JPS61201452A - 集積回路チツプ冷却装置 - Google Patents
集積回路チツプ冷却装置Info
- Publication number
- JPS61201452A JPS61201452A JP60041118A JP4111885A JPS61201452A JP S61201452 A JPS61201452 A JP S61201452A JP 60041118 A JP60041118 A JP 60041118A JP 4111885 A JP4111885 A JP 4111885A JP S61201452 A JPS61201452 A JP S61201452A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- circuit chip
- suction plate
- cooling
- cooling device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W40/00—Arrangements for thermal protection or thermal control
- H10W40/20—Arrangements for cooling
- H10W40/25—Arrangements for cooling characterised by their materials
- H10W40/258—Metallic materials
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W40/00—Arrangements for thermal protection or thermal control
- H10W40/70—Fillings or auxiliary members in containers or in encapsulations for thermal protection or control
- H10W40/77—Auxiliary members characterised by their shape
- H10W40/772—Bellows
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
- H10W72/07331—Connecting techniques
- H10W72/07337—Connecting techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone or epoxy
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
- H10W72/351—Materials of die-attach connectors
- H10W72/352—Materials of die-attach connectors comprising metals or metalloids, e.g. solders
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
- H10W72/351—Materials of die-attach connectors
- H10W72/353—Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics
- H10W72/354—Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics comprising polymers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/877—Bump connectors and die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/721—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
- H10W90/724—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はマルチチップ・モジュール、特に集積回路チッ
プの発熱を効果的に取り去るマルチチップ・モジュール
の冷却構造に関するものである。
プの発熱を効果的に取り去るマルチチップ・モジュール
の冷却構造に関するものである。
1枚の配線基板上に複数の集積回路チップを実装するマ
ルチチップ・モジュールの冷却構造の一例を、本出願人
は特願昭58−072J96号で既に提案している。
ルチチップ・モジュールの冷却構造の一例を、本出願人
は特願昭58−072J96号で既に提案している。
この構造は、柔軟なパイプで接続した冷却ブロック(複
数)を各集積回路チップ個別に固着又は接触させるもの
で、冷却性能を大巾に向上できる6保守性、信頼性の点
では冷却ブロックを集積回路チップに固着させるのでは
なく、接触させることが望ましい、その時、冷却ブロッ
クとチップの対接触面、特に集積回路チップの接触面は
製造工程上どうしても数μm以上の反りが残り、この反
りによって、対向接触触面の間隔の下限、ひいては熱抵
抗の下限が規定されていた。
数)を各集積回路チップ個別に固着又は接触させるもの
で、冷却性能を大巾に向上できる6保守性、信頼性の点
では冷却ブロックを集積回路チップに固着させるのでは
なく、接触させることが望ましい、その時、冷却ブロッ
クとチップの対接触面、特に集積回路チップの接触面は
製造工程上どうしても数μm以上の反りが残り、この反
りによって、対向接触触面の間隔の下限、ひいては熱抵
抗の下限が規定されていた。
しかも、将来チップの大型化、多層配線化が進むにつれ
て、増々チップの反りは大きくなると予想される。
て、増々チップの反りは大きくなると予想される。
したがって、冷却性能の一層の向上のためには。
この反りを矯正して、対向接触面の間隔を更に短かくで
きる構造が必要である。
