JPS61174601A - 電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用いた雑音防止素子 - Google Patents
電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用いた雑音防止素子Info
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- JPS61174601A JPS61174601A JP60014653A JP1465385A JPS61174601A JP S61174601 A JPS61174601 A JP S61174601A JP 60014653 A JP60014653 A JP 60014653A JP 1465385 A JP1465385 A JP 1465385A JP S61174601 A JPS61174601 A JP S61174601A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は酸化チタン及び酸化セリウムを主成分とし、更
に必要に応じ微量の半導体化元素の酸化物をも含む焼結
体からなる電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用いた雑音
防止素子に関するものである。更に詳しくは、本発明は
電圧−電流特性の非直線性が大きく、かつその特性が焼
結体自身に起因する電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用
いた雑音防止素子に関するものである。
に必要に応じ微量の半導体化元素の酸化物をも含む焼結
体からなる電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用いた雑音
防止素子に関するものである。更に詳しくは、本発明は
電圧−電流特性の非直線性が大きく、かつその特性が焼
結体自身に起因する電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用
いた雑音防止素子に関するものである。
[従来の技術]
近年、電子産業の発展に伴い、制msa器、音響機器等
の小型化e高性能化が進められたが、一方、各種電気雑
音によるIC,LSI等の半導体素子の誤動作や破壊、
小型モータ、リレースイッチの開閉からの雑音発生など
が問題となっている。これらの対策の1つとして電圧非
直線性抵抗素子(以下、バリスタという)が用いられて
いる。
の小型化e高性能化が進められたが、一方、各種電気雑
音によるIC,LSI等の半導体素子の誤動作や破壊、
小型モータ、リレースイッチの開閉からの雑音発生など
が問題となっている。これらの対策の1つとして電圧非
直線性抵抗素子(以下、バリスタという)が用いられて
いる。
一般にバリスタの電圧−電流特性は
I=KV”
で近似される。ここで工はバリスタを流れる電流、■は
バリスタに印加される電圧でありKは定数で材料の種類
、素子の形状から決まるものである。指数αは電圧非直
線指数と呼ばれるものであり、%!圧圧電電流特性非直
線性を表わすi要な指標である。α=1の場合、オーム
の法則に従う通常の抵抗体であって、αの大きいものほ
ど電圧−電流特性の非直線性が優れたものといえる。ま
たバリスタに所定の電流CmAを流したときのバリスタ
の端子間電圧をバリスタ電圧Vcと称するが、バリスタ
電圧はバリスタの使用条件に応じた適当な値を示すこと
が要求される。バリスタ材料においてはVcの値を広い
範囲で実現できることが望ましいものといえる。
バリスタに印加される電圧でありKは定数で材料の種類
、素子の形状から決まるものである。指数αは電圧非直
線指数と呼ばれるものであり、%!圧圧電電流特性非直
線性を表わすi要な指標である。α=1の場合、オーム
の法則に従う通常の抵抗体であって、αの大きいものほ
ど電圧−電流特性の非直線性が優れたものといえる。ま
