JPS61162782A - シンチレ−シヨンカメラ - Google Patents
シンチレ−シヨンカメラInfo
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- JPS61162782A JPS61162782A JP60002634A JP263485A JPS61162782A JP S61162782 A JPS61162782 A JP S61162782A JP 60002634 A JP60002634 A JP 60002634A JP 263485 A JP263485 A JP 263485A JP S61162782 A JPS61162782 A JP S61162782A
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 92
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 53
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 34
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 25
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 claims description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、放射線を利用して被検体の医学診断等を行う
シンチレーションカメラに関シ、特に放射線演出器の光
電子増倍管の感度変動を常時検出すると共に自動調整す
ることにより該光電子増倍管の感度変動を阻止すること
ができるシンチレーションカメラに関する。
シンチレーションカメラに関シ、特に放射線演出器の光
電子増倍管の感度変動を常時検出すると共に自動調整す
ることにより該光電子増倍管の感度変動を阻止すること
ができるシンチレーションカメラに関する。
従来の技術
シンチレーションカメラは、被検体たとえば人体く注入
されたラジオアイソトープ等の体内の分布状態を放射線
検出器で検出し、その電気信号を位置計算回路に取込ん
でＸ、Ｙ方向の座標和変換し、これにより入射放射線の
分布像を陰極線管等の表示装置に表示するものである。
されたラジオアイソトープ等の体内の分布状態を放射線
検出器で検出し、その電気信号を位置計算回路に取込ん
でＸ、Ｙ方向の座標和変換し、これにより入射放射線の
分布像を陰極線管等の表示装置に表示するものである。
そして、近年、シンチレーションカメラのイメージ像の
均一性はマイクロコンピュータを用いた補正手段の導入
により非常に向上してきている。しかし、この種の補正
手段は、シンチレーションカメラ本体の均一性を計測し
て補正データを作り、この補正データによってシンチレ
ーションカメラのイメージ信号に補正を加えることによ
り均一性を改善するものである為、上記シンチレーショ
ンカメラ本体の均一性が変化すると、上記補正データが
適当でなくなり、やはり均一性は劣化してしまうことに
なる。
均一性はマイクロコンピュータを用いた補正手段の導入
により非常に向上してきている。しかし、この種の補正
手段は、シンチレーションカメラ本体の均一性を計測し
て補正データを作り、この補正データによってシンチレ
ーションカメラのイメージ信号に補正を加えることによ
り均一性を改善するものである為、上記シンチレーショ
ンカメラ本体の均一性が変化すると、上記補正データが
適当でなくなり、やはり均一性は劣化してしまうことに
なる。
ここで、シンチレーションカメラ本体の均一性が変化す
る最も大きな要因は、放射線検出器の光４子増倍管の感
度の経時的な変動である。
る最も大きな要因は、放射線検出器の光４子増倍管の感
度の経時的な変動である。
これに対処して、従来、上記光電子増倍管の感度の変動
を検出し除去するため、次のようにしていた。すなわち
、第５図に示すように、シンチンータ１と、複数個の光
電子増倍管２と、位置計算回路３と、表示装置４とを有
するシンチレーションカメラにおいて、！：記光【α子
増倍管２の感度の変動量を検出して調整する回路として
、切換スイッチ５と、信号切換回路６と、平均値回路７
と、補正値計算回路８と、補正値メモリ９と、補正回路
１０と、ランプ１１とからなる回路を設けていた。その
ｔＡ整動作は、まず、一端に小孔をあけてｒ線等の放射
線を細いビーム状に照射するようにした円筒状の鉛容器
１２内にラジオアイソトープ等の放射線源を入れ、この
鉛容器１２を感度を調整したい光電子増倍管２の直下く
設置する。次に、切換スイッチ５によって信号切換回路
６を切り換え、複数個の光電子増倍管２からの出力信号
のうち、調整したい光電子増倍管２のみの出力信号を平
均値回路７へ入力する。この平均値回路７では、一定個
数（例えば１０００個）の入射放射線について上記光電
子増倍管２の出力信号の大きさを加算平均し、該光電子
増倍’＃２の出力信号の統計学的なゆらぎを除去する。
を検出し除去するため、次のようにしていた。すなわち
、第５図に示すように、シンチンータ１と、複数個の光
電子増倍管２と、位置計算回路３と、表示装置４とを有
するシンチレーションカメラにおいて、！：記光【α子
増倍管２の感度の変動量を検出して調整する回路として
、切換スイッチ５と、信号切換回路６と、平均値回路７
と、補正値計算回路８と、補正値メモリ９と、補正回路
１０と、ランプ１１とからなる回路を設けていた。その
ｔＡ整動作は、まず、一端に小孔をあけてｒ線等の放射
線を細いビーム状に照射するようにした円筒状の鉛容器
１２内にラジオアイソトープ等の放射線源を入れ、この
鉛容器１２を感度を調整したい光電子増倍管２の直下く
設置する。次に、切換スイッチ５によって信号切換回路
６を切り換え、複数個の光電子増倍管２からの出力信号
のうち、調整したい光電子増倍管２のみの出力信号を平
均値回路７へ入力する。この平均値回路７では、一定個
数（例えば１０００個）の入射放射線について上記光電
子増倍管２の出力信号の大きさを加算平均し、該光電子
増倍’＃２の出力信号の統計学的なゆらぎを除去する。
次に、上記平均値回路Ｔからの加算平均値は、補正値計
算回路８へ入力する。この補正値計算回路８は、まず、
上記入力した加算平均値と、入射放射線のエネルギによ
