JPS61139934A - 光学式ピツクアツプのサ−ボゲイン制御装置 - Google Patents
光学式ピツクアツプのサ−ボゲイン制御装置Info
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- JPS61139934A JPS61139934A JP26148484A JP26148484A JPS61139934A JP S61139934 A JPS61139934 A JP S61139934A JP 26148484 A JP26148484 A JP 26148484A JP 26148484 A JP26148484 A JP 26148484A JP S61139934 A JPS61139934 A JP S61139934A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
Landscapes
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、コンパクトディスクプレーヤなどに装備され
ている光学式ピックアップに係り、特に、７．？−カス
サーボ装置やトラッキングサーボ装置を駆動するサーボ
ゲインを自動的に調整するサーボゲイン制御装置に関す
る。
ている光学式ピックアップに係り、特に、７．？−カス
サーボ装置やトラッキングサーボ装置を駆動するサーボ
ゲインを自動的に調整するサーボゲイン制御装置に関す
る。
第４図はコンパクトディスクプレーヤに装備される光学
式ピックアップのサーボ装置の従来例を示すものである
。
式ピックアップのサーボ装置の従来例を示すものである
。
図中の符号１はコンパクトディスクであり、回転駆動装
置２に支持されて回転駆動されるようになっている。
置２に支持されて回転駆動されるようになっている。
３は光学式ピックアップのヘッドを示すものであり、こ
のヘッド３はコンパクトディスクｌの記録面に対向して
いる。ヘッド３には、コンパクトディスク１に対向する
対物レンズ３ａと、発光素子（レーザダイオード）３ｂ
と、ビームスプリッタ３Ｃと、受光素子（ホトダイオー
ド）３ｄなどからなる光学部材が搭載されている。また
、対物レンズ３ａはアクチュエータ４によって駆動され
ており、発光素子３ｂから発せられ、対物レンズ３ａか
らコンパクトディスクｌの記録面に照射されるレーザビ
ームのスポットが、ディスクｌの記録面に適正に当たる
ように補正されている。このアクチュエータ４は、レー
ザビームのピントをディスク１の記録面に合わせるため
のフォーカスサーボ装置と、レーザビームのスポットを
ディスク１の情報トラックに沿わせるためのトラッキン
グサーボ装置として使用されている。
のヘッド３はコンパクトディスクｌの記録面に対向して
いる。ヘッド３には、コンパクトディスク１に対向する
対物レンズ３ａと、発光素子（レーザダイオード）３ｂ
と、ビームスプリッタ３Ｃと、受光素子（ホトダイオー
ド）３ｄなどからなる光学部材が搭載されている。また
、対物レンズ３ａはアクチュエータ４によって駆動され
ており、発光素子３ｂから発せられ、対物レンズ３ａか
らコンパクトディスクｌの記録面に照射されるレーザビ
ームのスポットが、ディスクｌの記録面に適正に当たる
ように補正されている。このアクチュエータ４は、レー
ザビームのピントをディスク１の記録面に合わせるため
のフォーカスサーボ装置と、レーザビームのスポットを
ディスク１の情報トラックに沿わせるためのトラッキン
グサーボ装置として使用されている。
光学式ピックアップの駆動時には、ホトダイ、−オード
３ｄの受光出力を基にエラー信号検出回路１１がエラー
信号を検出し、位相保障回路１２によって位相の補正を
行なった後に、前記エラー信号に応じてアクチュエータ
ドライブ回路１３がアクチュエータ４を駆動するように
なっている。
３ｄの受光出力を基にエラー信号検出回路１１がエラー
信号を検出し、位相保障回路１２によって位相の補正を
行なった後に、前記エラー信号に応じてアクチュエータ
ドライブ回路１３がアクチュエータ４を駆動するように
なっている。
上記のサーボ装置においては、アクチュエータドライブ
