JPS61132884A - 論理回路試験装置 - Google Patents

論理回路試験装置

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JPS61132884A
JPS61132884A JP59253996A JP25399684A JPS61132884A JP S61132884 A JPS61132884 A JP S61132884A JP 59253996 A JP59253996 A JP 59253996A JP 25399684 A JP25399684 A JP 25399684A JP S61132884 A JPS61132884 A JP S61132884A
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shift register
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律郎 折橋
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • G01R31/31928Formatter
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、論理回路試験装置に用いる友めの各種の+1
1哩波形を生成するための論理波形生成回路に関する。
〔発明の背景〕
論理回路の機能試験を行う場合、被6I11定論理回路
にはNRZ (jJon−Return−to−Z@r
o)波形、 RZ(Return−tn−Zero)波
形又はNRZとRZとの排他的dIl理和(goa)波
形等各種の論理波形を印710して試験する心安がある
。この几めの論理波形を生成する几めの従来の!4波形
生成回路は、生成ちれる論理波形の立ち上り、立ち下り
の各変化点の時刻を、個別に設けられた814m用達f
、素子を用いて、個別にvI4整するものが矧られてい
る(例えば特開昭57−111470号公報)、 この従来の7i埋波形生成回路によれば、正確なタイミ
ングの論理波形が生成されるが、論理波形生成回路は論
理回路試験装置のチャンネル数と同数必要である。この
几め、多チャンネルの論理回路試験装置に用いた場合に
は、all!整用遅延素子等の部品数が増えると共に2
.それに伴なって調整工数の増大を招くと度う間魂点が
ある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上記した点に鑑み、正確な論理波形を
調整用の遅延素子を用いずに得られる論理波形生成回路
を提供することにある。
〔発明の概要〕
上記し九目的を達成する友めに、本発明の論理波形生成
回路は、外部から同期的に入力されるデータ発生用のデ
ータと制御データとに基づき所定のデータをノ4ラレル
に発生するデータ発生回路と、該データ発生回路からの
データを受けて制−データに応じ友必要な処理を施して
出力する論理データ供給回路と、外部からの独豆し友駆
動りロックLリロード・シフト制御信号と論理和駆動ク
ロックを作成するタイミング制御回路と、タイミング制
御回路からのロード・シフト制御信号及び論理和駆動ク
ロックとにLリシフトデータ供給回路か・らの/4ラレ
ルデータがプリセットされ北上、シリアルに読み出され
るシフトレジスタとにより構成し九ことを特徴とするう 〔発明の実施例〕 以下、本発明の論理波形生成回路の一実施例を、添付図
面を参照して説明する。
第1図は、本発明の一実施例の論理波形生成回路を示す
。この回路は、データ発生回路103.シフトデータ供
給回路101.タイミング制御回路102、シフトレジ
スタ104とより構成されているうデータ発生回路10
3は、生成する論理波形の極性及び形状を指定する11
11壇データの入力端子113とαピットの制御データ
の入力端子112が備わっていて、両端子112 、1
13からのデータをデコードしてシフトデータ供給回路
101に出力される。
シフトデータ供給回路101は、Dフリラグフロッグ1
06 、107 、108 C以下D−FFと略す)と
セレクタ105とで構成され1,7各D−FFIQ5〜
108には基本周期クロック121がクロックとして入
力ちれる。データ発生回路103からの3ビツトのデー
タは、D−F’F107 、108には信号線119 
、120を通じて直接人力し、D−FF’lQ5にはセ
レクタ105から信号線118を通じて入力する。セレ
クタ105は、信号線114を通じてデータ発生回路1
03からデータ選択信号が送られ、該選択信号により、
データ発生回路103からの信号線115を通じて供給
されるデータか、或いは信号線125を通じてD−F’
F108からのデータか、いずれかを選択して信号線1
18によりD −F’F106 K送るものである。
タイミング制御回路102は、モード制御器109とオ
アゲート110と遅延線111とで構成され、3本のク
ロック入力線126 、127 、128がそれぞれモ
ード制御器109とオアゲート110に接続される。
即ち、3つのクロックがそれぞれに入力嘔れるものであ
る。し九がって、オアff−)110からは3つのクロ
ック入力が論理和されたうえ出力嘔れ、論理相場れたク
ロックは更に遅延III!111を介し出力嘔れるもの
となっている。
シフトレジスタ104には前記シフトデータ供給回路1
01の各D−FF’106 、107 、108からの
出力が、それぞれ信号線122 、123 、124を
介し入力嘔れるようになっている、また、タイミング制
御回路102側からは前記モード制御器109からシフ
トレジスタ動作制御信号が信号線129を介して入力嘔
れ、遅延線111から論理和されたクロックが信号線1
30を介して入力されるようになっている。
モード制御器109からのシフトレジスタ動作制御信号
