JPS61201146A - 熱機械的分析装置 - Google Patents

熱機械的分析装置

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JPS61201146A
JPS61201146A JP61031035A JP3103586A JPS61201146A JP S61201146 A JPS61201146 A JP S61201146A JP 61031035 A JP61031035 A JP 61031035A JP 3103586 A JP3103586 A JP 3103586A JP S61201146 A JPS61201146 A JP S61201146A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野: 本発明は温度変化にさらされる試料の物理的応答を測定
する装置に関する。
従来の技術: 米国特許第3589167号明細書には熱機械的分析装
置が開示される。この装置は探針の変位範囲にわたって
試料材料とほぼ無重量1接触するように懸吊した探針ア
センブリを備える。このほぼ無重量の接触は流体容器お
よび流体中に沈めた探針と結合するフロートにより達成
される。フロートの浮力を相殺するため重錘が探針アセ
ンブリへ手で加えられる。被検試料の高さの変化ととも
にほぼ無重量の探針は応答して上下に動く。
参照した公知装置の探針アセンブリの垂直運動は常用の
直線的に可変の差動変圧器(LVDT)により感知され
る。LVDTの磁性コアは探針を支持する非磁性ロッド
に固定される。公知装置は測定を開始する前にゼロ点に
調節するようにLVDTコイルアセンブリを動かすため
ラックおよびピニオンを備える。探針を支持するロッド
部材は1組のローラベアリングを貫通する。
全アセンブリは1組の離れた支持点でフレームから懸吊
される。
発明が解決しようとする問題点: 本発明の目的は公知装置より使用が簡単であり、かつ正
確な装置を得ること〒ある。もう1つの目的は流体およ
びフロートを必要としない装置を得ることである。もう
1つの目的はゼロ点調節目的でLVDTを機械的に調節
することを必要としない装置を得ることである。もう1
つの目的はベアリングを除去することにより摩擦を低下
した装置を得ることである。もう1つの目的は2点支持
から発生する潜在的摩擦および誤整列問題を除去した装
置を得ることである。
問題点を解決するための手段: 要約すればこの目的は制御可能の温度環境に試料を配置
するための支持装置、試料表面に接して配置しうる垂直
に可動の探針、試料上の探針重量の効果をほぼ相殺する
ための探針支持装置および試料の物理的性質の変化に応
答する探針の運動を監視する装置を有する熱機械的分析
装置において本発明により重量相殺装置がリニアモータ
であることにより解決される。リニアモータは直線的に
垂直に可動の電機子を有し、この電機子は自体に垂直の
軸方向力をおよぼすためマグネットアセンブリの磁場と
ともに作用する磁場を発生するように励起しうるコイル
を含む。さらにコイルを電流により制御可能に励起する
装置が備えられる。
実施例: 第2図に示す本発明の装置はスタンド10を有し、この
スタンドに炉および熱交換器アセンブリ12が配置され
る。このアセンブリは前記従来技術の特許に類似し、電
気的加熱炉14を含む。このアセンブリは液体チッ素に
よって冷却し、炉によって加熱することができる。この
ようにアセンブリ12は−1800Cから1000°C
の温度範囲にわたってプログラムすることができる。
炉−熱交換器アセンブリ12の上にハウジング16が懸
架され、これから石英管18751下向きに突出する。
アセンブリ12は石英管18を収容する破線で示す位置
へ上昇することができる。この特徴に関しては引用した
従来技術の特許と同様なので詳細には説明しない。
スタンド10に第1図からもつとも明らかなようにブラ
ケット2oが支持される。ブラケット2oは中心孔22
を有し、ここにマウントリング24が(図示されていな
い)ねじにより配−置される。マウントリング24から
孔22を通って円筒26が下向きに拡がり、この円筒は
その側壁に多数の切込28を有し、その下端に半径方向
外側に離れた3つのマウント突起30を支持する。゛マ
ウントリング24の上面は傾斜した円形リング座32を
有する。リング座32の表面は理想的には球面の一部で
ある。実際にはこれは円錐面でよい。リング座32に矩
形断面の支持リング34の下側外縁が接する。支持リン
グ34は円筒形マグネットアセンブリ36の底部に固定
される。Φつの調節ねじ38力1マウントリング24へ
ねじ込まれ、そのヘッドの傾斜面で支持リング34の上
縁に接する。