って決まる基準値との差を求め、この差が調整したい光
電子増倍管２の感度の変動量に相当する。上記補正値計
算回路８は、次に、補正値メモリ９から切換スイッチ５
で切り換えた光電子増倍管２の前回の補正値を読み出し
、上 −記加算平均値と基準値との差に基いて感度の
変動を除去する方向へ補正値を修正し、新しい補正値を
上記補正値メモリ９に書き込む。そして、この補正値メ
モリ９からの新しい補正値によって、補正回路１０は、
調整したい光電子増倍管２の印加電圧を制御し、当該光
電子増倍管２の４１５減少させる。以上の平均値回路Ｔ
における加算平均動作と、補正値計算回路８における補
正値修正動作は、該補正値計算回路８において加算平均
値と基準値とが一致するまで繰り返される。そして、上
記加算平均値と基準値とが一致すると、補正値計算回路
８はランプ１１を点灯し、調整したい光電子増倍管２の
感度変動のｌＡ贅が終了したことを知らせる。このよう
にして、全ての光電子増倍管２について放射線源の鉛容
器１２をいちいちその直下に設置して行き、その都度切
換スイッチ５によって信号切換回路６を当該光電子増倍
管２からの出力信号を取り込むように切り換え、上記の
調整動作を各光電子増倍管２の全てに実行して調整を終
了していた。
算回路８へ入力する。この補正値計算回路８は、まず、
上記入力した加算平均値と、入射放射線のエネルギによ
って決まる基準値との差を求め、この差が調整したい光
電子増倍管２の感度の変動量に相当する。上記補正値計
算回路８は、次に、補正値メモリ９から切換スイッチ５
で切り換えた光電子増倍管２の前回の補正値を読み出し
、上 −記加算平均値と基準値との差に基いて感度の
変動を除去する方向へ補正値を修正し、新しい補正値を
上記補正値メモリ９に書き込む。そして、この補正値メ
モリ９からの新しい補正値によって、補正回路１０は、
調整したい光電子増倍管２の印加電圧を制御し、当該光
電子増倍管２の４１５減少させる。以上の平均値回路Ｔ
における加算平均動作と、補正値計算回路８における補
正値修正動作は、該補正値計算回路８において加算平均
値と基準値とが一致するまで繰り返される。そして、上
記加算平均値と基準値とが一致すると、補正値計算回路
８はランプ１１を点灯し、調整したい光電子増倍管２の
感度変動のｌＡ贅が終了したことを知らせる。このよう
にして、全ての光電子増倍管２について放射線源の鉛容
器１２をいちいちその直下に設置して行き、その都度切
換スイッチ５によって信号切換回路６を当該光電子増倍
管２からの出力信号を取り込むように切り換え、上記の
調整動作を各光電子増倍管２の全てに実行して調整を終
了していた。
発明が解決しようとする問題点
しかし、このようなシンチレーションカメラにおいては
、放射線源の鉛容器１２をいちいち複数個の光電子増倍
ｆ２の全てについてその直下に設置すべく移動しなけれ
ばならないと共に、その都度切換スイッチ５を操作して
信号切換回路６を切り換えなければならず、感度調整の
ための操作が複雑であった。これに対して、上記鉛容器
１２の移動や切換スイッチ５の操作を自動化した場合は
、感度調整のための構成が複雑かつ大形化するものであ
った。また、被検体に対する検査の時以外に、光電子増
倍管２の感度を調整する時間を特別にとって調整しなけ
ればならず、該光電子増倍管２の経時的な感度変動を常
時検出して除去することはできなかった。
、放射線源の鉛容器１２をいちいち複数個の光電子増倍
ｆ２の全てについてその直下に設置すべく移動しなけれ
ばならないと共に、その都度切換スイッチ５を操作して
信号切換回路６を切り換えなければならず、感度調整の
ための操作が複雑であった。これに対して、上記鉛容器
１２の移動や切換スイッチ５の操作を自動化した場合は
、感度調整のための構成が複雑かつ大形化するものであ
った。また、被検体に対する検査の時以外に、光電子増
倍管２の感度を調整する時間を特別にとって調整しなけ
ればならず、該光電子増倍管２の経時的な感度変動を常
時検出して除去することはできなかった。
そこで、本発明はこのような問題点を除去することを目
的とする。
的とする。
問題点を解決するための手段
上記の問題点を解決する本発明の手段は、入射放射線に
よ・り閃光を発するシンチレータと、このシンチレータ
に光学的く結合されて光を電気信号に変換する複数個の
光電子増倍管と、これらの光電子増倍管の出力信号に基
いて放射線の入射位置を演算して位置信号及び表示信号
を表示装置へ出力する位置計算回路とを存し、被検体か
らの入射放射線の分布像を得るシンチレーションカメラ
において、上記位置計算回路からの位置信号によって放
射線がどの光電子増倍管の直下に入射したかを判定し当
該光電子増倍管の出力信号のみを通過させ、る光電子増
倍管切換回路を設け、この光電子増倍管切換回路からの
出力信号を各光電子増倍管毎に所定個数の入射放射線に
対して加算平均し上記光電子増倍管の出力信号の大きさ
を平均化する平均値回路を設け、この平均値回路からの
平均化された出力信号の大きさと入射放射線のエネルギ
によって決、まる基準値とを比較して各光電子増倍管の
感度の変動量を検出し各光電子増倍管に対する補正値を
計算する補正値計算回路を設けると共に、上記補正値に
基いて上記各光電子増倍管へのそれぞれの印加電圧を制
御して各々の光電子増倍管の感度を自動調整する光電子
増倍管補正回路を設けたことを特徴とするシンチレーシ
ョンカメラによってなされる。
よ・り閃光を発するシンチレータと、このシンチレータ
に光学的く結合されて光を電気信号に変換する複数個の
光電子増倍管と、これらの光電子増倍管の出力信号に基
いて放射線の入射位置を演算して位置信号及び表示信号
を表示装置へ出力する位置計算回路とを存し、被検体か
らの入射放射線の分布像を得るシンチレーションカメラ
において、上記位置計算回路からの位置信号によって放
射線がどの光電子増倍管の直下に入射したかを判定し当
該光電子増倍管の出力信号のみを通過させ、る光電子増
倍管切換回路を設け、この光電子増倍管切換回路からの
出力信号を各光電子増倍管毎に所定個数の入射放射線に
対して加算平均し上記光電子増倍管の出力信号の大きさ
を平均化する平均値回路を設け、この平均値回路からの
平均化された出力信号の大きさと入射放射線のエネルギ
によって決、まる基準値とを比較して各光電子増倍管の
感度の変動量を検出し各光電子増倍管に対する補正値を
