JPS61222009A - 薄膜磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents

薄膜磁気ヘツドの製造方法

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JPS61222009A
JPS61222009A JP6249985A JP6249985A JPS61222009A JP S61222009 A JPS61222009 A JP S61222009A JP 6249985 A JP6249985 A JP 6249985A JP 6249985 A JP6249985 A JP 6249985A JP S61222009 A JPS61222009 A JP S61222009A
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JP
Japan
Prior art keywords
layer
resist
insulating layer
magnetic head
thin film
Prior art date
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Pending
Application number
JP6249985A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiaki Kato
吉明 加藤
Shigeru Kamioka
尉 上岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication of JPS61222009A publication Critical patent/JPS61222009A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は磁性薄膜を用いた薄膜ヘッドの製造方法、特に
導体コイル相互間およびコイルと磁性膜間の絶縁層とし
て無機材料を用いた場合に該無機材料をテーパーエツチ
ングする薄膜磁気ヘッドの製造方法に関するものである
(従来技術) 従来の薄膜磁気ヘッドの製造方法を第4図を用いて説明
する。まずサフアイヤ、あるいはフェライト等から成る
基板1上に、センダストあるいはアモルファス等などか
ら成る下部磁性層2.8102などから成る第1絶縁層
3、Cuあるいはへ免などから成るコイル導体層4、S
!Ozなどから成る第2絶縁層5をスパッタリングある
いは蒸着等により形成する(第4図(a))。その後前
記第2絶縁Wi5上に平坦化のためのフォトレジスト6
を8μm程度厚く塗布する(第4図(b))。
このようにしてフォトレジスト6により平坦化された表
面からイオンミリングなどで7ォトレジストロと第2絶
縁層5とのエツチング速度が同一となるイオン入射角度
でイオンビーム(矢印A)を入射せしめて平坦化エツチ
ングを行ない、第2絶縁層5を平坦化する(第4図(C
))。その後下部磁性層2と、コイル導体層4および第
2絶縁層5を挾んで対向する上部磁性層8とを結合させ
るため、上記SiO+等から成る絶縁層5をテーパーエ
ツチングする。このテーパーエツチングを行なうために
第2絶縁層5上に下のコイル導体層4すべてをおおうよ
うな形状にフォトレジスト6を形成する(第4図(d)
)。このフォトレジスト6はエツチングを行なう際のマ
スクとして働く役目を果たす。このように形成されたフ
ォトレジスト6をマスクとしてイオンミリングなどで絶
縁層であるS!Ozをテーパーエツチングする際のイオ
ンエツチング速度は、あらゆるイオン入射角度において
、第5図に示すように絶縁層である5102に対する速
度がマスクであるフォトレジストに対する速度よりも速
い。またフォトレジスト6を露光、現像してパターンニ
ングするとレジストの側壁角αは(第4図(d))は約
、75〜80°程度になる。このような側壁角αを有す
るレジストをマスクにして例えば25°よりも大ぎいイ
オン入射角度(イオン入射角度とはイオンビームと試料
(平面)の法線方向とがなす角度である。)でエツチン
グする(矢印B)とイオンビーム9のシャドウ効果(あ
る領域10のみ実質的にエツチングされる時間が異なる
。)が生じ(第3図)、そのため絶縁層が一直線の形状
とならず第4図(e)に示すようにS!02のエツチン
グ面の端部は2段に折れ曲がった形となる。そしてこの
折れ曲がりの角度は第6図に示すように約20°と約8
0°に形成される。この様にして形成された絶縁層5の
上に形成された上部磁性層8はテーパーが急峻な面で膜
厚が極度に薄くなり(第4図(f))、この部分で磁気
飽和が生じ、記録再生効率が低下する。
また角度が20°となるテーパーのゆるやかな部分では
上部磁極8と下部磁極2との間で磁束が漏洩し、同様に
記録再生効率が低下する。
またイオン入射角度を25°以下に設定してテーパーエ
ツチングを行なうとイオンビームのシャドウ効果を防止
することが出来、テーパーは第4図(e′)に示す様に
一直線のテーパーとなる。しかしながらこの場合はマ支
りであるレジストのエツチング速度が絶縁層である5f
Chのエツチング速度よりも遅いためレジストの側壁角
αをそのまま転写したテーパー角度になる(第7図)。
しかもこの場合、レジストの側壁角αが急峻なため(第
4図(fi)絶縁層平面上でエツチングされた5fOz
がテーパ一部に再付着し、テーパ一部上に微妙な凹凸を
形成する(第8図)。したがって、この様な形の絶縁層
の上に形成された上部磁極8はテーパ一部が急峻なため
膜厚が極度に薄くなり、またテーパ一部上の微少な凹凸
のためテーパ一部での上部磁極8が凹凸を有し、この部
分の磁気抵抗が増大し、結果的に磁気飽和を起こしやす
くなるため記録再生効率が低下するという問題がある。
(発明の目的) 本発明は上記問題を解決Jるためになされたものであり
、記録再生効率の低下の少ない薄1t!磁気ヘッドの製
造方法を提供することを目的とするものである。
(発明の構成) 本発明に係る薄膜磁気ヘッド製造方法は、絶縁層の上に
