JPS61176011A - 透明電極の形成方法 - Google Patents
透明電極の形成方法Info
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Landscapes
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、透明電極の形成方法に関し、特に薄膜EL
マトリ・フクスパネルにおける多数のストライプ状の透
明電極を形成する場合に利用されるつ従来の技術 従来、交流動作の薄膜KL素子に関して、発光層に規則
的に高い電界(10@v/ctn程度)を印加し、絶縁
耐圧、発光効率及び動作の安定性等を高めるために、0
.1〜1.OwtチのMTI(あるいはCu 、 11
%Br等)をドープしたZnS 、Zn5e等の半導体
発光層をY、01、’ra、o、等の誘電体薄膜でサン
トイ、ソチした三層構造ZnS:Mn(又はZn5e:
、Mn)KL素子が開発され、発光緒特性の向上が確か
められている。この薄膜KL素子は1kKHzの交流電
界印加によって高輝度発光し、しかも長寿命であるとい
う特徴を有している。
マトリ・フクスパネルにおける多数のストライプ状の透
明電極を形成する場合に利用されるつ従来の技術 従来、交流動作の薄膜KL素子に関して、発光層に規則
的に高い電界(10@v/ctn程度)を印加し、絶縁
耐圧、発光効率及び動作の安定性等を高めるために、0
.1〜1.OwtチのMTI(あるいはCu 、 11
%Br等)をドープしたZnS 、Zn5e等の半導体
発光層をY、01、’ra、o、等の誘電体薄膜でサン
トイ、ソチした三層構造ZnS:Mn(又はZn5e:
、Mn)KL素子が開発され、発光緒特性の向上が確か
められている。この薄膜KL素子は1kKHzの交流電
界印加によって高輝度発光し、しかも長寿命であるとい
う特徴を有している。
薄膜KL素子の1例としてZnS:Mn薄膜KL素子の
基本的構造を第3図に示す。
基本的構造を第3図に示す。
第3図に基づいて薄膜FiL素子の構造を具体的に説明
すると、硬質かつ透明の前面ガラス基板1上にIn、
O,、Sn O,等の透明電極2、更にその上に積層し
てY、08、T’ z O8%A t!O@、S 1s
N4 、 SiOx等からなる第1の誘電体層3がスバ
、フタあるいは電子ビーム蒸着法等により形成されてい
る。第1の誘電体層a上にはZnS:Mn焼結ベレ・フ
トを電子ビーム蒸着することにより得られるZnS発光
層4が形成されている。この時蒸着用のZnS:Mn焼
結ベレットには活性物質となるMnが目的に応じた濃度
に設定されたベレ、フトが使用される。
すると、硬質かつ透明の前面ガラス基板1上にIn、
O,、Sn O,等の透明電極2、更にその上に積層し
てY、08、T’ z O8%A t!O@、S 1s
N4 、 SiOx等からなる第1の誘電体層3がスバ
、フタあるいは電子ビーム蒸着法等により形成されてい
る。第1の誘電体層a上にはZnS:Mn焼結ベレ・フ
トを電子ビーム蒸着することにより得られるZnS発光
層4が形成されている。この時蒸着用のZnS:Mn焼
結ベレットには活性物質となるMnが目的に応じた濃度
に設定されたベレ、フトが使用される。
ZnS発光層4上には第1の誘電体層3と同様の材質か
ら成る第2の誘電体層5が積層され、更にその上にAt
等から成る背面電極6が蒸着形成されている。透明電極
2と背面電極6は、それぞれ第4図に示すようにストラ
イプ状に成形され、互いに直交する如く複数本配列され
たマ) !J 、、、クス電極構造が採用されており、
透明電極2と背面電極6が平面図的に見て交叉した位置
7(図示斜線部分)がパネルの1画素に相当する。透明
電極2と背面電極6はそれぞれスイ、ソチ8.9を介し
て交流電源10に接続され、薄膜EL素子が駆動される
。
ら成る第2の誘電体層5が積層され、更にその上にAt
等から成る背面電極6が蒸着形成されている。透明電極
2と背面電極6は、それぞれ第4図に示すようにストラ
イプ状に成形され、互いに直交する如く複数本配列され
たマ) !J 、、、クス電極構造が採用されており、
