JPS61128409A - 誘電体磁器組成物 - Google Patents
誘電体磁器組成物Info
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- JPS61128409A JPS61128409A JP59250798A JP25079884A JPS61128409A JP S61128409 A JPS61128409 A JP S61128409A JP 59250798 A JP59250798 A JP 59250798A JP 25079884 A JP25079884 A JP 25079884A JP S61128409 A JPS61128409 A JP S61128409A
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- dielectric ceramic
- dielectric
- dielectric constant
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
- H01G4/1209—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
- H01G4/1254—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on niobium or tungsteen, tantalum oxides or niobates, tantalates
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/01—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
- C04B35/495—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on vanadium, niobium, tantalum, molybdenum or tungsten oxides or solid solutions thereof with other oxides, e.g. vanadates, niobates, tantalates, molybdates or tungstates
- C04B35/497—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on vanadium, niobium, tantalum, molybdenum or tungsten oxides or solid solutions thereof with other oxides, e.g. vanadates, niobates, tantalates, molybdates or tungstates based on solid solutions with lead oxides
- C04B35/499—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on vanadium, niobium, tantalum, molybdenum or tungsten oxides or solid solutions thereof with other oxides, e.g. vanadates, niobates, tantalates, molybdates or tungstates based on solid solutions with lead oxides containing also titanates
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、誘電率が8000以上と高く、かつその焼
結温度が900〜1000t:と低いことを特徴とする
誘電体磁器組成物に関する。
結温度が900〜1000t:と低いことを特徴とする
誘電体磁器組成物に関する。
(従来の技術)
積層セラミックコンデンサは小型で大容毫であること、
高周波特性にすぐれていること、耐熱性にすぐれ、かつ
量産性に富むなどの特徴を有している。したがって、窒
業用電子機器、民生用電子機器の軽薄短小、高品質、高
周波設計などの要求に合致することから近年その需要は
増加の一途をたどっている。
高周波特性にすぐれていること、耐熱性にすぐれ、かつ
量産性に富むなどの特徴を有している。したがって、窒
業用電子機器、民生用電子機器の軽薄短小、高品質、高
周波設計などの要求に合致することから近年その需要は
増加の一途をたどっている。
従来の積層セラミックコンデンサは、内部電極としCA
u、Pt、Paなど、高価な貴金属を用いるのが一般的
であった。
u、Pt、Paなど、高価な貴金属を用いるのが一般的
であった。
(発明が解決しようとする問題)
しかしながら、上記した貴金属を内部1僅とする積層セ
ラミックコンデンサでは、生産コストの過半がシ函材料
費となシ、全体のコスト全低減することに限度があった
。
ラミックコンデンサでは、生産コストの過半がシ函材料
費となシ、全体のコスト全低減することに限度があった
。