計算する補正値計算回路を設けると共に、上記補正値に
基いて上記各光電子増倍管へのそれぞれの印加電圧を制
御して各々の光電子増倍管の感度を自動調整する光電子
増倍管補正回路を設けたことを特徴とするシンチレーシ
ョンカメラによってなされる。
実施例
以下・、本発明の実施例を添付図面に基いて詳細に説明
する。
する。
第１図は本発明忙よるシンチレーションカメラを示すブ
ロック図である。このシンチレーションカメラは、シン
チレータ１と、複数個の光電子増倍管２と、位置計算回
路３と、表示装置４と、光電子増倍管切換回路１５と、
平均値回路１６と、補正値計算回路１Ｔと、光電子増倍
゛管補正回路１８とを有して成る。
ロック図である。このシンチレーションカメラは、シン
チレータ１と、複数個の光電子増倍管２と、位置計算回
路３と、表示装置４と、光電子増倍管切換回路１５と、
平均値回路１６と、補正値計算回路１Ｔと、光電子増倍
゛管補正回路１８とを有して成る。
上記シンチレータ１は、被検体等の放射線源１９から放
出されたｒ線等の放射線が入射するとその入射点で閃光
を発することにより１．入射放射線を検出するものであ
る。上記シンチレータ１の背面には、その全面にわたっ
て複数個の光電子増倍管２が配列されている。この光電
子増倍管２は、上記シンチレータ１の閃光を検出してそ
の入射光量に比例する大きさの電気信号に変換して出力
するものである。上記光電子増倍管２からの出力信号は
、位置計算回路３へ入力する。この位置計算回路３は、
上記各光電子増倍管２からの出力信号の大きさの差から
放射線の入射位置を計算し、Ｘ、Ｙ方向の座標に変換し
て位置信号Ｘｙ Ｙを出力すると共に、表示信号Ｕを
出力するものである。上記位置計算回路３からの位置信
号Ｘｅ Ｙ及び表示信号Ｕは、表示装置４へ入力する
。この表示装置４は、位置信号ｘ、ｙに対応する位置に
表示信号Ｕにより輝点を表示し、この輝点群によって被
検体からの入射放射線の分布像が表示される。
出されたｒ線等の放射線が入射するとその入射点で閃光
を発することにより１．入射放射線を検出するものであ
る。上記シンチレータ１の背面には、その全面にわたっ
て複数個の光電子増倍管２が配列されている。この光電
子増倍管２は、上記シンチレータ１の閃光を検出してそ
の入射光量に比例する大きさの電気信号に変換して出力
するものである。上記光電子増倍管２からの出力信号は
、位置計算回路３へ入力する。この位置計算回路３は、
上記各光電子増倍管２からの出力信号の大きさの差から
放射線の入射位置を計算し、Ｘ、Ｙ方向の座標に変換し
て位置信号Ｘｙ Ｙを出力すると共に、表示信号Ｕを
出力するものである。上記位置計算回路３からの位置信
号Ｘｅ Ｙ及び表示信号Ｕは、表示装置４へ入力する
。この表示装置４は、位置信号ｘ、ｙに対応する位置に
表示信号Ｕにより輝点を表示し、この輝点群によって被
検体からの入射放射線の分布像が表示される。
上記位置計算回路３からの位置信号Ｘｙ Ｙは、光電子
増倍管切換回路１５へも入力する。この光電子増倍管切
換回路１５は、上記位置信号Ｘ。
増倍管切換回路１５へも入力する。この光電子増倍管切
換回路１５は、上記位置信号Ｘ。
ｙによって放射線がどの光電子増倍ｆ２の直下に入射し
たかを判定し当該光電子増倍管２の出力信号のみを通過
させるもので、視野区分回路１５ａと、計数率判定回路
１５ｂと、信号切換回路１５ｃとからなる。上記視野区
分回路１５ａは、入射放射線に対するカメラ視野を各光
電子増倍管２毎に区分して区分信号Ｓ１を出力するもの
で、第２図に示すように、破線の円形で示した各光電子
増倍管２，２・−・の受光領域Ａ。
たかを判定し当該光電子増倍管２の出力信号のみを通過
させるもので、視野区分回路１５ａと、計数率判定回路
１５ｂと、信号切換回路１５ｃとからなる。上記視野区
分回路１５ａは、入射放射線に対するカメラ視野を各光
電子増倍管２毎に区分して区分信号Ｓ１を出力するもの
で、第２図に示すように、破線の円形で示した各光電子
増倍管２，２・−・の受光領域Ａ。
Ａ・−を−個ずつ内部忙囲むように、実線の六角形で示
した電気的な窓Ｗ、Ｗ−・・が上記位置信号Ｘｓ ７に
対して形成されており、放射線がどの光電子増倍管２の
直下に入射したかを区別するようになっている。なお、
上記電気的な窓Ｗは六角形に限られず、例えば円形や四
角形であってもよい。また、第３図に示すように、各光
電子増倍管２，２−・・の受光領域Ａ、Ａ−に対してそ
れよりも半径の小さい電気的な窓Ｗ′として、各光電子
増倍管２の受光領域大の中央部分のみをカメラ視野とす
るように区分してもよい。上記視野区分回路１５ａから
の区分信号Ｓ１は、計数率判定回路１５ｂへ入力する。
した電気的な窓Ｗ、Ｗ−・・が上記位置信号Ｘｓ ７に
対して形成されており、放射線がどの光電子増倍管２の
直下に入射したかを区別するようになっている。なお、
上記電気的な窓Ｗは六角形に限られず、例えば円形や四
角形であってもよい。また、第３図に示すように、各光
電子増倍管２，２−・・の受光領域Ａ、Ａ−に対してそ
れよりも半径の小さい電気的な窓Ｗ′として、各光電子
増倍管２の受光領域大の中央部分のみをカメラ視野とす
るように区分してもよい。上記視野区分回路１５ａから
の区分信号Ｓ１は、計数率判定回路１５ｂへ入力する。
この計数率判定回路１５ｂは、上記各光電子増倍管２に
対応する視野区分での入射放射線の計数率を計測すると
共に特定の光電子増倍管２忙対する切換信号Ｓ２を送出
するもので、上記区分信号Ｓ１を入力すると共に位置計
算回路３からの表示信号Ｕを入力して、□一つの放射線
が入射してきた時にその入射した視野区分の計数率を予
め設定した基準値と比較し、この基準値を越えている場
合にのみその視野区分に属する光電子増倍管２に対する
切換信号Ｓ２を送出するようになっている。上記計数率
判定回路１５ｂからの切換信号Ｓ２は、信号切換回路１
５ｃへ入力する。
対応する視野区分での入射放射線の計数率を計測すると
共に特定の光電子増倍管２忙対する切換信号Ｓ２を送出
するもので、上記区分信号Ｓ１を入力すると共に位置計
算回路３からの表示信号Ｕを入力して、□一つの放射線
が入射してきた時にその入射した視野区分の計数率を予
め設定した基準値と比較し、この基準値を越えている場
合にのみその視野区分に属する光電子増倍管２に対する
切換信号Ｓ２を送出するようになっている。上記計数率
判定回路１５ｂからの切換信号Ｓ２は、信号切換回路１