回路１３によるサーボゲインを適正な値に保つ必要があ
る。従来は、このサーボゲインの調整を可変抵抗器など
を用いたサーボゲイン調整器１４によって行なっていた
。
回路１３によるサーボゲインを適正な値に保つ必要があ
る。従来は、このサーボゲインの調整を可変抵抗器など
を用いたサーボゲイン調整器１４によって行なっていた
。
しかしながら、上記のサーボゲイン調整器１４を用いた
装置では、工場内での調整工程にてサーボゲインの調整
値を固定して決めることにな、る。
装置では、工場内での調整工程にてサーボゲインの調整
値を固定して決めることにな、る。
ところが、実際にコンパクトディスクプレーヤを使用す
る際には温度などの環境の変化があり、また、アクチュ
エータ４を構成する磁気回路の駆動感度や半導体素子の
特性変化、さらにはディスク１の記録面のばらつきなど
種々の条件の変動がある。そのために、エラー信号検出
感度が変動することがあり、このエラー信号出力によっ
て決められるサーボゲインにも変動が生じることになる
。
る際には温度などの環境の変化があり、また、アクチュ
エータ４を構成する磁気回路の駆動感度や半導体素子の
特性変化、さらにはディスク１の記録面のばらつきなど
種々の条件の変動がある。そのために、エラー信号検出
感度が変動することがあり、このエラー信号出力によっ
て決められるサーボゲインにも変動が生じることになる
。
したがって、サーボゲイン調整器１４による固定的な調
整手段ではサーボゲインの変動に対処できず、適正な補
正利得が得られない場合が生じる。
整手段ではサーボゲインの変動に対処できず、適正な補
正利得が得られない場合が生じる。
本発明は上記従来の問題点に着目してなされたものであ
り、光学式ピックアップのプレー中における種々の条件
の変動に伴うエラー信号出力の変化に対応して、サーボ
ゲインを変化させるようにし、常に適正な補正利得が得
られるようにした光学式ピックアップのサーボゲイン制
御装置を提供することを目的としている。
り、光学式ピックアップのプレー中における種々の条件
の変動に伴うエラー信号出力の変化に対応して、サーボ
ゲインを変化させるようにし、常に適正な補正利得が得
られるようにした光学式ピックアップのサーボゲイン制
御装置を提供することを目的としている。
本発明のサーボゲイン制御装置は、記録媒体に対向する
対物レンズと、対物レンズに検知ビームを送る発光部材
と、記録媒体からの反射ビームを受ける受光部材と、対
物レンズを補正動作させるアクチュエータとが備えられ
ている光学式ピックアップにおいて、前記受光部材に接
続されているエラー信号検出回路と、このエラー信号検
出回路からの出力のうち所定の周波数の信号をとり出す
周波数選択回路と、この所定の周波数の信号を検波し平
滑化する検波平滑回路と、検波し平滑化された直流信号
を制御信号としてサーボゲインを変化させる制御手段と
、この制御手段からの信号によってアクチュエータを駆
動するドライブ回路とを有していることを特徴とするも
のである。
対物レンズと、対物レンズに検知ビームを送る発光部材
と、記録媒体からの反射ビームを受ける受光部材と、対
物レンズを補正動作させるアクチュエータとが備えられ
ている光学式ピックアップにおいて、前記受光部材に接
続されているエラー信号検出回路と、このエラー信号検
出回路からの出力のうち所定の周波数の信号をとり出す
周波数選択回路と、この所定の周波数の信号を検波し平
滑化する検波平滑回路と、検波し平滑化された直流信号
を制御信号としてサーボゲインを変化させる制御手段と
、この制御手段からの信号によってアクチュエータを駆
動するドライブ回路とを有していることを特徴とするも
のである。
本発明では、サーボゲインを制御するための制御信号と
して、サーボのエラー信号のうち所定の周波数における
出力をとり出して制御信号として利用したことを特徴と
している。エラー信号検出回路からの出力には、第３図
に示すように種々の周波数の信号が含まれている。この
信号のうちトラッキングサーボでは、例えば、５００Ｈ
ｚ程度あるいはそれ以上の帯域のものを基準としてサー
ボが行なわれる０本発明では、これよりもさらに高い帯
域の半導体素子などのノイズ成分子１ （約ＩＫＨｚ）