このため、チタン酸バリウムを生木とする高d電率系の
磁器組成物に、ホウ素、ビスマス、鉛などの酸化物よ)
なるガラス成分を添加し、焼成温度を従前の1300〜
1550tから1100〜1150Cに低下させ、比較
的安価な銀−パラジウム系合金を内部゛ぺ極とする、低
温i結可能な積層セラミックコンデンナが開発されるに
至った〇しかし、ガラス成分を添加することKより、本
来チタン酸バリウム母体組成が有する誘電率を低減させ
、積層セラミックコンデンサの寸法とし′Cは逆に大き
くなシ、電価材料のコストの低下を打ら消しCしまうと
いう欠点が見られた。
磁器組成物に、ホウ素、ビスマス、鉛などの酸化物よ)
なるガラス成分を添加し、焼成温度を従前の1300〜
1550tから1100〜1150Cに低下させ、比較
的安価な銀−パラジウム系合金を内部゛ぺ極とする、低
温i結可能な積層セラミックコンデンナが開発されるに
至った〇しかし、ガラス成分を添加することKより、本
来チタン酸バリウム母体組成が有する誘電率を低減させ
、積層セラミックコンデンサの寸法とし′Cは逆に大き
くなシ、電価材料のコストの低下を打ら消しCしまうと
いう欠点が見られた。
(発明の目的)
したがつC1この発明は、上記した従来技術のように#
、[率の低下をもたらすことなく、つまり誘電率の値が
8000以上を示し、かつその焼結温度が900〜10
00でと低い誘電体磁器組成物を提供することを目的と
する◇ また、この発明は、焼結1度が低いことを利用し゛C1
比貌的安渇な銀−パラジウム系合金を内部電極とする積
層セラミックコンデンサを構成する誘電体材料としC利
用可能21−誘電体磁器組成物を提供することを目的と
する。
、[率の低下をもたらすことなく、つまり誘電率の値が
8000以上を示し、かつその焼結温度が900〜10
00でと低い誘電体磁器組成物を提供することを目的と
する◇ また、この発明は、焼結1度が低いことを利用し゛C1
比貌的安渇な銀−パラジウム系合金を内部電極とする積
層セラミックコンデンサを構成する誘電体材料としC利
用可能21−誘電体磁器組成物を提供することを目的と
する。
(発明の構成)
この発明にかかる誘電体磁器組成物は、Pb(1)Pb
(Ni1/3Nbx、4)O,、FD’riO,、Pb
(ZraLイW4)O,オよびA(Cu4(Nb%)O
,を主成分とするものである。
(Ni1/3Nbx、4)O,、FD’riO,、Pb
(ZraLイW4)O,オよびA(Cu4(Nb%)O
,を主成分とするものである。
また、この発明にか力瓢る誘電体磁器組成物は、上記し
た主成分に対し′C1副成分とし゛Cマンガンを添加含
有させたものである。
た主成分に対し′C1副成分とし゛Cマンガンを添加含
有させたものである。
上記した主成分は次の組成領域からなるものである。
つまり、
PI)(Ni電NbzA)0. 45〜75そルチ
PbTL0. 20〜40モルチP
モルZn4W%)Os ・15〜15モルチ
A(Cu’4Nbz4)o、 1.0〜I Q
%ル9g、kcだし、ム(Cu%Nbt4 )O,のム
はBa、 Sr。
PbTL0. 20〜40モルチP
モルZn4W%)Os ・15〜15モルチ
A(Cu’4Nbz4)o、 1.0〜I Q
%ル9g、kcだし、ム(Cu%Nbt4 )O,のム
はBa、 Sr。
およびCaのうち1種を意味する。
また、上記した主成分に対し′C1副成分とし°C添加
含有するマンガン量はMnO,に換算し゛Cα5モルチ
以下の範囲にある。
含有するマンガン量はMnO,に換算し゛Cα5モルチ
以下の範囲にある。
上記した構成成分のうち、主成分の組成範囲を限定した
。rN由は次のとおシである。
。rN由は次のとおシである。
第1K1Pb(Ni電It)≠p、につぃで、45モル
チ未膚になると誘電率か8000未満になるとともに、
誘電正接が2.5俤を越える。一方、75モモルを壇え
ると誘電率の低下が著しくなりaoo。
チ未膚になると誘電率か8000未満になるとともに、
誘電正接が2.5俤を越える。一方、75モモルを壇え
ると誘電率の低下が著しくなりaoo。
未溝となる。
M2に、Pl)TiOsについCl2oモルチ未満にさ
ると誘電率の低下が著しくなシ5ooo未満と表る。一
方、40モル憂を4えると誘電率が8000未満になる
とともに誘電正接が2.5チを越える。
ると誘電率の低下が著しくなシ5ooo未満と表る。一
方、40モル憂を4えると誘電率が8000未満になる
とともに誘電正接が2.5チを越える。
第3に、Pb(Zn%W’()OsKつい乙 Q、5%
未膚になると焼成温度が1000″Cを越え、誘電率が
8000未イi々となる。一方、1°5−r:ルチを」
えると焼成温度は900C以下に低下するが、誘電率が
8000未情になるとともに、比抵抗も室温で1o11
Ω、−1に達しなくなる。 ′ 第4に、ム(Cu% N I) !/” )’s K
ライ’C%t Oモルチ未満になると、焼成温度が10
01t−”4える。
未膚になると焼成温度が1000″Cを越え、誘電率が
8000未イi々となる。一方、1°5−r:ルチを」
えると焼成温度は900C以下に低下するが、誘電率が
8000未情になるとともに、比抵抗も室温で1o11
Ω、−1に達しなくなる。 ′ 第4に、ム(Cu% N I) !/” )’s K