５ｃへ入力する。
この信号切換回路１５ｃは、複数個の光電子増倍管２，
２−・・の各々の出力゛信号を取り込みそのうちの一つ
だけを通過させるもので、上記切換信号Ｓ２の入力によ
って内部の接点が切り換わる例えばマルチプレクサであ
り、切換信号８２に対応する光電子増倍管２の出力信号
３ｓだけが送出される。
２−・・の各々の出力゛信号を取り込みそのうちの一つ
だけを通過させるもので、上記切換信号Ｓ２の入力によ
って内部の接点が切り換わる例えばマルチプレクサであ
り、切換信号８２に対応する光電子増倍管２の出力信号
３ｓだけが送出される。
上記光電子増倍管切換回路１５の信号切換回路１５ｃか
らの出力信号９３は、平均値回路１１６へ入力する。こ
の平均値回路１６は、上記出力信号Ｓ３を各光電子増倍
管２毎に所定個数の入射放射線に対して加算子′均し、
統計学的なゆらぎを除去し【上記光電子増倍管２の出力
信号Ｓｓの大きさを平均化するもので、第４図に示すよ
うに、ルΦ変換器２０と、加算器２１と、加算値メモリ
２２と、除算器２３と、カクンタ２４と、計数値メ毎り
２５と、制御回路２６とからなる。上記ルΦ変換器２０
は、信号切換回路１５ｃからの光電子増倍管２の出力信
号Ｓ５を入力しで、デジダル量に変換するものである。
らの出力信号９３は、平均値回路１１６へ入力する。こ
の平均値回路１６は、上記出力信号Ｓ３を各光電子増倍
管２毎に所定個数の入射放射線に対して加算子′均し、
統計学的なゆらぎを除去し【上記光電子増倍管２の出力
信号Ｓｓの大きさを平均化するもので、第４図に示すよ
うに、ルΦ変換器２０と、加算器２１と、加算値メモリ
２２と、除算器２３と、カクンタ２４と、計数値メ毎り
２５と、制御回路２６とからなる。上記ルΦ変換器２０
は、信号切換回路１５ｃからの光電子増倍管２の出力信
号Ｓ５を入力しで、デジダル量に変換するものである。
加算器２１は、上記デジタル信号を入力すると共に、加
算値メモリ２２からその時点まで盲加算途中のデータを
読み出し、上記ルΦ変喚器２０からのデジタル信号に加
算してその結果を上記加算値メモリ２２へ戻す。ここで
、この加算値メモリ２２は、複数個の光電子増倍管２と
同数のメモリで構成され、各光電子増倍管２毎のデジタ
ル信号を記憶するようになっている。上記ルΦ変換器２
０か′らデジタル信号が加算器２１へ入力すると同時に
、カクンタ２４へも入力し、その計数値が」つ増加する
。計数値メモリ 。
算値メモリ２２からその時点まで盲加算途中のデータを
読み出し、上記ルΦ変喚器２０からのデジタル信号に加
算してその結果を上記加算値メモリ２２へ戻す。ここで
、この加算値メモリ２２は、複数個の光電子増倍管２と
同数のメモリで構成され、各光電子増倍管２毎のデジタ
ル信号を記憶するようになっている。上記ルΦ変換器２
０か′らデジタル信号が加算器２１へ入力すると同時に
、カクンタ２４へも入力し、その計数値が」つ増加する
。計数値メモリ 。
２５は、上記加算値メモリ２２と同様に複数個□の光電
子増倍管２と同数のメモリで構成され、各光電子増倍管
２毎のデジタル信号の計数値を記憶するものである。除
′Ｓ器２３は、加算値メモリ２２の特定の光電子増倍管
２に対するデジタル信号の全加算値を所定個数の入射放
射線数で除算して加算平均し、その光電子増倍管２の媚
算平均値Ｓ４を出力するものである。制御回路２Ｇは、
特定の光電子増倍管２について上記加算平均が終了した
際に、その光１子増倍管２の補正値の補正値読出し信号
Ｓ！１を出力すると共に、当該光１子増倍管２に対する
加算値メモリ２２内の加算値と計数値メモリ２５内の計
数値をリセットするものである。このような回路構成に
おいて、放射線がある光電子増倍ｆ２の直下に入射する
と、加算値メモリ２２からその光電子増倍管２のその時
点までの加算値が読み出される。すると、加算器２１は
上記加算値を取り込んで、ルΦ変換器２０でデジタル化
された当該光電子増倍管２の信号に加算し、その結果を
加算値メモリ２２へ戻す。また、計数値メモリ２５から
、上記光電子増倍管２のその時点までの計数値がカウン
タ２４に読み出され、その計数値を一つ増して計数値メ
モリ２５に戻される。このようにして、放射線をシンチ
レータ１の全面に照射させて上記の動作を操り返してい
くと、いずれかの光電子増倍管２の計数値が所定個数（
例えば１０００個）の入射放射？ＩＪａに達し、カウン
タ２４は計数終了信号Ｓ４を除算器２３と制御回路２６
へ出力する。そして、除算器２３は、加算値メモリ２２
の上記光電子増倍管２に対するデジタル信号の全加算値
を所定個数で除算して、その光電子増倍管２の加算平均
値Ｓ４が出力される。なお、上記平均値回路１６が第５
図に示す従来例の平均値回路７と異なる点は、複数個の
光電子増倍ｆ２からの出力信号ＳｓＫ対して並行して加
算平均動作ができるようにした点である。
子増倍管２と同数のメモリで構成され、各光電子増倍管
２毎のデジタル信号の計数値を記憶するものである。除
′Ｓ器２３は、加算値メモリ２２の特定の光電子増倍管
２に対するデジタル信号の全加算値を所定個数の入射放
射線数で除算して加算平均し、その光電子増倍管２の媚
算平均値Ｓ４を出力するものである。制御回路２Ｇは、
特定の光電子増倍管２について上記加算平均が終了した
際に、その光１子増倍管２の補正値の補正値読出し信号
Ｓ！１を出力すると共に、当該光１子増倍管２に対する
加算値メモリ２２内の加算値と計数値メモリ２５内の計
数値をリセットするものである。このような回路構成に
おいて、放射線がある光電子増倍ｆ２の直下に入射する
と、加算値メモリ２２からその光電子増倍管２のその時
点までの加算値が読み出される。すると、加算器２１は
上記加算値を取り込んで、ルΦ変換器２０でデジタル化
された当該光電子増倍管２の信号に加算し、その結果を
加算値メモリ２２へ戻す。また、計数値メモリ２５から
、上記光電子増倍管２のその時点までの計数値がカウン
タ２４に読み出され、その計数値を一つ増して計数値メ
モリ２５に戻される。このようにして、放射線をシンチ
レータ１の全面に照射させて上記の動作を操り返してい
くと、いずれかの光電子増倍管２の計数値が所定個数（
例えば１０００個）の入射放射？ＩＪａに達し、カウン
タ２４は計数終了信号Ｓ４を除算器２３と制御回路２６
へ出力する。そして、除算器２３は、加算値メモリ２２
の上記光電子増倍管２に対するデジタル信号の全加算値
