JPS61222009A - 薄膜磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘツドの製造方法Info
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- JPS61222009A JPS61222009A JP6249985A JP6249985A JPS61222009A JP S61222009 A JPS61222009 A JP S61222009A JP 6249985 A JP6249985 A JP 6249985A JP 6249985 A JP6249985 A JP 6249985A JP S61222009 A JPS61222009 A JP S61222009A
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- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は磁性薄膜を用いた薄膜ヘッドの製造方法、特に
導体コイル相互間およびコイルと磁性膜間の絶縁層とし
て無機材料を用いた場合に該無機材料をテーパーエツチ
ングする薄膜磁気ヘッドの製造方法に関するものである
。
導体コイル相互間およびコイルと磁性膜間の絶縁層とし
て無機材料を用いた場合に該無機材料をテーパーエツチ
ングする薄膜磁気ヘッドの製造方法に関するものである
。
(従来技術)
従来の薄膜磁気ヘッドの製造方法を第4図を用いて説明
する。まずサフアイヤ、あるいはフェライト等から成る
基板1上に、センダストあるいはアモルファス等などか
ら成る下部磁性層2.8102などから成る第1絶縁層
3、Cuあるいはへ免などから成るコイル導体層4、S
!Ozなどから成る第2絶縁層5をスパッタリングある
いは蒸着等により形成する(第4図(a))。その後前
記第2絶縁Wi5上に平坦化のためのフォトレジスト6
を8μm程度厚く塗布する(第4図(b))。
する。まずサフアイヤ、あるいはフェライト等から成る
基板1上に、センダストあるいはアモルファス等などか
ら成る下部磁性層2.8102などから成る第1絶縁層
3、Cuあるいはへ免などから成るコイル導体層4、S
!Ozなどから成る第2絶縁層5をスパッタリングある
いは蒸着等により形成する(第4図(a))。その後前
記第2絶縁Wi5上に平坦化のためのフォトレジスト6
を8μm程度厚く塗布する(第4図(b))。
このようにしてフォトレジスト6により平坦化された表
面からイオンミリングなどで7ォトレジストロと第2絶
縁層5とのエツチング速度が同一となるイオン入射角度
でイオンビーム(矢印A)を入射せしめて平坦化エツチ
ングを行ない、第2絶縁層5を平坦化する(第4図(C
))。その後下部磁性層2と、コイル導体層4および第
2絶縁層5を挾んで対向する上部磁性層8とを結合させ
るため、上記SiO+等から成る絶縁層5をテーパーエ
ツチングする。このテーパーエツチングを行なうために
第2絶縁層5上に下のコイル導体層4すべてをおおうよ
うな形状にフォトレジスト6を形成する(第4図(d)
)。このフォトレジスト6はエツチングを行なう際のマ
スクとして働く役目を果たす。このように形成されたフ
ォトレジスト6をマスクとしてイオンミリングなどで絶
縁層であるS!Ozをテーパーエツチングする際のイオ
ンエツチング速度は、あらゆるイオン入射角度において
、第5図に示すように絶縁層である5102に対する速
度がマスクであるフォトレジストに対する速度よりも速
い。またフォトレジスト6を露光、現像してパターンニ
ングするとレジストの側壁角αは(第4図(d))は約
、75〜80°程度になる。このような側壁角αを有す
るレジストをマスクにして例えば25°よりも大ぎいイ
オン入射角度(イオン入射角度とはイオンビームと試料
(平面)の法線方向とがなす角度である。)でエツチン
グする(矢印B)とイオンビーム9のシャドウ効果(あ
る領域10のみ実質的にエツチングされる時間が異なる
。)が生じ(第3図)、そのため絶縁層が一直線の形状
とならず第4図(e)に示すようにS!02のエツチン
グ面の端部は2段に折れ曲がった形となる。そしてこの
折れ曲がりの角度は第6図に示すように約20°と約8
0°に形成される。この様にして形成された絶縁層5の
上に形成された上部磁性層8はテーパーが急峻な面で膜
厚が極度に薄くなり(第4図(f))、この部分で磁気
飽和が生じ、記録再生効率が低下する。
面からイオンミリングなどで7ォトレジストロと第2絶
縁層5とのエツチング速度が同一となるイオン入射角度
でイオンビーム(矢印A)を入射せしめて平坦化エツチ
ングを行ない、第2絶縁層5を平坦化する(第4図(C
))。その後下部磁性層2と、コイル導体層4および第
2絶縁層5を挾んで対向する上部磁性層8とを結合させ
るため、上記SiO+等から成る絶縁層5をテーパーエ
ツチングする。このテーパーエツチングを行なうために
第2絶縁層5上に下のコイル導体層4すべてをおおうよ