きる構造が必要である。
これに関し、デビット ビー タッカ−マン(Davi
d B、Tuckerman)及びアール ファビアン
ピース(R,Fabian Paase)は1983シ
ンポジウムオン ブイエルニスアイ チクノロシイ、マ
ウイ(Symposiua+ on VLSI Tec
hnologyy Maui)のダイジェスト オブ
テクニカル ペーパーズ(Digest of Tec
hieal Papers) P、P、60−61にお
けるrマイクロキャピラリイ サーマル インク−フェ
イス チクノロシイ フオ ブイエルニスアイ パッケ
ージJ (Microcapillary Ther
malInterface Technology f
or VLSI Package)と題する文献におい
て、冷却ブロックの接触面に微細な溝を形成し、シリコ
ーンオイルを介在させて、集積回路チップに接触させる
構造を提案している6微細な溝の毛細管効果によって生
じた負圧により、集積回路チップの反りを矯正するもの
である。
d B、Tuckerman)及びアール ファビアン
ピース(R,Fabian Paase)は1983シ
ンポジウムオン ブイエルニスアイ チクノロシイ、マ
ウイ(Symposiua+ on VLSI Tec
hnologyy Maui)のダイジェスト オブ
テクニカル ペーパーズ(Digest of Tec
hieal Papers) P、P、60−61にお
けるrマイクロキャピラリイ サーマル インク−フェ
イス チクノロシイ フオ ブイエルニスアイ パッケ
ージJ (Microcapillary Ther
malInterface Technology f
or VLSI Package)と題する文献におい
て、冷却ブロックの接触面に微細な溝を形成し、シリコ
ーンオイルを介在させて、集積回路チップに接触させる
構造を提案している6微細な溝の毛細管効果によって生
じた負圧により、集積回路チップの反りを矯正するもの
である。
しかし、マルチチップ・モジュールにおいてはチップを
配線基板にコンドロールド・コラプス・ボンディングC
CCB>等によって固着する必要があるので、負圧によ
るチップの反りの矯正は困難である。
配線基板にコンドロールド・コラプス・ボンディングC
CCB>等によって固着する必要があるので、負圧によ
るチップの反りの矯正は困難である。
本発明の目的は、高い冷却性能を持ち、しかも、保守性
、信頼性の良い、集積回路チップの冷却装置を提供する
ことにあり、そのため、低熱抵抗で接触方式の、集積回
路チップ冷却装置を提供することにある。
、信頼性の良い、集積回路チップの冷却装置を提供する
ことにあり、そのため、低熱抵抗で接触方式の、集積回
路チップ冷却装置を提供することにある。
かかる目的を達成するため、本発明は、集積回路チップ
と冷却ブロックとの間に吸着板を設けることを特徴とす
る。この吸着板の一方の面には微細な溝を設けておき、
シリコーン・オイル等を介在させて集積回路チップに接
触させて毛細管効果により負圧を生じさせる。さらに、
吸着板の板厚を薄くしておくことにより、負正によって
、チップの反りにならってしならせ、吸着板とチップの
対向接触面の間隔を短くできる。吸着板のもう一方の面
と冷却ブロックの下面の接触部には液体金属等の高熱伝
導流体を充填する等の低熱抵抗構造を形成しておく。チ
ップ交換等保守点検時に、チップと冷却装置を分離する
必要がある場合は、チップと吸着板の間で容易に分離で
きる。
と冷却ブロックとの間に吸着板を設けることを特徴とす
る。この吸着板の一方の面には微細な溝を設けておき、
シリコーン・オイル等を介在させて集積回路チップに接
触させて毛細管効果により負圧を生じさせる。さらに、
吸着板の板厚を薄くしておくことにより、負正によって
、チップの反りにならってしならせ、吸着板とチップの
対向接触面の間隔を短くできる。吸着板のもう一方の面
と冷却ブロックの下面の接触部には液体金属等の高熱伝
導流体を充填する等の低熱抵抗構造を形成しておく。チ
ップ交換等保守点検時に、チップと冷却装置を分離する
必要がある場合は、チップと吸着板の間で容易に分離で
きる。
以下図面により発明を説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す新面図である。
集積回路チップ冷却装置100は、多数の集積回路チッ
プ2を封入し、かつ冷却する手段を与えるものである。
プ2を封入し、かつ冷却する手段を与えるものである。
封止は、配線基板3とハツト5をハンダ6により接合す
ることにより行なわれる。配線基板3上には多数の集積
回路チップ2がハンダ端子4を介して電気的に相互接続
されており、基板下面には、冷却装置を回路カード又は
回路ボードに接続するための多数の入出力(ビン9が存
在する。
ることにより行なわれる。配線基板3上には多数の集積
回路チップ2がハンダ端子4を介して電気的に相互接続
されており、基板下面には、冷却装置を回路カード又は
回路ボードに接続するための多数の入出力(ビン9が存
在する。
集積回路チップ2により発生した熱は、各集積回路チッ
プ上に搭載された冷却構造体1に伝達され、冷却構造体
内部を循環する冷媒により冷却される。冷媒は、ノズル
8aを通して冷却装置外部から流入し、ベローズ形状の
柔軟なパイプ10を介して各冷却構造体内を循環し、ノ
ズル8bを通して冷却装置外部へ排出される。
プ上に搭載された冷却構造体1に伝達され、冷却構造体
内部を循環する冷媒により冷却される。冷媒は、ノズル
8aを通して冷却装置外部から流入し、ベローズ形状の
柔軟なパイプ10を介して各冷却構造体内を循環し、ノ
ズル8bを通して冷却装置外部へ排出される。
第2図は冷却構造体1の拡大破断図である。冷却構造体
は冷却フィン23を一体成形した底板22及びキャップ
21からなる冷却ブロック20と吸着板30とから成る
。冷却フィン23の材質としては高熱伝導率材料、例え
ば銅、アルミ、モリブデン又は高熱伝導性の炭化ケイ素
セラミックス等を使用できる。またキャップ21との接
続にパイプ1oを半田付等によって接続してあり、冷却