はシフトレジスタ104のプリセットとシフトとの2つ
の動作を制御するものであり、生成波形種類に係わらず
、基本周期内で前記クロック入力線126〜128から
入力される3つのクロックに同期して、プリセット→シ
フト→シフトの順にシフトレジスタ104の動作を制御
する。そしてシフトレジスタ104からはプリセット嘔
れたデータがシリアルに出力されることによって生成波
形出力131が得られるものである。
以上の回路構成よりなり、データ発生回路103↓り出
力されるデータは、例えば第2図及び第3図に示すよう
に、NRZi形、RZ波形、IOR波形の3種類の場合
とする。第2図及び第3図中で(×)はDon’t C
areを示し0または1のいずれでもよく、(Qn )
は信号線124を通じてシフトレジスタ104の最上位
ピットに入力嘔れるデータの論理値である。
ここで、正極性RZ波形、負極性RZ波形を生成する場
合を例にして、第4図のタイムチャートラ参照して、動
作を説明する。なお、正極性認波形、負極性RZ波形は
、それぞれ端子113工り供給される論理データが1の
場合及びOの場合のRZ波形である。端子103からの
論理データ信号人は、基本周期毎に論理値が変化する。
RZ波形を生成する場合、第3図に示すように、シフト
データ選択信号B(信号線114を伝わる〕は、常に信
号線125側を選択している友め、例えば常にHIGH
状態となる。そして、 D−FF106 、107 、
 i08に入力嘔れるデータ、即ち信号線118 、1
19 、120を伝わるデータは、それぞれデータC、
D 、Iとなる。データC、D 、Iを、クロック人力
121 ! 9人力嘔れる基本周期クコツクFでサンブ
リングしt出力が、それぞれ信号11!122 t−伝
わるデータ゛G。
信号線123を伝わるデータ上9信号線124を伝わる
データエとなり、シフトレジスタ104に供給される。
   ・ 一方、クロック入力126 、127 、128から入
力嘔れるクロックは、それぞれデータJ 、K 、Lと
なつて供給され、タイミング制御回路102でシフトレ
ジスタ動作制御信号M及びシフトレジスタクロックNが
作成される。なお、シフトレジスタ動作制御信号Mにお
いて示すPはプリセットモード。
Sはシフトモードである。このシフトレジスタ動作制御
信号M及びシフトレジスタクロックNに工9、シフトレ
ジスタ104の各ビットのデータが出力され、第4図に
示すように、生成波形出力131からRZ波形6が得ら
れる、 以上のようにしてR2rIl形σが得られることにより
、生成波形のタイミング精度を決定するタイミング制御
回路102からのシフトレジスタ動作制御信号Mは、波
形種類に係わらず一定なので、正確なタイミングの論理
波形が遅延素子を用いることなく行なえる。
〔発明の効果〕
以上の実施例より明らかなようK、本発明にL   。
る論理波形生成回路によると、生成する論理波形の種類
によらず一定な制御信号と論理相場れ几駆動クロックを
作成するタイミング制御回路でシフトレジスタを制御す
ることKより、駆動クロックの通過経路が波形種類に係
わらず一定で、タイミング調整用の遅延素子等を用いず
に正確な論理波形を得ることが出来る。この几め、遅延
素子等を設けた場合のハードウェア量の増大及び調整工
数の増大を防ぐことが出来る。
【図面の簡単な説明】
添付図面は、本発明の一実施例による論理波形生成回路
を示し、第1図は論理回路図、第2図及び第3図は各’
fa埋波形を得るための条件を示す図、第4図はRZ波
形出力時のタイムチャートである。 101・・・シフトデータ供給回路、102・・・タイ
ミング制御回路、103・・・データ発生回路、104
・・・シフトレジスタ、109・・・モード制御器、1
10・・・y−ト、111・・・遅延線、121・・・
基本クロック人力、131・・・生成波形出力。 代理人 弁理士  秋  本  正  実第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 外部から同期的に入力されるデータ発生用のデータと制
    御データとに基づき所定のデータをパラレルに発生する
    データ発生回路と、該データ発生回路からのデータを受
    けて制御データに応じた必要な処理を施して出力する処
    理データ供給回路と、外部からの独立した駆動クロック
    よりロード・シフト制御信号と論理和駆動クロックを作
    成するタイミング制御回路と、タイミング制御回路から
    のロード・シフト制御信号及び論理和駆動クロックとに
    よりシフトデータ供給回路からのパラレルデータがプリ
    セットされた上、シリアルに読み出されるシフトレジス
    タとにより構成される論理波形生成回路。
JP59253996A 1984-12-03 1984-12-03 論理回路試験装置 Expired - Lifetime JPH073457B2 (ja)

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JP59253996A JPH073457B2 (ja) 1984-12-03 1984-12-03 論理回路試験装置
US06/804,069 US4755758A (en) 1984-12-03 1985-12-03 Wave formatter for a logic circuit testing system

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JPH04366779A (ja) * 1990-12-28 1992-12-18 Internatl Business Mach Corp <Ibm> パルス発生装置

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