JPS61221605A - リボン状磁性体の表面変化測定方法 - Google Patents
リボン状磁性体の表面変化測定方法Info
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- JPS61221605A JPS61221605A JP6193085A JP6193085A JPS61221605A JP S61221605 A JPS61221605 A JP S61221605A JP 6193085 A JP6193085 A JP 6193085A JP 6193085 A JP6193085 A JP 6193085A JP S61221605 A JPS61221605 A JP S61221605A
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- magnetic
- sample
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はアモルファス金属等のリボン状の磁性体の表面
粗さ、厚みムラ等の表面変化を容易且つ高精度に測定す
る方法に関するものである。
粗さ、厚みムラ等の表面変化を容易且つ高精度に測定す
る方法に関するものである。
(従来の技術)
リボン状のアモルファス金属は、通常、溶融状態の金属
を回転中の冷却ドラム上で瞬間的に急冷することによっ
て作成されるが、金属の溶融状態等によって表面の形状
に変化が生じ、厚みが不均一となることが多かった。こ
の厚みの不均一さは磁気特性等の不均一さにつながるた
め、高精度に表面粗さや厚みムラ等の表面変化を測定す
る方法が求められていた。
を回転中の冷却ドラム上で瞬間的に急冷することによっ
て作成されるが、金属の溶融状態等によって表面の形状
に変化が生じ、厚みが不均一となることが多かった。こ
の厚みの不均一さは磁気特性等の不均一さにつながるた
め、高精度に表面粗さや厚みムラ等の表面変化を測定す
る方法が求められていた。
従来、微小な表面の凹凸や厚み、又は厚みの変化を測定
する方法としては、マイクロメータ等の機械的接触によ
るものや、変調された光を当てその入射光と反射光との
位相差から測定するものがあった。
する方法としては、マイクロメータ等の機械的接触によ
るものや、変調された光を当てその入射光と反射光との
位相差から測定するものがあった。
(発明が解決しようとする問題点)
前記機械的接触による方法では表面の微小な凹凸に対応
できず、また連続的な測定が困難であり、また、光によ
る方法では片面の測定しかできないという問題点があっ
た。
できず、また連続的な測定が困難であり、また、光によ
る方法では片面の測定しかできないという問題点があっ
た。
(問題点を解決するための手段)
本発明では前記問題点を解決するため、リボン状磁性体
の厚み方向の一側に所定のバイアス磁界を発生する磁気
発生器を、また他側に磁気センサをそれぞれ配置すると
ともに、該リボン状磁性体を前記磁気発生器と磁気セン
サとの間で移動させ、この時、前記磁気センサより検出
される磁界強度の変化によりリボン状磁性体の表面変化
を測定するようになした。
の厚み方向の一側に所定のバイアス磁界を発生する磁気
発生器を、また他側に磁気センサをそれぞれ配置すると
ともに、該リボン状磁性体を前記磁気発生器と磁気セン
サとの間で移動させ、この時、前記磁気センサより検出
される磁界強度の変化によりリボン状磁性体の表面変化
を測定するようになした。
(作用)
磁気発生器より磁気センサに到達する磁束は磁性体によ
り一部遮断され減少するが、その減少の度合は磁性体の
表面粗さや厚みムラ等の表面変化に左右されるため、磁
界強度の変化より磁性体の表面変化を測定できる。
り一部遮断され減少するが、その減少の度合は磁性体の
表面粗さや厚みムラ等の表面変化に左右されるため、磁
界強度の変化より磁性体の表面変化を測定できる。
(実施例)
第1図は本発明の測定方法を実施するための装置の概要
を示すもので、図中、1は試料、2は磁気発生器、3は
磁気センサ、4は測定台、5は磁気測定機、6は移動機
構、7は移動量検出手段、8は記録機である。
