JPS61165928A - サ−モスタツト - Google Patents

サ−モスタツト

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JPS61165928A
JPS61165928A JP60005182A JP518285A JPS61165928A JP S61165928 A JPS61165928 A JP S61165928A JP 60005182 A JP60005182 A JP 60005182A JP 518285 A JP518285 A JP 518285A JP S61165928 A JPS61165928 A JP S61165928A
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JP
Japan
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conductive plate
bimetal
conductive
electrical insulator
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Application number
JP60005182A
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English (en)
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JPH0828166B2 (ja
Inventor
▲辻▼ 隆久
川崎 和久
芳行 宇治野
佐伯 恒男
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、電気アイロン等の電熱器具に採用されるサー
モスタットに関するものである。
従来の技術 従来この種のサーモスタットは、たとえば特公昭52−
19671号公報に示されているように構成され、具体
的には第6図および第6図のようになっていた。
すなわち、相対向する一対の接点1,1aを有する導電
ユニット2と、バイメタル3とを電気絶縁子4を介して
取付け、バイメタル3の熱応動により接点1,1aを開
閉させて温度調節をするものである。
発明が解決しようとする問題点 しかし、このような構造のものでは、操作板5に固着さ
れた導電板6とバイメタル3に固着され支持金具7に取
付けられた電気絶縁子4は当接しているが、電気絶縁子
4の先端が、円錐形状になっているためK、導電板6と
当接し得る面積か小さくなり、さらに、導電ユニット2
とバイメタル3は、別々に取付けられる構造であること
からその取付位置のバラツキによって、電気絶縁子4の
支持バネ6を押える位置が変化し、デファレンシャルに
もバラツキが生じる。さらに、電気絶縁子4と支持バネ
6との当接位置が偏って取付けられた場合、バイメタル
3が熱彎曲して、電気絶縁子4が導電板6からはずれる
という問題があった。
そこで、本発明は、バイメタル3と導電ユニット2が偏
って取付けられても、電気絶縁子4が導電板6からはず
れることなく、ディファレンシャルも安定させることが
できるものである。
問題点を解決するための手段 そして上記問題点を解決する本発明の技術的な手段は、
先端に導電板と交叉する方向にエツジを形成した電気絶
縁子を介して導電板とバイメタルを当接させるものであ
る。
作   用 この技術的手段による作用は次のようになる。
すなわち、電気絶縁子のエツジ部を導電板と交叉する方
向に設けるとともに、その巾が導電板の巾と同じ若しく
はそれ以上にすることにより、組立時のバラツキにより
偏って取付けられても、電気絶縁子が導電板よりはずれ
ることなく、ディファレンシャルも安定したものが得ら
れる。
実施例 以下、本発明の一実施例を添付図面にもとづいて説明す
る。第1図〜第3図において、10は導電ユニットでヒ
ーター11 aを有するベース11に陶器等の絶縁材料
により構成された絶縁基台12を介して取付けられ、絶
縁基台12には、一対の導電板13.14が固定されて
おり一方の導電板13の先端には接点15が取付けられ
るとともに、他方の導電板14は、操作板16に固定さ
れている。17は一端が操作板16の絶縁碍子18に近
接した位置に固着しだ略U字状のスナップバネで、上記
導電板13の接点16と対応する位置に接点19を設け
、操作板16に固着された導電板20と連結している。
21はベース11の気化室11bの近傍に取付けたバイ
メタルで、このバイメタル21の他端にはコ字状の支持
金具22を取付けるとともに、この支持金具22には前
記導電板2゜の端部上面と交叉する方向に設けたエツジ
23と当接する電気絶縁子24を取付けている。
次にこの一実施例の構成における作用を説明する。導電
板20と交叉する方向に設けたエツジ23の巾を導電板
2oの巾と同等かそれ以上にすることにより、電気絶縁
子24に連結しているバイメタル21の熱応動や、また
組立作業のバラツキによって、多少当接位置が変わって
も、導電板2゜からはずれることがなく、また、バイメ
タル21の熱彎曲によって生じる力は、導電板20の巾
全体に働くようになり、従来のように導電板20の当接
位置のずれによって、ディファレンシャルが変化するこ
ともなくなる。
また本発明をスチームアイロンに使用する場合において
は、スチーム時に、気化室11bに水が供給されスチー
ムを発生させるが、この場合、気化熱がうばわれ、気化
室11b付近のベース11温度が下がる。それを補う為
にヒーター11aを通電状態にすることが望ましいが、
通電状態にするとベース11の後部の温度が上がりペー
ス11全体の温度分布が悪くなる。そこで、バイメタル
21の取付位置をベース全体の温度分布の均一になる位
置にすることになるが、バイメタル21の取付位置をベ
ース上のどこに取付けても、バイメタル21に連結した
電気絶縁子24のエツジ23を導電板20と交叉当接さ
せることにより、電気絶縁子24がはずれることなく、
確実に導電板2Qを作動させることができる。
まだ上記実施例の電気絶縁子24を導電板2゜側に固着
したり、或いは両者間に配置した場合も同様の効果を奏
する。
発明の効果 本発明は、先端に導電板と交叉する方向にエツジを形成
した電気絶縁子を介して、導電板とバイメタルを当接さ
せたものであるので、組立作業のバラツキによって電気
絶縁子が導電板からはずれることがなくなり、バイメタ
ルの熱彎曲による応力が導電板の巾全体に均一に働くこ
とになり、ディファレンシャルも安定し、しかも次のよ
うな効果も奏する。
すなわち、本発明では、バイメタルの取付位置がベース
上のどの場所にも取付可能となり、ベース全体の温度分
布をより均一にすることができるのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のサーモスタットのA矢視図
、第4図は従来のサーモスタ・ノドを示す側面図、第ち
図は同第4図のB矢視図である。 10・・・・・・導電ユニット、12・・・・・・絶縁
基台、13 、14 、20・・・・・・導電板、15
・・・°・・接点、19・・・・・・接点、21−”’
ノくイメタル、23・・・・・・エツジ、24・・・・
・・電気絶縁子。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名23
− 1ノリ 第1図      24−電馳納と 21−−−ノ\゛侶グツし Qフ 城        城

