JPS61196342A - 端末システムまたは装置の機能試験装置 - Google Patents
端末システムまたは装置の機能試験装置Info
- Publication number
- JPS61196342A JPS61196342A JP60036339A JP3633985A JPS61196342A JP S61196342 A JPS61196342 A JP S61196342A JP 60036339 A JP60036339 A JP 60036339A JP 3633985 A JP3633985 A JP 3633985A JP S61196342 A JPS61196342 A JP S61196342A
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- Japan
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- test
- extraction
- equipment
- terminal system
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- Pending
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、端末システムまたは装置の機能試験装置に関
し、特に人手による既知機能端末システムまたは装置の
試験において、動作中の各接続部における試験データを
吸上げることにより、単体機能試験を容易にならしめる
装置に関する。
し、特に人手による既知機能端末システムまたは装置の
試験において、動作中の各接続部における試験データを
吸上げることにより、単体機能試験を容易にならしめる
装置に関する。
従来の試験データ吸上げによる機能試験方法は、特開昭
５７−１２５４４９号公報に記載のように「システムま
たは装置の一部を構成するｍ子回路パッケージまたはユ
ニットの各接続部１（おける試験用電気信号を抽出及び
記録して試験用システムに供給し、他のパッケージ単体
の機能確認に用いる」方法となっている。しかし、試験
対象が端末システムまたは装置自体であるような場合の
機能試験装置が望まれる。
５７−１２５４４９号公報に記載のように「システムま
たは装置の一部を構成するｍ子回路パッケージまたはユ
ニットの各接続部１（おける試験用電気信号を抽出及び
記録して試験用システムに供給し、他のパッケージ単体
の機能確認に用いる」方法となっている。しかし、試験
対象が端末システムまたは装置自体であるような場合の
機能試験装置が望まれる。
本発明の目的は、既知機能システムまたは装置の各入出
力接続部において、試験データを抽出し蓄積することに
より試験データの保存、解析及び蓄積データを出力して
被試験端末システムまたは装置の単体機能試験て用い１
機能試験を容易にならしめる装置を提供することである
。
力接続部において、試験データを抽出し蓄積することに
より試験データの保存、解析及び蓄積データを出力して
被試験端末システムまたは装置の単体機能試験て用い１
機能試験を容易にならしめる装置を提供することである
。
本発明の特徴とするところは、既知機能システムまたは
装置に対し１人手操作による試験を行った時の各接続部
におけるインタフェース上のデータを時間軸で抽出し、
抽出データが繰返しデータの場合は省略処理を施し、プ
リントデータは発生多項式により演算し圧縮処理した後
。
装置に対し１人手操作による試験を行った時の各接続部
におけるインタフェース上のデータを時間軸で抽出し、
抽出データが繰返しデータの場合は省略処理を施し、プ
リントデータは発生多項式により演算し圧縮処理した後
。
蓄積する。蓄積データの出力は被試験システムまたは装
置に対し、抽出時と同一時間軸上で出力することにより
人手操作なしに同一条件下での試験を再現可能ならしめ
ることである。
置に対し、抽出時と同一時間軸上で出力することにより
人手操作なしに同一条件下での試験を再現可能ならしめ
ることである。
以下６本発明の一実施例を第１図により説明する。
既知機能の端末制御装置１ｆｌｏに接続されるキーポ゛
−ドｌｌ、プリンタ１２．モデム１３を動作させ機能試
験を行う。これにより端末制御装置の各接続部のインタ
フェース上に発生する試験データを抽出用分岐ケーブル
１４〜１６を用いて本発明の装置の機能試験装置本体に
送出される。
−ドｌｌ、プリンタ１２．モデム１３を動作させ機能試
験を行う。これにより端末制御装置の各接続部のインタ
フェース上に発生する試験データを抽出用分岐ケーブル
１４〜１６を用いて本発明の装置の機能試験装置本体に
送出される。
送出されたデータは抽出用インタフェース制御部１８に
より、各試験データとして抽出される。
より、各試験データとして抽出される。
抽出動作に当って、抽出仕様の設定及び抽出動作の起動
を入出力装置２３より行う。この起動により１ｍ１周期