たバリスタに所定の電流CmAを流したときのバリスタ
の端子間電圧をバリスタ電圧Vcと称するが、バリスタ
電圧はバリスタの使用条件に応じた適当な値を示すこと
が要求される。バリスタ材料においてはVcの値を広い
範囲で実現できることが望ましいものといえる。
[発明が解決しようとする問題点]
従来バリスタとしては、シリコンカーバイド系バリスタ
、酸化亜鉛系バリスタなどが知られている。
、酸化亜鉛系バリスタなどが知られている。
シリコンカーバイド系バリスタはシリコンカーバイド粒
子間の点接触を利用したものである。このシリコンカー
バイド系バリスタは、シリコンカーバイド自体の焼結が
困難であることから、粘土などと共に焼き固めて製造さ
れており、このため電圧非直線指数αは2〜4と比較的
小さい、また、VCの値は電流の流れる方向のシリコン
カー/ヘイ1粒子の数を変えることで調整可能であるが
、−粒子間のバリスタ電圧が通常は5v程度であるとこ
ろから比較的低電圧のものが得られにくい欠点がある。
子間の点接触を利用したものである。このシリコンカー
バイド系バリスタは、シリコンカーバイド自体の焼結が
困難であることから、粘土などと共に焼き固めて製造さ
れており、このため電圧非直線指数αは2〜4と比較的
小さい、また、VCの値は電流の流れる方向のシリコン
カー/ヘイ1粒子の数を変えることで調整可能であるが
、−粒子間のバリスタ電圧が通常は5v程度であるとこ
ろから比較的低電圧のものが得られにくい欠点がある。
更に、シリコンカーバイド粒子は高硬度であり、バリス
タ製造に°おL:Tる成形の際に使用する金型の摩耗が
著しく、これがために製品を寸法精度良く製造すること
が困難であるという欠点がある。
タ製造に°おL:Tる成形の際に使用する金型の摩耗が
著しく、これがために製品を寸法精度良く製造すること
が困難であるという欠点がある。
また、酸化亜鉛系バリスタは一般に電圧非直線指数αが
lθ〜50と大きく、Vcの値も数10V−1000V
程度まで広い電圧範囲で得られるという長所を有してい
るが、通常の焼結体からなるバリスタでは1粒子径がl
OILm程度と小さく、粒界1個当りのバリスタ電圧も
大きいため比較的低電圧のものが得られにくいという欠
点がある。このためバリスタの電極間に存在する粒界数
の低減による低電圧化を目的として、バリスタ材料粉末
、ガラスフリット、有機バインダ等から成る厚膜ペース
トを用いた厚膜バリスタあるいは11kF!バリスタな
どが考案されている。しかし、ながら、構成材料が多岐
にわたり製造工程も繁雑であるため、価格が高くなると
いう欠点がある。
lθ〜50と大きく、Vcの値も数10V−1000V
程度まで広い電圧範囲で得られるという長所を有してい
るが、通常の焼結体からなるバリスタでは1粒子径がl
OILm程度と小さく、粒界1個当りのバリスタ電圧も
大きいため比較的低電圧のものが得られにくいという欠
点がある。このためバリスタの電極間に存在する粒界数
の低減による低電圧化を目的として、バリスタ材料粉末
、ガラスフリット、有機バインダ等から成る厚膜ペース
トを用いた厚膜バリスタあるいは11kF!バリスタな
どが考案されている。しかし、ながら、構成材料が多岐
にわたり製造工程も繁雑であるため、価格が高くなると
いう欠点がある。
[問題点を解決するための手段]
本巣明者らは、上記のような従来のバリスタの欠点を解
決し、電圧非直線指数αが大きく、バリスタ電圧Vcが
低い電圧から高い電圧まで広い範囲で得られるバリスタ
を提供すべく検討を続けた結果、酸化セリウムを添加含
有した酸化チタン焼結体において優れた電圧−電流特性
が発現されることを見出した。また、更に、これに微量
の半導体化元素(本明細書において、その化学記号をM
と表わすことがある。)を加えることによりバリスタ電
圧Vcの制御が容易に実現できることを見出した0本発
明はこれらの知見に基づいてなされたものである。
決し、電圧非直線指数αが大きく、バリスタ電圧Vcが
低い電圧から高い電圧まで広い範囲で得られるバリスタ
