JPS61194484A - 表示パネル - Google Patents
表示パネルInfo
- Publication number
- JPS61194484A JPS61194484A JP3569785A JP3569785A JPS61194484A JP S61194484 A JPS61194484 A JP S61194484A JP 3569785 A JP3569785 A JP 3569785A JP 3569785 A JP3569785 A JP 3569785A JP S61194484 A JPS61194484 A JP S61194484A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- display
- inspection
- pitch
- connection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
本発明は、表示部パターンピッチと接続部パターンピッ
チが異なる電極パターンを有するドットマ） ＩＪラッ
クス表示パネルにおける電極検査を容易化するためのも
ので、接続部パターンの外側に、該接続部パターンと接
続する検査用パターンを設けている。
チが異なる電極パターンを有するドットマ） ＩＪラッ
クス表示パネルにおける電極検査を容易化するためのも
ので、接続部パターンの外側に、該接続部パターンと接
続する検査用パターンを設けている。
本発明は、表示部パターンピッチと接続部パターンピッ
チが異なる電極パターンを有するＬＣＤ 。
チが異なる電極パターンを有するＬＣＤ 。
ＰＤＰ、ＥＬ等のドツトマトリックス形表示パネルに関
するものである。
するものである。
この種の表示パネルにおいては、電極パターンのオープ
ン、ショート検査用として、接続部パターンの外側に該
接続部パターンと接続する検査用パターンを設け、表示
部パターンの接続部パターン形成側と反対側の端部と検
査用パターンの端部にプローブピンを立てて検査を行っ
ている。
ン、ショート検査用として、接続部パターンの外側に該
接続部パターンと接続する検査用パターンを設け、表示
部パターンの接続部パターン形成側と反対側の端部と検
査用パターンの端部にプローブピンを立てて検査を行っ
ている。
従来の表示パネルの電極パターンを第２図に示す。図中
、１＋１１２１・・・＋ ＩｎはＸ方向に伸びＹ方向に
等間隔に設けられた電極パターン、２１，２２．・・・
＋ ２１はＹ方向に伸びＸ方向に等間隔に設けられた電
極パターンで、電極パターンＩＩ、１２．・・・Ｉ １
ｎの表示部パターン３１．３２ 、・・・＋”ｎの一端
には接続部パターン４］、４２．・・・＋’ｎが連続形
成され、電極パターン２１゜２２、・・・＋２ｎの表示
部パターン５１．５２．・・・＋”ｎの一端には接続部
パターン６１ 、６２ 、・・・＋６１が連続形成され
ている。表示部パターン３１，３２．・・・、３ｎ及び
接続部パターン４１，４ｓ、・・・＋４Ｈを含む電極パ
ターン１１，１２．・・・。
、１＋１１２１・・・＋ ＩｎはＸ方向に伸びＹ方向に
等間隔に設けられた電極パターン、２１，２２．・・・
＋ ２１はＹ方向に伸びＸ方向に等間隔に設けられた電
極パターンで、電極パターンＩＩ、１２．・・・Ｉ １
ｎの表示部パターン３１．３２ 、・・・＋”ｎの一端
には接続部パターン４］、４２．・・・＋’ｎが連続形
成され、電極パターン２１゜２２、・・・＋２ｎの表示
部パターン５１．５２．・・・＋”ｎの一端には接続部
パターン６１ 、６２ 、・・・＋６１が連続形成され
ている。表示部パターン３１，３２．・・・、３ｎ及び
接続部パターン４１，４ｓ、・・・＋４Ｈを含む電極パ
ターン１１，１２．・・・。
１ｎは一方の基板に形成され、表示部パターン５１゜５
２、・・・＋５ｎ及び接続部パターン６１，６２．・・
・、６ｎを含む電極パターン２１，２２．・・・、２ｎ
は一方の基板に対向する他方の基板に形成されている。
２、・・・＋５ｎ及び接続部パターン６１，６２．・・
・、６ｎを含む電極パターン２１，２２．・・・、２ｎ
は一方の基板に対向する他方の基板に形成されている。
接続部パターン４１，４２．−、４ｎ及び接続部パター
ン６１，６２．−・・＋６１のピッチは対応する表示部
パターン３１，３２．・・・＋３１及び表示部パターン
５１，５２．・・・＋５１のピッチより広くなっている
が、これは、表示パネルから駆動用プリント板（図示せ