を所定個数で除算して、その光電子増倍管２の加算平均
値Ｓ４が出力される。なお、上記平均値回路１６が第５
図に示す従来例の平均値回路７と異なる点は、複数個の
光電子増倍ｆ２からの出力信号ＳｓＫ対して並行して加
算平均動作ができるようにした点である。
上記平均値回路１６からの加算平均値Ｓ４は、補正値計
算回路１７へ入力する。この補正値計算回路１７は、各
光電子増倍管２に対する補正値を計算するもので、まず
、上記加算平均値Ｓ４と入射放射線のエネルギによって
決まる基準値とを比較してその差を求め、こ粍によって
各光電子増倍管２の感度の変動量を検出する。次に、後
述の光電子増倍管補正回路１Ｂの補正値メモ！３１８ａ
から当該光電子増倍管２の前回の補正値を読み出し、上
記変動量を除去する方向へ修正して新しい補正値Ｓ６を
出力するようになっている。
算回路１７へ入力する。この補正値計算回路１７は、各
光電子増倍管２に対する補正値を計算するもので、まず
、上記加算平均値Ｓ４と入射放射線のエネルギによって
決まる基準値とを比較してその差を求め、こ粍によって
各光電子増倍管２の感度の変動量を検出する。次に、後
述の光電子増倍管補正回路１Ｂの補正値メモ！３１８ａ
から当該光電子増倍管２の前回の補正値を読み出し、上
記変動量を除去する方向へ修正して新しい補正値Ｓ６を
出力するようになっている。
上記補正値計算回路１Ｔからの補正値Ｓ６は、光電子増
倍管補正回路１８へ入力する。この光電子増倍管補正回
路１Ｂは、上記補正値Ｓ６に基いて各光電子増倍管２へ
のそれぞれの印加電圧を制御して各々の光電子増倍管２
の感度を自動調整するもので、補正値メモ！７１８ａと
、補正回路１８ｂとからなる。上記補正値メモリ１８ａ
は、各光１子増倍ｆ２毎の補正値Ｓ６を記憶すると共に
、補正回路１８ｂＫそれらの補正値Ｓ６を出力するもの
である。補正回路１８ｂは、複数個の光電子増倍管２と
同数のルへ変換器を有しており、上記補正値メモ９１８
ａから出力される補正値Ｓ６によって各光電子増倍管２
への印加電圧を制御するものである。
倍管補正回路１８へ入力する。この光電子増倍管補正回
路１Ｂは、上記補正値Ｓ６に基いて各光電子増倍管２へ
のそれぞれの印加電圧を制御して各々の光電子増倍管２
の感度を自動調整するもので、補正値メモ！７１８ａと
、補正回路１８ｂとからなる。上記補正値メモリ１８ａ
は、各光１子増倍ｆ２毎の補正値Ｓ６を記憶すると共に
、補正回路１８ｂＫそれらの補正値Ｓ６を出力するもの
である。補正回路１８ｂは、複数個の光電子増倍管２と
同数のルへ変換器を有しており、上記補正値メモ９１８
ａから出力される補正値Ｓ６によって各光電子増倍管２
への印加電圧を制御するものである。
次に、このように構成されたシンチレーションカメラの
動作について、第１図を参照して説明する。まず、被検
体等の放射線源１９から放出されたｒ線等の放射線がシ
ンチレータ１へ入射すると、該シンチレータ１の当該部
位が閃光を発し、この閃光を光電子増倍管２が検出して
その入射光量に比例する大きさの電気信号に変換する。
動作について、第１図を参照して説明する。まず、被検
体等の放射線源１９から放出されたｒ線等の放射線がシ
ンチレータ１へ入射すると、該シンチレータ１の当該部
位が閃光を発し、この閃光を光電子増倍管２が検出して
その入射光量に比例する大きさの電気信号に変換する。
次に、この光電子増倍管２からの出力信号は位置計算回
路３へ入力し、位置計算回路３は位置信号ｘ、ｙと表示
信号Ｕを出力する。
路３へ入力し、位置計算回路３は位置信号ｘ、ｙと表示
信号Ｕを出力する。
次に、位置信号ｘ、ｙは視野区分回路１５ａへ入力し、
この視野区分回路１５ａは上記位置信号ｘ、ｙに対する
電気的な窓Ｗ、Ｗ−（第２図参照）により、放射線がど
の光′成子増倍管２の直下に入射したかを区分して、視
野区分の区分信号Ｓ１を出力する。この区分信号Ｓ１は
計数率判定回路１５ｂへ入力し、計数率判定回路１５ｂ
は、それと同時に位置計算回路３からの表示信号Ｕを入
力して、その光電子増倍管２の視野区分の計数率を予め
設定した基準値と比較し、その基準値を越えている場合
くその視野区分に属する光電子増倍管２に対する切換信
号Ｓ２を出力する。この切換信号Ｓ２は、信号切換回路
１５ｃと平均値回路１６へ人力する。まず、信号切換回
路１５ｃは、上記切換信号Ｓ２により、放射線がその直
下に入射した光電子増倍管２の出力信号Ｓ５だけを平均
値回路１６へ送出する。
この視野区分回路１５ａは上記位置信号ｘ、ｙに対する
電気的な窓Ｗ、Ｗ−（第２図参照）により、放射線がど
の光′成子増倍管２の直下に入射したかを区分して、視
野区分の区分信号Ｓ１を出力する。この区分信号Ｓ１は
計数率判定回路１５ｂへ入力し、計数率判定回路１５ｂ
は、それと同時に位置計算回路３からの表示信号Ｕを入
力して、その光電子増倍管２の視野区分の計数率を予め
設定した基準値と比較し、その基準値を越えている場合
くその視野区分に属する光電子増倍管２に対する切換信
号Ｓ２を出力する。この切換信号Ｓ２は、信号切換回路
１５ｃと平均値回路１６へ人力する。まず、信号切換回
路１５ｃは、上記切換信号Ｓ２により、放射線がその直
下に入射した光電子増倍管２の出力信号Ｓ５だけを平均
値回路１６へ送出する。
次に、平均値回路１６は、その光電子増倍管２について
出力信号Ｓｓの加算平均動作を実行する。この平均値回
路１６は、放射線が入射する毎にその入射した位置の光
電子増倍管２に対してこの動作を操り返し、いずれかの
光電子増倍管２ｖｃおいて入射放射線が所定個数（例え
ば１０００個）に達すると加算平均動作を終了する。
出力信号Ｓｓの加算平均動作を実行する。この平均値回
路１６は、放射線が入射する毎にその入射した位置の光
電子増倍管２に対してこの動作を操り返し、いずれかの
光電子増倍管２ｖｃおいて入射放射線が所定個数（例え
ば１０００個）に達すると加算平均動作を終了する。
そして、その光電子増倍管２についての加算平均値Ｓ４
を補正値計算回路１７へ出力すると共に、その光電子増
倍管２に対する補正値続出し信号Ｓ５を補正値メモ！７
１８ａに出力する。補正値計算回路１７は、上記補正値
読出し信号ｓ５によって補正値メモ！７１８ａから当該
光１子増倍管２の前回の補正値を読み出し、この補正値
を修正して新しい補正値Ｓ６を出力する。この新しい補
正値Ｓ６は補正値メモ９１８ａＫ記憶されると共和、上
記補正値メモリ１８ａから補正回路１８ｂへ出力され、