を示すもので、図中、1は試料、2は磁気発生器、3は
磁気センサ、4は測定台、5は磁気測定機、6は移動機
構、7は移動量検出手段、8は記録機である。
試料1はリボン状の磁性体、例えばアライド・コーポレ
ーション(米)製のアモルファス合金26058−3A
を、幅1.8m、長さ40cIRに切断したものである
。
ーション(米)製のアモルファス合金26058−3A
を、幅1.8m、長さ40cIRに切断したものである
。
磁気発生器2は所定のバイアス磁界を発生するためのも
ので、例えば直径3 m 、長さ1.6Mの円柱状のフ
ェライト磁石(600Gauss)で、軸方向の両端が
それぞれN極、S極となっている。
ので、例えば直径3 m 、長さ1.6Mの円柱状のフ
ェライト磁石(600Gauss)で、軸方向の両端が
それぞれN極、S極となっている。
磁気センサ3は磁界強度を電気信号(電圧等)に変換す
る素子、例えばホール素子である。
る素子、例えばホール素子である。
前記磁気発生器2は固定されたアクリル樹脂等からなる
測定台4に装着され、磁気センサ3は磁気発生器2の上
方で、測定台4の測定面41上0.7ml+の位置に図
示しない支持部材を介して固定されている。また、試料
1はその厚み方向の一側に前記該磁気発生器2が、また
他側に磁気センサ3がそれぞれ位置する如く測定台4上
に載置され、この状態で移動機構6により矢印9方向に
移動される如くなっている。
測定台4に装着され、磁気センサ3は磁気発生器2の上
方で、測定台4の測定面41上0.7ml+の位置に図
示しない支持部材を介して固定されている。また、試料
1はその厚み方向の一側に前記該磁気発生器2が、また
他側に磁気センサ3がそれぞれ位置する如く測定台4上
に載置され、この状態で移動機構6により矢印9方向に
移動される如くなっている。
なお、磁気発生器2と磁気センサ3との詳細な位置関係
には、第2図(a)及び第2図(b)にそれぞれ示すよ
うなA及びBの2種類が有る。即ち、位置関係Aでは第
2図(a)に示す如く、磁気発生器2はN極を上に向け
て装着され、磁気センサ3は該磁気発生器2の真上に設
けられる。また、位置関係Bでは第2図(b)に示す如
く、磁気発生器2はN極を矢印9方向に向は且つその軸
方向が測定面41と平行に装着され、磁気センサ3はそ
の一端面が磁気発生器2のS極の端面より矢印9方向に
0.8mずらした位置に設けられる。
には、第2図(a)及び第2図(b)にそれぞれ示すよ
うなA及びBの2種類が有る。即ち、位置関係Aでは第
2図(a)に示す如く、磁気発生器2はN極を上に向け
て装着され、磁気センサ3は該磁気発生器2の真上に設
けられる。また、位置関係Bでは第2図(b)に示す如
く、磁気発生器2はN極を矢印9方向に向は且つその軸
方向が測定面41と平行に装着され、磁気センサ3はそ
の一端面が磁気発生器2のS極の端面より矢印9方向に
0.8mずらした位置に設けられる。
磁気測定機5は磁気センサ3に駆!l]電圧、電流を供
給し、その出力を検出した磁界強度に比例する所定の電
圧信号に変換するものである。なお、ここでは磁気セン
サ3及び磁気測定l115として、ホール素子を内蔵す
るプローブを備えた周知のガウスメータ(例えば、MG
−530,マエズミ電機■製)を用いている。
給し、その出力を検出した磁界強度に比例する所定の電
圧信号に変換するものである。なお、ここでは磁気セン
サ3及び磁気測定l115として、ホール素子を内蔵す
るプローブを備えた周知のガウスメータ(例えば、MG
−530,マエズミ電機■製)を用いている。
移動機構6及び移動量検出手段7は第3図に示す如く構
成されている。同図において、61は長さ50α、幅1
0α程のアクリル樹脂等からなる固定台で、該固定台6
1にはその長手方向のほぼ全幅に亘ってレール62が配
設され、該レール62上には移動台63が固定台61の
長手方向に沿って移動自在に搭載されている。移動台6
3の上部には試料1の一端が固定され、また、その下部
には指針64が取付けられ、固定台61上に付設された
目盛り65により、移動台63の移動距離を読取れる如
くなっている。
成されている。同図において、61は長さ50α、幅1
0α程のアクリル樹脂等からなる固定台で、該固定台6