を提供すべく検討を続けた結果、酸化セリウムを添加含
有した酸化チタン焼結体において優れた電圧−電流特性
が発現されることを見出した。また、更に、これに微量
の半導体化元素(本明細書において、その化学記号をM
と表わすことがある。)を加えることによりバリスタ電
圧Vcの制御が容易に実現できることを見出した0本発
明はこれらの知見に基づいてなされたものである。
即ち、本発明の要旨は
酸化チタン、酸化セリウムを基本成分とした焼結体であ
って、その基本成分組成が酸化セリウムをCeO2に換
算して0.02〜20.0%JIz%含み、残部が酸化
チタンであることを特徴とする電圧非直線性抵抗磁器、 酸化チタン、酸化セリウム及び半導体化元素酸化物を基
本成分とした焼結体であって、その基本成分組成が、酸
化セリウムをCe O2に換算して0.02〜20.0
モル%、半導体化元素(化学記号をMとする。)酸化物
をM2O3に換算して0.50モル%以下含み、残部が
酸化チタンであることを特徴とする電圧非直線性抵抗磁
器。
って、その基本成分組成が酸化セリウムをCeO2に換
算して0.02〜20.0%JIz%含み、残部が酸化
チタンであることを特徴とする電圧非直線性抵抗磁器、 酸化チタン、酸化セリウム及び半導体化元素酸化物を基
本成分とした焼結体であって、その基本成分組成が、酸
化セリウムをCe O2に換算して0.02〜20.0
モル%、半導体化元素(化学記号をMとする。)酸化物
をM2O3に換算して0.50モル%以下含み、残部が
酸化チタンであることを特徴とする電圧非直線性抵抗磁
器。
及びこれらの電圧非直線性抵抗磁器に電極を設けてなる
雑音防止素子にある。なお、本発明においては上記基本
組成は主要組成であり、必要に応じてこの基本組成の成
分のほかに、付加的成分を混入しても差支えない。
雑音防止素子にある。なお、本発明においては上記基本
組成は主要組成であり、必要に応じてこの基本組成の成
分のほかに、付加的成分を混入しても差支えない。
以下、本発明の構成について更に詳細に説明する。
本発明の電圧非直線性抵抗磁器は、
■ 基本成分組成は、酸化セリウムをCe O2に換算
して0.02〜20.0モル%含み。
して0.02〜20.0モル%含み。
残部が酸化チタンである焼結体。
■ 基本成分組成は、酸化セリウムをCe O2に換算
して0.02〜20.0モル%、半導体化元素の酸化物
をM2O3に換算して0.50モル%以下含み、残部が
酸化チタンである焼結体、 からそれぞれ構成されている。
して0.02〜20.0モル%、半導体化元素の酸化物
をM2O3に換算して0.50モル%以下含み、残部が
酸化チタンである焼結体、 からそれぞれ構成されている。
本発明において、酸化セリウム含有量の範囲を定めたの
は次の理由による。即ち、焼成温度によって幾分の違い
はあるが、酸化セリウム含有量がCeO2に換算して0
.02モル%未満であると、電圧非直線指数たるα値が
小さくなり、電圧−*R特性の非直線性が不安定となり
、好ましくない、また、酸化セリウム含有量がCe O
2に換算して20.0モル%を超えると、α値が小さく
なり、Vc値も著しく大きくなる傾向がみられ、更にC
eO2含有量が増すと高抵抗体となる。このようなこと
から、酸化セリウムの含有量は、Ce0zに換算して0
.02〜20.0モル%とした。
は次の理由による。即ち、焼成温度によって幾分の違い
はあるが、酸化セリウム含有量がCeO2に換算して0
.02モル%未満であると、電圧非直線指数たるα値が
小さくなり、電圧−*R特性の非直線性が不安定となり
、好ましくない、また、酸化セリウム含有量がCe O
2に換算して20.0モル%を超えると、α値が小さく
なり、Vc値も著しく大きくなる傾向がみられ、更にC
eO2含有量が増すと高抵抗体となる。このようなこと
から、酸化セリウムの含有量は、Ce0zに換算して0
.02〜20.0モル%とした。
なお、低電圧用バリスタを得る効果的な酸化セリウム含
有量は、CeO2に換算して0 、02.〜10.0モ
ル%の範囲である。
