JPS61134880A - 角度差検出装置 - Google Patents
角度差検出装置Info
- Publication number
- JPS61134880A JPS61134880A JP59257889A JP25788984A JPS61134880A JP S61134880 A JPS61134880 A JP S61134880A JP 59257889 A JP59257889 A JP 59257889A JP 25788984 A JP25788984 A JP 25788984A JP S61134880 A JPS61134880 A JP S61134880A
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- angular
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は合同・相似または［６１する二つの画像の間の
角度差を検出する角度差検出装置に関する。
角度差を検出する角度差検出装置に関する。
画像処理技術の応用分野である例えば印鑑照合装置にお
いては、照合の対象とする被照合印影すなわち被照合画
像と、照合の基準とする登録印影すなわち基準画像とを
、同一平面上でパターンマツチング等の手法によって照
合し１両者の類僚度を求めるという処理がよ（用いられ
る。
いては、照合の対象とする被照合印影すなわち被照合画
像と、照合の基準とする登録印影すなわち基準画像とを
、同一平面上でパターンマツチング等の手法によって照
合し１両者の類僚度を求めるという処理がよ（用いられ
る。
ところがこの時、被照合画像の角度すなわち向きと基準
画像の向きとが異なる場合、すなわち被照合画像と基準
画像との間に角度差がある場合には、このままでは照合
することが回能である。
画像の向きとが異なる場合、すなわち被照合画像と基準
画像との間に角度差がある場合には、このままでは照合
することが回能である。
このため、前記二つの画像の間の角度差を検出し、何れ
かの画像を回転させて角度差を除くことによって、二つ
の画像の角度を合わせるという処理がよく用いられる。
かの画像を回転させて角度差を除くことによって、二つ
の画像の角度を合わせるという処理がよく用いられる。
この際、二つの画像の間の角度差が正確かつ短時間に検
出できるこ゛とが重要である。
出できるこ゛とが重要である。
第２図は前記目的に供される角度差検出装置の従来例の
構成を示すブロック図であり、１は被照合画像をラスク
走査によって観測し等ピッチで行列状に配列される画素
毎の濃度として出力する画像読取り装置、２は画像読取
り装置１によって読み取られた画像データを格納する第
一の画像メモリ、３は第一の画像メモリ２のアドレスを
発生するアドレス制御回路である。
構成を示すブロック図であり、１は被照合画像をラスク
走査によって観測し等ピッチで行列状に配列される画素
毎の濃度として出力する画像読取り装置、２は画像読取
り装置１によって読み取られた画像データを格納する第
一の画像メモリ、３は第一の画像メモリ２のアドレスを
発生するアドレス制御回路である。
４ａと４ｂは、被照合画像の角度を示す多次元角度特徴
を抽出する第一の特徴抽出回路４を構成し。
を抽出する第一の特徴抽出回路４を構成し。
４ａは第一の画像メモリ２に格納される画像データを（
３Ｘ ３）の微分演算ウィンドーによって走査し。
３Ｘ ３）の微分演算ウィンドーによって走査し。
各画素における空間微分値すなわち濃度勾配を求める微
分回路であり、 ４ｂは、微分回路４ａの出力によって
、第一の画像メモリ２に記憶されるすべての画素におけ
る濃度勾配の方向すなわち角度を求め、その角度毎の画
素の数を計数することにより。
分回路であり、 ４ｂは、微分回路４ａの出力によって
、第一の画像メモリ２に記憶されるすべての画素におけ
る濃度勾配の方向すなわち角度を求め、その角度毎の画
素の数を計数することにより。
被照合画像の多次元角度特徴としての濃度変化方向の角
度ヒストグラムを求めるヒストグラム算出回路である。
度ヒストグラムを求めるヒストグラム算出回路である。
５は第一の特徴抽出回路４によって抽出された角度ヒス
トグラムを、１度から３６０度までの角度をアドレスと
して格納する第一のヒストグラムメそり、６は上記と同
様な手順によって予め基準画像から求めた多次元角度特
徴としての角度ヒストグラムを格納する第二のヒストグ
ラムメモリ、７は第一のヒストグラムメモリ５と第二の
ヒストグラムメモリ６とのアドレスを発生する第二のア
ドレス制御回路であり、８は第二のアドレス制御回路７
が発生した第一のヒストグラムメモリ５に対す′￥′７
ＦｌｚＸを一定角度分ず″″″″フトる′フ
１ト回路である。
トグラムを、１度から３６０度までの角度をアドレスと
して格納する第一のヒストグラムメそり、６は上記と同
様な手順によって予め基準画像から求めた多次元角度特
徴としての角度ヒストグラムを格納する第二のヒストグ
ラムメモリ、７は第一のヒストグラムメモリ５と第二の
ヒストグラムメモリ６とのアドレスを発生する第二のア