うな形状にフォトレジスト6を形成する(第4図(d)
)。このフォトレジスト6はエツチングを行なう際のマ
スクとして働く役目を果たす。このように形成されたフ
ォトレジスト6をマスクとしてイオンミリングなどで絶
縁層であるS!Ozをテーパーエツチングする際のイオ
ンエツチング速度は、あらゆるイオン入射角度において
、第5図に示すように絶縁層である5102に対する速
度がマスクであるフォトレジストに対する速度よりも速
い。またフォトレジスト6を露光、現像してパターンニ
ングするとレジストの側壁角αは(第4図(d))は約
、75〜80°程度になる。このような側壁角αを有す
るレジストをマスクにして例えば25°よりも大ぎいイ
オン入射角度(イオン入射角度とはイオンビームと試料
(平面)の法線方向とがなす角度である。)でエツチン
グする(矢印B)とイオンビーム9のシャドウ効果(あ
る領域10のみ実質的にエツチングされる時間が異なる
。)が生じ(第3図)、そのため絶縁層が一直線の形状
とならず第4図(e)に示すようにS!02のエツチン
グ面の端部は2段に折れ曲がった形となる。そしてこの
折れ曲がりの角度は第6図に示すように約20°と約8
0°に形成される。この様にして形成された絶縁層5の
上に形成された上部磁性層8はテーパーが急峻な面で膜
厚が極度に薄くなり(第4図(f))、この部分で磁気
飽和が生じ、記録再生効率が低下する。
また角度が20°となるテーパーのゆるやかな部分では
上部磁極8と下部磁極2との間で磁束が漏洩し、同様に
記録再生効率が低下する。
上部磁極8と下部磁極2との間で磁束が漏洩し、同様に
記録再生効率が低下する。
またイオン入射角度を25°以下に設定してテーパーエ
ツチングを行なうとイオンビームのシャドウ効果を防止
することが出来、テーパーは第4図(e′)に示す様に
一直線のテーパーとなる。しかしながらこの場合はマ支
りであるレジストのエツチング速度が絶縁層である5f
Chのエツチング速度よりも遅いためレジストの側壁角
αをそのまま転写したテーパー角度になる(第7図)。
ツチングを行なうとイオンビームのシャドウ効果を防止
することが出来、テーパーは第4図(e′)に示す様に
一直線のテーパーとなる。しかしながらこの場合はマ支
りであるレジストのエツチング速度が絶縁層である5f
Chのエツチング速度よりも遅いためレジストの側壁角
αをそのまま転写したテーパー角度になる(第7図)。
しかもこの場合、レジストの側壁角αが急峻なため(第
4図(fi)絶縁層平面上でエツチングされた5fOz
がテーパ一部に再付着し、テーパ一部上に微妙な凹凸を
形成する(第8図)。したがって、この様な形の絶縁層
の上に形成された上部磁極8はテーパ一部が急峻なため
膜厚が極度に薄くなり、またテーパ一部上の微少な凹凸
のためテーパ一部での上部磁極8が凹凸を有し、この部
分の磁気抵抗が増大し、結果的に磁気飽和を起こしやす
くなるため記録再生効率が低下するという問題がある。
4図(fi)絶縁層平面上でエツチングされた5fOz
がテーパ一部に再付着し、テーパ一部上に微妙な凹凸を
形成する(第8図)。したがって、この様な形の絶縁層
の上に形成された上部磁極8はテーパ一部が急峻なため
膜厚が極度に薄くなり、またテーパ一部上の微少な凹凸
のためテーパ一部での上部磁極8が凹凸を有し、この部
分の磁気抵抗が増大し、結果的に磁気飽和を起こしやす
くなるため記録再生効率が低下するという問題がある。
(発明の目的)
本発明は上記問題を解決Jるためになされたものであり
、記録再生効率の低下の少ない薄1t!磁気ヘッドの製
造方法を提供することを目的とするものである。
、記録再生効率の低下の少ない薄1t!磁気ヘッドの製
造方法を提供することを目的とするものである。
(発明の構成)
本発明に係る薄膜磁気ヘッド製造方法は、絶縁層の上に
フォトレジストを形成する際、該レジストの露光、現像
処理を適正露光時間および適正現像時間各々の15%以
上長い時間で行なった後、イオンビーム入射角度を25
°以下に設定してテーパーエツチングすることによりテ
ーパー角度が比較的ゆるやかで再付着のない一直線のテ
ーパーを有する薄膜磁気ヘッドを製造することを特徴と
するものである。
フォトレジストを形成する際、該レジストの露光、現像
処理を適正露光時間および適正現像時間各々の15%以
上長い時間で行なった後、イオンビーム入射角度を25
°以下に設定してテーパーエツチングすることによりテ
ーパー角度が比較的ゆるやかで再付着のない一直線のテ
ーパーを有する薄膜磁気ヘッドを製造することを特徴と
するものである。
(実施例)
以下、本発明の実施例を第1図を用いて詳細に説明する
。
。
まず基板11上にセンダストあるいはアモルファスなど
から成る下部磁性層12.5iQ2などから成る第1絶
縁層13、CuあるいはA9Jなどから成るコイル導体
層14.5iOzなどから成る第2絶縁層15をスパッ
タリングあるいは蒸着などで形成する(万1図〈a))
。その後前記第2絶縁層15上に平坦化のためのレジス