有量は、CeO2に換算して0 、02.〜10.0モ
ル%の範囲である。
本発明においては、酸化チタン及び酸化セリウムのほか
に、更に所望により半導体化元素を添加し、Vc値の制
御及びα値の向上等を図ることができる。添加される半
導体化元素の種類としては、アンチモン、ニオブ、タン
タルなどが適当であり、これらは単一もしくは複数で使
用することができる。
に、更に所望により半導体化元素を添加し、Vc値の制
御及びα値の向上等を図ることができる。添加される半
導体化元素の種類としては、アンチモン、ニオブ、タン
タルなどが適当であり、これらは単一もしくは複数で使
用することができる。
半導体化元素酸化物の含有量を定めたのは次の理由によ
る。即ち、単一もしくは複数の半導体化元素の酸化物の
含有量がM2O3に換算して0.50モル%を超えると
α値が小さくなり、特に大電流領域での電圧−電流特性
の非直線性が低下する傾向がみられ、好、ましくない、
一方、0.002モル%未満の含有量の場合、添加した
効果が小さく、これらを添加しなかった場合と殆ど特性
は同じである。このため実際にVc値の制御を目的とす
る半導体化元素酸化物はM2O3に換算して0.002
モル%以上含有させるのが好ましい。
る。即ち、単一もしくは複数の半導体化元素の酸化物の
含有量がM2O3に換算して0.50モル%を超えると
α値が小さくなり、特に大電流領域での電圧−電流特性
の非直線性が低下する傾向がみられ、好、ましくない、
一方、0.002モル%未満の含有量の場合、添加した
効果が小さく、これらを添加しなかった場合と殆ど特性
は同じである。このため実際にVc値の制御を目的とす
る半導体化元素酸化物はM2O3に換算して0.002
モル%以上含有させるのが好ましい。
なお、低電圧用バリスタを得る効果的な半導体化元素の
酸化物の含有量はM2O3に換算して0.03〜0.3
0モル%の範囲である。
酸化物の含有量はM2O3に換算して0.03〜0.3
0モル%の範囲である。
本発明においては、酸化セリウム及び半導体化元素酸化
物の含有量をそれぞれCe O2及びM 20 sに換
算して規定しているが、これはセリウム及び半導体化元
素の価数がそれぞれ正確に4価及び5価であるものに限
られず、その他の価数をとっている酸化物であっても本
発明に用い得るからである。換言すれば、本発明に係る
電圧非直線性抵抗磁器を構成する焼結体は、その中に化
学量論的には(602及びM 20 sでない酸化セリ
ウム及び半導体化元素酸化物が存在することを許容する
のである。
物の含有量をそれぞれCe O2及びM 20 sに換
算して規定しているが、これはセリウム及び半導体化元
素の価数がそれぞれ正確に4価及び5価であるものに限
られず、その他の価数をとっている酸化物であっても本
発明に用い得るからである。換言すれば、本発明に係る
電圧非直線性抵抗磁器を構成する焼結体は、その中に化
学量論的には(602及びM 20 sでない酸化セリ
ウム及び半導体化元素酸化物が存在することを許容する
のである。
酸化チタンについても同様であり、本発明の電圧非直線
性抵抗磁器を構成する焼結体中には。
性抵抗磁器を構成する焼結体中には。
4価以外の価数のチタンが存在していても良い。
本発明の焼結体に用いる原料は、例えば酸化チタン、酸
化セリウム、酸化アンチモン、酸化ニオブあるいは酸化
タンタルのような酸化物を使用する。しかしながら、焼
成過程で上記のような酸化物になるものであれば上記分
子式に従わない水酸化物、炭酸塩、シュウ酸塩等を出発
原料としたり、Ti、Ce、Sb、Nb、Taの各金属
を用いることも可能である。また、上記した様に4価以
外の価数のチタン及びセリウムの酸化物、5価以外の価
数の半導体化元素の酸化物も用い得る。
化セリウム、酸化アンチモン、酸化ニオブあるいは酸化
タンタルのような酸化物を使用する。しかしながら、焼
成過程で上記のような酸化物になるものであれば上記分
子式に従わない水酸化物、炭酸塩、シュウ酸塩等を出発
原料としたり、Ti、Ce、Sb、Nb、Taの各金属