透明電極2と背面電極6が平面図的に見て交叉した位置
7(図示斜線部分)がパネルの1画素に相当する。透明
電極2と背面電極6はそれぞれスイ、ソチ8.9を介し
て交流電源10に接続され、薄膜EL素子が駆動される
。
上記の構成において、スイ、ソチ8.9を閉じて電極2
.6間にAC電圧を印加すると、ZnS発光層4の両側
の誘電体層2,5間に上記AC電圧が誘起されることに
なり、従ってZnS発光層4内に発生した電界によって
伝導体に励起され、かつ加速されて充分なエネルギーを
得た電子が、直接Mn 発光センターを励超し、励起さ
れたMn発光センターが基底状態に戻る際に橙黄色の発
光を行う。即ち、高電界で加速されたに子がZn8発光
層4中の発光センターであるznサイトに入ったMn原
子の電子を励起し、基底状態に落ちる時、略々5850
Aをピークに幅広い波長領域で強い発光を呈する。
.6間にAC電圧を印加すると、ZnS発光層4の両側
の誘電体層2,5間に上記AC電圧が誘起されることに
なり、従ってZnS発光層4内に発生した電界によって
伝導体に励起され、かつ加速されて充分なエネルギーを
得た電子が、直接Mn 発光センターを励超し、励起さ
れたMn発光センターが基底状態に戻る際に橙黄色の発
光を行う。即ち、高電界で加速されたに子がZn8発光
層4中の発光センターであるznサイトに入ったMn原
子の電子を励起し、基底状態に落ちる時、略々5850
Aをピークに幅広い波長領域で強い発光を呈する。
上記の如き構造を有する薄膜PL素子はヌベースファク
タの利点を生かした平面薄型ディスプレイデバイスとし
て、文字及び図形を含むコンピューターの出力表示端末
機器その他種々の表示装置に文字、記号、静止画像、動
画像等の表示手段として利用することができ非常に有効
なものである。
タの利点を生かした平面薄型ディスプレイデバイスとし
て、文字及び図形を含むコンピューターの出力表示端末
機器その他種々の表示装置に文字、記号、静止画像、動
画像等の表示手段として利用することができ非常に有効
なものである。
上記薄膜KL素子の誘電体層は製造工程途中で発生した
多数のピンホールやマイクロクワ、ツク等を含み、これ
らの欠陥を通してZnS発光層4に湿気等が侵入するた
め、KL発光損失による発熱、層間剥離、素子特性の劣
化等を招来する。
多数のピンホールやマイクロクワ、ツク等を含み、これ
らの欠陥を通してZnS発光層4に湿気等が侵入するた
め、KL発光損失による発熱、層間剥離、素子特性の劣
化等を招来する。
上記問題を解決することを目的として、第5図に示す薄
膜KLバネ/&11が考えられている。
膜KLバネ/&11が考えられている。
この薄膜]1mLバネ/I/11を第5図に基づいて説
明する。なお、第5図の左半分は透明電極2に平行なX
方向の断面図を示し、右半分は透明電極2に直交するY
方向の断面図を示す。lはガラス基板であり、ガラス基
板1上に透明電極2がストライプ状に一定ピ・ソチ間隔
をもって平行配列されて、その上に第1の誘電体層81
発光層4.第2の誘電体層5.背面電極6を積層形成し
た薄膜KL素子12が構成されている。この薄膜KL素
子12を収納する如く皿状のカバーガラス13がガラス
基板1上に重畳され、その内部間隙に薄膜EI、素子1
2が内蔵される。ガラス基板1とカバーガラス13の接
合部はエポキシ樹脂、光硬化性樹脂(フォトボンド)等
の接着剤14で密封されている。
明する。なお、第5図の左半分は透明電極2に平行なX
方向の断面図を示し、右半分は透明電極2に直交するY
方向の断面図を示す。lはガラス基板であり、ガラス基
板1上に透明電極2がストライプ状に一定ピ・ソチ間隔
をもって平行配列されて、その上に第1の誘電体層81
発光層4.第2の誘電体層5.背面電極6を積層形成し
た薄膜KL素子12が構成されている。この薄膜KL素
子12を収納する如く皿状のカバーガラス13がガラス
基板1上に重畳され、その内部間隙に薄膜EI、素子1
2が内蔵される。ガラス基板1とカバーガラス13の接
合部はエポキシ樹脂、光硬化性樹脂(フォトボンド)等
の接着剤14で密封されている。
即ち、ガラス基板1とカバーガラス13は薄膜EL素子