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 接点を有し、かつ絶縁基台に固定した一組の導電板を有
    する導電ユニットと、前記導電板の一方と対向し、かつ
    電気絶縁子を介して前記導電板を動作させるバイメタル
    を備え、上記バイメタルは導電板ユニットと分離して設
    け、かつ先端に導電板と交叉する方向にエッジを形成し
    た電気絶縁子を介して導電板とバイメタルを当接させた
    サーモスタット。
JP60005182A 1985-01-16 1985-01-16 サ−モスタツト Expired - Lifetime JPH0828166B2 (ja)

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JP60005182A JPH0828166B2 (ja) 1985-01-16 1985-01-16 サ−モスタツト

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JP60005182A JPH0828166B2 (ja) 1985-01-16 1985-01-16 サ−モスタツト

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Publication Number Publication Date
JPS61165928A true JPS61165928A (ja) 1986-07-26
JPH0828166B2 JPH0828166B2 (ja) 1996-03-21

Family

ID=11604090

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JP60005182A Expired - Lifetime JPH0828166B2 (ja) 1985-01-16 1985-01-16 サ−モスタツト

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007088117A (ja) * 2005-09-21 2007-04-05 Tokyo Electron Ltd プローブカード移載補助装置、検査設備及び検査方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5126292U (ja) * 1974-08-14 1976-02-26
JPS5219671A (en) * 1975-07-31 1977-02-15 Smith Kline French Lab Heterocyclic compound

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JP2007088117A (ja) * 2005-09-21 2007-04-05 Tokyo Electron Ltd プローブカード移載補助装置、検査設備及び検査方法

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JPH0828166B2 (ja) 1996-03-21

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