1にはその長手方向のほぼ全幅に亘ってレール62が配
設され、該レール62上には移動台63が固定台61の
長手方向に沿って移動自在に搭載されている。移動台6
3の上部には試料1の一端が固定され、また、その下部
には指針64が取付けられ、固定台61上に付設された
目盛り65により、移動台63の移動距離を読取れる如
くなっている。
固定台61の長手方向の一端にはプーリ66が、他端に
は滑車67.68がそれぞれ設けられている。また、他
端にはポテンショメータ71も設けられ、その軸には真
鍮製の取付は筒72aを備えた取手72が取付けられて
いる。プーリ66゜滑車67.68及び取付は筒72a
の間には、両端が移動台63の一側に固定されたステン
レスワイヤ69がループ状に張設されている。従って、
前記取手72を回動しポテンショメータ71を回転させ
ると、これに比例して移動台63がレール62上を移動
する。
は滑車67.68がそれぞれ設けられている。また、他
端にはポテンショメータ71も設けられ、その軸には真
鍮製の取付は筒72aを備えた取手72が取付けられて
いる。プーリ66゜滑車67.68及び取付は筒72a
の間には、両端が移動台63の一側に固定されたステン
レスワイヤ69がループ状に張設されている。従って、
前記取手72を回動しポテンショメータ71を回転させ
ると、これに比例して移動台63がレール62上を移動
する。
ポテンショメータ71には、第4図に示すように抵抗7
3を介して定電圧N源74より、所定の直流定電圧が供
給されており、前記移動体63の移動量(位置)に比例
した電圧信号が得られる如くなっている。
3を介して定電圧N源74より、所定の直流定電圧が供
給されており、前記移動体63の移動量(位置)に比例
した電圧信号が得られる如くなっている。
記録機8は、例えば周知のX−Yレコーダであり、×軸
及びY軸入力端子に前記ポテンショメータ71及び前記
磁気測定機5の電圧信号を受け、試料1の移動■を×軸
とし、磁界強度をY軸とするグラフを描く如くなってい
る。
及びY軸入力端子に前記ポテンショメータ71及び前記
磁気測定機5の電圧信号を受け、試料1の移動■を×軸
とし、磁界強度をY軸とするグラフを描く如くなってい
る。
前述した装置を使用する場合は、まず、磁気発生器2を
前記位置関係AまたはBになるよう設定し、試料1を測
定台4上の所定位置に載せ、移動台63を目盛り「0」
の位置に戻して試料1をその一端に固定する。次に磁気
測定機5.定電圧電源74及び記録機8の電源を投入し
、しかる後、取手72を回動せしめて移動台63、即ち
試料1を移動させる。
前記位置関係AまたはBになるよう設定し、試料1を測
定台4上の所定位置に載せ、移動台63を目盛り「0」
の位置に戻して試料1をその一端に固定する。次に磁気
測定機5.定電圧電源74及び記録機8の電源を投入し
、しかる後、取手72を回動せしめて移動台63、即ち
試料1を移動させる。
第5図は測定結果の一例を示すもので、図中、11は表
面が比較的績Hな重量換算厚み19.7μmの試料、1
2は表面が比較的綺麗な重量換算厚み16.0μmの試
料にそれぞれ対応する測定結果を示すカーブである。こ
こで、位置関係はAであり、縦(Y)軸は試料なしの場
合に検出される磁界強度をrOJとし、試料を挿入した
時の磁界強度の減少量を示している。
面が比較的績Hな重量換算厚み19.7μmの試料、1
2は表面が比較的綺麗な重量換算厚み16.0μmの試
料にそれぞれ対応する測定結果を示すカーブである。こ
こで、位置関係はAであり、縦(Y)軸は試料なしの場
合に検出される磁界強度をrOJとし、試料を挿入した
時の磁界強度の減少量を示している。
なお、重量換算厚みとは、試料の長さ、幅、壬さ及び比
重より算出される平均的な厚みを示す。
重より算出される平均的な厚みを示す。
前記カーブ11及び12を詳細に比較すると、カーブ1
1及び12によるの磁界の減少けの平均値はほぼ3 Q
Gauss及び25 Gaussであり、また、カー
フ11及び12の試料の重量換算厚みはそれぞれ前述し
た通りであるから、例えば試料の厚み1μm当たりの磁
界強度の減少量は、それぞれ1 、52 Gauss、
1 、56 Gaussであり、磁界の変化(減少量