12に対する外囲器15を構成する。そして外囲器15
内には薄膜FiL素子12が内蔵されると共にシリコン
オイル、真空グリース等の薄膜KL素子12の保護用の
絶縁性保護流体16が充填封入されている(@開昭54
−12290号公報)。
12に対する外囲器15を構成する。そして外囲器15
内には薄膜FiL素子12が内蔵されると共にシリコン
オイル、真空グリース等の薄膜KL素子12の保護用の
絶縁性保護流体16が充填封入されている(@開昭54
−12290号公報)。
上記薄膜KL素子12における透明電極2を形溝電膜2
0を形成したのち、7オトレジスト膜21によるフォト
リソグラフィにより、バターニングしている。しかし、
このような方法によると、透明電極20段差によって、
その上に形成する第1の誘電体層31発光層4.第2の
誘電体層5の肩部が薄くなり、絶縁破壊を起しやすい。
0を形成したのち、7オトレジスト膜21によるフォト
リソグラフィにより、バターニングしている。しかし、
このような方法によると、透明電極20段差によって、
その上に形成する第1の誘電体層31発光層4.第2の
誘電体層5の肩部が薄くなり、絶縁破壊を起しやすい。
この傾向は、薄膜ELマトリ1.、クスパネルの大型化
により、透明電極2の長大化による高抵抗化を防ぐため
に、透明電極2を厚くする程顕著になる。
により、透明電極2の長大化による高抵抗化を防ぐため
に、透明電極2を厚くする程顕著になる。
このため、第7図に示すように、透明電極2゜2間に、
この透明電極2と略同−の厚さの絶縁膜19を配置形成
することが考えられている(実開昭58−166670
号公報)。このような構成によれば、透明電極20段差
に起因する上記絶縁破壊の問題は生じない。
この透明電極2と略同−の厚さの絶縁膜19を配置形成
することが考えられている(実開昭58−166670
号公報)。このような構成によれば、透明電極20段差
に起因する上記絶縁破壊の問題は生じない。
しかしながら、第6図の方法を採用する限り、透明電極
2の断面肩部2aが鋭くなるため、この肩部2aに電界
が集中して、やはり絶縁破壊が生じやすいという問題点
が残る。
2の断面肩部2aが鋭くなるため、この肩部2aに電界
が集中して、やはり絶縁破壊が生じやすいという問題点
が残る。
問題点を解決するための手段
そこで、この発明は、ガラス基板上全面に絶縁膜を形成
するか形成せず、前記絶縁膜またはガラス基板をリング
ワフィによりパターニングして、所定ビ・フチで平行状
の多数のストライプ状の絶縁膜またはガラス突起部を形
成し、前記ストライプ状の絶縁膜またはガラス突起部上
にフォトレジスト膜を残存させた±(、フォトレジスト
膜上から絶縁膜またはガラス突起部を略同一厚さの透明
導電膜を形成し、前記絶縁膜またはガラス突起部上のフ
ォトレジスト膜をその上の透明導電膜とともにリフトオ
フして、絶縁膜またはガラス突起部の間にストライプ状
の透明電極を形成することを特徴とする。
するか形成せず、前記絶縁膜またはガラス基板をリング
ワフィによりパターニングして、所定ビ・フチで平行状
の多数のストライプ状の絶縁膜またはガラス突起部を形
成し、前記ストライプ状の絶縁膜またはガラス突起部上
にフォトレジスト膜を残存させた±(、フォトレジスト
膜上から絶縁膜またはガラス突起部を略同一厚さの透明
導電膜を形成し、前記絶縁膜またはガラス突起部上のフ
ォトレジスト膜をその上の透明導電膜とともにリフトオ
フして、絶縁膜またはガラス突起部の間にストライプ状
の透明電極を形成することを特徴とする。
作用
上記の手段によれば、透明電極間に略同一厚さの絶縁膜
またはガラス突起部が存在するので、段差がなくなり、
第1の誘電体層1発光層、第2の誘電体層、背面電極等
を形成する場合に、段切れや肉薄部が形成されないし、
先に絶縁膜またはガラス基板をパターニングしておいて
から、絶縁膜またはガラス突起部上のフォトレジスト膜
を残存させたま一透明導電膜を形成するので、フォトレ
ジスト膜とガラス基板との段差が著しく大きくなって絶
縁膜またはガラス突起部の付根部で透明導電膜の段切れ
が発生し、リフトオフで容易に透明溝′tL膜をパター
ニングして透明電極が形成でき、しかも透明電極の肩部