マウント突起30にスクリュー牛○により円筒形アルミ
ニウムハウジング42が懸吊される0ハウジング42は
中心孔44を有し、その中りこ常用の直線的に変化しう
る差動変圧器(LVDT )46が支持される。ハウジ
ング42はカートリッジヒータ48を含む半径方向に相
対する1組の平行壁を有する。温度はハウジング牛2の
側面に支持したセンサ50によって制御される。
ハウジング42の底部に室52が支持される。第5図か
ら明らかなように室52は上壁54を含み、この上壁は
18o0より少し大きい角度にわたってほぼ円筒形であ
り、しかし1組の離れた平行の垂直側壁56が生ずるよ
うに形成される。側壁56の間に切欠き60を有する円
筒の形のラッチ58が支持される。ラッチ58は1端で
拡大したヘッド62により、他端でL形作動レバー64
によって保持される。円筒壁54からゼス66が内側へ
突出し、このゼスは掃去ガス供給導管70の端部と通ず
るボート68を有する。
室52から外ねじを有するスタッド74および内ねじを
有するクランプ76からなるチャック72が懸吊される
。これらの部材はいっしょになって常用法1石英管18
のチー・ぞを有する上端を保持する。この管は前記引用
特許に開示されるものと同様1あり、その下端に1組の
整列した孔80および試料支持表面82を含む。
装置の上端へ戻って、マグネットアセンブリ36はりニ
ヤモータの1要素からなる。このモータは外側の鉄シリ
ンダ84および同軸の内側鉄シリンダ86を有し、これ
らはその上端で透磁性の板88によって結合される。外
側シリンダ84と内側シリンダ86の間の空間はシリン
ダ84.86がマグネットアセンブリの反対極を示すよ
うに分極した3つのセラミック永久磁石9oによって占
められる。
永久磁石90と内側シリンダ86の間に残る空隙は空隙
内で上下に動きつる円筒形アルミニウム電機子92によ
って占められる。電機子92はその上端に数巻の線から
なるコイル94を支持し、コイルは非常に細いリード線
96によって外側ターミナルに接続される。電機子92
の下端は非磁性作動ロッド98に固定される。
ロッド98の上端は小さい重錘型100を支持する。
ハウジング42の両端でロツl’Q8はそれぞれテフロ
ンO−リング106を支持する支持アセンブリ102.
104を貫通する。0−IJソング作動ロッド98より
ごく僅かに大きいので、ロッド98が正確に垂直であれ
ばほぼ摩擦なしである。
LVDT45内にあるロツl’98の一部は第7図に示
すように直径の細い部分108を有する。この部分にL
VDTの管状磁性コア110が支持される。コア110
はたとえばエポキシ112によりロツ196に1端のみ
で固定される。この方法fコア110およびロツl’9
8は相互の応力を発生することなく温度変化および磁歪
効果に応じて膨張および収縮自由1ある。
ロッド98の下端は探針支持部材114を支持する。部
材114はスタッド74の内径以内でちょうど嵌合する
サイズの上部肩116を含む。この肩は室52の2つの
側壁56の間へ拡がるビン11δを支持する(第5図)
。探針支持部材114の下端は装置が採用しうる石英探
針122のそれぞれの端部に固定した金属ねじスタノ1
′120を収容するため孔明けおよびタッピングされる
リニアモータ制御系は第4図に示される。電圧制御され
る高インピーダンス電源124はリニアモータ126に
電流を供給する。制御電圧は図示のように通常閉鎖した
(NC)接点および通常開いたNo接点を有する2位置
スイッチ128を介して電源124へ印加される。スイ
ッチ128はフリップフロップ130によって制御され
る。
使用者が試料を試料支持表面82と探針122の下端の
間へ挿入する場合、試料を上昇する”アップ″命令を発
するスイッチが閉鎖される。それによってフリップフロ
ップ130が動作して通常開いた接点を閉じるようにス
イッチ128を動かす。モータ126の力の出力は探針
重量および皿100に配置される較正重量に算術的に加
算される。合成力(ΔF)は”探針″で示す機械系の伝
達関数によって影響される。
伝達関数は粘性摩擦係数りおよび質量Mによって決定さ
れる。伝達関数中の1/S項は系内に復原力(またはば
ね定数)がないの1、積分を表わす。
シャフトymの位置は電圧■、を発生するLVDT46
によって検出される。この電圧は設定電圧■sと比較さ
れ、エラー電圧△■は増幅器132によって増幅され、
リニアモータを制御し、これでループが閉じる。リニア
モータ126の力の出力は■5電圧発生器134に応答
して探針122を上昇するために必要な力となる。入力
電圧V M Oは系がこの閉鎖ループモードにある間に
抽出され、メモリーに貯蔵される。
位置インプット電圧v5は使用者に試料を調節または置