やｆｌ （２〜５ＫＨｚ）の帯域の周波数における出力
レベルの変化に着目したものである。すなわち、サーボ
装置の特色として、第３図の実線で示す出力（Ａ）が理
想的なサーボゲインのときのエラー信号であるとすると
、サーボゲインが高過ぎるときにはエラー信号は破線で
示す出力レベル（Ｂ）となり、サーボゲインが低過ぎる
ときには鎖線で示す出力レベル（Ｃ）となる、そこで、
このレベルの変化において、前記の高い帯域の周波数ｆ
】について着目し、このｆｌにおける出力の強弱の変化
をサーボゲインの制御信号として利用するようにしたも
のである。
して、サーボのエラー信号のうち所定の周波数における
出力をとり出して制御信号として利用したことを特徴と
している。エラー信号検出回路からの出力には、第３図
に示すように種々の周波数の信号が含まれている。この
信号のうちトラッキングサーボでは、例えば、５００Ｈ
ｚ程度あるいはそれ以上の帯域のものを基準としてサー
ボが行なわれる０本発明では、これよりもさらに高い帯
域の半導体素子などのノイズ成分子１ （約ＩＫＨｚ）
やｆｌ （２〜５ＫＨｚ）の帯域の周波数における出力
レベルの変化に着目したものである。すなわち、サーボ
装置の特色として、第３図の実線で示す出力（Ａ）が理
想的なサーボゲインのときのエラー信号であるとすると
、サーボゲインが高過ぎるときにはエラー信号は破線で
示す出力レベル（Ｂ）となり、サーボゲインが低過ぎる
ときには鎖線で示す出力レベル（Ｃ）となる、そこで、
このレベルの変化において、前記の高い帯域の周波数ｆ
】について着目し、このｆｌにおける出力の強弱の変化
をサーボゲインの制御信号として利用するようにしたも
のである。
以下１本発明の実施例を第１図、第２図によって説明す
る、 まず、第１図の実施例について説明する。
る、 まず、第１図の実施例について説明する。
この実施例では、サーボゲインを変化させる制御手段と
してアナログ乗算器２３が使用されており、これが、第
４図の従来例におけるサーボゲイン調整器１４の代わり
に設けられている。また、エラー信号検出回路１１から
の出力信号のうち、ｆ＋ （約ＩＫＨｚ）の帯域のも
のをとり出す周波数選択回路（フィルター）２１と、こ
の出力を検波し且つ平滑化する検波平滑回路２２とが設
けられている。この検波平滑回路２２は、第１図に示す
ようにダイオード、抵抗器および容量の大きいコンデン
サとから構成されている。
してアナログ乗算器２３が使用されており、これが、第
４図の従来例におけるサーボゲイン調整器１４の代わり
に設けられている。また、エラー信号検出回路１１から
の出力信号のうち、ｆ＋ （約ＩＫＨｚ）の帯域のも
のをとり出す周波数選択回路（フィルター）２１と、こ
の出力を検波し且つ平滑化する検波平滑回路２２とが設
けられている。この検波平滑回路２２は、第１図に示す
ようにダイオード、抵抗器および容量の大きいコンデン
サとから構成されている。
また、へ−２ド３は第４図に示したものと同様に、ディ
スクｌに対向する対物レンズ３ａ、発光部材（レーザダ
イオード）３ｂ、ビームスプリッタ３Ｃ１受光素子（ホ
トダイオード）３ｄなどからなる光学部材を搭載してい
る。また、対物レンズ３ａを駆動するアクチュエータ４
は、フを一カスサーボ装置とトラッキングサーボ装置と
を構成している。そして、受光部材３ｄはエラー信１号
検出回路１１に接続されている。また、アナログ乗算器
２３は位相保障回路１２に接続され、さらにアクチュエ
ータドライブ回路１３を制御するようになっている。。
スクｌに対向する対物レンズ３ａ、発光部材（レーザダ
イオード）３ｂ、ビームスプリッタ３Ｃ１受光素子（ホ
トダイオード）３ｄなどからなる光学部材を搭載してい
る。また、対物レンズ３ａを駆動するアクチュエータ４
は、フを一カスサーボ装置とトラッキングサーボ装置と
を構成している。そして、受光部材３ｄはエラー信１号
検出回路１１に接続されている。また、アナログ乗算器
２３は位相保障回路１２に接続され、さらにアクチュエ
ータドライブ回路１３を制御するようになっている。。
この装置において、フォーカスあるいはトラッキングの
エラー信号はエラー信号検出回路１１によって検出され
る。この検出信号のうち、半導体素子のノイズ信号など