ず）への電気的接続にフｌノキシブルプリント板または
ヒートシールを用いておシ、表示部パターンピッチが０
．５ｍｍ以下の場合に接続が容易に行えるようにするた
めである。
ン６１，６２．−・・＋６１のピッチは対応する表示部
パターン３１，３２．・・・＋３１及び表示部パターン
５１，５２．・・・＋５１のピッチより広くなっている
が、これは、表示パネルから駆動用プリント板（図示せ
ず）への電気的接続にフｌノキシブルプリント板または
ヒートシールを用いておシ、表示部パターンピッチが０
．５ｍｍ以下の場合に接続が容易に行えるようにするた
めである。
このような構成の場合、電極パターンのオープン、ショ
ート検査時には、各電極パターンの最遠部すなわち第２
図に電極パターン１１．１２．・・・、ｉｎについて例
示した矢印位ｆｉｔ （表示部パターン３＋ 、３２゜
・・・、３ｎの端部及び接続部パターン４１，４２．・
・・、４ｎの端部）にプローブピン７．８を立てて検査
を行うが、表示部パターンと接続部パターンではパター
ンピッチが異なるため、プローブビンの配列が不規則と
なり不都合であった。
ート検査時には、各電極パターンの最遠部すなわち第２
図に電極パターン１１．１２．・・・、ｉｎについて例
示した矢印位ｆｉｔ （表示部パターン３＋ 、３２゜
・・・、３ｎの端部及び接続部パターン４１，４２．・
・・、４ｎの端部）にプローブピン７．８を立てて検査
を行うが、表示部パターンと接続部パターンではパター
ンピッチが異なるため、プローブビンの配列が不規則と
なり不都合であった。
本発明は上述の問題点を解決することのできる表示パネ
ルを提供するもので、第１図に示すように、接続部パタ
ーンの外側に該接続パターンと接続する検査用パターン
を設けている。
ルを提供するもので、第１図に示すように、接続部パタ
ーンの外側に該接続パターンと接続する検査用パターン
を設けている。
オープン、ショート検査用として検査用パターンが設け
られており、この検査用パターンのピッチを適当に設定
することによシ検査の容易化を図ることができる。そし
て、検査用パターンのピッチを表示部パターンのピッチ
と同一とすれば、検査は最も容易になる。また、パター
ン形成基板のサイズを検査用パターン形成分だけ延長し
ておき、検査終了後に該延長部分を切り落して作用する
ようにすれば、表示パネルのサイズを特に大きくしなく
てすむ。
られており、この検査用パターンのピッチを適当に設定
することによシ検査の容易化を図ることができる。そし
て、検査用パターンのピッチを表示部パターンのピッチ
と同一とすれば、検査は最も容易になる。また、パター
ン形成基板のサイズを検査用パターン形成分だけ延長し
ておき、検査終了後に該延長部分を切り落して作用する
ようにすれば、表示パネルのサイズを特に大きくしなく
てすむ。
以下、第１図に関連して本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明に係る表示パネルの電極パターン配置図
で、図中１１１，１１２．・・・、１１ｎはＸ方向に伸
びＹ方向に等間隔に設けられた電極パターン、１２１゜
１２２、・・・、 １２ｎはＹ方向に伸びＸ方向に等間
隔に設けられた電極パターンである。
で、図中１１１，１１２．・・・、１１ｎはＸ方向に伸
びＹ方向に等間隔に設けられた電極パターン、１２１゜
１２２、・・・、 １２ｎはＹ方向に伸びＸ方向に等間
隔に設けられた電極パターンである。
電極パターンｌｉｔ、ｌｕｇ、・・・、１１ｎの表示部
パターン１３１．１３ｇ、・・・、１３ｎの一端には接
続部パターン１４ｔ、。
パターン１３１．１３ｇ、・・・、１３ｎの一端には接
続部パターン１４ｔ、。
１４２、・・・、１４ｎが連続形成され、該接続部パタ
ーン１４１．１４ｇ、・・・、１４ｎの外側には検査用
パターン１５１゜１５２１・・・、１５ｎが連続形成さ
れている。接続部パターン１４ｘ、１４ｇ、・・・、１
４ｎのピッチは表示部パターン１３１゜１３２、・・・
、１３ｎのピッチより大きく（駆動用プリント板との接
続容易化のため）設定され、検査用パターン１５１，１
５ｇ、・・・、１５ｎのピッチは表示部パターン１３】
、１：３２．・・・、１３ｎのピッチと同一に設定され
ている。
ーン１４１．１４ｇ、・・・、１４ｎの外側には検査用
パターン１５１゜１５２１・・・、１５ｎが連続形成さ
れている。接続部パターン１４ｘ、１４ｇ、・・・、１
４ｎのピッチは表示部パターン１３１゜１３２、・・・
、１３ｎのピッチより大きく（駆動用プリント板との接