この補正値Ｓ６によって対応する光電子増倍管２の印加
電圧を制御し、その光電子増倍管２の感度の変動を減少
させる。以上の平均値回路１６における加算平均動作と
、補正値計算回路１Ｔにおゆる補正値修正動作は、該補
正値計算回路１７において加算平均値と基準値とが一致
するまで繰り返される。
を補正値計算回路１７へ出力すると共に、その光電子増
倍管２に対する補正値続出し信号Ｓ５を補正値メモ！７
１８ａに出力する。補正値計算回路１７は、上記補正値
読出し信号ｓ５によって補正値メモ！７１８ａから当該
光１子増倍管２の前回の補正値を読み出し、この補正値
を修正して新しい補正値Ｓ６を出力する。この新しい補
正値Ｓ６は補正値メモ９１８ａＫ記憶されると共和、上
記補正値メモリ１８ａから補正回路１８ｂへ出力され、
この補正値Ｓ６によって対応する光電子増倍管２の印加
電圧を制御し、その光電子増倍管２の感度の変動を減少
させる。以上の平均値回路１６における加算平均動作と
、補正値計算回路１Ｔにおゆる補正値修正動作は、該補
正値計算回路１７において加算平均値と基準値とが一致
するまで繰り返される。
そして、上記両者が一致すると、当該光電子増倍管２の
感度変動の調整が終了する。このようくして各光電子増
倍管２に対応する視野区分への入射放射線数が基準値を
越えると自動的に順次調整が行われ、全ての光電子増倍
管２について感度変動の調整が終了する。
感度変動の調整が終了する。このようくして各光電子増
倍管２に対応する視野区分への入射放射線数が基準値を
越えると自動的に順次調整が行われ、全ての光電子増倍
管２について感度変動の調整が終了する。
発明の効果
本発明は以上説明したように、光電子増倍管切換回路１
５を設けると共に、平均値回路１６及び補正値計算回路
１７並びに光電子増倍管補正回路１８を設げたので、位
置計算回路３からの位置信号Ｘｓ Ｙによって放射線が
どの光電子増倍管２の直下に入射したかを判定し、各光
電子増倍管２についてその感度変動を自動調整すること
ができる。従って、従来のように感度調整のための専用
の放射線源を、いちいち移動することを要さないと共に
七の、都度切懲スイッチを操作することな（、感度ｗ４
整のための特別の操作を省（ことができる。また、上記
光電子増倍管切換回路１５（よって、放、射線がシンチ
レータ１の一部にのみ入射してりる場合は、その放射線
が入射している部分の光電子増倍管２のみの感度調整が
行われると共に他の光電子増倍管２については待機状態
とされ、放射線がシンチレータ１の全面に入射している
場合は、全ての光電子増倍管２について感度調整が順次
自動的釦付われる。このことから、シンチレータ１の一
部にしか入射しない通常、の臨床時の被検者体内から放
出される放射線を利用して、各光電子増倍管２の感度調
整を行うことができる。従って、従来のように感度調整
のための時間を特別〈とることを要さず、シンチレーシ
ョンカメラの使用時に常時感度変動を検出して自動調整
することができ、光電子増倍管２の経時的な感度変動を
阻止することができる。この結果、シンチレーションカ
メラのイメージ像は、常に安定した均一性を得ることが
できる。
５を設けると共に、平均値回路１６及び補正値計算回路
１７並びに光電子増倍管補正回路１８を設げたので、位
置計算回路３からの位置信号Ｘｓ Ｙによって放射線が
どの光電子増倍管２の直下に入射したかを判定し、各光
電子増倍管２についてその感度変動を自動調整すること
ができる。従って、従来のように感度調整のための専用
の放射線源を、いちいち移動することを要さないと共に
七の、都度切懲スイッチを操作することな（、感度ｗ４
整のための特別の操作を省（ことができる。また、上記
光電子増倍管切換回路１５（よって、放、射線がシンチ
レータ１の一部にのみ入射してりる場合は、その放射線
が入射している部分の光電子増倍管２のみの感度調整が
行われると共に他の光電子増倍管２については待機状態
とされ、放射線がシンチレータ１の全面に入射している
場合は、全ての光電子増倍管２について感度調整が順次
自動的釦付われる。このことから、シンチレータ１の一
部にしか入射しない通常、の臨床時の被検者体内から放
出される放射線を利用して、各光電子増倍管２の感度調
整を行うことができる。従って、従来のように感度調整
のための時間を特別〈とることを要さず、シンチレーシ
ョンカメラの使用時に常時感度変動を検出して自動調整
することができ、光電子増倍管２の経時的な感度変動を
阻止することができる。この結果、シンチレーションカ
メラのイメージ像は、常に安定した均一性を得ることが
できる。
第１図は本発明のシンチレーションカメラを示すブロッ
ク図、爾２図は視野区分回路の電気的な窓を示す説明図
、第３図はその変形例を示す説明−１第一４図は平均値
回路の内部構成を示すプセツク図、ｌ／Ｅ５図は従来の
シンチレーションカメラを示すブシツク図である。 １・・・シンチレータ、 ２−光電子増倍管、 ３・・・位置計算回路、 ４・−表示装置、 １５−・・光電子増倍管切換回路、 １５ ａ ＝−視野区分回路、 １５ ｂ −・・計数率判定回路、 １５Ｃ−信号切換回路、 １６−・平均値回路、 １７−・補正値計算回路、 １８・・・光電子増倍管補正回路、 １８ａ＝・補正値メモリ、 １８ ｂ −−・補正回路。
ク図、爾２図は視野区分回路の電気的な窓を示す説明図
、第３図はその変形例を示す説明−１第一４図は平均値
回路の内部構成を示すプセツク図、ｌ／Ｅ５図は従来の
シンチレーションカメラを示すブシツク図である。 １・・・シンチレータ、 ２−光電子増倍管、 ３・・・位置計算回路、 ４・−表示装置、 １５−・・光電子増倍管切換回路、 １５ ａ ＝−視野区分回路、 １５ ｂ −・・計数率判定回路、 １５Ｃ−信号切換回路、 １６−・平均値回路、 １７−・補正値計算回路、 １８・・・光電子増倍管補正回路、 １８ａ＝・補正値メモリ、 １８ ｂ −−・補正回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、入射放射線により閃光を発するシンチレータと、こ
のシンチレータに光学的に結合されて光を電気信号に変
換する複数個の光電子増倍管と、これらの光電子増倍管
の出力信号に基いて放射線の入射位置を演算して位置信
号及び表示信号を表示装置へ出力する位置計算回路とを
有し、被検体からの入射放射線の分布像を得るシンチレ