は丸味を帯びているので、この肩部への電界集中による
絶縁破壊が生じない。
またはガラス突起部が存在するので、段差がなくなり、
第1の誘電体層1発光層、第2の誘電体層、背面電極等
を形成する場合に、段切れや肉薄部が形成されないし、
先に絶縁膜またはガラス基板をパターニングしておいて
から、絶縁膜またはガラス突起部上のフォトレジスト膜
を残存させたま一透明導電膜を形成するので、フォトレ
ジスト膜とガラス基板との段差が著しく大きくなって絶
縁膜またはガラス突起部の付根部で透明導電膜の段切れ
が発生し、リフトオフで容易に透明溝′tL膜をパター
ニングして透明電極が形成でき、しかも透明電極の肩部
は丸味を帯びているので、この肩部への電界集中による
絶縁破壊が生じない。
実施例
以下、この発明の実施例の透明電極の形成方法について
、図面を参照して説明する。
、図面を参照して説明する。
第1図(A)ないしくD)は、第1実施例の各段階の要
部拡大断面図を示す。まず、ガラス基板1の上全面にY
、○3等の絶縁物を、後に形成しようとする透明電極(
2)と略同一厚さ1例えば数1000λ程度に蒸着また
はスバ、フタで被着して、絶縁膜、20を形成する(第
1図A)。
部拡大断面図を示す。まず、ガラス基板1の上全面にY
、○3等の絶縁物を、後に形成しようとする透明電極(
2)と略同一厚さ1例えば数1000λ程度に蒸着また
はスバ、フタで被着して、絶縁膜、20を形成する(第
1図A)。
次に、周知のフォトリソグラフィにより、絶縁膜20上
に所定ピ・フチで平行状かつストライプ状のフォトレジ
スト膜21を形成し、透明電極(2)を形成しようとす
る部分にストライプ状の窓孔21aを形成し、この窓孔
21aから露出する絶縁膜20を工、フチングして、ス
トライプ状の絶縁膜2″。
に所定ピ・フチで平行状かつストライプ状のフォトレジ
スト膜21を形成し、透明電極(2)を形成しようとす
る部分にストライプ状の窓孔21aを形成し、この窓孔
21aから露出する絶縁膜20を工、フチングして、ス
トライプ状の絶縁膜2″。
を形成する(第1図B)。
次に、ストライプ状の絶縁膜2o上にフォトレジスト1
llf[21を残存させたまゝ、フォトレジスト膜21
の上から全面にIF5. o、 、 SnO,等を蒸着
またはスパッタして、厚さ数1oooX程度の透明導電
膜22を形成する。このとき、フォトレジスト膜21の
上面とガラス基板1の上面との段差が大きいので、透明
導電膜22は絶縁膜20の付根部で段切れを生じている
(第1図C)。
llf[21を残存させたまゝ、フォトレジスト膜21
の上から全面にIF5. o、 、 SnO,等を蒸着
またはスパッタして、厚さ数1oooX程度の透明導電
膜22を形成する。このとき、フォトレジスト膜21の
上面とガラス基板1の上面との段差が大きいので、透明
導電膜22は絶縁膜20の付根部で段切れを生じている
(第1図C)。
こののち、全体を有機溶剤に浸漬し、フォトレスト模2
1を膨潤させて、その上の透明導電膜22とともに溶解
除去して、絶縁膜20.20間に透明電極2を形成する
。この透明電極2は、絶縁膜20と略同一厚さであり、
従来のような段差は生じない(第1図D)。
1を膨潤させて、その上の透明導電膜22とともに溶解
除去して、絶縁膜20.20間に透明電極2を形成する
。この透明電極2は、絶縁膜20と略同一厚さであり、
従来のような段差は生じない(第1図D)。
したがって、透明電極2上に、第1の誘電体層8、発光
層4.第2の誘電体層5を成膜する際に、段切れや薄肉
化が生じない。しかも、第1図(D)から明らかなよう
に、透明電極2の肩部2aが丸・味を帯びているので、
肩部2aに電界が集中しない。
層4.第2の誘電体層5を成膜する際に、段切れや薄肉
化が生じない。しかも、第1図(D)から明らかなよう
に、透明電極2の肩部2aが丸・味を帯びているので、
肩部2aに電界が集中しない。
第2図(A)ないしくD)は第2実施例の各段階の要部
拡大断面図を示す。この実施例は、ガラス基板1の上面
に絶縁膜20を形成することなく、直接にフォトレジス
ト膜21を形成し、ガラス基板1をエツチングして溝2