続容易化のため）設定され、検査用パターン１５１，１
５ｇ、・・・、１５ｎのピッチは表示部パターン１３】
、１：３２．・・・、１３ｎのピッチと同一に設定され
ている。
また、電極パターン１２１，１２ｇ、・・・、１２ｎｏ
ｆｉ示部パターン１６１． ＩＬ＋ 、・・・、１６ｎ
の一端には接続部パターン１７ ｓ 、 １７ｇ 、・
・・、１７ｎが連続形成され、該接続部パターン１７１
，１７２．・・・、１７ｎの外側には検査用パターン１
８１゜１８２、・・・、１８ｎが連続形成されている。
ｆｉ示部パターン１６１． ＩＬ＋ 、・・・、１６ｎ
の一端には接続部パターン１７ ｓ 、 １７ｇ 、・
・・、１７ｎが連続形成され、該接続部パターン１７１
，１７２．・・・、１７ｎの外側には検査用パターン１
８１゜１８２、・・・、１８ｎが連続形成されている。
接続部パターン１７１，１７２．・・・、１７ｎのピッ
チは表示部パターン１６１゜１６２、・・・、１６ｎの
ピッチより大きく（駆動プリント板との接続容易化のた
め）設定され、検査用パターン１．８＋、１８２．・・
・、１８ｎのピッチは表示部パターン１６１゜１６２．
・・・、１６ｎピツチと同一に設定されている。
チは表示部パターン１６１゜１６２、・・・、１６ｎの
ピッチより大きく（駆動プリント板との接続容易化のた
め）設定され、検査用パターン１．８＋、１８２．・・
・、１８ｎのピッチは表示部パターン１６１゜１６２．
・・・、１６ｎピツチと同一に設定されている。
このように接続部パターンの外側に表示部パターンと同
一ピッチの検査用パターンを設けておくことにより、こ
の検査用パターンの端部と、表示部パターンの接続部パ
ターン形成側と反対側の端部（第１図の左端及び上端）
とに検査用プローブを立てて検査を行うことができるが
、この場合、検査用パターンが対応する表示部パターン
と同一ピッチで形成されているため、オープン、ショー
ト検査用プローブは全く同じピッチのビンを２列に並べ
ることにより実現でき、検査を容易かつ確実に行うこと
が可能になる。そして、大容量表示のパターンでも、一
定のブロック毎に検査用プローブを移動させて容易に検
査を行うことができる。
一ピッチの検査用パターンを設けておくことにより、こ
の検査用パターンの端部と、表示部パターンの接続部パ
ターン形成側と反対側の端部（第１図の左端及び上端）
とに検査用プローブを立てて検査を行うことができるが
、この場合、検査用パターンが対応する表示部パターン
と同一ピッチで形成されているため、オープン、ショー
ト検査用プローブは全く同じピッチのビンを２列に並べ
ることにより実現でき、検査を容易かつ確実に行うこと
が可能になる。そして、大容量表示のパターンでも、一
定のブロック毎に検査用プローブを移動させて容易に検
査を行うことができる。
また、この検査用パターンを形成した部分を検査終了後
に切り落して使用するようにすれば、表示パネルを大き
くせずにすむ。
に切り落して使用するようにすれば、表示パネルを大き
くせずにすむ。
以上述べたように、本発明によれば、電極パターンのオ
ープン、ショート検査用として接続部パターンの外側に
検査用パターンが設けられており、この検査用パターン
ピッチを適当に設定することによシ検査の容易化を図る
ことができる。そして検査用パターンのピッチを表示部
パターンのピッチと同一とすれば、検査は最も容易にな
る。また、パターン形成基板のサイズを検査用バクーン
形成分だけ延長しておき、検査終了後に該延長部分を切
シ落して使用するようにすれば、表示パネルのサイズを
特に大きくしなくてすむ。
ープン、ショート検査用として接続部パターンの外側に
検査用パターンが設けられており、この検査用パターン
ピッチを適当に設定することによシ検査の容易化を図る
ことができる。そして検査用パターンのピッチを表示部
パターンのピッチと同一とすれば、検査は最も容易にな
る。また、パターン形成基板のサイズを検査用バクーン
形成分だけ延長しておき、検査終了後に該延長部分を切
シ落して使用するようにすれば、表示パネルのサイズを
特に大きくしなくてすむ。
第１図は本発明の実施例を示す表示パネル電極パターン
配置図、 第２図は従来の表示パネル電極パターン配置図で、 第１図において、 ＩＬ＋ 、 １１ｚ、−、ｌｌｎ及び１２１＋ ” ２
２＋ ’・・、１２ｎは電極パターン〜 １３＋ 、１３２．・−・、１３１及び１６＋、１６ｉ
＋、・・・１１６ｎは表示部パターン、 １４＋、１４２．−．１４ｎ及び１７１，１７２．・・