構造体上部のハツト5内に設けである冷媒流路7と接続
する。
は冷却フィン23を一体成形した底板22及びキャップ
21からなる冷却ブロック20と吸着板30とから成る
。冷却フィン23の材質としては高熱伝導率材料、例え
ば銅、アルミ、モリブデン又は高熱伝導性の炭化ケイ素
セラミックス等を使用できる。またキャップ21との接
続にパイプ1oを半田付等によって接続してあり、冷却
構造体上部のハツト5内に設けである冷媒流路7と接続
する。
なお、本実施例では、ベローズ10の形状を長円形にし
て、ベローズ断面積を増加させ、その結果としてベロー
ズ内の冷媒流速を減少させ、圧力損失の低減、腐食の防
止を図っている。また、これら長円形ベローズをフィン
列の両端に配置して、各フィンへの冷媒流入量を均一に
している。
て、ベローズ断面積を増加させ、その結果としてベロー
ズ内の冷媒流速を減少させ、圧力損失の低減、腐食の防
止を図っている。また、これら長円形ベローズをフィン
列の両端に配置して、各フィンへの冷媒流入量を均一に
している。
第3図は冷却構造体1の断面図である。吸着板30と冷
却ブロックの底板22との間に空隙を設け、そこに高熱
伝導流体40、例えばG a −I n−8n合金等の
液体金属を封入しである。冷却フィンの材質として、銅
、アルミ等を用いる場合は、耐腐食性の向上のため、液
体金属との接触部にクロム、ニッケル等のメッキを施し
ておく、底板22の周囲には凹み24を設け、液体金属
溜めとして使用する。吸着板30と底板22とは半田付
は等によって外周部を固着しである。
却ブロックの底板22との間に空隙を設け、そこに高熱
伝導流体40、例えばG a −I n−8n合金等の
液体金属を封入しである。冷却フィンの材質として、銅
、アルミ等を用いる場合は、耐腐食性の向上のため、液
体金属との接触部にクロム、ニッケル等のメッキを施し
ておく、底板22の周囲には凹み24を設け、液体金属
溜めとして使用する。吸着板30と底板22とは半田付
は等によって外周部を固着しである。
第4図は吸着板30の底面(チップ接触面)を 。
示す斜視図である。上部が狭く、下部が広−溝31を底
面全体に形成しである。また、凹み32を設は各溝間を
連結しておく6本実施例では吸着板30の材料としてS
iを用い、上述したタッカ−マン(Tucerman)
の文献に詳述しであるように、異方性エツチング技術及
びメッキ技術を用いて本構造を形成した。
面全体に形成しである。また、凹み32を設は各溝間を
連結しておく6本実施例では吸着板30の材料としてS
iを用い、上述したタッカ−マン(Tucerman)
の文献に詳述しであるように、異方性エツチング技術及
びメッキ技術を用いて本構造を形成した。
ピッチを10μm、巾を上部で1μm、臀部で4μmま
た、吸着板30の板厚を100μmにしている。
た、吸着板30の板厚を100μmにしている。
この吸着板を有する冷却構造体1を集積回路チップiに
シリコーン・オイル等を介在させて接触させ、吸着板3
0の溝31の毛細管効果により負圧を発生させて、チッ
プ2の反りにならって吸着板30をたわませて、吸着板
30とチップ2の対向接触面の間隔を短くする。
シリコーン・オイル等を介在させて接触させ、吸着板3
0の溝31の毛細管効果により負圧を発生させて、チッ
プ2の反りにならって吸着板30をたわませて、吸着板
30とチップ2の対向接触面の間隔を短くする。
集積回路チップで発生した熱はシリコーン・オイル、吸
着板、液体金属、底板、冷却フィンを経由して最終的に
冷媒へ伝達される。
着板、液体金属、底板、冷却フィンを経由して最終的に
冷媒へ伝達される。
集積回路チップ2の大きさを210とし1反りが15μ
mある場合でも1本実施例では約400 。
mある場合でも1本実施例では約400 。
gf/alの負荷が生じて、対向接触面の間隙を1μm
以下にできるので、シリコーン・オイルの熱伝導率を0
.0015W/ cs ・Kとして、1a11当りの接
触熱抵抗を約0.02 K/Wと非常に小さくできる。
以下にできるので、シリコーン・オイルの熱伝導率を0
.0015W/ cs ・Kとして、1a11当りの接
触熱抵抗を約0.02 K/Wと非常に小さくできる。
接触部以外の熱伝導経路も、高熱伝導率材料で短かく構
成できているので、チップから冷媒への総熱抵抗も、チ
ップ1d当り0.5 K/W以下と小 非常に災さくできる。
成できているので、チップから冷媒への総熱抵抗も、チ
ップ1d当り0.5 K/W以下と小 非常に災さくできる。
なお、モジュールは必ずしも水平に置く必要はない、吸
着板と底板の対向面間に液体金属が充填されるように、
液体金属の量と液体金属溜めの体積を適切に設定すれば
、モジュールを垂直に置いても良いことは勿論である。
着板と底板の対向面間に液体金属が充填されるように、
液体金属の量と液体金属溜めの体積を適切に設定すれば
、モジュールを垂直に置いても良いことは勿論である。
本発明の他の実施例を第5図を用いて説明する。
本図は第1の実施例の第3図に対応するもので。
ただし、ベローズ10は省略しである。本図以外の構造
は第1の実施例と同様である。
は第1の実施例と同様である。
本実施例は、第1の実施例の液体金属40の代りに高熱
伝導性の気体、例えばHeを吸着板30と底板22の間
の空間に封入したものである。ただし、熱伝導率は低下
するので、微細な溝50を吸着板30と底板22の対向
面にそれぞれ形成し、かん合させることにより対向面積
を拡大しである。
伝導性の気体、例えばHeを吸着板30と底板22の間
の空間に封入したものである。ただし、熱伝導率は低下
するので、微細な溝50を吸着板30と底板22の対向
面にそれぞれ形成し、かん合させることにより対向面積
を拡大しである。
もう一つの実施例を第6図を用いて説明する。
本実施例は吸着板30と底板22を低融点金属60を用
いて固着するもので、構造を大巾に簡単にできる。
いて固着するもので、構造を大巾に簡単にできる。
組立手順は、まず集積回路チップ2に吸着板30をシリ
コーン・オイル等を介在させて吸着させ、チップの反り
にならってたわませる。その後、底板、キャップ等から