フォトレジストを形成する際、該レジストの露光、現像
処理を適正露光時間および適正現像時間各々の15%以
上長い時間で行なった後、イオンビーム入射角度を25
°以下に設定してテーパーエツチングすることによりテ
ーパー角度が比較的ゆるやかで再付着のない一直線のテ
ーパーを有する薄膜磁気ヘッドを製造することを特徴と
するものである。
(実施例) 以下、本発明の実施例を第1図を用いて詳細に説明する
まず基板11上にセンダストあるいはアモルファスなど
から成る下部磁性層12.5iQ2などから成る第1絶
縁層13、CuあるいはA9Jなどから成るコイル導体
層14.5iOzなどから成る第2絶縁層15をスパッ
タリングあるいは蒸着などで形成する(万1図〈a))
。その後前記第2絶縁層15上に平坦化のためのレジス
ト(シブレイ社製1300−37)を8μm程度厚く塗
布する(第1図(b))。
このようにしてフォトレジスト16により平坦化された
表面から5iOzとフォトレジストのエツチング速度が
同一となるイオン入射角度でイオンミリングすると第2
絶li層15が平坦化される(第1図(C))。その後
この平坦化された第2絶縁層15上にフォトレジスト(
シブレイ社1300−37)を塗布し、あるレジスト膜
厚の適正露光時間および適正現像時間よりも15%以上
長い露光、現像時間にてパターニングする。
こうして形成されたレジストパターンは、第2図かられ
かるようにレジスト側壁角αは65°以下となる。さら
に第1図(d)に示すようにあるレジスト膜厚の適正露
光、現像時間よりも過剰に露光、現像を加えるとレジス
トの上部の端が丸くなってくる。このようにして形成さ
れたレジストをマスクとして、Arガス圧1.5X 1
0→Torr、加速電圧400v、電流密度o、sm 
A / cri 、イオンビーム入射角が25°よりも
小さい角度でエツチングしてゆく。このような条件下で
行なうエツチングによってはイオンビームのshado
w効果が発生せず、またレジストの上部の端が丸くなっ
ているために再付着も起らないため、第3図に示すよう
な約65°程度の側壁角αを有する凹凸のない一直線の
テーパーが得られる。したがってこの絶縁層の上にアモ
ルファスあるいはセンダストなどから成る上部磁性層1
1をスパッタリングや蒸着などで形成した場合には、テ
ーパー角が従来条件よりもゆるやかなためテーパー面で
の急激な膜厚減少が生ぜず、そのためこのテーパ一部で
の磁気的な飽和が起りにくくなるため、記録再生効率が
向上する。
上記実施例においては、本発明を単層コイル導体の薄膜
磁気ヘッドに応用した場合について説明しているが、本
発明を多層コイル導体の薄膜磁気ヘッドに応用しても同
様な効果が得ることが出来る。また薄膜磁気ヘッド以外
のデバイス、例えば半導体素子の場合のテーパ一部を形
成する際にも応用出来ることは勿論である。
(発明の効果) 以上説明したように本発明の薄膜磁気ヘッド製造方法に
よれば、フォトレジストをパターニングする際適正露光
、現像の少なくとも15%以上過剰に加えた後、イオン
ビーム入射角度を25″以下でテーパーエツチングする
ことにより凹凸のない一直線のテーパーを得ることが出
来、そのためテーパ一部での極端な膜厚減少が起らず、
記録再生効率が向上するという顕著な効果を奏すること
が出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による薄膜磁気ヘッドの製造プロセスを
示す図、第2図は適正露光、現像時間に対し余分に加え
た露光、現像時間の割合に対するレジスト側面角の変化
を示す図、第3図はレジストによるshadowing
効果の説明図、第4図は従来の膜磁気ヘッドの製造プロ
セスを示す図、第5図は8102とレジストのエツチン
グ速度のイオンビーム入射角依存性を示す図、第6図は
第4図(e)のテーパ一部拡大図、第7図、第8図は第
4図(e−)のテーパ一部の拡大図である。 9・・・イオンビーム    10・・・shadow
領域11・・・基板        12・・・下部磁
性層13・・・第1絶縁層     14・・・コイル
導体層15・・・第2絶縁層     16・・・フォ
トレジスト11・・・上部磁性層     18・・・
ギャップ層第6図 ji71!1 第8図 (自帽手続補正書 特許庁長官 殿          昭和60年6月1
9日特願昭60−62499号 2、発明の名称 薄膜磁気ヘッドの製造方法 3、補正をする者 事件との関係     特許出願人 任 所   神奈川県南足柄市中沼210番地名 称 
   富士写真フィルム株式会社4、代理人 東京都港区六本木5丁目2番1号 はうらいやビル 7階 (7318)弁理士 柳 1)征 史 (ほか1名)5
、補正命令の日付   な  し 6、補正により増加する発明の数   な  し7、補
正の対象   明細書の「発明の詳細な説明」の欄8、
補正の内容 r (II4図(f−))Jを「第3図(d)」と訂6
ベ1)明細書第5頁第9行

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 下部磁性層、無機材料から成る第1の絶縁層、単層ある
    いは多層のコイル導体層、無機材料から成る第2の絶縁
    層、上部磁性層を所定形状に順次積層して成る薄膜磁気
    ヘッドを製造する方法において、 前記無機材料から成る第2の絶縁層の上にフォトレジス
    トを形成する際、該レジストの露光、現像処理を適正露
    光時間および適正現像時間各々の15%以上長い時間に
    亘つて行なつた後、イオンビーム入射角度を25°以下
    に設定して前記無機材料をテーパーエッチングするよう
    にしたことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
JP6249985A 1985-03-27 1985-03-27 薄膜磁気ヘツドの製造方法 Pending JPS61222009A (ja)

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