ドレス制御回路であり、８は第二のアドレス制御回路７
が発生した第一のヒストグラムメモリ５に対す′￥′７
ＦｌｚＸを一定角度分ず″″″″フトる′フ
１ト回路である。
９は第一のヒストグラムメモリ５から読み出される角度
ヒストグラムと第二のヒストグラムメモリ６から読み出
されるヒストグラムとの距離を計算する距離計算回路、
１０は距離計算回路９によって計算された距離をシフト
回路８におけるシフト角度毎に格納する出力メモリであ
る。
ヒストグラムと第二のヒストグラムメモリ６から読み出
されるヒストグラムとの距離を計算する距離計算回路、
１０は距離計算回路９によって計算された距離をシフト
回路８におけるシフト角度毎に格納する出力メモリであ
る。
例えば第３図（ａｌのような画像が画像入力装置１によ
って観測されて画像メモリ２に格納されると。
って観測されて画像メモリ２に格納されると。
微分回路４Ｂによって、同図伽）に例示するように矢印
の方向および長さとして、各画素における空間微分値す
なわち濃度勾配が求められる。
の方向および長さとして、各画素における空間微分値す
なわち濃度勾配が求められる。
ヒストグラム算出回路４ｂは、微分回路４ａによって得
られた濃度変化方向（第３図（ｂｌに例示した矢印の方
向）の角度毎の画素の数を計数することによって角度ヒ
ストグラムを求め、得られた角度ヒストグラム（第３図
（Ｃ１参照）は第一のヒストグラムメモリ５に格納され
る。
られた濃度変化方向（第３図（ｂｌに例示した矢印の方
向）の角度毎の画素の数を計数することによって角度ヒ
ストグラムを求め、得られた角度ヒストグラム（第３図
（Ｃ１参照）は第一のヒストグラムメモリ５に格納され
る。
次に、第一のヒストグラムメモリ５に格納された被照合
画像の角度ヒストグラムと、第二のヒストグラムメモリ
６に格納されている基準画像の角度ヒストグラムとを読
み出し、距離計算回路９によって二つの角度ヒストグラ
ムの間の距離を計算する。
画像の角度ヒストグラムと、第二のヒストグラムメモリ
６に格納されている基準画像の角度ヒストグラムとを読
み出し、距離計算回路９によって二つの角度ヒストグラ
ムの間の距離を計算する。
次に、シフト回路８によって第一のヒストグラムメモリ
５を１度ずつシフトさせながら読み出すことにより、１
度シフトされた被照合画像の角度ヒストグラムと基準画
像の角度ヒストグラムとの間の角度を計算する。
５を１度ずつシフトさせながら読み出すことにより、１
度シフトされた被照合画像の角度ヒストグラムと基準画
像の角度ヒストグラムとの間の角度を計算する。
同様にして９例えば１度おきに３５９度までのすべての
シフト角度について二つの角度ヒストグラムの間の距離
を計算し、シフト角度毎の距離を出力メモリ１０に出力
し、その中から距離が最小を示すシフト角度をもって、
被照合画像と基準画像との間の角度とするものである。
シフト角度について二つの角度ヒストグラムの間の距離
を計算し、シフト角度毎の距離を出力メモリ１０に出力
し、その中から距離が最小を示すシフト角度をもって、
被照合画像と基準画像との間の角度とするものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記構成の角度差検出装置においては、被照合画像のヒ
ストグラムと基準画像のヒストグラムとを、全角度範囲
にわたってシフトさせながら例えば３６０回の距離計算
を行う必要があるので、角度差を求めるまでに長時間を
要するという問題点がある。
ストグラムと基準画像のヒストグラムとを、全角度範囲
にわたってシフトさせながら例えば３６０回の距離計算
を行う必要があるので、角度差を求めるまでに長時間を
要するという問題点がある。
本発明になる角度差検出装置は９画像の姿勢を表す多次
元角度特徴を抽出する第一の特徴抽出回路と、前記第一
の特徴抽出回路によって被照合画像から抽出した多次元
角度特徴と予め基準画像から抽出した多次元角度特徴と
の間の距離を計算する距離計算回路とを備え、前記多次
元角度特徴によって被照合画像と基準画像との間の角度
差を検出する角度差検出装置において１画像の姿勢を表
す一次元角度特徴を抽出する第二の特徴抽出回路を設け
、前記それぞれ抽出された一次元角度特徴と多次元角度
特徴とによって被照合画像と基準画像との間の角度差を
検出することによって前記問題点の解消を図ったもので
ある。
元角度特徴を抽出する第一の特徴抽出回路と、前記第一
の特徴抽出回路によって被照合画像から抽出した多次元
角度特徴と予め基準画像から抽出した多次元角度特徴と
の間の距離を計算する距離計算回路とを備え、前記多次
元角度特徴によって被照合画像と基準画像との間の角度
差を検出する角度差検出装置において１画像の姿勢を表
す一次元角度特徴を抽出する第二の特徴抽出回路を設け
、前記それぞれ抽出された一次元角度特徴と多次元角度
特徴とによって被照合画像と基準画像との間の角度差を
検出することによって前記問題点の解消を図ったもので
ある。
すなわち、被照合画像または基準画像の何れか一方の多
次元角度特徴を第二の特徴抽出回路によって得られる一
次元角度特徴によってシフトしたのち、その近傍の所定