に相当するｆｌの周波数成分が周波数選択回路２１によ
ってとり出される。
エラー信号はエラー信号検出回路１１によって検出され
る。この検出信号のうち、半導体素子のノイズ信号など
に相当するｆｌの周波数成分が周波数選択回路２１によ
ってとり出される。
さらにこの出力成分は検波平滑回路２２によって検波さ
れ平滑化されて直流信号ｅが得られる。前述の如く、サ
ーボゲインが高過ざているときには、エラー信号が第３
図の（Ｂ）にて示すように低いレベルになっており、こ
の直流信号ｅも低い電圧となって出力される。よって、
この直流信号ｅがアナログ乗算器２３に入力されると、
低い乗算数がかけられることになりサーボゲインが下げ
られることになる。その結果、エラー信号検出回路１１
からの出力が、第３図の（Ａ）で示すレベルに近づくよ
うに制御される。逆に、サーボゲインが低過ぎていると
きには、エラー信号は第３図の（−Ｃ）にて示すような
高いレベルとなっており、前記直流信号ｅが高い電圧に
て出力される。
れ平滑化されて直流信号ｅが得られる。前述の如く、サ
ーボゲインが高過ざているときには、エラー信号が第３
図の（Ｂ）にて示すように低いレベルになっており、こ
の直流信号ｅも低い電圧となって出力される。よって、
この直流信号ｅがアナログ乗算器２３に入力されると、
低い乗算数がかけられることになりサーボゲインが下げ
られることになる。その結果、エラー信号検出回路１１
からの出力が、第３図の（Ａ）で示すレベルに近づくよ
うに制御される。逆に、サーボゲインが低過ぎていると
きには、エラー信号は第３図の（−Ｃ）にて示すような
高いレベルとなっており、前記直流信号ｅが高い電圧に
て出力される。
よって、この信号がアナログ乗算器２３に入力されると
、高い乗算数がかけられることになり、サーボゲインが
上げられることになる。したがって、エラー信号出力も
第３図の（Ａ）に近づくように制御される。
、高い乗算数がかけられることになり、サーボゲインが
上げられることになる。したがって、エラー信号出力も
第３図の（Ａ）に近づくように制御される。
このようなサーボゲイン調整が自動的に行なわれること
により、プレーヤの使用環境や、アクチュエータ４の動
作感度の変動に対応して、適正なアクチュエータの駆動
利得が常に得られることになる。
により、プレーヤの使用環境や、アクチュエータ４の動
作感度の変動に対応して、適正なアクチュエータの駆動
利得が常に得られることになる。
なお、実際の装置では、検波平滑回路２２とアナログ乗
算器２３との間に可変抵抗器などの出力調整器を設け、
アナログ乗算器２３に入力される直流信号ｅの初期値を
工場での調！１没階で調整できるようにしてもよい、す
なわち、上記出力調整器を設けて直流信号ｅを変えるこ
とにより、エラー信号検出回路１１からの出力信号が第
３図の実線で示す最適なレベル（Ａ）であるときに ア
ナログ乗算器２３にて、サーボゲインが最適に行なわれ
る乗算数が掛けられるように設定できることになる。
算器２３との間に可変抵抗器などの出力調整器を設け、
アナログ乗算器２３に入力される直流信号ｅの初期値を
工場での調！１没階で調整できるようにしてもよい、す
なわち、上記出力調整器を設けて直流信号ｅを変えるこ
とにより、エラー信号検出回路１１からの出力信号が第
３図の実線で示す最適なレベル（Ａ）であるときに ア
ナログ乗算器２３にて、サーボゲインが最適に行なわれ
る乗算数が掛けられるように設定できることになる。
次に、第２図に示す実施例について説明する。
この実施例は、第１図に示す実施例をさらに改良したも
のである。すなわち、第１図に示す実施例では、エラー
信号のうちｆ、の周波数成分のみに着目しているが、こ
の場合、次のような不都合が生じることがある。ｆｌの
周波数成分は主に半導体素子の発生するノイズによるも
のであるが、例えば、温度変化などにより、サーボゲイ
ンとは無間係にｆｌの出力成分のみが増減することがあ
る。この場合、第１図に、おいて、検波平滑回路２２か
も出力される直流信号ｅが変化することになる。これに
よりサーボゲインが変動したのと同じ制御が行なわれ
サーボゲインの不必要な制御が行なわれることになる。
のである。すなわち、第１図に示す実施例では、エラー