成る冷却ブロック20を。
コーン・オイル等を介在させて吸着させ、チップの反り
にならってたわませる。その後、底板、キャップ等から
成る冷却ブロック20を。
必要な厚さの低融点金属箔を間にはさんで押し付け、こ
の低融点金属60を溶融固化させて固着する。なお、低
融点金属60とのぬれ性を確保するため、吸着板30及
び底板22の対向面の各々に必要なメタライズ膜を形成
しておいても良いことは勿論である。
の低融点金属60を溶融固化させて固着する。なお、低
融点金属60とのぬれ性を確保するため、吸着板30及
び底板22の対向面の各々に必要なメタライズ膜を形成
しておいても良いことは勿論である。
低融点金属60としては、その融点がシリコン・オイル
等の表面張力に大きな影響を与える温度範囲にあること
が必要であり、例えばIn−8n合金(融点117℃)
を用いることができる。
等の表面張力に大きな影響を与える温度範囲にあること
が必要であり、例えばIn−8n合金(融点117℃)
を用いることができる。
本発明によれば、接触方式で低熱抵抗の、集積回路チッ
プ冷却装置を実現できるので、冷却性能を損なうことな
く、保守性、信頼性を向上できる。
プ冷却装置を実現できるので、冷却性能を損なうことな
く、保守性、信頼性を向上できる。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図は冷却
構造体を示す斜視図、第3図は冷却構造体の断面図、第
4図は吸着板の斜視図、第5図は第2の実施例の冷却構
造体の断面図、第6図は第3の実施例の冷却構造体の断
面図である。 1・・・冷却構造体、2・・・集積回路チップ、3・・
・配線基板、4・・・半田端子、5・・・ハツト、8・
・・ノズル、9・・・入出力ビン、10・・・ベローズ
、20・・・冷却ブロック、21・・・キャップ、22
・・・底板、23・・・冷却フィン、30・・・吸着板
、31・・・溝、40・・・液体 。 第 l 目 第 2 凹 第30
構造体を示す斜視図、第3図は冷却構造体の断面図、第
4図は吸着板の斜視図、第5図は第2の実施例の冷却構
造体の断面図、第6図は第3の実施例の冷却構造体の断
面図である。 1・・・冷却構造体、2・・・集積回路チップ、3・・
・配線基板、4・・・半田端子、5・・・ハツト、8・
・・ノズル、9・・・入出力ビン、10・・・ベローズ
、20・・・冷却ブロック、21・・・キャップ、22
・・・底板、23・・・冷却フィン、30・・・吸着板
、31・・・溝、40・・・液体 。 第 l 目 第 2 凹 第30
Claims (4)
- 1.内部に冷媒が循環する空間を有する冷却ブロックを
集積回路チップに接触させる冷却装置において、一面に
微細な溝を形成した吸着板を上記冷却ブロックに少なく
とも周辺部で接続し、該吸着板の溝形成面と該集積回路
チップとを液体を介在させて吸着させたことを特徴とす
る集積回路チップ冷却装置。 - 2.上記冷却ブロックと吸着板の間に空間を設け、該空
間に高熱伝導流体を封入したことを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の集積回路チップ冷却装置。 - 3.上記冷却ブロックと上記吸着板の対向面の各各に溝
を形成し、かん合させたことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の集積回路チップ冷却装置。 - 4.上記液体を介在させて上記集積回路チップに吸着さ
せた上記吸着板を、該液体の表面張力に悪影響を与えな
い温度範囲に融点を持つ低融点金属により冷却ブロック
に固着したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の集積回路チップ冷却装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60041118A JPH06101523B2 (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | 集積回路チツプ冷却装置 |
| EP86101516A EP0193747B1 (en) | 1985-03-04 | 1986-02-06 | Device for cooling integrated circuit chip |
| DE8686101516T DE3676836D1 (de) | 1985-03-04 | 1986-02-06 | Kuehlungsanordnung fuer integrierten schaltungschip. |
| US06/827,613 US4686606A (en) | 1985-03-04 | 1986-02-10 | Device for cooling integrated circuit chip |
| KR1019860001450A KR930005491B1 (ko) | 1985-03-04 | 1986-02-28 | 집적회로 칩 냉각장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60041118A JPH06101523B2 (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | 集積回路チツプ冷却装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61201452A true JPS61201452A (ja) | 1986-09-06 |
| JPH06101523B2 JPH06101523B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=12599540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60041118A Expired - Lifetime JPH06101523B2 (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | 集積回路チツプ冷却装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4686606A (ja) |