)と試料の厚さとがほぼ相関関係にあることがわかる。
1及び12によるの磁界の減少けの平均値はほぼ3 Q
Gauss及び25 Gaussであり、また、カー
フ11及び12の試料の重量換算厚みはそれぞれ前述し
た通りであるから、例えば試料の厚み1μm当たりの磁
界強度の減少量は、それぞれ1 、52 Gauss、
1 、56 Gaussであり、磁界の変化(減少量
)と試料の厚さとがほぼ相関関係にあることがわかる。
また、前述したように試料の厚み1μm当たりの磁界強
度の減少量を定めることができるため、測定結果のグラ
フより磁界強度を読取り、これより試料の厚みを算出す
ることができる。
度の減少量を定めることができるため、測定結果のグラ
フより磁界強度を読取り、これより試料の厚みを算出す
ることができる。
第6図は測定結果の他の例を示すもので、図中、13は
表面にうろこ状の周期の短い厚みムラのある重量換算厚
み21.6μmの試料、14は表面に周期の長い厚みム
ラのある重量換算厚み19.8μmの試料に対応するカ
ーブである。ここでは見易くするため、カーブ13に対
応する縦軸方向のスケール(磁界強度)は左側に、また
カーブ14に対応する縦軸方向のスケールは右側にそれ
ぞれ示している。なお、位置関係はカーブ13.14共
にAである。前記カー113より試料の周期の短い表面
の変化を読取ることができ、また、カー114より試料
の周期の長い表面の変化を読取ることができる。
表面にうろこ状の周期の短い厚みムラのある重量換算厚
み21.6μmの試料、14は表面に周期の長い厚みム
ラのある重量換算厚み19.8μmの試料に対応するカ
ーブである。ここでは見易くするため、カーブ13に対
応する縦軸方向のスケール(磁界強度)は左側に、また
カーブ14に対応する縦軸方向のスケールは右側にそれ
ぞれ示している。なお、位置関係はカーブ13.14共
にAである。前記カー113より試料の周期の短い表面
の変化を読取ることができ、また、カー114より試料
の周期の長い表面の変化を読取ることができる。
第7図は測定結果のさらに他の例を示すもので、図中、
15は表面にうろこ状の周期の短い厚みムラのある重量
換算厚み21.6μmの試料(カーブ13の試料と同一
ロット)に対応するカーブである。但し、位置関係はB
である。前記カーフ15から試料の周期の短い表面の変
化を読取ることができ、磁気発生器2、即ち磁束の向き
に拘らず表面の変化を検出できることが理解される。
15は表面にうろこ状の周期の短い厚みムラのある重量
換算厚み21.6μmの試料(カーブ13の試料と同一
ロット)に対応するカーブである。但し、位置関係はB
である。前記カーフ15から試料の周期の短い表面の変
化を読取ることができ、磁気発生器2、即ち磁束の向き
に拘らず表面の変化を検出できることが理解される。
但し、前記カーブ13の場合に比べて磁界の減少量、S
N比とも若干差がある。
N比とも若干差がある。
なお、これまでの説明ではアモルファス金属についての
み述べたが、磁性体であればどのようなものであっても
良く、また、その寸法等も前述したものに制限されるこ
とはない。
み述べたが、磁性体であればどのようなものであっても
良く、また、その寸法等も前述したものに制限されるこ
とはない。
(発明の効果)
以上説明したように本発明によれば、リボン状磁性体の
表面粗さや厚みムラ等の表面の微小な変化を連続的に測
定することができ、また、試料の測定結果の平均値と重
量換算厚みより、例えば試料の厚み1μm当たりの磁界
強度の変化量(減少量)を算出でき、これと測定結果よ
り各部分の厚みを測定することができる。また、試料の
幅や長さに制限がなく特別な測定用の試料を作成する必
要がない。さらにまた、試料に接触することなく測定で
きるから、試料に損傷等を与えることがない。さらにま
た、測定結果は電気的な信号として取出されるため、増
幅や制御等が簡単にでき、測定装置も小型且つ簡単にな
し得るため、持ち運びが容易で安価な装置を提供でき、
アモルファス金属9含金等の製造時の検査に利用して非
常に有効である等の利点がある。
表面粗さや厚みムラ等の表面の微小な変化を連続的に測
定することができ、また、試料の測定結果の平均値と重