のパルスが発生し、経時間針２１が始動する。また入出
力装置２３は抽出動作中の状態監視及び抽出データのモ
ニタリングを行う。
を入出力装置２３より行う。この起動により１ｍ１周期
のパルスが発生し、経時間針２１が始動する。また入出
力装置２３は抽出動作中の状態監視及び抽出データのモ
ニタリングを行う。
この抽出した各試験データは、データ種別を識別するフ
ラグキャラクタを先頭に付加するとともに抽出受付は時
間を示す３バイトからなる経時間針の値とを対にして、
一旦メモリ１９に記憶し、共通制御部２０により必要な
処理を加えた後、外部記憶装置２４に逐次蓄積する。こ
の時。
ラグキャラクタを先頭に付加するとともに抽出受付は時
間を示す３バイトからなる経時間針の値とを対にして、
一旦メモリ１９に記憶し、共通制御部２０により必要な
処理を加えた後、外部記憶装置２４に逐次蓄積する。こ
の時。
時間間隔をおいて２回以上連続して同一内容のデータが
発生した場合、繰返しデータ処理としてデータ種別を識
別するフラグキャラクタ（１バイト）と抽出受付は時間
を示す経時間計値（３バイト）の計４バイトのみとし、
抽出データ部分を省略処理する。この省略処理により、
特に繰返しデータ発生頻度の高いオンライン通信手順（
モデムインタフェース）のデータ抽出と蓄積に効果があ
る。
発生した場合、繰返しデータ処理としてデータ種別を識
別するフラグキャラクタ（１バイト）と抽出受付は時間
を示す経時間計値（３バイト）の計４バイトのみとし、
抽出データ部分を省略処理する。この省略処理により、
特に繰返しデータ発生頻度の高いオンライン通信手順（
モデムインタフェース）のデータ抽出と蓄積に効果があ
る。
プリントデータの蓄積においてしま、データ量が膨大と
なる為、印字行単位にデータを発生多項式（）ｌ”＋Ｘ
’“＋Ｘ’＋１）により演算し、全て２バイトに圧縮処
理し蓄積する。以上２つの処理により、外部記憶装置２
４への大幅な蓄積効率向上が図れる。
なる為、印字行単位にデータを発生多項式（）ｌ”＋Ｘ
’“＋Ｘ’＋１）により演算し、全て２バイトに圧縮処
理し蓄積する。以上２つの処理により、外部記憶装置２
４への大幅な蓄積効率向上が図れる。
次に被試験端末制御装置２８０＾を接続し、外部記憶装
置２４に蓄積した試験データを出力して単体機能試験を
行う。
置２４に蓄積した試験データを出力して単体機能試験を
行う。
試験データ出力に当って、データ種別と抽出時の経時間
値で示す出力範囲指定及び出力動作の起動を入出力装置
２３により行う。この起動で経時間針２１は、抽出動作
時と同様に始動し、経時間針２１の値と試験データ中の
抽出受付は時間値とが一致した時点で時間値と対の各試
験データを、試験用インタフェース制御部２２と、試験
データ出力用ケーブル２５〜２７を介して被試験端末制
御装置に出力する。この際、繰返しデータ処理により省
略されたデータ部は、１つ前の同種別試験データ部が出
力される。
値で示す出力範囲指定及び出力動作の起動を入出力装置
２３により行う。この起動で経時間針２１は、抽出動作
時と同様に始動し、経時間針２１の値と試験データ中の
抽出受付は時間値とが一致した時点で時間値と対の各試
験データを、試験用インタフェース制御部２２と、試験
データ出力用ケーブル２５〜２７を介して被試験端末制
御装置に出力する。この際、繰返しデータ処理により省
略されたデータ部は、１つ前の同種別試験データ部が出
力される。
プリントデータについては、抽出時と同様印字行単位に
圧縮処理を行い、抽出時の圧縮結果と２バイトずつ照合
することで、印字行単位の合否判定を行う。
圧縮処理を行い、抽出時の圧縮結果と２バイトずつ照合
することで、印字行単位の合否判定を行う。
これらにより本実施例によれば、抽出時の機能試験が同
一条件下で人手操作なしに且つキーボード、プリンタ、
モデムを接続せずに繰返し再現可能となる効果がある。
一条件下で人手操作なしに且つキーボード、プリンタ、
モデムを接続せずに繰返し再現可能となる効果がある。
本発明によれば、端末システムまたは装置に対して人手
操作により試験を行った時、各接続部において発生する
試験データを吸上げ、蓄積することにより、試験データ
とタイミング条件の定量的把握及び保存ができる。また
、トレースが可能となり、蓄積データを入出力装置へ編
集出力すれば障害解析ができる。さらに、入出力装置か
ら蓄積データの修正、新規追加を行えば、試験の拡張が
できる。又、蓄積データを被試験端末システムまたは装
置へ出力することにより。
操作により試験を行った時、各接続部において発生する
試験データを吸上げ、蓄積することにより、試験データ
とタイミング条件の定量的把握及び保存ができる。また
、トレースが可能となり、蓄積データを入出力装置へ編
集出力すれば障害解析ができる。さらに、入出力装置か
ら蓄積データの修正、新規追加を行えば、試験の拡張が
できる。又、蓄積データを被試験端末システムまたは装
置へ出力することにより。