| EP (1) | EP0193747B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06101523B2 (ja) |
| KR (1) | KR930005491B1 (ja) |
| DE (1) | DE3676836D1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101102360B1 (ko) * | 2009-02-24 | 2012-01-03 | 유제태 | 에코기능 휀스 |
| JP2023507205A (ja) * | 2019-12-19 | 2023-02-21 | インタープレックス ナス エレクトロニクス ゲーエムベーハー | 回路基板上に配置された複数の発熱電子部品を冷却するための冷却装置およびその冷却装置を備えるシステム |
| JP2024545536A (ja) * | 2022-05-13 | 2024-12-09 | 雲南中宣液態金属科技有限公司 | ガリウム系液体金属と組み合わせて使用される金属構造体及びその製造方法と用途 |
Families Citing this family (53)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62238653A (ja) * | 1986-04-09 | 1987-10-19 | Nec Corp | 冷却構造 |
| US4964458A (en) * | 1986-04-30 | 1990-10-23 | International Business Machines Corporation | Flexible finned heat exchanger |
| JPH0797617B2 (ja) * | 1986-05-23 | 1995-10-18 | 株式会社日立製作所 | 冷媒漏洩防止装置 |
| US4768581A (en) * | 1987-04-06 | 1988-09-06 | International Business Machines Corporation | Cooling system for semiconductor modules |
| US4942497A (en) * | 1987-07-24 | 1990-07-17 | Nec Corporation | Cooling structure for heat generating electronic components mounted on a substrate |
| JP2786193B2 (ja) * | 1987-10-26 | 1998-08-13 | 株式会社日立製作所 | 半導体冷却装置 |
| CA1283225C (en) * | 1987-11-09 | 1991-04-16 | Shinji Mine | Cooling system for three-dimensional ic package |
| DE3853197T2 (de) * | 1987-12-07 | 1995-06-29 | Nippon Electric Co | Kühlungssystem für integrierte Schaltungspackung. |
| US4841355A (en) * | 1988-02-10 | 1989-06-20 | Amdahl Corporation | Three-dimensional microelectronic package for semiconductor chips |
| CA1303238C (en) * | 1988-05-09 | 1992-06-09 | Kazuhiko Umezawa | Flat cooling structure of integrated circuit |
| US4884630A (en) * | 1988-07-14 | 1989-12-05 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | End fed liquid heat exchanger for an electronic component |
| US4975766A (en) * | 1988-08-26 | 1990-12-04 | Nec Corporation | Structure for temperature detection in a package |
| US5365400A (en) * | 1988-09-09 | 1994-11-15 | Hitachi, Ltd. | Heat sinks and semiconductor cooling device using the heat sinks |
| JPH06100408B2 (ja) * | 1988-09-09 | 1994-12-12 | 日本電気株式会社 | 冷却装置 |
| CA1304830C (en) * | 1988-09-20 | 1992-07-07 | Toshifumi Sano | Cooling structure |
| US5271239A (en) * | 1990-11-13 | 1993-12-21 | Rocky Research | Cooling apparatus for electronic and computer components |
| US5628205A (en) * | 1989-03-08 | 1997-05-13 | Rocky Research | Refrigerators/freezers incorporating solid-vapor sorption reactors capable of high reaction rates |