替えることを可能にする探針偏位が約3 CmS に相
当する値に達するま1上昇を続ける。次に“ダウy″命
令が与えられる。v5は減少し始め、探針は降下する。
探針が試料に接触すると、増幅したエラー電圧KA△V
は非常に急速に降下し始める。この電圧が探針重量より
僅かに小さい負荷に相当する所定電圧と比較器136で
比較して等しくなると、フリップフロップ130はスイ
ッチ128をその通常閉鎖した位置へ戻す。そこでモー
タは先に測定および貯蔵したVMO信号に等しいVMA
入力信号により制御される。このように探針は無視しう
る力1試料に接し、次に試料のすべての寸法変化を追跡
する。
発明の効果: 本発明の装置は前記のほかに多数の重要な特徴を含む。
たとえばマウント寸法の変化の効果を含まない精度の高
い測定を達成するため、全アセンブリはブラケット20
の1点から懸吊される。第1図から明らかなように全°
分析系″は傾斜したリング座32に支持される。
力測定に対するエラーの原因となりうるシャフトの摩擦
は前記テフロンリングの使用によりほぼ除去される。マ
グネットアセンブリ36内の非対称によって生ずるすべ
ての横方向の残留力は磁軸とロツl’98の間の角度を
故意に変化することによって消すことができる。これは
調節ねじ38を回し、支持リング34とリング座32の
間の関係を少し変えることによって達成される。
リニアモータにより発生する力はコイル94の電流およ
び磁場の強さに比例する。コイル9牛を励起するため高
インピーダンス定電流源を使用することにより、コイル
の発熱に対する補正が不用フある。コイルを巻いたアル
ミニウム電機子92は短絡した巻線として動作する。そ
れによって系が前記閉鎖ループ上昇モードにある場合電
磁的緩衝が達成される。
この系は探針アセンブリを上昇するために必要なコイル
電流を測定することによりシャフトの重量を補償する。
前記のようにこれは新しい試料を導入する際使用者によ
り実施される。探針を下げると、装置は探針が試料に接
するまで自動的に探針アセンブリを秤量する。この時点
で測定した探針重量に等しい復原力がモータによって発
生するので、試料上の力は無視可能である。公知装置の
ラックおよびビニオンによって行われるLVDT調節は
そのゼロ点から離れて操作しうるもつと長いLVDTに
よって避けられる。通常LVDTをこのように操作する
際、その出力は温度に依存する。しかし本発明の装置に
よればこれはカートリッジヒータ48およびセンサ5Q
によって行われる温度制御によって避けられる。
探針を交換するためクランプ76をねじ戻して石英管1
8を除去する。石英管を除去した際それまで支持表面8
2をこよって支持されていた探針122は降下し、ビン
118はラッチ58の切欠60を貫通して室52の底に
接する。欠にレバー64をラッチ58がビン118の上
に位置して一時的にピンをその場にクランプするように
上昇する。次に探針122をねじ戻し、新しい探針を接
続する。アセンブリの一部たとえばリード線96の損傷
または歪みを避けるため、探針のねじ込みまたはねじ戻
しによって生ずるすべての回転は側壁56によって許容
されるより大きい回転を阻止するピン118によって避
けられる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の装置の縦断面図、第2図はその側面図
、第3図は第2図3−3線断面図、第4図は本発明の装
置の電気回路のブロック図、第5図は第1図5−5線断
面図、第6図は第1図6−6線断面図、第7図は差動変
圧器の磁性コアの構造を示す側面図である。 1o・・・スタンド、12・・・炉および熱交換器アセ
ンブリ、16・・・ハウジング、18・・・石英管、2
0・・・ブラケット、24・・・マウントリング、26
・・・円筒、3o・・・マウント突起、32・・・リン
グ座、34・・・支持リング、36・・・マグネットア
センブリ、46・・・差動変圧器、52・・・室、58
・・・ラッチ、6o・・・切欠き、72・・・チャック
、82・・・試料支持表面、84.86・・・鉄シリン
ダ、90・・・永久磁石、92・・・電機子、94・・
・コイル、98・・・作動ロッド、102・・・支持ア
センブリ、110・・・コア、114・・・探針支持部
材、122・・・探針

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、制御可能の温度環境に試料を配置するための支持装
    置、試料表面に接して配置しうる垂直に可動の探針、試
    料上の探針重量の効果をほぼ相殺するための探針支持装
    置および試料の物理的性質の変化に応答する探針の運動