を用いることも可能である。また、上記した様に4価以
外の価数のチタン及びセリウムの酸化物、5価以外の価
数の半導体化元素の酸化物も用い得る。
なお、本発明においては、上記基本成分の他にA l
203またはSiO2の少なくとも1種を粒径、焼成温
度等の調整を行う目的で6重量%までの範囲で含有させ
ることができる。またアルカリ土類金属(例えばMg、
Ca、Sr、Baなど) 、Sn、Pb、Zrなどの各
酸化物を特性がそこなわれない範囲で含有させることが
できる。
203またはSiO2の少なくとも1種を粒径、焼成温
度等の調整を行う目的で6重量%までの範囲で含有させ
ることができる。またアルカリ土類金属(例えばMg、
Ca、Sr、Baなど) 、Sn、Pb、Zrなどの各
酸化物を特性がそこなわれない範囲で含有させることが
できる。
従って、本発明の特許請求の範囲では、基本成分のみ、
即ち、必須構成要素のみが特定されている。
即ち、必須構成要素のみが特定されている。
本発明の電圧非直線性抵抗磁器を製造するには例えば、
酸化チタン粉末と酸化セリウム粉末とを、更に必要に応
じて酸化アンチモン等の半導体化元素酸化物の粉末を、
所定の割合となるよう秤量し、湿式ボールミル等を用い
て十分に混合する0次にこの混合物を乾燥した後、必要
に応じ空気中または窒素のような不活性雰囲気中700
〜1100℃の範囲で数時間仮焼成する。この仮焼成は
必ずしも行う必要はないが、これを行うことにより粒子
がより均一化され、耐電圧性が向上する傾向がある。仮
焼成を行った場合には、仮焼物を更に湿式ボールミル等
で粉砕し、乾燥後、ポリビニルアルコールなどの適当な
バインダーを水溶液にて加えて、か粒を作り、これを所
定の形状にプレス成形した後、本焼成を行なう、この本
焼成は、空気中または窒素のような不活性雰囲気中、1
150℃以上1450℃以下、好ましくは1300〜1
400℃の温度範囲で数時間行う。
酸化チタン粉末と酸化セリウム粉末とを、更に必要に応
じて酸化アンチモン等の半導体化元素酸化物の粉末を、
所定の割合となるよう秤量し、湿式ボールミル等を用い
て十分に混合する0次にこの混合物を乾燥した後、必要
に応じ空気中または窒素のような不活性雰囲気中700
〜1100℃の範囲で数時間仮焼成する。この仮焼成は
必ずしも行う必要はないが、これを行うことにより粒子
がより均一化され、耐電圧性が向上する傾向がある。仮
焼成を行った場合には、仮焼物を更に湿式ボールミル等
で粉砕し、乾燥後、ポリビニルアルコールなどの適当な
バインダーを水溶液にて加えて、か粒を作り、これを所
定の形状にプレス成形した後、本焼成を行なう、この本
焼成は、空気中または窒素のような不活性雰囲気中、1
150℃以上1450℃以下、好ましくは1300〜1
400℃の温度範囲で数時間行う。
本焼成温度が1150℃未満であるときは焼結体密度が
低く機械的強度が弱くなり電気的特性を悪化させる。一
方、焼成温度が1450℃を超えるとαが小さくなり、
1500℃以上では焼結体が変形し、製品として好まし
くないものとなる。
低く機械的強度が弱くなり電気的特性を悪化させる。一
方、焼成温度が1450℃を超えるとαが小さくなり、
1500℃以上では焼結体が変形し、製品として好まし
くないものとなる。
本発明の電圧非直線性磁器を雑音防止素子として使用す
るに際しては、これに電極を設ける必要があるが、本発
明の電圧非直線性磁器は、その特性が磁器自身に起因し
ているため、電極はオーム性、非オーム性、いずれのも
のでもよく、その付か手段としては特性をそこなうこと
のなり限り、焼付、メッキ、真空蒸着、イオンブレーテ
ィング、スパッタリング、溶射など任意の手段を用いる
ことができる。
るに際しては、これに電極を設ける必要があるが、本発
明の電圧非直線性磁器は、その特性が磁器自身に起因し
ているため、電極はオーム性、非オーム性、いずれのも
のでもよく、その付か手段としては特性をそこなうこと
のなり限り、焼付、メッキ、真空蒸着、イオンブレーテ