| US5664427A (en) * | 1989-03-08 | 1997-09-09 | Rocky Research | Rapid sorption cooling or freezing appliance |
| US5598721A (en) | 1989-03-08 | 1997-02-04 | Rocky Research | Heating and air conditioning systems incorporating solid-vapor sorption reactors capable of high reaction rates |
| US5345107A (en) * | 1989-09-25 | 1994-09-06 | Hitachi, Ltd. | Cooling apparatus for electronic device |
| US5050036A (en) * | 1989-10-24 | 1991-09-17 | Amdahl Corporation | Liquid cooled integrated circuit assembly |
| US5006924A (en) * | 1989-12-29 | 1991-04-09 | International Business Machines Corporation | Heat sink for utilization with high density integrated circuit substrates |
| US5291371A (en) * | 1990-04-27 | 1994-03-01 | International Business Machines Corporation | Thermal joint |
| US5170319A (en) * | 1990-06-04 | 1992-12-08 | International Business Machines Corporation | Enhanced multichip module cooling with thermally optimized pistons and closely coupled convective cooling channels |
| US5161089A (en) * | 1990-06-04 | 1992-11-03 | International Business Machines Corporation | Enhanced multichip module cooling with thermally optimized pistons and closely coupled convective cooling channels, and methods of manufacturing the same |
| CA2053055C (en) * | 1990-10-11 | 1997-02-25 | Tsukasa Mizuno | Liquid cooling system for lsi packages |
| US5106451A (en) * | 1990-11-15 | 1992-04-21 | International Business Machines Corporation | Heat sink and method of attachment |
| JP2748732B2 (ja) * | 1991-07-19 | 1998-05-13 | 日本電気株式会社 | 液体冷媒循環システム |
| JP2852148B2 (ja) * | 1991-10-21 | 1999-01-27 | 日本電気株式会社 | 集積回路パッケージの冷却構造 |
| JP2728105B2 (ja) * | 1991-10-21 | 1998-03-18 | 日本電気株式会社 | 集積回路用冷却装置 |
| US5177667A (en) * | 1991-10-25 | 1993-01-05 | International Business Machines Corporation | Thermal conduction module with integral impingement cooling |
| US5218515A (en) * | 1992-03-13 | 1993-06-08 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Microchannel cooling of face down bonded chips |
| US5241450A (en) * | 1992-03-13 | 1993-08-31 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Three dimensional, multi-chip module |
| US5473508A (en) * | 1994-05-31 | 1995-12-05 | At&T Global Information Solutions Company | Focused CPU air cooling system including high efficiency heat exchanger |
| US5576932A (en) * | 1995-08-31 | 1996-11-19 | At&T Global Information Solutions Company | Method and apparatus for cooling a heat source |
| US6173760B1 (en) * | 1998-08-04 | 2001-01-16 | International Business Machines Corporation | Co-axial bellows liquid heatsink for high power module test |
| US6222264B1 (en) | 1999-10-15 | 2001-04-24 | Dell Usa, L.P. | Cooling apparatus for an electronic package |