ト(シブレイ社製1300−37)を8μm程度厚く塗
布する(第1図(b))。
から成る下部磁性層12.5iQ2などから成る第1絶
縁層13、CuあるいはA9Jなどから成るコイル導体
層14.5iOzなどから成る第2絶縁層15をスパッ
タリングあるいは蒸着などで形成する(万1図〈a))
。その後前記第2絶縁層15上に平坦化のためのレジス
ト(シブレイ社製1300−37)を8μm程度厚く塗
布する(第1図(b))。
このようにしてフォトレジスト16により平坦化された
表面から5iOzとフォトレジストのエツチング速度が
同一となるイオン入射角度でイオンミリングすると第2
絶li層15が平坦化される(第1図(C))。その後
この平坦化された第2絶縁層15上にフォトレジスト(
シブレイ社1300−37)を塗布し、あるレジスト膜
厚の適正露光時間および適正現像時間よりも15%以上
長い露光、現像時間にてパターニングする。
表面から5iOzとフォトレジストのエツチング速度が
同一となるイオン入射角度でイオンミリングすると第2
絶li層15が平坦化される(第1図(C))。その後
この平坦化された第2絶縁層15上にフォトレジスト(
シブレイ社1300−37)を塗布し、あるレジスト膜
厚の適正露光時間および適正現像時間よりも15%以上
長い露光、現像時間にてパターニングする。
こうして形成されたレジストパターンは、第2図かられ
かるようにレジスト側壁角αは65°以下となる。さら
に第1図(d)に示すようにあるレジスト膜厚の適正露
光、現像時間よりも過剰に露光、現像を加えるとレジス
トの上部の端が丸くなってくる。このようにして形成さ
れたレジストをマスクとして、Arガス圧1.5X 1
0→Torr、加速電圧400v、電流密度o、sm
A / cri 、イオンビーム入射角が25°よりも
小さい角度でエツチングしてゆく。このような条件下で
行なうエツチングによってはイオンビームのshado
w効果が発生せず、またレジストの上部の端が丸くなっ
ているために再付着も起らないため、第3図に示すよう
な約65°程度の側壁角αを有する凹凸のない一直線の
テーパーが得られる。したがってこの絶縁層の上にアモ
ルファスあるいはセンダストなどから成る上部磁性層1
1をスパッタリングや蒸着などで形成した場合には、テ
ーパー角が従来条件よりもゆるやかなためテーパー面で
の急激な膜厚減少が生ぜず、そのためこのテーパ一部で
の磁気的な飽和が起りにくくなるため、記録再生効率が
向上する。
かるようにレジスト側壁角αは65°以下となる。さら
に第1図(d)に示すようにあるレジスト膜厚の適正露
光、現像時間よりも過剰に露光、現像を加えるとレジス
トの上部の端が丸くなってくる。このようにして形成さ
れたレジストをマスクとして、Arガス圧1.5X 1
0→Torr、加速電圧400v、電流密度o、sm
A / cri 、イオンビーム入射角が25°よりも
小さい角度でエツチングしてゆく。このような条件下で
行なうエツチングによってはイオンビームのshado
w効果が発生せず、またレジストの上部の端が丸くなっ
ているために再付着も起らないため、第3図に示すよう
な約65°程度の側壁角αを有する凹凸のない一直線の
テーパーが得られる。したがってこの絶縁層の上にアモ
ルファスあるいはセンダストなどから成る上部磁性層1
1をスパッタリングや蒸着などで形成した場合には、テ
ーパー角が従来条件よりもゆるやかなためテーパー面で
の急激な膜厚減少が生ぜず、そのためこのテーパ一部で
の磁気的な飽和が起りにくくなるため、記録再生効率が
向上する。
上記実施例においては、本発明を単層コイル導体の薄膜
磁気ヘッドに応用した場合について説明しているが、本
発明を多層コイル導体の薄膜磁気ヘッドに応用しても同
様な効果が得ることが出来る。また薄膜磁気ヘッド以外
のデバイス、例えば半導体素子の場合のテーパ一部を形
成する際にも応用出来ることは勿論である。
磁気ヘッドに応用した場合について説明しているが、本
発明を多層コイル導体の薄膜磁気ヘッドに応用しても同
様な効果が得ることが出来る。また薄膜磁気ヘッド以外
のデバイス、例えば半導体素子の場合のテーパ一部を形
成する際にも応用出来ることは勿論である。
(発明の効果)
以上説明したように本発明の薄膜磁気ヘッド製造方法に
よれば、フォトレジストをパターニングする際適正露光
、現像の少なくとも15%以上過剰に加えた後、イオン
ビーム入射角度を25″以下でテーパーエツチングする
ことにより凹凸のない一直線のテーパーを得ることが出
来、そのためテーパ一部での極端な膜厚減少が起らず、
記録再生効率が向上するという顕著な効果を奏すること
が出来る。
よれば、フォトレジストをパターニングする際適正露光
、現像の少なくとも15%以上過剰に加えた後、イオン
ビーム入射角度を25″以下でテーパーエツチングする
ことにより凹凸のない一直線のテーパーを得ることが出
来、そのためテーパ一部での極端な膜厚減少が起らず、
記録再生効率が向上するという顕著な効果を奏すること
が出来る。