角度範囲においてのみ、何れか一方の多次元角度特徴を
例えば１度ずつシフトさせながら二つの多次元角度特徴
の間の距離を計算することにより、短時間で角度差を検
出することができる。
次元角度特徴を第二の特徴抽出回路によって得られる一
次元角度特徴によってシフトしたのち、その近傍の所定
角度範囲においてのみ、何れか一方の多次元角度特徴を
例えば１度ずつシフトさせながら二つの多次元角度特徴
の間の距離を計算することにより、短時間で角度差を検
出することができる。
以下に本発明の要旨を実施例によって具体的に説明する
。
。
第１図は本発明一実施例の構成を示すブロック図であり
、第２図従来例と共通する符号は同一対象を指し、その
他、１）は被照合画像と基準画像との一次元角度特徴を
抽出する一次元特徴抽出回路である。また８′は第二の
アドレス制御回路７が発生した第一のヒストグラムメモ
リ５に対するアドレスを、一次元特徴抽出回路１）によ
って抽出された一次元角度特徴に応じて所定の角度をシ
フトさせるシフト回路である。
、第２図従来例と共通する符号は同一対象を指し、その
他、１）は被照合画像と基準画像との一次元角度特徴を
抽出する一次元特徴抽出回路である。また８′は第二の
アドレス制御回路７が発生した第一のヒストグラムメモ
リ５に対するアドレスを、一次元特徴抽出回路１）によ
って抽出された一次元角度特徴に応じて所定の角度をシ
フトさせるシフト回路である。
以上のような構成によって、従来例と同様にして、第一
のヒストグラムメモリ５および第二のヒストグラムメモ
リ６に、それぞれ角度ヒストグラ、、ヵ９．．あゎおよ
、１ユ。エエ。ヤ、□、よ、□ １−のヒストグ
ラムメモリ５に記憶される被照合画像の角度ヒストグラ
ム、および第二のヒストグラムメモリ６に格納される基
準画書の角度ヒストグラムから、それぞれのピークにお
ける角度を一次元角度特徴として抽出する。
のヒストグラムメモリ５および第二のヒストグラムメモ
リ６に、それぞれ角度ヒストグラ、、ヵ９．．あゎおよ
、１ユ。エエ。ヤ、□、よ、□ １−のヒストグ
ラムメモリ５に記憶される被照合画像の角度ヒストグラ
ム、および第二のヒストグラムメモリ６に格納される基
準画書の角度ヒストグラムから、それぞれのピークにお
ける角度を一次元角度特徴として抽出する。
被照合画像および基準画像が、第３図（ａｌに例示した
ように矩形の輪郭を持つものとすると、いずれの角度ヒ
ストグラムからも４個ずつの一次元角度特徴が得られる
筈であり、これらのうち、基準画像から得られる一次元
角度特徴の任意の一つをθＳとし、被照合画像から得ら
れた４個の一次元角度特徴を（θＳ＋０１）・ （θＳ
十０２）・ （θＳ＋０３）および（θＳ＋θ４）とす
る。
ように矩形の輪郭を持つものとすると、いずれの角度ヒ
ストグラムからも４個ずつの一次元角度特徴が得られる
筈であり、これらのうち、基準画像から得られる一次元
角度特徴の任意の一つをθＳとし、被照合画像から得ら
れた４個の一次元角度特徴を（θＳ＋０１）・ （θＳ
十０２）・ （θＳ＋０３）および（θＳ＋θ４）とす
る。
シフト回路８１は、第二のアドレス制御回路７が発生し
た第一のヒストグラムメモリ５のアドレスを、それぞれ
、θ１ ・θ２ ・θ３およびθ４を基準として１度お
きに前後に２度ずつの角度、すなわちθｎに対しては（
θｎ−２）・ （θｎ−１）・θｎ・ （θｎ＋１）お
よび（θｎ＋２）の５つ１合わせて２０のシフト角度に
よってシフトさせる。
た第一のヒストグラムメモリ５のアドレスを、それぞれ
、θ１ ・θ２ ・θ３およびθ４を基準として１度お
きに前後に２度ずつの角度、すなわちθｎに対しては（
θｎ−２）・ （θｎ−１）・θｎ・ （θｎ＋１）お
よび（θｎ＋２）の５つ１合わせて２０のシフト角度に
よってシフトさせる。
距離計算回路９は、前記のようにして第一のヒストグラ
ムメモリ５からシフトして読み出された被照合画像の２
０種類の角度ヒストグラムの各々と。
ムメモリ５からシフトして読み出された被照合画像の２
０種類の角度ヒストグラムの各々と。
第二のヒストグラムメモリから読み出された基準画像の
角度ヒストグラムとの間の距離を計算し。
角度ヒストグラムとの間の距離を計算し。
シフト角度毎の距離を出力メモリ１０に出力し、その中
から距離が最小を示すシフト角度によって。
から距離が最小を示すシフト角度によって。
被照合画像と基準画像との間の角度を決定する。
上記実施例で１凱２０回の距離計算によって所望の角度
差を求めることができる。
差を求めることができる。
以上説明したように１本発明によれば９合同・相似また
は類僚する二つの画像の間の角度を短時間で求めること
ができる。
は類僚する二つの画像の間の角度を短時間で求めること
ができる。
第１図は本発明一実施例のブロック図。
第２図は従来例のブロック図。
第３図（ａｌ・山）および（ｅ）は従来例の説明図であ
る。 図中。 ４は第一の特徴抽出回路。 ４ａは微分回路。 ４ｂはヒストグラム算出回路。 ８と８＠はシフト回路。 ９は距離計算回路。 １）は第二の特徴抽出回路である。 男３ ＜ｂ） ブ