ーションカメラにおいて、上記位置計算回路からの位置
信号によって放射線がどの光電子増倍管の直下に入射し
たかを判定し当該光電子増倍管の出力信号のみを通過さ
せる光電子増倍管切換回路を設け、この光電子増倍管切
換回路からの出力信号を各光電子増倍管毎に所定個数の
入射放射線に対して加算平均し上記光電子増倍管の出力
信号の大きさを平均化する平均値回路を設け、この平均
値回路からの平均化された出力信号の大きさと入射放射
線のエネルギによって決まる基準値とを比較して各光電
子増倍管の感度の変動量を検出し各光電子増倍管に対す
る補正値を計算する補正値計算回路を設けると共に、上
記補正値に基いて上記各光電子増倍管へのそれぞれの印
加電圧を制御して各々の光電子増倍管の感度を自動調整
する光電子増倍管補正回路を設けたことを特徴とするシ
ンチレーションカメラ。 ２、上記光電子増倍管切換回路は、上記位置計算回路か
らの位置信号に対して個々の光電子増倍管毎の領域に区
切る電気的な窓を有し入射放射線に対するカメラ視野を
各光電子増倍管毎に区分して区分信号を出力する視野区
分回路と、この視野区分回路の各視野区分に入射する放
射線の計数率を所定の基準値と比較してこの基準値より
大きい視野区分に属する光電子増倍管に対する切換信号
を送出する計数率判定回路と、上記切換信号によって複
数個の光電子増倍管からの出力信号のうち一つだけを通
過させる信号切換回路とから成ることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載のシンチレーションカメラ。 ３、上記光電子増倍管補正回路は、上記補正値計算回路
からの各光電子増倍管に対する補正値を記憶する補正値
メモリと、各光電子増倍管に対してそれぞれＤ／Ａ変換
器を有すると共に上記補正値メモリからの補正値によっ
て各光電子増倍管への印加電圧を制御する補正回路とか
ら成ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のシ
ンチレーションカメラ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60002634A JPS61162782A (ja) | 1985-01-12 | 1985-01-12 | シンチレ−シヨンカメラ |
| US07/188,173 US4882495A (en) | 1985-01-12 | 1988-04-26 | Scintillation camera |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60002634A JPS61162782A (ja) | 1985-01-12 | 1985-01-12 | シンチレ−シヨンカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61162782A true JPS61162782A (ja) | 1986-07-23 |
| JPH0572555B2 JPH0572555B2 (ja) | 1993-10-12 |
Family
ID=11534815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60002634A Granted JPS61162782A (ja) | 1985-01-12 | 1985-01-12 | シンチレ−シヨンカメラ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4882495A (ja) |
| JP (1) | JPS61162782A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61240184A (ja) * | 1985-04-17 | 1986-10-25 | Toshiba Corp | シンチレ−シヨンカメラ |
| WO1988001751A1 (fr) * | 1986-08-28 | 1988-03-10 | Shimadzu Corporation | Stabilisateur du degre d'amplification de tubes photomultiplicateurs |
| ES2152757A1 (es) * | 1996-07-31 | 2001-02-01 | Univ Valencia Politecnica | Sistema de medida de actividad absoluta de radionucleidos por metodo de coincidencias en centelleador liquido con un cabezal de k fotomultiplicadores de igual eficiencia promedio en cada canal mediante permutacion electronica de los canales. |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3092127B2 (ja) * | 1989-09-08 | 2000-09-25 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US5323007A (en) * | 1992-02-07 | 1994-06-21 | Univ. Of Chicago Development Corp. Argonne National Laboratories | Method of recovering tomographic signal elements in a projection profile or image by solving linear equations |
| US5237173A (en) * | 1992-04-01 | 1993-08-17 | Independent Scintillation Imaging Systems, Inc. | Gain calibration in a scintillation camera |
| US5321261A (en) * | 1992-09-10 | 1994-06-14 | Packard Instrument Company, Inc. | Normalization technique for photon-counting luminometer |