第1図は本発明による薄膜磁気ヘッドの製造プロセスを
示す図、第2図は適正露光、現像時間に対し余分に加え
た露光、現像時間の割合に対するレジスト側面角の変化
を示す図、第3図はレジストによるshadowing
効果の説明図、第4図は従来の膜磁気ヘッドの製造プロ
セスを示す図、第5図は8102とレジストのエツチン
グ速度のイオンビーム入射角依存性を示す図、第6図は
第4図(e)のテーパ一部拡大図、第7図、第8図は第
4図(e−)のテーパ一部の拡大図である。 9・・・イオンビーム 10・・・shadow
領域11・・・基板 12・・・下部磁
性層13・・・第1絶縁層 14・・・コイル
導体層15・・・第2絶縁層 16・・・フォ
トレジスト11・・・上部磁性層 18・・・
ギャップ層第6図 ji71!1 第8図 (自帽手続補正書 特許庁長官 殿 昭和60年6月1
9日特願昭60−62499号 2、発明の名称 薄膜磁気ヘッドの製造方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 任 所 神奈川県南足柄市中沼210番地名 称
富士写真フィルム株式会社4、代理人 東京都港区六本木5丁目2番1号 はうらいやビル 7階 (7318)弁理士 柳 1)征 史 (ほか1名)5
、補正命令の日付 な し 6、補正により増加する発明の数 な し7、補
正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄8、
補正の内容 r (II4図(f−))Jを「第3図(d)」と訂6
ベ1)明細書第5頁第9行
示す図、第2図は適正露光、現像時間に対し余分に加え
た露光、現像時間の割合に対するレジスト側面角の変化
を示す図、第3図はレジストによるshadowing
効果の説明図、第4図は従来の膜磁気ヘッドの製造プロ
セスを示す図、第5図は8102とレジストのエツチン
グ速度のイオンビーム入射角依存性を示す図、第6図は
第4図(e)のテーパ一部拡大図、第7図、第8図は第
4図(e−)のテーパ一部の拡大図である。 9・・・イオンビーム 10・・・shadow
領域11・・・基板 12・・・下部磁
性層13・・・第1絶縁層 14・・・コイル
導体層15・・・第2絶縁層 16・・・フォ
トレジスト11・・・上部磁性層 18・・・
ギャップ層第6図 ji71!1 第8図 (自帽手続補正書 特許庁長官 殿 昭和60年6月1
9日特願昭60−62499号 2、発明の名称 薄膜磁気ヘッドの製造方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 任 所 神奈川県南足柄市中沼210番地名 称
富士写真フィルム株式会社4、代理人 東京都港区六本木5丁目2番1号 はうらいやビル 7階 (7318)弁理士 柳 1)征 史 (ほか1名)5
、補正命令の日付 な し 6、補正により増加する発明の数 な し7、補
正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄8、
補正の内容 r (II4図(f−))Jを「第3図(d)」と訂6
ベ1)明細書第5頁第9行
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 下部磁性層、無機材料から成る第1の絶縁層、単層ある
いは多層のコイル導体層、無機材料から成る第2の絶縁
層、上部磁性層を所定形状に順次積層して成る薄膜磁気
ヘッドを製造する方法において、 前記無機材料から成る第2の絶縁層の上にフォトレジス
トを形成する際、該レジストの露光、現像処理を適正露
光時間および適正現像時間各々の15%以上長い時間に
亘つて行なつた後、イオンビーム入射角度を25°以下
に設定して前記無機材料をテーパーエッチングするよう
にしたことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6249985A JPS61222009A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6249985A JPS61222009A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61222009A true JPS61222009A (ja) | 1986-10-02 |
Family
ID=13201917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6249985A Pending JPS61222009A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61222009A (ja) |
-
1985
- 1985-03-27 JP JP6249985A patent/JPS61222009A/ja active Pending
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