信号のうちｆ、の周波数成分のみに着目しているが、こ
の場合、次のような不都合が生じることがある。ｆｌの
周波数成分は主に半導体素子の発生するノイズによるも
のであるが、例えば、温度変化などにより、サーボゲイ
ンとは無間係にｆｌの出力成分のみが増減することがあ
る。この場合、第１図に、おいて、検波平滑回路２２か
も出力される直流信号ｅが変化することになる。これに
よりサーボゲインが変動したのと同じ制御が行なわれ
サーボゲインの不必要な制御が行なわれることになる。
第２図の実施例ではこのような不要の制御を防止するた
め、ｆｌの周波数成分の他に、さらに高い周波数成分子
２ （２〜５ＫＨｚ）を使用している。
め、ｆｌの周波数成分の他に、さらに高い周波数成分子
２ （２〜５ＫＨｚ）を使用している。
第３図から解るよ）に、このｆｌの周波数成分は、エラ
ー信号検出回路１１からの出力のうち。
ー信号検出回路１１からの出力のうち。
サーボゲインの増減によって変動しない帯域のものを使
用している。また、実線で示す適正なサーボゲインのと
きのニラ−信号（Ａ）では、ｆ、の成分における信号レ
ベルとｆｌの成分における信号レベルとがほぼ同じ強度
になっている。
用している。また、実線で示す適正なサーボゲインのと
きのニラ−信号（Ａ）では、ｆ、の成分における信号レ
ベルとｆｌの成分における信号レベルとがほぼ同じ強度
になっている。
この点に着目し、第２図の実施例では、ｆｌの周波数成
分をとり出す周波数選択回路２１の他に、ｆｌの周波数
成分をとり出す周波数選択回路２４ならびにこれに接続
されている検波平滑回路２５が設けられている。そして
、ｆ、の周波数成分からとり出され且つ検波平滑回路２
２を経て出力される直流信号ｅ１と、ｆｌの周波数成分
からとり出され且つ検波平滑回路２５を経て出力される
直流信号ｅ２とが比較されるようになっている。第３図
に示すように、サーボゲインが適正なとき（出力レベル
（Ａ）のと３）にはｅｌλ、ｅｌとなり、サーボゲイン
が高過ぎるとき（出力、レベル（Ｂ）のとき）にはｅｌ
＜ｅｌとなり、サーボゲインが低過ぎるとき（出力レ
ベル（Ｃ）のとき）にはｅｌ ＞ｅｌとなる。
分をとり出す周波数選択回路２１の他に、ｆｌの周波数
成分をとり出す周波数選択回路２４ならびにこれに接続
されている検波平滑回路２５が設けられている。そして
、ｆ、の周波数成分からとり出され且つ検波平滑回路２
２を経て出力される直流信号ｅ１と、ｆｌの周波数成分
からとり出され且つ検波平滑回路２５を経て出力される
直流信号ｅ２とが比較されるようになっている。第３図
に示すように、サーボゲインが適正なとき（出力レベル
（Ａ）のと３）にはｅｌλ、ｅｌとなり、サーボゲイン
が高過ぎるとき（出力、レベル（Ｂ）のとき）にはｅｌ
＜ｅｌとなり、サーボゲインが低過ぎるとき（出力レ
ベル（Ｃ）のとき）にはｅｌ ＞ｅｌとなる。
したがって、第２図の実施例では、ｅｌとｅｌの差をと
り、この差に、バイアス発生回路２６によって一定のバ
イアス電圧を加え、その結果の直流信号ｅをアナログ乗
算器２３に入力している。
り、この差に、バイアス発生回路２６によって一定のバ
イアス電圧を加え、その結果の直流信号ｅをアナログ乗
算器２３に入力している。
この直流信号ｅ、に基づく乗３Ｉ数に従ってサーボゲイ
ンを制御すれば、エラー信号の出力が高過ぎると、きに
サーボゲインが上げられ、エラー信号の出力が低過ぎる
ときにサーボゲインが下げられるように制御されること
になる。
ンを制御すれば、エラー信号の出力が高過ぎると、きに
サーボゲインが上げられ、エラー信号の出力が低過ぎる
ときにサーボゲインが下げられるように制御されること
になる。
なお、第３図におけるエラー信号が（Ａ）のと！！（サ
ーボゲインが最適な状態のとき）、ｅｒ −８２’ｔ
Ｏとなるので、この状態のとき、アナログ乗算器２３に
入力される直流信号ｅはバイアス発生回路２６によるバ
イアス電圧とほぼ等しくなる。よって、アナログ乗算器
２３においてサーボゲインを最適とする乗算数が得られ
る電圧値と、前記／ヘイアス電圧とが等しくなるように
設定しておけば、エラー信号のレベルが（Ａ）で示す最
適な状態のときにＣｅｔ−ｅ２’！０のときに）アナロ