3を形成することによって溝28.28間にガラス突起
部24を形成し、以下、第1実施例と同様にして透明電
極2を形成するものであり、ガラス突起部24が第1実
施例の絶縁膜20と同様の作用を営み、第1実施例と同
様の効果が得られる。
拡大断面図を示す。この実施例は、ガラス基板1の上面
に絶縁膜20を形成することなく、直接にフォトレジス
ト膜21を形成し、ガラス基板1をエツチングして溝2
3を形成することによって溝28.28間にガラス突起
部24を形成し、以下、第1実施例と同様にして透明電
極2を形成するものであり、ガラス突起部24が第1実
施例の絶縁膜20と同様の作用を営み、第1実施例と同
様の効果が得られる。
発明の効果
この発明によれば、絶縁膜またはガラス突起部のパター
ニング時に使用したフォトレジスト膜を利用して透明導
電膜のパターニングができ、透明電極のパターニングが
特別の資材、工程を要せず簡単に実施できる。しかも、
透明電極間に略同一厚さの絶縁膜またはガラス突起部が
配置されているので、透明電極上への成膜時に段切れや
薄肉化が起らず、均一な成膜が可能になる。さらに、透
明電極の肩部が丸味を帯びているので、肩部への電界集
中がなくなり、絶縁破壊強度の大きい薄膜ELマトリ、
ソクスパネルが得られる。
ニング時に使用したフォトレジスト膜を利用して透明導
電膜のパターニングができ、透明電極のパターニングが
特別の資材、工程を要せず簡単に実施できる。しかも、
透明電極間に略同一厚さの絶縁膜またはガラス突起部が
配置されているので、透明電極上への成膜時に段切れや
薄肉化が起らず、均一な成膜が可能になる。さらに、透
明電極の肩部が丸味を帯びているので、肩部への電界集
中がなくなり、絶縁破壊強度の大きい薄膜ELマトリ、
ソクスパネルが得られる。
第1図(A)ないしCD)および第2図(A)ないしく
D)は、それぞれこの発明の異なる実施例の透明電極の
形成方法について説明するための異なる段階の要部拡大
断面図である。 第3図は薄膜FBI、マ) IJフックスネルの薄膜E
L素子部分の断面図、第4図は第3図の要部概略平面図
、第5図は第3図の薄膜EL素子を用いた薄膜KLマト
リ・ソクスバネルの断面図である。 第6図は従来の透明電極の形成方法について説艙′する
だめの各段階の要部拡大断面図である。 第7図はこの発明の詳細な説明電極付きガラス基板の要
部拡大断面図である。 1・・・・・・・・・・・・・・・・・・ガラス基板、
2・・・・・・・・・・・・・・・・・・透明電極、2
0・・・・・・・・・・・・絶縁膜、21・・・・・・
・・・・・・フォトレジスト膜、22・・・・・・・・
・・・・透明導電膜、24・・・・・・・・・・・・ガ
ラス突起部。 特許出願人 関西日本電気株式会社 第1図 第2FM 2] 第6図
D)は、それぞれこの発明の異なる実施例の透明電極の
形成方法について説明するための異なる段階の要部拡大
断面図である。 第3図は薄膜FBI、マ) IJフックスネルの薄膜E
L素子部分の断面図、第4図は第3図の要部概略平面図
、第5図は第3図の薄膜EL素子を用いた薄膜KLマト
リ・ソクスバネルの断面図である。 第6図は従来の透明電極の形成方法について説艙′する
だめの各段階の要部拡大断面図である。 第7図はこの発明の詳細な説明電極付きガラス基板の要
部拡大断面図である。 1・・・・・・・・・・・・・・・・・・ガラス基板、
2・・・・・・・・・・・・・・・・・・透明電極、2
0・・・・・・・・・・・・絶縁膜、21・・・・・・
・・・・・・フォトレジスト膜、22・・・・・・・・
・・・・透明導電膜、24・・・・・・・・・・・・ガ
ラス突起部。 特許出願人 関西日本電気株式会社 第1図 第2FM 2] 第6図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (a)ガラス基板上に絶縁膜を形成するかしない工程と
、 (b)前記絶縁膜またはガラス基板上面をフォトリソグ
ラフィによりパターニングして、所定ピッチで平行状の
多数のストライプ状の絶縁膜またはガラス突起部を形成
する工程と、 (c)前記ストライプ状の絶縁膜またはガラス突起部上