、１７ｎは接続部パターン、 １５１．１５２．・・・、１５ｎ及びＩＬ 、 １８２
、・・・、１８ｎは検査用パターンである。
配置図、 第２図は従来の表示パネル電極パターン配置図で、 第１図において、 ＩＬ＋ 、 １１ｚ、−、ｌｌｎ及び１２１＋ ” ２
２＋ ’・・、１２ｎは電極パターン〜 １３＋ 、１３２．・−・、１３１及び１６＋、１６ｉ
＋、・・・１１６ｎは表示部パターン、 １４＋、１４２．−．１４ｎ及び１７１，１７２．・・
、１７ｎは接続部パターン、 １５１．１５２．・・・、１５ｎ及びＩＬ 、 １８２
、・・・、１８ｎは検査用パターンである。
Claims (3)
- （１）表示部パターンピッチと接続部パターンピッチが
異なる電極パターンを有するドットマトリックス形表示
パネルにおいて、 前記接続パターンの外側に、該接続部パターンと接続す
る検査用パターンを設けたことを特徴とする表示パネル
。 - （２）検査用パターンが表示部パターンと同一ピッチで
形成された特許請求の範囲第１項記載の表示パネル。 - （３）検査部パターンが検査終了後に切り落される部分
に形成された特許請求の範囲第１項及び第２項記載の表
示パネル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3569785A JPS61194484A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | 表示パネル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3569785A JPS61194484A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | 表示パネル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61194484A true JPS61194484A (ja) | 1986-08-28 |
Family
ID=12449078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3569785A Pending JPS61194484A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | 表示パネル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61194484A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02208634A (ja) * | 1989-02-08 | 1990-08-20 | Hitachi Ltd | 液晶表示素子 |
| US5959713A (en) * | 1996-10-04 | 1999-09-28 | Seiko Epson Corporation | Liquid-crystal display panel and method for inspecting the same |
| KR100445714B1 (ko) * | 1996-10-04 | 2004-12-04 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 액정표시패널및그검사방법 |
-
1985
- 1985-02-25 JP JP3569785A patent/JPS61194484A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02208634A (ja) * | 1989-02-08 | 1990-08-20 | Hitachi Ltd | 液晶表示素子 |
| US5959713A (en) * | 1996-10-04 | 1999-09-28 | Seiko Epson Corporation | Liquid-crystal display panel and method for inspecting the same |
| KR100445714B1 (ko) * | 1996-10-04 | 2004-12-04 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 액정표시패널및그검사방법 |
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