| US6761211B2 (en) | 2000-03-14 | 2004-07-13 | Delphi Technologies, Inc. | High-performance heat sink for electronics cooling |
| JP2003110076A (ja) * | 2001-10-01 | 2003-04-11 | Fujitsu Ltd | 熱拡散器および放熱器 |
| US7063127B2 (en) * | 2003-09-18 | 2006-06-20 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for chip-cooling |
| US6943444B2 (en) | 2003-10-30 | 2005-09-13 | International Business Machines Corporation | Cooling of surface temperature of a device |
| US6843310B1 (en) * | 2004-03-03 | 2005-01-18 | Chin-Ping Chen | Semi-closed air cooling type radiator |
| US20050284604A1 (en) * | 2004-06-29 | 2005-12-29 | Mongia Rajiv K | Reducing cooling tube bursts in electronic devices |
| US20060157225A1 (en) * | 2005-01-18 | 2006-07-20 | Yves Martin | High turbulence heat exchanger |
| US7073569B1 (en) * | 2005-04-07 | 2006-07-11 | Delphi Technologies, Inc. | Cooling assembly with spirally wound fin |
| US7515418B2 (en) * | 2005-09-26 | 2009-04-07 | Curtiss-Wright Controls, Inc. | Adjustable height liquid cooler in liquid flow through plate |
| US7939312B2 (en) * | 2006-08-30 | 2011-05-10 | Dxna Llc | Rapid thermocycler with movable cooling assembly |
| US8369090B2 (en) * | 2009-05-12 | 2013-02-05 | Iceotope Limited | Cooled electronic system |
| US8636052B2 (en) * | 2009-09-08 | 2014-01-28 | International Business Machines Corporation | Dual-fluid heat exchanger |
| US9816131B2 (en) | 2010-08-02 | 2017-11-14 | Dxna Llc | Pressurizable cartridge for polymerase chain reactions |
| US9434029B2 (en) * | 2011-12-20 | 2016-09-06 | Intel Corporation | High performance transient uniform cooling solution for thermal compression bonding process |
| US11158562B2 (en) | 2020-02-11 | 2021-10-26 | International Business Machines Corporation | Conformal integrated circuit (IC) device package lid |
| WO2024237947A1 (en) * | 2023-05-16 | 2024-11-21 | MTS IP Holdings Ltd | Bellows for immersion cooling |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5438771A (en) * | 1977-09-02 | 1979-03-23 | Toshiba Corp | Cooling fin |
| US4138692A (en) * | 1977-09-12 | 1979-02-06 | International Business Machines Corporation | Gas encapsulated cooling module |
| US4193445A (en) * | 1978-06-29 | 1980-03-18 | International Business Machines Corporation | Conduction cooled module |
| US4254431A (en) * | 1979-06-20 | 1981-03-03 | International Business Machines Corporation | Restorable backbond for LSI chips using liquid metal coated dendrites |
| JPS59200495A (ja) * | 1983-04-27 | 1984-11-13 | 株式会社日立製作所 | マルチチツプ・モジユ−ル |
| US4567505A (en) * | 1983-10-27 | 1986-01-28 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Heat sink and method of attaching heat sink to a semiconductor integrated circuit and the like |