    を監視する装置を有する熱機機的分析装置において、 重量相殺装置がリニアモータであり、この モータが 探針の上にほぼ同軸に支持したほぼ円筒形 のマグネットアセンブリ、および 軸方向垂直の力が生ずるようにマグネット アセンブリの磁場とともに動作する磁場を発生するよう
    に励起しうるコイルを含む、直線的に垂直に可動の、マ
    グネットアセンブリと同軸の電機子からなり、かつ 電流でコイルを制御下に励起する装置 を有することを特徴とする熱機械的分析装置。 2、電機子が導電性であり、コイルに対し短絡した2次
    巻線を形成する特許請求の範囲第1項記載の装置。 3、コイル励起装置が 高インピーダンス電源、 探針位置センサおよび設定点制御装置、 位置センサおよび設定点制御装置の出力に 応答してエラー信号を発生する装置、 探針を上昇するため、閉鎖ループモードで エラー信号に応答してコイルを励起する第1機能および
    このループ外部の制御信号に応答してコイルを励起する
    第2機能を有するスイッチ装置、 閉鎖ループモードの間エラー信号の値に応 答してエラー信号値を貯蔵する装置、および貯蔵したエ
    ラー信号値に比例する量によつ て外部ソースに応答してコイルを励起するため、貯蔵し
    たエラー信号に応答する装置 からなる回路である特許請求の範囲第1項記載の装置。 4、探針位置センサが直線的に可変の差動変圧器である
    特許請求の範囲第3項記載の装置。 5、探針支持装置が電機子から垂れ下がる非磁性垂直ロ
    ッドであり、直線的に可変の差動変圧器が 垂直ロッドを包囲するほぼ円筒形の中空コ イルハウジング、 ならびに コイルハウジング内の磁性コイル、 コアおよびロッドのそれぞれの膨張および 収縮をその間に歪みを生ずることなく可能にするため垂
    直ロッドにコアを支持する装置 からなる特許請求の範囲第4項記載の装置。 6、コアがロッドに沿つて膨張および収縮可能にロッド
    を包囲する管であり、この管がその長さに沿つたほぼ1
    つの位置でこのロッドに支持されている特許請求の範囲
    第5項記載の装置。 7、コイルハウジングが温度制御装置を含む特許請求の
    範囲第5項記載の装置。 8、温度制御装置が電気ヒータからなる特許請求の範囲
    第7項記載の装置。 9、マグネットアセンブリが円筒形マグネットアセンブ
    リの軸の垂直の整列を調節するためのマウント装置を含
    む特許請求の範囲第1項記載の装置。 10、マウント装置が 垂直軸に関して対称のほぼ円形のリング状 の傾斜した座を有する支持部材、 マグネットアセンブリによつて支持され、 かつこの座に配置しうる支持リング、 支持リングを座に対し調節可能に配置して クランプするクランプ装置 からなる特許請求の範囲第9項記載の装置。 11、支持部材からほぼ完全に懸吊されている特許請求
    の範囲第10項記載の装置。
JP61031035A 1985-02-21 1986-02-17 熱機械的分析装置 Expired - Lifetime JPH0781968B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US704353 1985-02-21
US06/704,353 US4896973A (en) 1985-02-21 1985-02-21 Thermomechanical analysis apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61201146A true JPS61201146A (ja) 1986-09-05
JPH0781968B2 JPH0781968B2 (ja) 1995-09-06

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US (1) US4896973A (ja)
EP (1) EP0192238B1 (ja)
JP (1) JPH0781968B2 (ja)
DE (1) DE3679571D1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0185607U (ja) * 1987-11-30 1989-06-07
JPH02119576A (ja) * 1987-12-25 1990-05-07 Mitsui Petrochem Ind Ltd パルス電源装置

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69310552T2 (de) * 1993-07-13 1997-11-13 Uhp Corp Hochdruckpumsystem und dessen betriebsverfahren
