JPH0754384B2 - 導電板 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、LCD（液晶表示装置）やPDP（プラズマ表示装
置）の透明電極などの線状の導電路部を複数本並設した
状態で備えているものとして使用される導電板に関する
ものである。

〔従来の技術〕

従来、この種の電極として使用される導電板は、ドット
マトリックスパターンが形成できるように、電極となる
線状の導電路部を複数本並設した状態で備えているもの
で、例えば第２図に示すように、導電板１は、その表面
に、複数本の導電路部２を一定間隔で並設してなる導電
パターン３を有している。そして図に示すようにセンタ
ーギャップを有するものにあっては、複数本の導電路部
が対称的に配置されており、導電路部２の外端部20が端
子となるものであった。

ところで、この導電板を各種の方法で製造した後、導電
パターンが確実に形成されているかどうかを、すなわち
それぞれの導電路部が断線していないか、また隣設した
導電路部相互がショート状態になっていないか、検査し
て不良品を除くようにしている。この導電板の断線検査
およびショート検査は、検査機器によってつぎのように
して行われている。まず断線検査は、導電路部２ぞれぞ
れの端部側に設定された位置a,b,…,1それぞれに検査装
置の検査ピンが当てられ、例えば導電路部それぞれの一
端側の位置a,b,c,g,h,iに接した検査ピンに電流を入れ
て、他端側の位置d,e,f,j,k,lに接したピンで電流値を
検査して行われる。またショート検査においては、まず
並設方向の外側に位置する導電路部に対して行われ、位
置ａに接した検査ピンに電流を入れ、隣設する導電路部
に接した検査ピン、例えば位置b,gの検査ピンで電流値
を検出して、位置ａの導電路部とこれに隣設された導電
路部とのショートの有無を検出する。そして電流を入れ
る箇所を順に位置b,c,g,…と変えて、導電路部相互間全
てのショートを検査するように設けられている。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、上記ショート検査は、上述したように複
数本の導電路部それぞれに対して順に行われることか
ら、特に導電路部が多いパターンであっては検査時間が
非常に長くなり、検査工程での作業効率が低いという問
題があった。

そこで断線検査およびショート検査の時間を短くし、検
査工程での作業効率を向上させることが課題とされてい
た。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、上記した課題を考慮してなされたもので、セ
ンターギャップを介して対称的に配置され、かつ、一定
間隔で並設された複数本の導電路部と、センターギャッ
プの両側の導電路部の側端部に一本置きに接続された検
査導電路部とからなる導電パターンを有してなり、前記
検査導電路部に接続された導電路部が互い違いに配設さ
れていることを特徴とする導電板を提供して、上記課題
を解消するものである。

〔作 用〕

本発明においては、一本置きの導電路部が検査導電路部
と連続しており、ショート検査で検査導電路部から電流
が入る導電路部間に、この導電路部とショートしてはな
らない導電路部（検査導電路部に連続していない導電路
部）が配置するようになる。

そして断線検査に際しては、検査導電路部と連続してい
ない導電路部の両端部に検査ピンを当てるとともに、前
記検査導電路部中の少なくとも一点と検査導電路部に連
続している導電路部の他端部それぞれとに検査ピンを当
てると、検査導電路部と連続していない導電路部それぞ
れでの両端部間の電流値が検出され、また検査導電路部
とこれに連続している導電路部の他端部間それぞれの電
流値が検出されるようになる。一方、ショート検査に際
しては、検査導電路部と、この検査導電路部に間接的に
も連続してはならない導電路部とに検査ピンを当てる
と、導電路部間の少なくとも一箇所でショート状態であ
る場合、ショートとして検出されるようになる。

〔実施例〕

つぎに、本発明を第１図に示す一実施例に基づいて詳細
に説明する。なお、第２図に示す従来例と構成が重複す
る部分は同符号を付してその説明を省略する。

導電板１は、センターギャップの導電パターン３を有す
るもので、この導電パターン３は、一定間隔で複数本の
導電路部2a,2bを２列に並設するとともに、導電板１の
周縁に沿うようにして検査導電路部４を設け、一本置き
の導電路部2aの外端部20側を前記検査導電路部４に連続
させ、センターギャップを介して対向する導電路部は一
方が前記検査導電路部４に連続する構成を有している。

この導電板１の導電パターン３を検査するにあたって
は、検査導電路部４の端部41の位置ａ、前記検査導電路
部４に連続する導電路部2aの他端部21の位置e,g,i,l,n,
p、前記導電路部2aには接続してはならない導電路部2b
の両端部の位置b,c,d,f,h,j,k,m,o,q,r,sそれぞれに検
査ピンが当てられ、断線検査およびショート検査が行わ
れる。

断線検査は、例えば位置a,b,c,d,k,m,oの検査ピンに電
流を入れ、位置e,f,g,h,i,j,l,n,p,q,r,sの検査ピンで
電流値を検出するようにすればよい。

またショート検査は、検査導電路部４側から入れた電流
が導電路部2bに流れないとき、導電路部2aと導電路部2b
とが接触していないことを示し、逆に導電路部2bに流れ
ると、それはいずれかの箇所で導電路部2aと導電路部2b
とが接触していることを示しており、検査導電路部４の
位置ａに電流を入れ、例えば導電路部2bの位置f,h,j,k,
m,oで検出されるかどうかを検査すればよく、容易に判
定がなされるようになる。

なお、上記導電板はＡ−Ａ線に沿って導電路部の外端部
を、パネル組付け時などにおいて断裁すればよい。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、導電板は、セン
ターギャップを介して対称的に配置され、かつ、一定間
隔で並設された複数本の導電路部と、センターギャップ
の両側の導電路部の側端部に一本置きに接続された検査
導電路部とからなる導電パターンとを有してなり、前記
検査導電路部に接続された導電路部が互い違いに配設さ
れているので、断線検査やショート検査のときに立てる
検査ピンの数を従来の3/4に減少させることができると
ともに、前記ショート検査において、検査導電路部側か
ら入れた電流がこの検査導電路部に連続していない導電
路部で出力されるかどうかを調べるようにすることによ
って、ショート検査が一度に行え、検査工程の短縮化が
図れるようになるなど、実用性にすぐれた効果を奏する
ものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る導電板の一実施例を示す説明図、
第２図は従来例を示す説明図である。 １……導電板 2a,2b……導電路部 ３……導電パターン ４……検査導電路部

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】センターギャップを介して対称的に配置さ
   れ、かつ、一定間隔で並設された複数本の導電路部と、
   センターギャップの両側の導電路部の側端部に一本置き
   に接続された検査導電路部とからなる導電パターンを有
   してなり、前記検査導電路部に接続された導電路部が互
   い違いに配設されていることを特徴とする導電板。