-
1985
- 1985-03-04 JP JP60041118A patent/JPH06101523B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-02-06 DE DE8686101516T patent/DE3676836D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-02-06 EP EP86101516A patent/EP0193747B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-02-10 US US06/827,613 patent/US4686606A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-02-28 KR KR1019860001450A patent/KR930005491B1/ko not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101102360B1 (ko) * | 2009-02-24 | 2012-01-03 | 유제태 | 에코기능 휀스 |
| JP2023507205A (ja) * | 2019-12-19 | 2023-02-21 | インタープレックス ナス エレクトロニクス ゲーエムベーハー | 回路基板上に配置された複数の発熱電子部品を冷却するための冷却装置およびその冷却装置を備えるシステム |
| JP2024545536A (ja) * | 2022-05-13 | 2024-12-09 | 雲南中宣液態金属科技有限公司 | ガリウム系液体金属と組み合わせて使用される金属構造体及びその製造方法と用途 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0193747A2 (en) | 1986-09-10 |
| KR930005491B1 (ko) | 1993-06-22 |
| DE3676836D1 (de) | 1991-02-21 |
| EP0193747A3 (en) | 1987-04-15 |
| EP0193747B1 (en) | 1991-01-16 |
| US4686606A (en) | 1987-08-11 |
| JPH06101523B2 (ja) | 1994-12-12 |
| KR860007733A (ko) | 1986-10-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS61201452A (ja) | 集積回路チツプ冷却装置 | |
| US4729060A (en) | Cooling system for electronic circuit device | |
| US4758926A (en) | Fluid-cooled integrated circuit package | |
| US4860444A (en) | Method of assembling a fluid-cooled integrated circuit package | |
| JP3518434B2 (ja) | マルチチップモジュールの冷却装置 | |
| US8362607B2 (en) | Integrated circuit package including a thermally and electrically conductive package lid | |
| US4893172A (en) | Connecting structure for electronic part and method of manufacturing the same | |
| US5052481A (en) | High conduction cooling module having internal fins and compliant interfaces for vlsi chip technology | |
| US20090194862A1 (en) | Semiconductor module and method of manufacturing the same | |
| JPS6132449A (ja) | 集積回路チツプ冷却装置 | |
| JPS6094749A (ja) | 集積回路チツプ冷却装置 | |
| JPH036848A (ja) | 半導体冷却モジュール | |
| JPS596565A (ja) | 熱伝導構造体 | |
| JPS60126853A (ja) | 半導体デバイス冷却装置 | |
| US4292647A (en) | Semiconductor package and electronic array having improved heat dissipation | |
| JPS6115353A (ja) | チツプ冷却装置 | |
| US5206713A (en) | Mounting silicon chips | |
| JPS63293965A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| JPH06252300A (ja) | 冷却装置を備えた集積回路チップ及びその製造方法 | |
| JPS59202654A (ja) | 集積回路パツケ−ジ | |
| JPS63224242A (ja) | 熱伝達装置 | |
| JPH04315456A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPH05102354A (ja) | 電子回路装置 | |
| JPH01125962A (ja) | 半導体モジュール | |
| JPS6147659A (ja) | Lsiマルチチツプ実装構造 |