グ乗算器２３により最適の乗算数が掛けられ、このとき
にはサーボゲインが変動させられないようになる。
ーボゲインが最適な状態のとき）、ｅｒ −８２’ｔ
Ｏとなるので、この状態のとき、アナログ乗算器２３に
入力される直流信号ｅはバイアス発生回路２６によるバ
イアス電圧とほぼ等しくなる。よって、アナログ乗算器
２３においてサーボゲインを最適とする乗算数が得られ
る電圧値と、前記／ヘイアス電圧とが等しくなるように
設定しておけば、エラー信号のレベルが（Ａ）で示す最
適な状態のときにＣｅｔ−ｅ２’！０のときに）アナロ
グ乗算器２３により最適の乗算数が掛けられ、このとき
にはサーボゲインが変動させられないようになる。
以上のように本発明によれば、温度などの環境変化や、
ディスクの記録面のばらつき、さらにはサーボ機構の動
作感度や半導体素子の特性変化などによってエラー信号
が変化した場合に、サーボゲインを自動的に制御できる
ようになる。よって、フォーカスやトラッキングなどの
サーボ特性を常に良好な状態に保てることになり、機器
の特性を安定させることができるようになる。
ディスクの記録面のばらつき、さらにはサーボ機構の動
作感度や半導体素子の特性変化などによってエラー信号
が変化した場合に、サーボゲインを自動的に制御できる
ようになる。よって、フォーカスやトラッキングなどの
サーボ特性を常に良好な状態に保てることになり、機器
の特性を安定させることができるようになる。
第１図、第２図は本発明によるサーボゲイン制御装置を
実施個別に示す回路構成図、第３図はエラー信号検出回
路からの出力強度を周波数分布に対応して示す線図、第
４図は従来の光学式ピックアップのサーボ装置の回路構
成図である。 ｌ・・・ディスク（記録媒体）、３・・・光学式ピック
アップのヘッド、３ａ・・・対物レンズ、３ｂ・・・発
光部材、３ｄ・・・受光部材、２１．２４・・・周波数
選択回路、２２．２５・・・検波平滑回路。
実施個別に示す回路構成図、第３図はエラー信号検出回
路からの出力強度を周波数分布に対応して示す線図、第
４図は従来の光学式ピックアップのサーボ装置の回路構
成図である。 ｌ・・・ディスク（記録媒体）、３・・・光学式ピック
アップのヘッド、３ａ・・・対物レンズ、３ｂ・・・発
光部材、３ｄ・・・受光部材、２１．２４・・・周波数
選択回路、２２．２５・・・検波平滑回路。
Claims (4)
- （１）記録媒体に対向する対物レンズと、対物レンズに
検知ビームを送る発光部材と、記録媒体からの反射ビー
ムを受ける受光部材と、対物レンズを補正動作させるア
クチュエータとが備えられている光学式ピックアップに
おいて、前記受光部材に接続されているエラー信号検出
回路と、このエラー信号検出回路からの出力のうち所定
の周波数の信号をとり出す周波数選択回路と、この所定
の周波数の信号を検波し平滑化する検波平滑回路と、検
波し平滑化された直流信号を制御信号としてサーボゲイ
ンを変化させる制御手段と、この制御手段からの信号に
よってアクチュエータを駆動するドライブ回路とを有し
ていることを特徴とする光学式ピックアップのサーボゲ
イン制御装置。 - （２）サーボゲインを変化させる制御手段がアナログ乗
算器である特許請求の範囲第１項記載の光学式ピックア
ップのサーボゲイン制御装置。 - （３）周波数選択回路は異なる周波数の出力をとり出す
ために２つ設けられており、且つサーボゲインを変化さ
せる制御手段は、上記２つの出力の差にバイアス電圧を
加えたものが入力されるアナログ乗算器である特許請求
の範囲第１項記載の光学式ピックアップのサーボゲイン
制御装置。 - （４）周波数選択回路によってとり出される出力は、エ
ラー信号検出回路からの出力のうちの高周波域のノイズ
成分である特許請求の範囲第１項記載の光学式ピックア