量換算厚みより、例えば試料の厚み1μm当たりの磁界
強度の変化量(減少量)を算出でき、これと測定結果よ
り各部分の厚みを測定することができる。また、試料の
幅や長さに制限がなく特別な測定用の試料を作成する必
要がない。さらにまた、試料に接触することなく測定で
きるから、試料に損傷等を与えることがない。さらにま
た、測定結果は電気的な信号として取出されるため、増
幅や制御等が簡単にでき、測定装置も小型且つ簡単にな
し得るため、持ち運びが容易で安価な装置を提供でき、
アモルファス金属9含金等の製造時の検査に利用して非
常に有効である等の利点がある。
図面は本発明の一実施例を示すもので、第1図は本発明
の測定方法を実施するための装置の概要を示す図、第2
図(a)は位置関係Aの時の配置を示す図、第2図(b
)は位置関係Bの時の配置を示す図、第3図は移動機構
及び移動量検出手段の構成を示す斜視図、第4図は移l
1m検出手段の電気的な構成を示す回路図、第5図は測
定結果の一例を示すグラフ、第6図は測定結果の他の例
を示すグラフ、第7図は測定結果のさらに他の例を示す
グラフである。 1・・・試料、2・・・磁気発生器、3・・・磁気セン
サ、4・・・測定台、5・・・磁気測定機、6・・・移
動機構、7・・・移動量検出手段、8・・・記録機。 特許出願人 株式会社ワ コ ム 代理人弁理士 古 1) 精 孝 第1図 第2図
の測定方法を実施するための装置の概要を示す図、第2
図(a)は位置関係Aの時の配置を示す図、第2図(b
)は位置関係Bの時の配置を示す図、第3図は移動機構
及び移動量検出手段の構成を示す斜視図、第4図は移l
1m検出手段の電気的な構成を示す回路図、第5図は測
定結果の一例を示すグラフ、第6図は測定結果の他の例
を示すグラフ、第7図は測定結果のさらに他の例を示す
グラフである。 1・・・試料、2・・・磁気発生器、3・・・磁気セン
サ、4・・・測定台、5・・・磁気測定機、6・・・移
動機構、7・・・移動量検出手段、8・・・記録機。 特許出願人 株式会社ワ コ ム 代理人弁理士 古 1) 精 孝 第1図 第2図
Claims (1)
- リボン状磁性体の厚み方向の一側に所定のバイアス磁界
を発生する磁気発生器を、また他側に磁気センサをそれ
ぞれ配置するとともに、該リボン状磁性体を前記磁気発
生器と磁気センサとの間で移動させ、この時、前記磁気
センサより検出される磁界強度の変化によりリボン状磁
性体の表面変化を測定することを特徴とするリボン状磁
性体の表面変化測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6193085A JPS61221605A (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | リボン状磁性体の表面変化測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6193085A JPS61221605A (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | リボン状磁性体の表面変化測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61221605A true JPS61221605A (ja) | 1986-10-02 |
Family
ID=13185373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6193085A Pending JPS61221605A (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | リボン状磁性体の表面変化測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61221605A (ja) |
-
1985
- 1985-03-28 JP JP6193085A patent/JPS61221605A/ja active Pending
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