JPS61193151A - ペリクル枠の構造 - Google Patents

ペリクル枠の構造

Info

Publication number
JPS61193151A
JPS61193151A JP60033718A JP3371885A JPS61193151A JP S61193151 A JPS61193151 A JP S61193151A JP 60033718 A JP60033718 A JP 60033718A JP 3371885 A JP3371885 A JP 3371885A JP S61193151 A JPS61193151 A JP S61193151A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pellicle
frame
pellicle frame
reticle
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60033718A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Tanaka
裕之 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP60033718A priority Critical patent/JPS61193151A/ja
Publication of JPS61193151A publication Critical patent/JPS61193151A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/62Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
    • G03F1/64Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof characterised by the frames, e.g. structure or material, including bonding means therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 縮小投影露光法において、レチクル保護のため用いられ
るペリクル枠の構造を二分割することにより、不良発生
時ペリクル枠を容易に取り外し再使用可能とした。
〔産業上の利用分野〕
光を用いてウェハー上のレジストにパターンを露光する
方法として、マスクを直接密着させて露光する方法、あ
るいは近接露光法の他、投影露光法がある。
投影露光法にも1:1の露光よりも最近は高集積化によ
る微細加工の要求により5:1.10:1等の縮小投影
露光法が用いられる。
縮小投影露光法の場合、実際のウェハー上のパターン寸
法の5倍、あるいは10倍のクロームパターンをガラス
板上に被着した、所謂、レチクルと称せられるマスクを
用いる。
本発明は、このレチクルにゴミ付着することによる、ウ
ェハー露光工程での不良発生防止用に用いられるペリク
ル構造の改良に関する。
〔従来の技術〕
従来の技術による縮小投影露光装置の一例を第2図に示
す。
一般に縮小投影露光法によってウェハー上に投影出来る
面積は20 X 2On+m程度であり、4.5インチ
程度の大きい面積のウェハー面の全面を露光するために
は、ステップアンドリピート法によりウェハーを固定し
ている移動台14をx、y方向に機械的に精密に移動さ
せて繰り返し露光することになる。
この場合レチクル3の上には5倍、あるいは10倍のパ
ターンが描かれ、通常、複数個のチップパターンが描か
れている。第3図では6個のチップパターンの場合を示
す。
このレチクルは、大量に生産されるウェハー露光に何回
も使用されることになるが、工程の途中におけるゴミ付
着はクリールルーム内といえども避けることが出来ない
これを防止するためペリクルと呼ばれる保護膜が用いら
れる。ペリクル構造を用いた投影露光法の原理図を第4
図に示す。
ペリクルは、レチクル3の上下に一対として用いられ、
それぞれペリクル枠1とペリクル枠の端面に張られたペ
リクル膜2よりなる。ペリクル膜2はニトロセルローズ
材よりなる非常に薄い光透過率の良い薄膜より成ってい
る。
ペリクルのない場合、レチクル面上のゴミAばその侭レ
ンズにより縮小されてウェハー上に焦点Bを結び(第4
図(al)、露光パターンの傷となる。
ペリクル膜2で保護され、ペリクル膜の上に付着したゴ
ミAは、レチクル面3より隔離されているため、ウェハ
ー上では結像しないのでパターン像としては残らない(
第4図(b))。
ペリクル膜上のゴミはエアーブロー、あるいは洗浄も可
能である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記に述べた、従来の技術による方法では、レチクル3
にペリクル枠lを張りつけた後、精密なるパターンの検
査が行われ、パターン不良が発見されたときペリクルの
救済が困難であった。
これらの不良はレチクルに描かれた原図パターン自体の
欠陥の場合もあり、ペリクルを張りつける前にレチクル
に付着したゴミに起因する場合もある。
何れの場合も、一度レチクルにペリクル枠を固定した後
、レチクル面で欠陥が発見され検査不合格となると、ペ
リクル枠は接着剤で強くレチクルに固定されているため
、薄いペリクル膜2を傷つけずに剥がすことは極めて困
難である。
現状では殆どペリクルを破棄せざるを得ない。
そのため非常に高価なペリクルを犠牲にせざるを得ない
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点は、第1図に示すごとくペリクル枠を内外二
層の枠構造1.5に分割することにより解決される。
即ち、ペリクル膜2を張りつけたペリクル枠1と、もう
一方のレチクル3に固定するペリクル枠5を準備する。
ペリクル枠5の外周には、ゴムまたはプラスチックより
なる緩衝膜6を備え、ペリクル枠1をペリクル枠5に挿
入、嵌合させて、固定する構造となっている。
〔作用〕
ペリクル枠を二分割して、内外二層の枠構造1゜5とす
ることにより、レチクル部に欠陥が発見され、修理を必
要とするとき、ペリクル枠は内外二層の嵌合構造のため
1、容易にペリクル膜を張りつけたペリクル枠1を取り
外すことが出来る。
また、取り外したペリクル枠は、再使用可能である。
〔実施例〕
本発明による一実施例を第1図により詳細説明する。
ペリクル枠は二つの部分に分かれ、ペリクル枠1はその
端面にペリクル膜2を張りつめである。
ペリクル膜は従来と同様にニトロセルローズによる1μ
m以下の薄い膜が高精度の膜厚、平面度をもって端面に
張りつけられている。
ペリクル枠1は、その内側のペリクル枠5と、5の外周
に設けられたゴム、またはプラスチックよりなる緩衝膜
6を介して挿入嵌合される。
ペリクル枠1の高さを5より大きく選び、且つ端面の精
度を上げることにより、ペリクル膜面2はレチクル3に
対して平行平面として形成される。
レチクル面の上下両面に対して、上記ペリクル枠を取り
つけることにより、レチクル面の保護構造とする。
上記レチクルを投影露光法により検査用ウェハーを用い
て欠陥の検査を行って、不合格と判定された時は、外側
のペリクル枠1を回転させなが引っ張ることにより容易
にペリクル枠5より取り外しが可能である。
取り外したペリクル枠は、再使用可能となる。
〔発明の効果〕
以上に説明せるごとく、ペリクル枠を内外二層の構成部
品に分割することにより、レチクル面でパターンの欠陥
、あるいはゴミが発見されたとき、高価なペリクル枠の
回収が容易となり、コスト削減に寄与する所大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかわるペリクル枠部の構造断面図、 第2図は縮小投影露光装置の斜視図、 第3図はレチクルおよびウェハー上のパターン、 第4図はべりタルの効果を示す原理図、を示す。 図面において、 ■、5はペリクル枠、 2はベリタル膜、 3はレチクル、 4はウェハー、 6は緩衝膜、 11は光源、 12はレンズ、 13は縮小レンズ、 14は移動台、 をそれぞれ示す。 オ擢1’/L−よう′(リフル苓千4驚r鉦第1図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  内外二層のペリクル枠により構成され、 該二層のペリクル枠の第1のペリクル枠(5)の一端面
    は、レチクル(3)に接着され、 該ペリクル枠(5)の外周はゴムまたはプラスチックよ
    りなる緩衝膜(6)を備え、 第2のペリクル枠(1)の一端面は、ペリクル膜(2)
    を張りつめ、前記第1のペリクル枠の緩衝膜(6)の外
    側に嵌合させることにより、一体化する構造を特徴とす
    るペリクル枠の構造。
JP60033718A 1985-02-21 1985-02-21 ペリクル枠の構造 Pending JPS61193151A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60033718A JPS61193151A (ja) 1985-02-21 1985-02-21 ペリクル枠の構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60033718A JPS61193151A (ja) 1985-02-21 1985-02-21 ペリクル枠の構造