ップのサーボゲイン制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26148484A JPS61139934A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 光学式ピツクアツプのサ−ボゲイン制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26148484A JPS61139934A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 光学式ピツクアツプのサ−ボゲイン制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61139934A true JPS61139934A (ja) | 1986-06-27 |
| JPH0434210B2 JPH0434210B2 (ja) | 1992-06-05 |
Family
ID=17362544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26148484A Granted JPS61139934A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 光学式ピツクアツプのサ−ボゲイン制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61139934A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0294081A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-04-04 | Pioneer Electron Corp | ディスクプレーヤのサーボ装置 |
| JPH02183428A (ja) * | 1989-01-09 | 1990-07-18 | Sony Corp | 光ディスク装置のサーボオートゲインコントロール回路 |
| US8191890B2 (en) | 2010-03-19 | 2012-06-05 | Selex Elsag S.P.A. | Singulator device for standard and extended postal objects |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53149003A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-26 | Victor Co Of Japan Ltd | Loop gain adjusting circuit for servo-circuit |
-
1984
- 1984-12-11 JP JP26148484A patent/JPS61139934A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53149003A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-26 | Victor Co Of Japan Ltd | Loop gain adjusting circuit for servo-circuit |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0294081A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-04-04 | Pioneer Electron Corp | ディスクプレーヤのサーボ装置 |
| JPH02183428A (ja) * | 1989-01-09 | 1990-07-18 | Sony Corp | 光ディスク装置のサーボオートゲインコントロール回路 |
| US8191890B2 (en) | 2010-03-19 | 2012-06-05 | Selex Elsag S.P.A. | Singulator device for standard and extended postal objects |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0434210B2 (ja) | 1992-06-05 |
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