ィング、スパッタリング、溶射など任意の手段を用いる
ことができる。
[作用]
本発明の電圧非直線性磁器は少なくとも4という高い電
圧非直線性を有し、雑音防止素子材料として優れた特性
を示す。
圧非直線性を有し、雑音防止素子材料として優れた特性
を示す。
本発明の電圧非直線性磁器を用いたバリスタは、各基本
成分組成の含有比を変えることにより所望のVc値を低
い電圧から高い電圧まで広範囲にわたって容易に実現で
きる。また、電圧非直線指数αがシリコンカーバイド系
バリスタに比べ大きく広範囲の用途に供しうる。そして
、原料成分の種類が少なく、製造が簡単であるところか
ら、均質な組成を有し、信頼性が高く価格が安いなどの
利点を有している。
成分組成の含有比を変えることにより所望のVc値を低
い電圧から高い電圧まで広範囲にわたって容易に実現で
きる。また、電圧非直線指数αがシリコンカーバイド系
バリスタに比べ大きく広範囲の用途に供しうる。そして
、原料成分の種類が少なく、製造が簡単であるところか
ら、均質な組成を有し、信頼性が高く価格が安いなどの
利点を有している。
[実施例]
次に本発明を実施例によって、更に具体的に説明するが
1本発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例に限
定されるものではない。
1本発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例に限
定されるものではない。
実施例
T i O2粉末とCe O2粉末、更に半導体化元素
酸化物として5b205、Nb2o5、T a 20
s各粉末を第1表に示す組成の焼結体が得られるような
割合で秤量し、水を加え、湿式ボールミルで16時時間
分に混合した0次にこのスラリーを乾燥後、大気中、1
000℃で2時間仮焼成を行った。仮焼物を再び水を加
え湿式ボールミルを用いて粉砕して、250メツシュ通
過後乾燥させた。これにバインダーとしてポリビニルア
ルコール5%水溶液をポリビニルアルコール固型分が原
料粉末の2重量%の割合になるように加え、48メツシ
ュ通過のか粒を得た。このか粒をプレス成形して、直径
15mm厚さ1.5mmの円板を作成した。次にこの円
板を空気中、1350℃で2時間の本焼成を行い、焼結
体を得た。これらの焼結体を厚みInmになるように研
府した後、両面に銀ペーストを塗布、750℃で焼付け
ることにより電極を設けて試料とした。これらの試料を
用いて電気特性を測定した。その結果も第1表に示す。
酸化物として5b205、Nb2o5、T a 20
s各粉末を第1表に示す組成の焼結体が得られるような
割合で秤量し、水を加え、湿式ボールミルで16時時間
分に混合した0次にこのスラリーを乾燥後、大気中、1
000℃で2時間仮焼成を行った。仮焼物を再び水を加
え湿式ボールミルを用いて粉砕して、250メツシュ通
過後乾燥させた。これにバインダーとしてポリビニルア
ルコール5%水溶液をポリビニルアルコール固型分が原
料粉末の2重量%の割合になるように加え、48メツシ
ュ通過のか粒を得た。このか粒をプレス成形して、直径
15mm厚さ1.5mmの円板を作成した。次にこの円
板を空気中、1350℃で2時間の本焼成を行い、焼結
体を得た。これらの焼結体を厚みInmになるように研
府した後、両面に銀ペーストを塗布、750℃で焼付け
ることにより電極を設けて試料とした。これらの試料を
用いて電気特性を測定した。その結果も第1表に示す。
この表中のV 10値は10mA/cm’の電流を流し
た時の試料の電圧であり、αの値はVカとl OOm
A / Q m″通電時の電圧Vwmから算出したもの
である。
た時の試料の電圧であり、αの値はVカとl OOm
A / Q m″通電時の電圧Vwmから算出したもの
である。
第1表の組成欄には、副成分としてのCeO2含有量、
及び、半導体化元素酸化物5b205゜N b205.
Ta205含有量を記しており、残部はT i O2で
ある。
及び、半導体化元素酸化物5b205゜N b205.