＋１＋ 単体で機能試験ができる。（キーボード。
プリンタ、ホストシステムが不用）
（２）試験に人手操作が不用となる。
効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
１０・・・既知機能の端末制御装置。
１１・・・キーボード、１２・・・プリンタ。
１３・・・モデム。
１４〜１６・・・試験データ抽出用分岐ケーブル。
１７・・・機能試験装置本体。
１８・・・抽出用インタフ二−ス制御部。
１９・・・メモ１３ 、 ２０・・・共通制御
部６２１・・・経時間計。 ２２・・・試験用インタフェース制御部。 ２３・・・入出力装置、２４・・・外部記憶装置。 ２５〜２７・・試験データ出力用ケーブル。 ２８・・・被試験端末制御装置。 、−ｍ−＼
部６２１・・・経時間計。 ２２・・・試験用インタフェース制御部。 ２３・・・入出力装置、２４・・・外部記憶装置。 ２５〜２７・・試験データ出力用ケーブル。 ２８・・・被試験端末制御装置。 、−ｍ−＼
Claims (1)
- １、キーボードとプリンタとモデムを接続可能な既知機
能端末システムまたは装置において、各接続部における
試験データを抽出する抽出用インタフェース制御部と、
このデータに経時間計による時間軸をプラスし、必要な
処理を加えて蓄積する外部記憶装置と、蓄積したデータ
を被試験端末システム又は装置に出力する試験用インタ
フェース制御部と、抽出と試験の各動作の起動及び動作
状態を監視する入出力装置からなることを特徴とする端
末システムまたは装置の機能試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60036339A JPS61196342A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 端末システムまたは装置の機能試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60036339A JPS61196342A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 端末システムまたは装置の機能試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61196342A true JPS61196342A (ja) | 1986-08-30 |
Family
ID=12467068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60036339A Pending JPS61196342A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 端末システムまたは装置の機能試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61196342A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63181057A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-07-26 | Nec Corp | 通信制御プログラム試験方式 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5585959A (en) * | 1978-12-21 | 1980-06-28 | Fujitsu Ltd | Test system for data processor |
| JPS5880748A (ja) * | 1981-11-06 | 1983-05-14 | Mitsubishi Electric Corp | 表示情報処理システムの試験方法 |
-
1985
- 1985-02-27 JP JP60036339A patent/JPS61196342A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5585959A (en) * | 1978-12-21 | 1980-06-28 | Fujitsu Ltd | Test system for data processor |
| JPS5880748A (ja) * | 1981-11-06 | 1983-05-14 | Mitsubishi Electric Corp | 表示情報処理システムの試験方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63181057A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-07-26 | Nec Corp | 通信制御プログラム試験方式 |
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