ライ’C%t Oモルチ未満になると、焼成温度が10
01t−”4える。
一方、10モル慢を越えると誘電率が8000未満に低
下するとともに比抵抗が10”Q−cmに達しなくなる
。
下するとともに比抵抗が10”Q−cmに達しなくなる
。
また、主成分に対するマンガン量がMnotK換算し゛
C005モル慢を越えると、室温での比抵抗が1014
Ω、鴬に達しなくなる。
C005モル慢を越えると、室温での比抵抗が1014
Ω、鴬に達しなくなる。
(効果)
この発明にかかる誘電体磁器組成物は、次のような効果
を有する。
を有する。
■ 誘電率(g)が8000以上の直を示す。
■ 誘電正接(t4nδ)がZSLs以下である。
■ 室温では比抵抗が10”n、m以上である。
■ 焼結温度が900〜100C1’と低い。
■ マンガンを含有させることによシ、室温および高温
(ast’)での比抵抗が10’Ω、為以上に改善され
る。
(ast’)での比抵抗が10’Ω、為以上に改善され
る。
したがつC1この発明にかかる誘電体磁器組成物は一般
の磁3コンデンサのみならず、積層セラミックコンデン
サの誘電材料とし゛C使用可能なものである。特に、積
層セラミックコンデンサを製造する場合、焼結温度が低
^ことに起因し′C1内部・Ef&とし゛C銀−パラジ
ウム系材料を用いることができ、小型、大容量のものを
工業的に生産することができる。
の磁3コンデンサのみならず、積層セラミックコンデン
サの誘電材料とし゛C使用可能なものである。特に、積
層セラミックコンデンサを製造する場合、焼結温度が低
^ことに起因し′C1内部・Ef&とし゛C銀−パラジ
ウム系材料を用いることができ、小型、大容量のものを
工業的に生産することができる。
(実施列)
以下、この発明を実施例に従つ゛C詳細に説明すTo、
、cuoおよびMnO,を出発原料とし、第1表に示す
組成比の磁器組成物が最終的に得られるように各原料を
秤量した。各秤量原料を100gとし、ポリエチレン製
ポットにメノウ玉石とともに入れ、10時時間式混合し
た。混合カスラリ−を脱水、乾燥し、アルミナ質の匣に
入れ、650〜800Cで2時間保持し°C仮焼し、−
次反応粉末(仮焼粉末)を得た。仮焼粉末をあらかじめ
粗粉砕し、バインダーとし゛Cポリビニルアルコールを
3ffit%加えC再び湿式混合粉砕を行った。得られ
たスラリーを乾燥したのち、50メツシユの篩を通し′
C成形用整粒扮粉末した。次いで、オイルプレスで20
00hF/dの圧力で直径12四、厚み1.28の円板
状に成形加工した。成形円板をジルコニア質の匣に入れ
、適度の鉛雰囲気に設定し九逍気炉内で、850〜11
00rの温度で2時間焼成した。
、cuoおよびMnO,を出発原料とし、第1表に示す
組成比の磁器組成物が最終的に得られるように各原料を
秤量した。各秤量原料を100gとし、ポリエチレン製
ポットにメノウ玉石とともに入れ、10時時間式混合し
た。混合カスラリ−を脱水、乾燥し、アルミナ質の匣に
入れ、650〜800Cで2時間保持し°C仮焼し、−
次反応粉末(仮焼粉末)を得た。仮焼粉末をあらかじめ
粗粉砕し、バインダーとし゛Cポリビニルアルコールを
3ffit%加えC再び湿式混合粉砕を行った。得られ
たスラリーを乾燥したのち、50メツシユの篩を通し′
C成形用整粒扮粉末した。次いで、オイルプレスで20
00hF/dの圧力で直径12四、厚み1.28の円板
状に成形加工した。成形円板をジルコニア質の匣に入れ
、適度の鉛雰囲気に設定し九逍気炉内で、850〜11
00rの温度で2時間焼成した。
得られた磁器円板の両直に、硼硅酸鉛ガラスフリットを
含む銀ペーストを塗布し、750Cで10分間焼き付け
゛C電厘を形成し、測定用の試料とした。
含む銀ペーストを塗布し、750Cで10分間焼き付け
゛C電厘を形成し、測定用の試料とした。
各試料につき、静電容量(C)、誘電正接(t、nδ)
をYHI’fiLCRメータ4274を用イ゛〔温度2
5c。
をYHI’fiLCRメータ4274を用イ゛〔温度2
5c。
1KHz、17rmsで測定した。 また、絶縁抵抗(
工R)はタケダ理研製メグオームメータTR8601を
用い、直Rs o □ v印加2分後の値を測定した。
工R)はタケダ理研製メグオームメータTR8601を
用い、直Rs o □ v印加2分後の値を測定した。
試料の厚み、底玉の直径寸法を測定し、誘電率(ε)お
よび比抵抗(p)を計算し、その信果を第2表に示した
。
よび比抵抗(p)を計算し、その信果を第2表に示した
。
さらく、各X科の焼成温度を第2表に示した。
なお、第1表、第2表中東部を付したものは、この発明
範囲外のものであシ、それ以外のものはこの発明範囲内
のものである。
範囲外のものであシ、それ以外のものはこの発明範囲内
のものである。
Claims (2)
- (1)Pb(Ni_1_/_3Nb_2_/_3)O_
3、PbTiO_3、Pb(Zn_1_/_2W_1_
/_2)O_3およびA(Cu_1_/_3Nb_2_
/_3)O_3からなり、それぞれのモル分率が次の範
囲にある、ことを特徴とする誘電本磁器組成物。 Pb(Ni_1_/_3Nb_2_/_3)O_3 4
5〜75モル%PbTiO_3 20〜40モル% Pb(Zn_1_/_2W_1_/_2)O_3 0.