JP3026149B2 (ja) * 1995-07-11 2000-03-27 セイコーインスツルメンツ株式会社 熱重量測定機能付き熱機械的分析装置
US6511221B1 (en) * 1999-10-19 2003-01-28 Agere Systems Inc. Apparatus for measuring thermomechanical properties of photo-sensitive materials
RU2178884C1 (ru) * 2001-01-23 2002-01-27 Архипов Геннадий Викторович Установка для исследования физико-механических свойств угольных продуктов
US7835778B2 (en) * 2003-10-16 2010-11-16 Medtronic Navigation, Inc. Method and apparatus for surgical navigation of a multiple piece construct for implantation
US20130047741A1 (en) * 2011-08-27 2013-02-28 Lecon Woo Method and Apparatus for Direct-Acting Wide Frequency Range Dynamic Mechanical Analysis of Materials
US11187677B1 (en) * 2021-03-17 2021-11-30 Wesley Nelson Cobb Combined ultrasonic and thermomechanical property measurement

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS578558U (ja) * 1980-06-13 1982-01-16
JPS58122444A (ja) * 1981-09-22 1983-07-21 ザ・パ−キン−エルマ−・コ−ポレイシヨン 熱機械的分析用装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3474658A (en) * 1966-05-12 1969-10-28 Du Pont Thermomechanical analyzer
US3589167A (en) * 1969-07-07 1971-06-29 Perkin Elmer Corp Thermomechanical analysis apparatus
US3680357A (en) * 1970-09-21 1972-08-01 Gerhard R Clusener Dilatometer
DE2331113C2 (de) * 1973-06-19 1975-05-22 W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau Dilatometer
US4019365A (en) * 1975-03-04 1977-04-26 E. I. Du Pont De Nemours And Company Thermomechanical analyzer

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS578558U (ja) * 1980-06-13 1982-01-16
JPS58122444A (ja) * 1981-09-22 1983-07-21 ザ・パ−キン−エルマ−・コ−ポレイシヨン 熱機械的分析用装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0185607U (ja) * 1987-11-30 1989-06-07
JPH02119576A (ja) * 1987-12-25 1990-05-07 Mitsui Petrochem Ind Ltd パルス電源装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0192238A3 (en) 1987-10-28
EP0192238B1 (en) 1991-06-05
JPH0781968B2 (ja) 1995-09-06
DE3679571D1 (en) 1991-07-11
EP0192238A2 (en) 1986-08-27
US4896973A (en) 1990-01-30

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