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61193151A true JPS61193151A (ja) 1986-08-27

Family

ID=12394179

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60033718A Pending JPS61193151A (ja) 1985-02-21 1985-02-21 ペリクル枠の構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61193151A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2722712A3 (en) * 2012-10-16 2017-12-13 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. A pellicle

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2722712A3 (en) * 2012-10-16 2017-12-13 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. A pellicle

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4833051A (en) Protective device for photographic masks
KR101864171B1 (ko) 리소그래피용 펠리클
CA2024618A1 (en) Amorphous fluoropolymer pellicle films
CA1087898A (en) Projection printing using transparent covering layers
JP2642637B2 (ja) 防塵膜
US10241393B2 (en) Pellicle
US20100007869A1 (en) Reticle Handler
JPS61193151A (ja) ペリクル枠の構造
JPS61193153A (ja) ペリクル枠の構造
JPS6344824Y2 (ja)
JP2550281Y2 (ja) ペリクル用フレーム
JP4345882B2 (ja) 大型ペリクル
JPH02250055A (ja) フォトマスク及び半導体装置の製造方法
CN111897186B (zh) 一种光学膜粘合胶的半自动贴合装置及工艺
JP5649134B2 (ja) ペリクルフレーム
JP2015001683A (ja) 高平坦リソグラフィ用ペリクル
TW201404577A (zh) 防塵薄膜組件及其製造方法
JPS63309954A (ja) 半導体装置製造用マスク
KR101970059B1 (ko) 펠리클
JPS6250758A (ja) パタ−ン形成方法
JPS6285250A (ja) マスク
JPH04174846A (ja) マスク保護部材
JPS6231855A (ja) ペリクル付マスクブランク
JPS60134239A (ja) マスク基板
EP0155942B1 (en) Method of producing contamination-free pellicles