る。 図中。 ４は第一の特徴抽出回路。 ４ａは微分回路。 ４ｂはヒストグラム算出回路。 ８と８＠はシフト回路。 ９は距離計算回路。 １）は第二の特徴抽出回路である。 男３ ＜ｂ） ブ
Claims (3)
- （１）画像の角度を表す多次元角度特徴を抽出する第一
の特徴抽出回路と、前記第一の特徴抽出回路によって被
照合画像から抽出した多次元角度特徴と予め基準画像か
ら抽出した多次元角度特徴との間の距離を計算する距離
計算回路とを備え、前記多次元角度特徴によって被照合
画像と基準画像との間の角度差を検出する角度差検出装
置において、画像の角度を表す一次元角度特徴を抽出す
る第二の特徴抽出回路を設け、前記それぞれ抽出された
一次元角度特徴と多次元角度特徴とによって被照合画像
と基準画像との間の角度差を検出することを特徴とする
角度差検出装置。 - （２）前記多次元角度特徴として画像を構成する各画素
における濃度変化方向の角度ヒストグラムを用いること
を特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載の角度差検
出装置。 - （３）前記一次元角度特徴として前記角度ヒストグラム
のピークに対応する角度を用いることを特徴とする特許
請求の範囲第（２）項記載の角度差検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59257889A JPS61134880A (ja) | 1984-12-06 | 1984-12-06 | 角度差検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59257889A JPS61134880A (ja) | 1984-12-06 | 1984-12-06 | 角度差検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61134880A true JPS61134880A (ja) | 1986-06-21 |
| JPH0219509B2 JPH0219509B2 (ja) | 1990-05-02 |
Family
ID=17312590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59257889A Granted JPS61134880A (ja) | 1984-12-06 | 1984-12-06 | 角度差検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61134880A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03121573A (ja) * | 1989-10-03 | 1991-05-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品傾き検出方法 |
| JP2011191928A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Omron Corp | 画像処理方法および画像処理装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0445388A (ja) * | 1990-06-12 | 1992-02-14 | Sanyo Electric Co Ltd | マイクロ波乾燥装置 |
| JPH04177081A (ja) * | 1990-11-09 | 1992-06-24 | Sanyo Electric Co Ltd | マイクロ波乾燥装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS585887A (ja) * | 1981-07-02 | 1983-01-13 | Nec Corp | パタ−ンの回転角検出装置 |
-
1984
- 1984-12-06 JP JP59257889A patent/JPS61134880A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS585887A (ja) * | 1981-07-02 | 1983-01-13 | Nec Corp | パタ−ンの回転角検出装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03121573A (ja) * | 1989-10-03 | 1991-05-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品傾き検出方法 |
| JP2011191928A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Omron Corp | 画像処理方法および画像処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0219509B2 (ja) | 1990-05-02 |
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