| US5410153A (en) * | 1993-07-27 | 1995-04-25 | Park Medical Systems, Inc. | Position calculation in a scintillation camera |
| US5576547A (en) * | 1993-07-27 | 1996-11-19 | Park Medical Systems Inc. | Position calculation and energy correction in the digital scintillation camera |
| JP3323323B2 (ja) * | 1994-04-25 | 2002-09-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | シンチレーションカメラ |
| US5550377A (en) * | 1994-09-20 | 1996-08-27 | Picker International, Inc. | Technique for balancing anger cameras using an externally irradiated crystal and single tube data |
| EP1104890A3 (en) * | 1994-10-04 | 2002-10-30 | Adac Laboratories | Gamma camera system |
| FR2755815B1 (fr) * | 1996-11-08 | 1998-12-18 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede de determination de la position presumee d'un evenement par rapport a un ensemble de photodetecteurs, et application aux gamma-cameras |
| CA2212196A1 (en) | 1997-08-01 | 1999-02-01 | Is2 Research Inc. | Medical diagnostic apparatus and method |
| US6512504B1 (en) | 1999-04-27 | 2003-01-28 | Semiconductor Energy Laborayory Co., Ltd. | Electronic device and electronic apparatus |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1313099A (en) * | 1969-06-27 | 1973-04-11 | Picker Corp | Apparatus for recording patterns of electromagnetic radiation |
| NL8103058A (nl) * | 1981-06-24 | 1983-01-17 | Philips Nv | Werkwijze voor het calibreren van een gammakamera en gammakamera met een calibratieinrichting. |
| US4566074A (en) * | 1981-10-08 | 1986-01-21 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Scintillation camera |
| JPS60380A (ja) * | 1983-06-16 | 1985-01-05 | Mitsubishi Electric Corp | 移動目標検出回路 |
-
1985
- 1985-01-12 JP JP60002634A patent/JPS61162782A/ja active Granted
-
1988
- 1988-04-26 US US07/188,173 patent/US4882495A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61240184A (ja) * | 1985-04-17 | 1986-10-25 | Toshiba Corp | シンチレ−シヨンカメラ |
| WO1988001751A1 (fr) * | 1986-08-28 | 1988-03-10 | Shimadzu Corporation | Stabilisateur du degre d'amplification de tubes photomultiplicateurs |
| US4857722A (en) * | 1986-08-28 | 1989-08-15 | Shimadzu Corporation | Apparatus for stabilizing the amplification degree of photomultipliers |
| ES2152757A1 (es) * | 1996-07-31 | 2001-02-01 | Univ Valencia Politecnica | Sistema de medida de actividad absoluta de radionucleidos por metodo de coincidencias en centelleador liquido con un cabezal de k fotomultiplicadores de igual eficiencia promedio en cada canal mediante permutacion electronica de los canales. |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4882495A (en) | 1989-11-21 |
| JPH0572555B2 (ja) | 1993-10-12 |
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