Ta205含有量を記しており、残部はT i O2で
ある。
第1表(a)
第1表(b)
第1表(c)
第1表(d)
第1表(e)
第1表において、試料番号7,8.30〜34.55〜
60.81〜86.92〜95は本発明の特許請求の範
囲外の組成であり、比較例として示した。試料番号1〜
6は本発明の特許請求の範囲第1項に関するものであり
、その他は特許請求の範囲第2項に関するものである。
60.81〜86.92〜95は本発明の特許請求の範
囲外の組成であり、比較例として示した。試料番号1〜
6は本発明の特許請求の範囲第1項に関するものであり
、その他は特許請求の範囲第2項に関するものである。
第1表より、本発明の特許請求範囲内の組成に係るもの
のαは4を超え、更に微量の半導体化元素を加えること
により7以上に達するものもあり、本発明のものは、シ
リコンカーバイド系バリスタに比べ、十分に大きなα値
を有していることが明らかである。また単位厚さ当りの
Vm値も適当なAfI戊を選ぶことにより、数Vから数
1oovの値が得られ、所望のバリスタ電圧を容易に実
現できることがわかる。
のαは4を超え、更に微量の半導体化元素を加えること
により7以上に達するものもあり、本発明のものは、シ
リコンカーバイド系バリスタに比べ、十分に大きなα値
を有していることが明らかである。また単位厚さ当りの
Vm値も適当なAfI戊を選ぶことにより、数Vから数
1oovの値が得られ、所望のバリスタ電圧を容易に実
現できることがわかる。
[効果]
以上詳述した通り1本発明によれば、電圧非直線指数α
が大きく、かつバリスタ電圧Vcも広い範囲で調節でき
る電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用いた雑音防止素子
が提供される。また、本発明に係る電圧非直線性抵抗磁
器は、それを製造するに要する原料の種類が少なくて足
りることから、特性が安定していると共に製造も容易で
、かつ比較的低価格であるなど、実用上の長所も大であ
る。
が大きく、かつバリスタ電圧Vcも広い範囲で調節でき
る電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用いた雑音防止素子
が提供される。また、本発明に係る電圧非直線性抵抗磁
器は、それを製造するに要する原料の種類が少なくて足
りることから、特性が安定していると共に製造も容易で
、かつ比較的低価格であるなど、実用上の長所も大であ
る。
代理人 弁理士 重 野 剛
手続補正書
昭和60年2月20日
昭和60年特許願第014653号
2 発明の名称
電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用いた雑音防止素子3
補正をする者 π件との関係 特許出願人 名 称 三菱鉱業セメント株式会社4 代理人 6 補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄。
補正をする者 π件との関係 特許出願人 名 称 三菱鉱業セメント株式会社4 代理人 6 補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄。
7 補正の内容
(1)明細書の第16頁を別紙のものに改める。
(第1表(&)における試料番号6のαの値「3」を「
41に改める。) 以 上 第1表(a)
41に改める。) 以 上 第1表(a)
Claims (5)
- (1)酸化チタン、酸化セリウムを基本成分とした焼結
体であって、その基本成分組成が酸化セリウムをCeO
_2に換算して0.02〜20.0モル%含み、残部が
酸化チタンであることを特徴とする電圧非直線性抵抗磁
器。 - (2)酸化チタン、酸化セリウム及び半導体化元素酸化
物を基本成分とした焼結体であって、その基本成分組成
が、酸化セリウムをCeO_2に換算して0.02〜2
0.0モル%、半導体化元素(化学記号をMとする。)
酸化物をM_2O_5に換算して0.50モル%以下含
み、残部が酸化チタンであることを特徴とする電圧非直
線性抵抗磁器。 - (3)前記半導体化元素はアンチモン、ニオブ及びタン
タルよりなる群から選択される少なくとも1種の元素で
あることを特徴とする特許請求の範囲第2項に記載の電
圧非直線性抵抗磁器。 - (4)酸化チタン、酸化セリウムを基本成分とした焼結
体であって、その基本成分組成が酸化セリウムをCeO
_2に換算して0.02〜20.0モル%含み、残部が
酸化チタンである電圧非直線性抵抗磁器に電極を設けて
なる雑音防止素子。 - (5)酸化チタン、酸化セリウム及び半導体化元素酸化
物を基本成分とした焼結体であって、その基本成分組成
が、酸化セリウムをCeO_2に換算して0.02〜2
0.0モル%、半導体化元素酸化物をM_2O_5に換
算して0.50モル%以下含み、残部が酸化チタンであ
る電圧非直線性抵抗磁器に電極を設けてなる雑音防止素
子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60014653A JPH0611002B2 (ja) | 1985-01-29 | 1985-01-29 | 電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用いた雑音防止素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60014653A JPH0611002B2 (ja) | 1985-01-29 | 1985-01-29 | 電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用いた雑音防止素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61174601A true JPS61174601A (ja) | 1986-08-06 |
| JPH0611002B2 JPH0611002B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=11867162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60014653A Expired - Lifetime JPH0611002B2 (ja) | 1985-01-29 | 1985-01-29 | 電圧非直線性抵抗磁器及びそれを用いた雑音防止素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0611002B2 (ja) |
-
1985
- 1985-01-29 JP JP60014653A patent/JPH0611002B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0611002B2 (ja) | 1994-02-09 |
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