にフォトレジスト膜を残存させたまゝ、フォトレジスト
膜の上から絶縁膜またはガラス突起部と略同一厚さの透
明導電膜を形成する工程と、(d)前記絶縁膜またはガ
ラス突起部上のフォトレジスト膜をその上の透明導電膜
とともにリフトオフして、絶縁膜またはガラス突起部の
間にストライプ状の透明電極を形成する工程とを含むこ
とを特徴とする透明電極の形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1675485A JPS61176011A (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 透明電極の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1675485A JPS61176011A (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 透明電極の形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61176011A true JPS61176011A (ja) | 1986-08-07 |
Family
ID=11925032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1675485A Pending JPS61176011A (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 透明電極の形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61176011A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03246082A (ja) * | 1990-02-26 | 1991-11-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 伝票発行装置 |
| US5427467A (en) * | 1992-10-06 | 1995-06-27 | Nhk Spring Co., Ltd. | Ball joint apparatus and a manufacturing method therefor |
| US6280861B1 (en) | 1996-05-29 | 2001-08-28 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Organic EL device |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57185607A (en) * | 1981-05-11 | 1982-11-15 | Sharp Kk | Method of producing pattern electrode |
| JPS58154107A (ja) * | 1982-03-09 | 1983-09-13 | 富士通株式会社 | 電極基板の製造方法 |
-
1985
- 1985-01-30 JP JP1675485A patent/JPS61176011A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57185607A (en) * | 1981-05-11 | 1982-11-15 | Sharp Kk | Method of producing pattern electrode |
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| US5427467A (en) * | 1992-10-06 | 1995-06-27 | Nhk Spring Co., Ltd. | Ball joint apparatus and a manufacturing method therefor |
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