ、導入管
116を経て、成膜空間101へ導入する。
成膜空間101内の気圧をO,1Torrに保ちつつ放
電装置によりプラズマを作用させて、ノンドープのある
いはドーピングされた酸素含有アモルファス堆積膜(膜
厚700 X)を形成した。
成膜速度は35A/secであった。
次いで、得られたノンドープのあるいはP型の各試料を
蒸着槽に入れ、真空度10−5T o r rでクシ型
のAlギャップ電極(長さ250ル、巾5■)を形成し
た後、印加電圧10vで暗電流を測定し、暗導電σ を
求めて、各試料を評価した。
結果を第1表に示した。
実施例2〜4 02  (Heで1ovo1%に希釈)と、Si2H6
、Ge2 H6及びC2H6f)それぞれとを使比率I
:9で成膜空間に導入した以外は、実施例1と同じ酸素
含有アモルファス堆81膜を形成した。暗導電率を測定
し、結果を第1表に示した。
第1表から、本発明によると低い基板温度でも電気特性
に優れ、ドーピングが十分に行なわれた酸素含有アモル
ファス堆積膜が得られる。
実施例5〜8 0217)代りに、F3 S iO5iH3、F3 G
e0GeH3、CO2又はoF2を用いた以外は実施例
1と同じ酸素含有アモルファス堆積膜を形成した。
かくして得られた酸素含有アモルファス堆811I15
Iは電気的特性に優れ、またドーピングが十分に行なわ
れた堆積膜であった。
実施例9 第3図に示す装置を使い、以下の如き操作によって第1
図に示した如き膜構成のドラム状電子写真用像形成部材
を作成した。
第3図において、201は成膜空間、202は分解空間
、203は電気炉、204は固体Ge粒、205は活性
種の原料物質導入管、206は活性種導入管、207は
モーター、208は加熱ヒーター、209は吹き出し管
、210は吹き出し管、211はAIシリンダー、21
2は排気バルブを示している。また、213乃至216
は第1図中106乃至109と同様の原料ガス供給源で
あり、217はガス導入管である。
成膜空間201にAlシリンダー211をつり下げ、そ
の内側に加熱ヒーター208を備え、モーター207に
より回転できる様にする。218は放電エネルギー発生
装置であって、マツチングボックス117a、高周波導
入用カソード電極117b等を具備している。
また、分解空間202に固体Ge粒204を詰めて、電
気炉203により加熱し、Geを溶融し、そこへボンベ
からGeF4を吹き込むことにより、GeF2の活性種
を生成させ、導入管206を経て、成膜空間201へ導
入する。
一方、導入管217よりSi2H6とF2を成膜空間2
01に導入させる。成膜空間201内の   、゛1気
圧を1 、 OTo r rに保ちつつ、放電装置によ
リプラズマを作用させる。
Alシリンダー211は280℃にヒーター208によ
り加熱、保持され、回転させ、排ガスは排気バルブ21
2を通じて排気させる。このようにして感光層13が形
成される。
また、中間層12は感光層に先立って、導入管217よ
りS i2 H6、02(S i2 H6: 02=1
:1O−5)、He及びB2H6(容量%−t’B2H
6が0.2%)の混合ガスを導入し、膜厚2000Aで
成膜された。
比較例1 一般的なプラズマCVD法により、GeFqとSi2 
H6,02,He及びB2H6から第4図の成膜空間2
01に13゜56MHzの高周波装置を備えて、同様の
膜構成のドラム状電子写真用像形成部材を形成した。
実施例9及び比較例1で得られたドラム状の電子写真用
像形成部材の製造条件と性能を第2表に示した。
〔発明の効果〕
本発明の堆積膜形成法によれば、形成される膜に所望さ
れる電気的、光学的、光導電的及び機械的特性が向上し
、しかも低い基板温度で高速成膜が可能となる。また、
成膜における再現性が向上し、膜品質の向上と膜質の均
一化が可能になると共に、膜の大面積化に有利であり、
膜の生産性の向上並びに量産化を容易に達成することが
できる。更に、耐熱性に乏しい基体上にも成膜できる、
低温処理によって工程の短縮化を図れるといった効果が
発揮される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法を用いて製造される電子写真用像形
成部材の構成例を説明するための模式図明方法を実施す
るための装置の構成を説明するための模式図である。 10 ・・・ 電子写真用像形成部材、11 ・・・ 
基体、 12 ・・・ 中間層、 13 ・・・ 感光層。 lot、201・・・成膜空間。 111.202・・Φ分解空間、 106.107,108,109゜ 213 .214,215,216  。 ・・・ガス供給源、 103.211・・・基体、 117.218争・や放電エネルギー 発生装置。 代理人 弁理士 山 下 積 平 、1゜

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基体上に堆積膜を形成する為の成膜空間内に、ゲルマ
    ニウムとハロゲンを含む化合物を分解することにより生
    成される活性種と、該活性種と化学的相互作用をする酸
    素化合物とを夫々別々に導入し、これらに放電エネルギ
    ーを作用させて前記酸素化合物を励起し反応させる事に
    よって、前記基体上に堆積膜を形成する事を特徴とする
    堆積膜形成法。
JP59233357A 1984-11-07 1984-11-07 堆積膜形成法 Pending JPS61112313A (ja)

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