5〜15モル%A(Cu_1_/_3Nb_2_/_3
)O_3 1.0〜10モル%ただし、A(Cu_1_
/_3Nb_2_/_3)O_3のAはBa、Sr、お
よびCaのうち1種。 - (2)前記Pb(Ni_1_/_3Nb_2_/_3)
O_3、PbTiO_3、Pb(Zn_1_/_2W_
1_/_2)O_3およびA(Cu_1_/_2Nb_
1_/_2)O_3からなる主成分に対して、マンガン
をMnO_2に換算して0.5モル%以下含有する、こ
とを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の誘電体
磁器組成物。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59250798A JPS61128409A (ja) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | 誘電体磁器組成物 |
| DE19853541517 DE3541517A1 (de) | 1984-11-27 | 1985-11-23 | Dielektrische keramische zusammensetzung |
| CA000496126A CA1251037A (en) | 1984-11-27 | 1985-11-25 | Dielectric ceramic composition |
| US06/801,483 US4601989A (en) | 1984-11-27 | 1985-11-25 | Dielectric ceramic composition |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59250798A JPS61128409A (ja) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | 誘電体磁器組成物 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61128409A true JPS61128409A (ja) | 1986-06-16 |
Family
ID=17213202
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59250798A Expired - Lifetime JPS61128409A (ja) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | 誘電体磁器組成物 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4601989A (ja) |
| JP (1) | JPS61128409A (ja) |
| CA (1) | CA1251037A (ja) |
| DE (1) | DE3541517A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5439857A (en) * | 1993-06-30 | 1995-08-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4753905A (en) * | 1985-07-31 | 1988-06-28 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition |
| US4772985A (en) * | 1986-09-24 | 1988-09-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Thick film capacitor |
| US4820670A (en) * | 1986-11-26 | 1989-04-11 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition |
| EP0413321B1 (en) * | 1989-08-17 | 1995-06-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition and multi-layer capacitor |
| JPH03102705A (ja) * | 1989-09-18 | 1991-04-30 | Murata Mfg Co Ltd | 誘電体磁器組成物 |
| AU2003278258A1 (en) * | 2002-09-06 | 2004-03-29 | Sanofi-Aventis | Composition for reinforcing apatite-based materials |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS557713A (en) * | 1978-06-30 | 1980-01-19 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Production of optical fiber aggregate |
| US4347167A (en) * | 1980-10-01 | 1982-08-31 | University Of Illinois Foundation | Fine-grain semiconducting ceramic compositions |
| US4379319A (en) * | 1982-02-18 | 1983-04-05 | Ferro Corporation | Monolithic ceramic capacitors and improved ternary ceramic compositions for producing same |
| JPS6020914B2 (ja) * | 1983-04-21 | 1985-05-24 | 日本電気株式会社 | 電歪磁器組成物 |
| US4542107A (en) * | 1983-05-30 | 1985-09-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Dielectric ceramic compositions |
-
1984
- 1984-11-27 JP JP59250798A patent/JPS61128409A/ja not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-11-23 DE DE19853541517 patent/DE3541517A1/de active Granted
- 1985-11-25 CA CA000496126A patent/CA1251037A/en not_active Expired
- 1985-11-25 US US06/801,483 patent/US4601989A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5439857A (en) * | 1993-06-30 | 1995-08-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4601989A (en) | 1986-07-22 |
| CA1251037A (en) | 1989-03-14 |
| DE3541517C2 (ja) | 1993-04-01 |
| DE3541517A1 (de) | 1986-05-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |